CN205228313U - 可定位的外径千分尺 - Google Patents

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CN205228313U
CN205228313U CN201521056535.7U CN201521056535U CN205228313U CN 205228313 U CN205228313 U CN 205228313U CN 201521056535 U CN201521056535 U CN 201521056535U CN 205228313 U CN205228313 U CN 205228313U
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China
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screw
chi frame
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outside micrometer
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CN201521056535.7U
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Inventor
赵永海
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Suzhou Guoliang Measuring Tool Science & Technology Co Ltd
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Suzhou Guoliang Measuring Tool Science & Technology Co Ltd
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Abstract

本实用新型涉及一种可定位的外径千分尺,包括千分尺主体,其特征在于,所述的千分尺主体的尺架上倾斜的安装有调整螺钉,该调整螺钉与千分尺主体的测砧和测微螺杆形成测量夹持空间。本实用新型的优点是:夹持牢固,延长了使用寿命,降低了企业的生产成本。

Description

可定位的外径千分尺
技术领域
本实用新型涉及一种可定位的外径千分尺,主要用于工件的测量。
背景技术
千分尺具有尺架,尺架在一端具有测砧并且在另一端具有测微螺杆,随着使用者握住尺架并且旋转安装于测微螺杆的套管,测微螺杆靠近测砧或远离测砧地移动。
在进行测量的时候,测量螺杆和待测工件进行频繁接触,发生磨损,从而导致了测微螺杆的磨损,缩短了使用寿命;同时由于不能很好的实现固定,导致了测量出现了较大的误差。
发明内容
为克服现有技术的缺陷,本实用新型提供一种可定位的外径千分尺,本实用新型的技术方案是:一种可定位的外径千分尺,包括千分尺主体,所述的千分尺主体的尺架上倾斜的安装有调整螺钉,该调整螺钉与千分尺主体的测砧和测微螺杆形成测量夹持空间。
所述的千分尺主体上的测微螺杆包括螺杆主体和设置在螺杆主体外围的丝套,所述的螺杆主体和测砧均采用纳米晶体材料制作而成;所述的调整螺钉的外围涂覆有纳米晶体层。
所述的丝套与螺杆主体一体成型,均是采用纳米晶体制作而成。
所述的丝套为金属丝套。
所述的千分尺主体包括尺架以及安装在尺架上的测砧和测微螺杆,该尺架的一端设置有测砧,另一端设置有测微螺杆,该测微螺杆与所述的测砧相对设置,并通过测量机构转动的安装在尺架上;所述的尺架上还安装有隔热块以及用于显示测量机构数据的显示屏。
所述的测量机构包括旋钮、微分筒和固定套管,所述测微螺杆的一端安装有旋钮,另一端依次穿过微分筒、固定套管和尺架上的螺纹孔后与所述的测砧相对应;该固定套管固定安装尺架上,微分筒转动的安装在固定套管上;所述的测微螺杆与尺架上的螺纹孔以及微分筒螺纹配合,与固定套管不接触。
所述的尺架上安装有调整螺杆,该调整螺杆沿测微螺杆的径向设置。
所述的测微螺杆上安装有测力装置。
本实用新型的优点是:夹持牢固,延长了使用寿命,降低了企业的生产成本。
附图说明
图1是本实用新型的主体结构示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施例来进一步描述本实用新型,本实用新型的优点和特点将会随着描述而更为清楚。但这些实施例仅是范例性的,并不对本实用新型的范围构成任何限制。本领域技术人员应该理解的是,在不偏离本实用新型的精神和范围下可以对本实用新型技术方案的细节和形式进行修改或替换,但这些修改和替换均落入本实用新型的保护范围内。
参见图1,本实用新型涉及一可定位的外径千分尺,包括千分尺主体,所述的千分尺主体的尺架1上倾斜的安装有调整螺钉3,该调整螺钉与千分尺主体的测砧2和测微螺杆4形成测量夹持空间。
所述的千分尺主体上的测微螺杆4包括螺杆主体和设置在螺杆主体外围的丝套,所述的螺杆主体和测砧2均采用纳米晶体材料制作而成;所述的调整螺钉的外围涂覆有纳米晶体层;纳米晶体材料以及纳米晶体层可以是金属氧化物纳米晶体也可以是金属纳米晶体。
其中,一种实施例是:所述的丝套与螺杆主体一体成型,均是采用纳米晶体制作而成。
当然还可以是:所述的丝套为金属丝套。
所述的千分尺主体包括尺架1以及安装在尺架1上的测砧2和测微螺杆4,该尺架1的一端设置有测砧2,另一端设置有测微螺杆4,该测微螺杆4与所述的测砧2相对设置,并通过测量机构转动的安装在尺架1上;所述的尺架1上还安装有隔热块以及用于显示测量机构数据的显示屏6。
所述的测量机构包括旋钮10、微分筒(带有刻度)8和固定套管(带有刻度)7,所述测微螺杆4的一端安装有旋钮10,另一端依次穿过微分筒8、固定套管7和尺架1上的螺纹孔后与所述的测砧2相对应;该固定套管7固定安装尺架1上,微分筒8转动的安装在固定套管7上;所述的测微螺杆4与尺架1上的螺纹孔以及微分筒8螺纹配合,与固定套管不接触。
所述的尺架1上安装有调整螺杆5,该调整螺杆5沿测微螺杆4的径向设置。
所述的测微螺杆4上安装有测力装置9。

Claims (8)

1.一种可定位的外径千分尺,包括千分尺主体,其特征在于,所述的千分尺主体的尺架上倾斜的安装有调整螺钉,该调整螺钉与千分尺主体的测砧和测微螺杆形成测量夹持空间。
2.根据权利要求1所述的可定位的外径千分尺,其特征在于,所述的千分尺主体上的测微螺杆包括螺杆主体和设置在螺杆主体外围的丝套,所述的螺杆主体和测砧均采用纳米晶体材料制作而成;所述的调整螺钉的外围涂覆有纳米晶体层。
3.根据权利要求2所述的可定位的外径千分尺,其特征在于,所述的丝套与螺杆主体一体成型,均是采用纳米晶体制作而成。
4.根据权利要求2所述的可定位的外径千分尺,其特征在于,所述的丝套为金属丝套。
5.根据权利要求3或4所述的可定位的外径千分尺,其特征在于,所述的千分尺主体包括尺架以及安装在尺架上的测砧和测微螺杆,该尺架的一端设置有测砧,另一端设置有测微螺杆,该测微螺杆与所述的测砧相对设置,并通过测量机构转动的安装在尺架上;所述的尺架上还安装有隔热块以及用于显示测量机构数据的显示屏。
6.根据权利要求5所述的可定位的外径千分尺,其特征在于,所述的测量机构包括旋钮、微分筒和固定套管,所述测微螺杆的一端安装有旋钮,另一端依次穿过微分筒、固定套管和尺架上的螺纹孔后与所述的测砧相对应;该固定套管固定安装尺架上,微分筒转动的安装在固定套管上;所述的测微螺杆与尺架上的螺纹孔以及微分筒螺纹配合,与固定套管不接触。
7.根据权利要求6所述的可定位的外径千分尺,其特征在于,所述的尺架上安装有调整螺杆,该调整螺杆沿测微螺杆的径向设置。
8.根据权利要求5所述的可定位的外径千分尺,其特征在于,所述的测微螺杆上安装有测力装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL427690A1 (pl) * 2018-11-07 2019-03-25 Politechnika Świętokrzyska Przyrząd do pomiaru średnicy zewnętrznej elementów cylindrycznych

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