CN205103153U - 测量系统及其光学元件 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测量系统及其光学元件，所述测量系统包括具有光源、光学元件、检测单元的测量装置，其中，所述光源发出的光辐射经过光学元件进入待测样品，被检测单元接收；所述光学元件为中空的透光本体，所述本体内能容置有预定样品，所述本体包括第一平面窗口和与所述第一平面窗口相对设置的第二平面窗口，所述光辐射能通过所述第一平面窗口经过所述预定样品，从第二平面窗口出射进入待测样品中。本实用新型所述测量系统及其光学元件，具备自检功能，使用方便，用户体验较佳。

Description

测量系统及其光学元件

技术领域

本实用新型涉及一种样品分析检测领域，特别涉及一种测量系统及其光学元件。

背景技术

光谱技术可对样品进行分析检测，其可以用于检测包括呈气态、液态、固态及两种及以上混合物的物化性质。吸收光谱是实用性很强的一种光谱技术，其基本原理是：假设在光的散射作用可以被忽略的前提下，将入射光通过一定长度的待测样品，然后测量透射光辐射的强度，所述透射光相对于入射光辐射的强度的衰减定义为吸收。通过对吸收光的定性和定量分析能够获得待测样品的相应物化性质。基于所述吸收光谱技术设计制造的光谱仪器可应用的领域众多，包括电厂、环保、水泥厂、石化化工、玻璃制造等行业。

所述光谱仪器实际使用时，将一束一定频率的光照射在待测样品上，样品中的介质与电磁波作用，介质内部吸收电磁波辐射的能量而发生量子化的能级跃迁，从低能级跃迁到高能级。不同介质的分子(原子)结构不同所决定的其能量级差也不同，从而决定了可吸收的光的频率也不同，通过测量被吸收的光的波长和强度，可以得到被测介质的特征吸收光谱，通过对吸收光谱进行定性定量分析，能够得到分子(原子)的绝对浓度和绝对吸收截面等信息。

在实际的工业过程中，光谱仪器使用一段时间后，其测量精度可能出现偏差，需要定期对其检修，判断其精度是否满足要求，仪器是否在合理的状态下工作。由于现有的光谱仪器不存在双平面腔空间，无法原位标定或原位标定不准确。现有的检测精度的方式，通常是将光谱仪器从现场拆卸下来，然后对其进行一系列专业的检测。然而，由于光谱仪器安装环境通常比较特殊，例如在几十甚至几百米高的烟囱内，其本身质量又较重，因此将其拆卸下来进行检测的方式显然不能满足用户的要求。

为此，有必要提出一种带有自检功能的光谱测量仪器，以满足用户需要。

进一步的，现有技术中样品池的光学元件直接与环境空气或吹扫气直接接触，易受冷空气流动影响，伴热保温不稳定、不彻底。需改进伴热保温方式。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种带有自检功能的测量系统及其光学元件，使用方便，用户体验较佳。

本实用新型的上述目的可采用下列技术方案来实现：一种测量系统，其包括：具有光源、光学元件、检测单元的测量装置，其中，所述光源发出的光辐射经过光学元件穿过待测样品，被检测单元接收；所述光学元件为中空的透光本体，所述本体内能容置有预定样品，所述本体包括第一平面窗口和与所述第一平面窗口相对设置的第二平面窗口，所述光辐射通过所述第一平面窗口经过所述预定样品，从第二平面窗口出射进入待测样品中。

在优选的实施方式中，所述光辐射经过所述光学元件后的传播方向不变。

在优选的实施方式中，所述本体上设置有开口，所述设置方式包括焊接、密封连接中的一种。

在优选的实施方式中，所述开口包括第一开口和第二开口，所述本体包括与所述第一平面窗口、第二平面窗口相邻接的第一端面和第二端面，所述第一开口设置在所述第一端面上，所述第二开口设置在所述第二端面上。

在优选的实施方式中，所述预定样品包括：吹扫气、氮气、标准样品中的一种。

在优选的实施方式中，所述光学元件的外围还设置有加热件，用于对所述光学元件进行加热。

在优选的实施方式中，所述加热件单独设置。

在优选的实施方式中，所述测量系统还包括检验光路回返模块，所述检验光路回返模块以可移动的方式设置于所述测量系统光路中，当所述测量系统进行检验时，所述检验光路回返模块移动至光路中预定位置；当所述测量系统进行测量时，所述检验光路回返模块移离所述光路中预定位置。

一种光学元件，其包括：中空的透光本体，所述本体上设置有至少一个开口；所述中空的本体内能容置有预定样品；所述透光本体包括第一平面窗口和与所述第一平面窗口相对设置的第二平面窗口，光源发出的光辐射能通过所述第一平面窗口经过本体中的预定样品，从第二平面窗口出射进入待测样品中，所述光辐射经过所述光学元件后传播方向不变。

在优选的实施方式中，所述光学元件的外围还设置有加热件，用于对所述光学元件进行加热。

本申请以上实施方式描述的测量系统，通过将其中的光学元件设置为中空的透光本体，中空的透光本体，所述本体内能容置有预定样品，所述本体包括第一平面窗口和与所述第一平面窗口相对设置的第二平面窗口，所述光辐射能通过所述第一平面窗口经过所述预定样品，从第二平面窗口出射进入待测样品中，然后通过数据处理模块，将所述检测单元接收到的光信号进行处理，并将所述处理后的光信号与存储模块中存储的预定信息进行比较，实现了检测所述测量装置的精度。当所述测量系统能够实现自检之后，用户使用时，可以通过数据处理模块反馈的数据判断测量装置的精度是否满足要求，使用方便，用户体验较佳。

附图说明

图1是本实用新型第一实施例中一种测量系统的结构示意图；

图2A是本实用新型第一实施例中一种测量系统的测量装置的主视图；

图2B是本实用新型第一实施例中一种测量系统的测量装置的俯视图；

图3是本实用新型第一实施例中一种测量系统的光学元件的主视图；

图4是本实用新型第一实施例中一种测量系统的光学元件的俯视图；

图5A是本实用新型实施例中一种光学元件布置示意图；

图5B是本实用新型实施例中一种光学元件内部的光路传播示意图；

图6A是本实用新型实施例中一种光学元件布置示意图；

图6B是本实用新型实施例中一种光学元件内部的光路传播示意图；

图7本实用新型第二实施例中一种测量系统处于测量状态下的示意图；

图8本实用新型第二实施例中一种测量系统处于检验状态下的示意图。

具体实施方式

下面将结合附图和具体实施例，对本实用新型的技术方案作详细说明，应理解这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围，在阅读了本实用新型之后，本领域技术人员对本实用新型的各种等价形式的修改均落入本申请所附权利要求所限定的范围内。

本实用新型的目的是提供一种带有自检功能的测量系统及其光学元件，使用方便，用户体验较佳。

请参阅图1至图4。本申请实施例提供的一种测量系统10可以包括：具有光源12、光学元件14、检测单元15的测量装置1，其中，所述光源12发出的光辐射经过光学元件14进入待测样品11，被检测单元15接收。所述光学元件14为中空的透光本体，所述本体内能容置有预定样品，所述本体包括第一平面窗口141和与所述第一平面窗口141相对设置的第二平面窗口142，所述光辐射能通过所述第一平面窗口141经过所述预定样品，从第二平面窗口142出射进入待测样品11中。存储模块2，其存储有所述预定样品的预定信息。数据处理模块3，用于将所述检测单元15接收到的光信号进行处理，并将所述处理后的光信号与所述预定信息进行比较，以检测所述测量装置1的精度。

在本实施方式中，所述光源12的具体形式可根据使用的探测技术和使用要求的不同而选择，具体的其包括但不限于激光、LED、氙灯、红外光源、超辐射光源、SLED、宽带光源中的任一种或几种组合。所述光源12发出的光辐射依次经过所述分光光学元件13、光学元件14并形成主光路。

在本实施方式中，所述测量系统10还可以包括分光光学元件13，所述分光光学元件13可设置在所述光源12与所述光学元件14之间。所述分光光学元件13具有两个通光面，分别为入射面和出射面，所述的两个通光面非平行。所述光源12发出的光辐射在入射面和出射面上的法线具有夹角，所述夹角大于0度。所述分光光学元件13能将光源2发出的光辐射进行分光。具体的，所述分光光学元件13可为具有至少两个通光平面非平行的楔形块。

所述光源12发出的光辐射依次经过所述分光光学元件13、光学元件14并形成主光路。具体的，如图2B所示，光源12发出的光辐射沿着光路20传播至所述分光光学元件13，接着从所述分光光学元件13透射出，沿着光路23传播至所述光学元件14，然后从所述光学元件14透射出，沿着光路24传播至回返光学元件6，经过所述回返光学元件6反射后，沿着与原来的光路相平行的方向返回。在所述主光路方向上。所述分光光学元件13、光学元件14将所述主光路分为输入段、过渡段和测量段。所述输入段为光源12至所述分光光学元件13之间的区域；所述过渡段为所述分光光学元件13至光学元件14之间的区域；所述测量段为所述光学元件14至回返光学元件6之间的区域，所述测量段位置设置有待测样品11。所述主光路Z被回返光学元件6反射后形成反射光路，所述反射光路在过渡段和测量段与主光路平行。具体的，光路24经过所述回返光学元件6反射后形成与所述光路24相平行的光路25，光辐射沿着光路25传播至所述光学元件14时，从所述光学元件14中透射出，然后沿着光路26传播至分光光学元件13。所述反射光路与主光路在过渡段和测量段的平行是名义上的平行，具体的是忽略装配误差、制造误差等误差后的相对平行。沿着所述主光路Z方向上，所述分光光学元件13至光学元件14之间的距离L1调节时，或第二光学元件14至回返光学元件6之间的距离L2调节时，反射光路25，与主光路23保持平行，以及反射光路26与主光路24保持平行，使得在过渡段和测量段所述样品测量装置1位于主光路的光学元件沿着所述主光路的方向移动时，不会对整个光路有任何影响，其能够根据实际使用环境设置所述分光光学元件13至光学元件14之间的距离，或光学元件14至回返光学元件6之间的距离以适应不同的检测环境，因而整个样品测量装置1具有较好的通用性。

在本实施方式中，所述光学元件14可为中空的透光本体，所述本体上设置有开口140，所述开口140上通过可拆卸的方式设置有密封件144，所述中空的本体内能设置有预定样品；所述本体包括与待测样品11接触的第一平面窗口141和与所述第一平面窗口141相对的第二平面窗口142，光源12发出的光辐射能通过所述第一平面窗口141经过本体中的预定样品，从第二平面窗口142射出进入待测样品11中。

在本实施方式中，所述光学元件14包括第一平面窗口141和第二平面窗口142，所述平面窗口可以包括平行或非平行的两个平面表面。在一个实施方式中，所述光辐射经过光学元件14后传播方向不变。

具体的光学元件14的形式请参阅图5A至图6B。

其中，图5A和5B，为本实用新型实施例中一种光学元件布置示意图及内部的光路传播示意图。具体的，所述光学元件14可为单楔形窗组，即所述光学元件14包括两个单楔形窗。如图5A所示，具有楔形面的两个窗口相互平行放置，使得光路23、光路24能够分别和光路25、光路26相平行。

其中，图6A和6B，为本实用新型实施例中一种光学元件布置示意图及内部的光路传播示意图。具体的，所述光学元件14可为双楔形窗组，即所述光学元件14包括两个双楔形窗。如图6A所示，具有楔形面的两个窗口相互平行放置，使得光路23、光路24能够分别和光路25、光路26相平行。

利用所述光辐射经过光学元件14后传播方向不变的特性，可沿着光辐射方向任意调整相关光学元件的姿态或光学元件14与所述分光光学元件13之间的相对关系，从而增加光路的普适性，优化光学系统，提高系统光透过率，降低光学噪声。

在本实施方式中，所述开口140的个数可以为一个，也可以为多个。当所述开口140的个数为一个时，所述140的外面可以设置三通阀，一路用于充气，另一路用于排气。

在一个实施方式中，所述开口140可以包括第一开口1401和第二开口1402，所述本体包括与所述第一平面窗口141、第二平面窗口142相邻接的第一端面145和第二端面146，所述第一端面145与所述第二端面146相背对，所述第一开口1401设置在所述第一端面145上，所述第二开口1402设置在所述第二端面146上。当向所述光学元件14中充入预定样品时，可以通过所述第一开口1401充入，而通过所述第二开口1402将剩余的空气排出，以最优地将剩余的空气排出，保证预设气体的纯度，以保证检测的精度。

所述开口140的设置方式可以包括焊接、可拆卸地密封连接中的一种。例如，当所述开口的设置方式为焊接时，其可以在充入预定样品后，通过焊接的方式将开口密封，以防止所述预定样品从所述开口140泄漏出来。

另外，当所述开口140通过可拆卸密封连接的方式设置时，可在所含是开口140上设置一密封件144。所述密封件144通过可拆卸的方式设置在所述开口140上，以对所述光学元件14内的气体进行密封。所述可拆卸的方式具体的可以为插拔式，所述密封件144与所述带有开口140的本体可为过盈配合。此外，所述密封件144还可以为与所述带有开口140的本体为螺纹连接，在螺纹连接处可打上密封脂，进一步辅助密封。此外所述密封件144的具体形式以及其与本体的配合方式还可以为其他形式，所属领域技术人员在本申请的技术精髓启示下，还可能做出其他的变更，但只要其实现的功能和效果与本申请相同或相似，均应涵盖于本申请保护范围内。所述密封件144的材料可以包括但不限于：橡胶、石墨、金属、塑料中的一种。当然，所述密封件144的材料也可以为其他的形式，本申请在此并不作具体的限定。

在本实施方式中，所述检测单元15能接收主光路与待测样品11相互作用后的光辐射信号。例如，能检测到待测样品11的吸收长度。所述检测单元15与所述数据处理模块3电连接，能将检测到的信号传输给数据处理模块3。

在本实施方式中，所述存储模块2可以用于存储所述预定样品的预定信息。所述存储模块2与所述数据处理模块3电连接，数据处理模块3能调用所述存储模块2中的数据。

所述预定信息可以包括但不限于所述光学元件14内预定样品的浓度、吸收长度等参数。当然，所述预定信息不限于上述描述。所属领域技术人员在本申请的技术精髓启示下，还可能做出其他的变更，但只要其实现的功能和效果与本申请相同或相似，均应涵盖于本申请保护范围内。

在本实施方式中，所述数据处理模块3可以用于将所述检测单元15接收到的光信号进行处理，并将所述处理后的光信号与所述预定信息进行比较，以检测所述测量装置1的精度。使用时，当检测单元15检测到的待测样品11的吸收长度后，其将上述数据发送给所述数据处理模块3，所述数据处理模块3基于上述数据并调用存储模块2中的参数，可以确定被测气体的浓度，然后将所述数据处理模块3确定的被测气体的浓度与实际测得的被测气体的浓度进行比较，若在预定偏差范围内，则说明检测系统在正常范围内工作，当超出预定偏差范围时，则说明检测系统可能出现故障了，需要进行检修。具体的，所述预定偏差可以为在所述数据处理模块3中设定的范围，如-5％至+5％。当然，所述预定偏差可以根据实际测量环境和测量精度要求的不同而分别设定。

在本实施方式中，所述预定样品为关键功能或性质已知的样品。所述预定样品可以为预定液体，也可以为预定样品；所述预定样品的状态可以为静态，也可以为流动，本申请在此并不作具体限定。在本实施方式中，所述预定样品可以包括但不限于：吹扫气、氮气、标准样品中的一种。其中，所述标准样品可为已知信息的用于标定或验证波长、浓度等物化性质的样品，但不限于这些样品。具体的，例如测氧气时，由于空气中含有大量氧气，会对测量结果造成干扰，因此，此时的预定样品可以为氮气。

在一个具体的实施方式中，当所述光学元件14中的预定样品的浓度为已知的，其吸收长度可以通过测量确定，也为已知量，此外，待测样品11的吸收长度也可以通过测量获得。当已知能够预定样品的浓度、吸收长度、待测样品11的吸收长度，根据由朗伯-比尔定律，通过计算，可以确定被测气体的浓度。具体的计算过程，此处不再赘述。

在本实施方式中，通过将其中的光学元件14设置为中空的透光本体，中空的透光本体，所述本体内能容置有预定样品，所述本体包括第一平面窗口141和与所述第一平面窗口141相对设置的第二平面窗口142，所述光辐射能通过所述第一平面窗口141经过所述预定样品，从第二平面窗口142出射进入待测样品11中，然后通过数据处理模块3，将所述检测单元15接收到的光信号进行处理，并将所述处理后的光信号与存储模块2中存储的预定信息进行比较，实现了检测所述测量装置1的精度。当所述测量系统10能够实现自检之后，用户使用时，可以通过数据处理模块3反馈的数据判断测量装置1的精度是否满足要求，使用方便，用户体验较佳。

在一个实施方式中，所述光学元件14的外围还可以设置有加热件。在本实施方式中，通过在所述光学元件14的外围设置加热件，可以使得所述光学元件14整体上加热更加均匀，无温度死区。具体的，所述加热件可为独立于测量系统其它加热件。光学元件的加热器和样品测量池的加热器可以是相互独立，各加热件的功率能根据温控对象的温度进行单独设定。所述加热件的功率能根据待测样品11的温度进行设定时，其可以根据所述待测样品11的温度而进行调节，从而保证所述光学元件14或预定气体能够与待测样品11处于同一环境温度下。同时提高了加热效果，降低了系统加热功率，提高了可靠性。进一步的，现有技术中样品池的光学元件直接与环境空气或吹扫气直接接触，易受冷空气流动影响，伴热保温不稳定、不彻底。本实施方式预定样品气体不流动或间歇流动时，光学元件的温度可避免受气流影响。

所述加热件的具体形式包括但不限于陶瓷、铸铝等加热器，其加热方式包括但不限于辐射、对流、传导等加热方式。

在另一个实施例中，本实施例还提供了另一种测量系统，请参阅图7至图8，本实施例与本第一实施例不同之处在于所述测量系统还包括检验光路回返模块(图中以虚线框示出)。所述测量系统工作状态包括检验状态和测量状态，当测量系统进行检验时，检验光路回返模块移动至光路中预定位置，实现标定、验证等检验功能；当所述测量系统进行样品测量时，所述检验光路回返模块移离所述光路中预定位置，实现样品理化指标测量。

具体的，所述光路标定模块的具体结构可以参照上个实施例中的光学元件14的结构，此处不再赘述。在测量系统10正常工作时，所述光路标定模块可位于测量光路的上方，不影响测量。当需要对测量系统10的精度进行标定时，光路标定模块运动到主光路上，完成对测量系统10的标定。具体标定时，所述光源12发出的光辐射依次经过光学元件14、光路标定模块和待测样品。然后通过数据处理模块3，将所述检测单元15接收到的光信号进行处理，并将所述处理后的光信号与存储模块2中存储的预定信息进行比较，实现了检测所述测量装置1的精度。当所述测量系统10能够实现自检之后，用户使用时，可以通过数据处理模块3反馈的数据判断测量装置1的精度是否满足要求，使用方便，用户体验较佳。

请参阅图3至图6B。本申请实施方式中还提供了一种光学元件14，所述光学元件14可为中空的透光本体，所述本体上设置有开口140，所述开口140上通过可拆卸的方式设置有密封件144，所述中空的本体内能设置有预定样品；所述本体包括与待测样品接触的第一平面窗口141和与所述第一平面窗口141相对的第二平面窗口142，光源12发出的光辐射能通过所述第一平面窗口141经过本体中的预定样品，从第二平面窗口142射出进入待测样品11中。

在本实施方式中，所述光学元件14包括第一平面窗口141和第二平面窗口142，所述平面窗口可以包括平行或非平行的两个平面表面。在一个实施方式中，所述光辐射经过光学元件14后传播方向不变。

具体的光学元件14的形式请参阅图5A至图6B。

其中，图5A和5B，为本实用新型实施例中一种光学元件布置示意图及内部的光路传播示意图。具体的，所述光学元件14可为单楔形窗组，即所述光学元件14包括两个单楔形窗。如图5A所示，具有楔形面的两个窗口相互平行放置，使得光路23、光路24能够分别和光路25、光路26相平行。

其中，图6A和6B，为本实用新型实施例中一种光学元件布置示意图及内部的光路传播示意图。具体的，所述光学元件14可为双楔形窗组，即所述光学元件14包括两个双楔形窗。如图6A所示，具有楔形面的两个窗口相互平行放置，使得光路23、光路24能够分别和光路25、光路26相平行。

利用所述光辐射经过光学元件14后传播方向不变的特性，可沿着光辐射方向任意调整相关光学元件的姿态或光学元件14与所述分光光学元件13之间的相对关系，从而增加光路的普适性，优化光学系统，提高系统光透过率，降低光学噪声。

在本实施方式中，所述开口140的个数可以为一个，也可以为多个。当所述开口140的个数为一个时，所述140的外面可以设置三通阀，一路用于充气，另一路用于排气。

在一个实施方式中，所述开口140可以包括第一开口1401和第二开口1402，所述本体包括与所述第一平面窗口141、第二平面窗口142相邻接的第一端面145和第二端面146，所述第一端面145与所述第二端面146相背对，所述第一开口1401设置在所述第一端面145上，所述第二开口1402设置在所述第二端面146上。当向所述光学元件14中充入预定样品时，可以通过所述第一开口1401充入，而通过所述第二开口1402将剩余的空气排出。以最优地将剩余的空气排出，保证预设气体的纯度，以保证检测的精度。

所述开口140的设置方式可以包括焊接、可拆卸地密封连接中的一种。例如，当所述开口的设置方式为焊接时，其可以在充入预定样品后，通过焊接的方式将开口密封，以防止所述预定样品从所述开口140泄漏出来。

另外，当所述开口140通过可拆卸密封连接的方式设置时，可在所含是开口140上设置一密封件144。所述密封件144通过可拆卸的方式设置在所述开口140上，以对所述光学元件14内的气体进行密封。所述可拆卸的方式具体的可以为插拔式，所述密封件144与所述带有开口140的本体可为过盈配合。此外，所述密封件144还可以为与所述带有开口140的本体为螺纹连接，在螺纹连接处可打上密封脂，进一步辅助密封。此外所述密封件144的具体形式以及其与本体的配合方式还可以为其他形式，所属领域技术人员在本申请的技术精髓启示下，还可能做出其他的变更，但只要其实现的功能和效果与本申请相同或相似，均应涵盖于本申请保护范围内。所述密封件144的材料可以包括但不限于：橡胶、石墨、金属、塑料中的一种。当然，所述密封件144的材料也可以为其他的形式，本申请在此并不作具体的限定。

在一个实施方式中，所述光学元件14的外围还可以设置有加热件。在本实施方式中，通过在所述光学元件14的外围设置加热件，可以使得所述光学元件14整体上加热更加均匀，无温度死区。具体的，所述加热件可为独立于测量系统其它加热件。所述加热件的功率能根据待测样品的温度进行设定。所述加热件的功率能根据待测样品的温度进行设定时，其可以根据所述待测样品的温度而进行调节，从而保证所述光学元件14内的预定样品能够与待测样品处于同一环境温度下，进而可以使得作为标定的预设气体的参考价值更高。所述加热件的具体形式包括但不限于陶瓷、铸铝等加热器，其加热方式包括但不限于辐射、对流、传导等加热方式。

本实施方式中，通过将其中的光学元件14设置为中空的透光本体，中空的透光本体，所述本体内能容置有预定样品，所述本体包括第一平面窗口141和与所述第一平面窗口141相对设置的第二平面窗口142，所述光辐射能通过所述第一平面窗口141经过所述预定样品，从第二平面窗口142出射进入待测样品中，然后通过数据处理模块，将检测单元接收到的光信号进行处理，并将所述处理后的光信号与存储模块中存储的预定信息进行比较，能实现检测测量装置精度的目的。

以上所述仅为本实用新型的几个实施例，虽然本实用新型所揭露的实施方式如上，但所述内容只是为了便于理解本实用新型而采用的实施方式，并非用于限定本实用新型。任何本实用新型所属技术领域的技术人员，在不脱离本实用新型所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施方式的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本实用新型的专利保护范围，仍须以所附权利要求书所界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种测量系统，其特征在于，其包括：

具有光源、光学元件、检测单元的测量装置，其中，所述光源发出的光辐射经过光学元件穿过待测样品，被检测单元接收；

所述光学元件为中空的透光本体，所述本体内能容置有预定样品，所述本体包括第一平面窗口和与所述第一平面窗口相对设置的第二平面窗口，所述光辐射通过所述第一平面窗口经过所述预定样品，从第二平面窗口出射进入待测样品中。

2.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述光辐射经过所述光学元件后的传播方向不变。

3.如权利要求1或2所述的测量系统，其特征在于，所述本体上设置有开口，所述设置方式包括焊接、密封连接中的一种。

4.如权利要求3所述的测量系统，其特征在于，所述开口包括第一开口和第二开口，所述本体包括与所述第一平面窗口、第二平面窗口相邻接的第一端面和第二端面，所述第一开口设置在所述第一端面上，所述第二开口设置在所述第二端面上。

5.如权利要求1或2所述的测量系统，其特征在于，所述预定样品包括：吹扫气、氮气、标准样品中的一种。

6.如权利要求1或2所述的测量系统，其特征在于，所述光学元件的外围还设置有加热件，用于对所述光学元件进行加热。

7.如权利要求6所述的测量系统，其特征在于，所述加热件单独设置。

8.如权利要求1或2所述的测量系统，其特征在于，所述测量系统还包括检验光路回返模块，所述检验光路回返模块以可移动的方式设置于所述测量系统光路中，当所述测量系统进行检验时，所述检验光路回返模块移动至光路中预定位置；当所述测量系统进行测量时，所述检验光路回返模块移离所述光路中预定位置。

9.一种光学元件，其特征在于，其包括：中空的透光本体，所述本体上设置有至少一个开口；所述中空的本体内能容置有预定样品；

所述透光本体包括第一平面窗口和与所述第一平面窗口相对设置的第二平面窗口，光源发出的光辐射能通过所述第一平面窗口经过本体中的预定样品，从第二平面窗口出射进入待测样品中，所述光辐射经过所述光学元件后传播方向不变。

10.如权利要求9所述的光学元件，其特征在于，所述光学元件的外围还设置有加热件，用于对所述光学元件进行加热。