CN205066802U - 一种光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路，该全封闭光通路由前端盖、调节块、筒身、散光装置、后端盖和插件六部分组成；调节块上设置有光源和光源电压调节装置，通过改变调节块距后端盖的距离，可调节光源对待测光敏传感器的光照距离，光源电压调节装置可改变光源的电压，从而调节光源的光照度。本实用新型外表面喷涂光学黑色涂料，经过精密光学设计，达到完全屏蔽外部光线的目的，并且光照距离和强度可调，可改善测试环境，提高测试精度，缩小测试整机的体积，操作简单，使用方便。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种光敏传感器的测试装置，具体为一种光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路。
背景技术
在光敏传感器的质量检测过程中，其光电性能的测试至关重要。现用的光敏传感器光电性能的测试都是在光学暗室中进行的，该光学暗室内设测试平台，尺寸至少要允许一个测试人员在其内部进行正常测试，往往体积较大，而且为避免光线进入暗室，必须要注意暗室的封闭。然而，人们忽视了改善测试人员的工作环境和提高工作效率的问题，如果存在一种成本低、性能好的专业封闭光路系统，那么，测试的便易性将得到显著提高。
发明内容
本实用新型的目的是针对现有技术的不足之处，提供了一种使用方便、操作简单的光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路。
本实用新型是通过以下技术方案来实现的：
该全封闭光通路包括前端盖、调节块、筒身、散光装置、后端盖和插件，所述的前端盖、调节块、筒身、散光装置、后端盖和插件依次固定连接；调节块上下分别设置有光源电压调节装置和光源。通过改变调节块距后端盖的距离，可调节光源对待测光敏传感器的光照距离，光源电压调节装置可改变光源的电压，从而调节光源的光照度。
进一步地，所述的全封闭光通路磨光的外壁上喷涂光吸收材料，具体为一种光学黑色涂料，可屏蔽外部光线。
进一步地，所述的筒身内壁经过光学磨砂处理，防止光线的镜面反射。
进一步地，所述的全封闭光通路采用钛合金，铝合金和镁合金等轻质材料制成。
进一步地，所述的全封闭光通路内腔为圆柱状设计，无光照死角。
进一步地，所述的光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路，其特征在于：所述的调节块外侧有螺纹，可与筒身内壁的螺纹配合，从而改变调节块距后端盖的距离。
进一步地，所述的光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路，其特征在于：所述的散光装置设置在筒身的后端部，用来打散光源发射的光，防止光源发射的光直射到待测光敏传感器上。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
本实用新型填补了光敏传感器光电性能测试领域缺乏专业测试装置核心元件的现状，且结构简单、可靠性高、实用性强。
附图说明
下面通过实施例，结合附图对本实用新型作进一步描述。
图1为本实用新型的结构示意图。
1为前端盖，2为光源电压调节装置，3为调节块，4为光源，5为筒身，6为散光装置，7为后端盖，8为插件。
具体实施方式
下面结合附图与具体实施例来对本实用新型进行详细说明：
如图1所示，一种光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路，该全封闭光通路由前端盖1、调节块3，筒身5，散光装置6，后端盖7，插件8六部分组成；所述的调节块3上下分别设置有光源电压调节装置2和光源4。
实施例一：
如图1所示，全封闭光通路中光源4使用LED背光灯，接通外部电源，打开插件8，将待测的光敏二极管引线插在插件8上，调节光源数显电压调节装置2使光源电压为5V的大小，旋动调节块3使其与后端盖7的距离为筒身5长度的1/3。
上述实施例，只是本实用新型的一个实例，并不是用来限制本实用新型的实施与权利范围，凡与本实用新型权利要求所述内容相同或等同的技术方案，均应包括在本实用新型保护范围内。
Claims (6)
1.一种光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路，包括前端盖、调节块、筒身、散光装置、后端盖和插件，其特征在于：所述的前端盖、调节块、筒身、散光装置、后端盖和插件依次固定连接；调节块上下分别设置有光源电压调节装置和光源。
2.根据权利要求1所述的光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路，其特征在于：所述的全封闭光通路磨光的外壁上喷涂光吸收材料，具体为一种光学黑色涂料，可屏蔽外部光线。
3.根据权利要求1所述的光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路，其特征在于：所述的筒身内壁经过光学磨砂处理，防止光线的镜面反射。
4.根据权利要求1所述的光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路，其特征在于：所述的全封闭光通路内腔为圆柱状设计，无光照死角。
5.根据权利要求1所述的光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路，其特征在于：所述的调节块外侧有螺纹，可与筒身内壁的螺纹配合，从而改变调节块距后端盖的距离。
6.根据权利要求1所述的光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路，其特征在于：所述的散光装置设置在筒身的后端部，用来打散光源发射的光，防止光源发射的光直射到待测光敏传感器上。
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| CN205066802U true CN205066802U (zh) | 2016-03-02 |
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| CN201520516772.0U Active CN205066802U (zh) | 2015-07-16 | 2015-07-16 | 一种光敏传感器光电性能测试装置的全封闭光通路 |
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2015
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