CN204925283U - 一种天线测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及天线测试技术领域，提供一种天线测试装置，包括上压块和天线固定块，天线固定块上设有第一天线放置槽和第二天线放置槽，第一类天线上设有若干个第一天线定位孔，第二类天线上设有若干个第二天线定位孔，第一天线放置槽内设有若干个第一固定块定位孔和若干个第一固定块探针穿孔，第二天线放置槽内设有若干个第二固定块定位孔和若干个第二固定块探针穿孔，上压块上设有第一压块凸起和第二压块凸起，第一压块凸起上设有若干个第一压块定位孔，所述第二压块凸起上设有若干个第二压块定位孔，从而实现对天线的检测，而且采用天线漏铜部分的接触方式，提高检测效率，也进一步地提高了天线产品良率。

Description

一种天线测试装置

技术领域

本实用新型属于天线测试技术领域，尤其涉及一种天线测试装置。

背景技术

软板(FlexiblePrintedCircuit，FPC)天线的检测技术，已经较为成熟，目前有三种较为常见的方式，即探针(pogopin针)接触FPC的焊盘进行馈电的方式、Ipex座形式馈电的方式以及Ipex母头接触测试的方式，这些检测方式都存在缺陷，具体为：

pogopin针接触软板的焊盘进行馈电，以检测一致性，其检测的通用性较差，需要频繁的更换检测装置，实现对不同软板的天线检测工作，测试效率较低；

Ipex母头接触测试的方式：以Ipex座形式馈电，由于Ipex座的尺寸较小(约为2.5*2.5mm)，采用传统的上下压冲方式，由于工装精度误差容易造成产品的压伤，影响天线良率；

采用Ipex母头接触测试方法，需要将每个产品与Ipex母头接触，测试效率较低，而且由于Ipex母头的使用次数有限，也需要经常更换，降低了天线测试的效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种天线测试装置，旨在解决现有技术提供的天线检测方式存在测试效率低、影响天线良率的问题。

本实用新型是这样实现的，一种天线测试装置，所述天线测试装置包括上压块和天线固定块，其中：

所述天线固定块固定安装在检测电路板上，所述天线固定块上设有第一天线放置槽和第二天线放置槽，所述第一天线放置槽内放置待测的第一类天线，所述第二天线放置槽内放置待测的第二类天线，所述第一类天线上设有若干个第一天线定位孔，所述第二类天线上设有若干个第二天线定位孔；

所述第一天线放置槽内设有若干个第一固定块定位孔和若干个第一固定块探针穿孔，所述第二天线放置槽内设有若干个第二固定块定位孔和若干个第二固定块探针穿孔，所述第一固定块探针穿孔和所述第二固定块探针穿孔套装在所述检测电路板上对应位置的探针上，所述探针穿过所述第一固定块探针穿孔后与所述第一类天线的漏铜部分相接触，所述探针穿过所述第二固定块探针穿孔后与所述第二类天线的漏铜部分相接触；

所述上压块固定安装在升降板与所述天线固定块相对应的一侧，所述上压块上设有第一压块凸起和第二压块凸起，所述第一压块凸起与所述第一天线放置槽相适应，所述第二压块凸起与所述第二天线放置槽相适应，所述第一压块凸起上设有若干个第一压块定位孔，所述第二压块凸起上设有若干个第二压块定位孔；

所述第一固定块定位孔、第一天线定位孔以及第一压块定位孔相对应，所述第二固定块定位孔、第二天线定位孔以及第二压块定位孔相对应。

作为一种改进的方案，所述第一固定块定位孔的数量为两个，分别记为：第一固定块定位孔A和第一固定块定位孔B，相对应的，所述第一压块定位孔的数量也两个，分别记为：第一压块定位孔A和第一压块定位孔B，其中：

所述第一固定块定位孔B位于所述天线固定块的中心位置，所述第一压块定位孔B位于所述上压块的中心位置。

作为一种改进的方案，所述第二固定块定位孔的数量为三个，分别记为：第二固定块定位孔A、第二固定块定位孔B以及第二固定块定位孔C，相对应的，所述第二压块定位孔的数量也为三个，分别记为：第二压块定位孔A、第二压块定位孔B以及第二压块定位孔C，其中：

所述第二固定块定位孔A、第二固定块定位孔B以及第二固定块定位孔C从所述天线固定块的中心向一侧分布，第二压块定位孔A、第二压块定位孔B以及第二压块定位孔C从所述上压块的中心向一侧分布。

作为一种改进的方案，所述第一固定块探针穿孔的数量为两个，分别记为：第一固定块探针穿孔A和第一固定块探针穿孔B；

所述第二固定块探针穿孔的数量为两个，分别记为：第二固定块探针穿孔A和第二固定块探针穿孔B。

作为一种改进的方案，所述第一天线定位孔设置为两个，分别记为:第一天线定位孔A和第一天线定位孔B，所述第二天线定位孔设置为三个，分别记为:第二天线定位孔A、第二天线定位孔B以及第二天线定位孔C。

作为一种改进的方案，所述第一固定块定位孔A、第一天线定位孔A以及第一压块定位孔A相对应；

所述第一固定块定位孔B、第一天线定位孔B以及第一压块定位孔B相对应；

所述第二固定块定位孔A、第二天线定位孔A以及第二固定块定位孔A相对应；

所述第二固定块定位孔B、第二天线定位孔B以及第二固定块定位孔B相对应；

所述第二固定块定位孔C、第二天线定位孔C以及第二固定块定位孔C相对应。

作为一种改进的方案，所述第一类天线为分集天线，所述第二类天线为主天线。

由于天线测试装置包括上压块和天线固定块，天线固定块上设有第一天线放置槽和第二天线放置槽，第一天线放置槽内放置待测的第一类天线，第二天线放置槽内放置待测的第二类天线，第一类天线上设有若干个第一天线定位孔，第二类天线上设有若干个第二天线定位孔，第一天线放置槽内设有若干个第一固定块定位孔和若干个第一固定块探针穿孔，第二天线放置槽内设有若干个第二固定块定位孔和若干个第二固定块探针穿孔，上压块上设有第一压块凸起和第二压块凸起，第一压块凸起上设有若干个第一压块定位孔，所述第二压块凸起上设有若干个第二压块定位孔，第一固定块定位孔、第一天线定位孔以及第一压块定位孔相对应，所述第二固定块定位孔、第二天线定位孔以及第二压块定位孔相对应，从而实现对天线的检测，而且采用天线漏铜部分的接触方式，提高检测效率，也进一步地提高了天线产品良率。

附图说明

图1是本实用新型提供的天线固定块的结构示意图；

图2是本实用新型提供的上压块的结构示意图；

图3和图4分别是本实用新型提供的分级天线的结构示意图；

图5和图6分别是本实用新型提供的主天线的结构示意图；

其中，1-上压块，2-天线固定块，3-第一天线放置槽，4-第二天线放置槽，5-第一压块凸起，6-第二压块凸起，7-第一固定块定位孔A，8-第一固定块定位孔B，9-第一压块定位孔A，10-第一压块定位孔B，11-第二固定块定位孔A，12-第二固定块定位孔B，13-第二固定块定位孔C，14-第二压块定位孔A，15-第二压块定位孔B，16-第二压块定位孔C，17-第一固定块探针穿孔A，18-第一固定块探针穿孔B，19-第二固定块探针穿孔A，20-第二固定块探针穿孔B，21-第一天线定位孔A，22-第一天线定位孔B，23-第二天线定位孔A，24-第二天线定位孔B，25-第二天线定位孔C，26-第一漏铜区域，27-第二漏铜区域，28-第三漏铜区域，29-第四漏铜区域，30-第五漏铜区域，31-第六漏铜区域。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

图1示出了本实用新型提供的天线固定块的结构示意图，图2示出了本实用新型提供的上压块的结构示意图，为了便于说明，图中仅给出了与本实用新型相关的部分。

天线测试装置包括上压块1和天线固定块2，其中：

如图1所示，天线固定块2固定安装在检测电路板(图中未示出)上，天线固定块2上设有第一天线放置槽3和第二天线放置槽4，第一天线放置槽3内放置待测的第一类天线，第二天线放置槽4内放置待测的第二类天线；

如图3至图6所示，第一类天线上设有若干个第一天线定位孔，第二类天线上设有若干个第二天线定位孔，下述有详细的说明，在此不再赘述；

其中，第一天线放置槽3内设有若干个第一固定块定位孔和若干个第一固定块探针穿孔，第二天线放置槽4内设有若干个第二固定块定位孔和若干个第二固定块探针穿孔，第一固定块探针穿孔和第二固定块探针穿孔套装在检测电路板上对应位置的探针上，探针穿过第一固定块探针穿孔后与第一类天线的漏铜部分相接触，探针穿过第二固定块探针穿孔后与第二类天线的漏铜部分相接触，如图3至图6所示；

如图2所示，上压块1固定安装在升降板(图中未示出)与天线固定块2相对应的一侧，上压块1上设有第一压块凸起5和第二压块凸起6，第一压块凸起5与第一天线放置槽3相适应，第二压块凸起6与第二天线放置槽4相适应，第一压块凸起5上设有若干个第一压块定位孔，第二压块凸起6上设有若干个第二压块定位孔；

其中，第一固定块定位孔、第一天线定位孔以及第一压块定位孔相对应，第二固定块定位孔、第二天线定位孔以及第二压块定位孔相对应。

其中，如图1和图2所示，第一固定块定位孔的数量为两个，分别记为：第一固定块定位孔A7和第一固定块定位孔B8，相对应的；

第一压块定位孔的数量也两个，分别记为：第一压块定位孔A9和第一压块定位孔B10，其中：

第一固定块定位孔B8位于天线固定块2的中心位置，第一压块定位孔B10位于上压块1的中心位置。

如图1和图2所示，第二固定块定位孔的数量为三个，分别记为：第二固定块定位孔A11、第二固定块定位孔B12以及第二固定块定位孔C13，相对应的，第二压块定位孔的数量也为三个，分别记为：第二压块定位孔A14、第二压块定位孔B15以及第二压块定位孔C16，其中：

第二固定块定位孔A11、第二固定块定位孔B12以及第二固定块定位孔C13从天线固定块2的中心向一侧分布，第二压块定位孔A14、第二压块定位孔B15以及第二压块定位孔C16从上压块1的中心向一侧分布。

如图1所示，第一固定块探针穿孔的数量为两个，分别记为：第一固定块探针穿孔A17和第一固定块探针穿孔B18；

第二固定块探针穿孔的数量为两个，分别记为：第二固定块探针穿孔A19和第二固定块探针穿孔B20。

在本实用新型实施例中，第一天线定位孔设置为两个，分别记为:第一天线定位孔A21和第一天线定位孔B22，第二天线定位孔设置为三个，分别记为:第二天线定位孔A23、第二天线定位孔B24以及第二天线定位孔C25，其中：

上述第一类天线和第二类天线的形式可以有多种，例如801和802两种型号，如图3至图6所示，其中，图3给出的是801分集天线的结构图，图4给出的是802分级天线的结构图，图5给出的801主天线的结构图，图6给出的是802主天线的结构图，具体为：

如图3所示，该图所示的801分集天线的结构示意图，图中，第一天线定位孔A21与上述第一固定块定位孔A7、第一压块定位孔A9相对应，即:定位柱穿过图1所示的该天线固定块2的第一固定块定位孔A7和该图3所示的第一天线定位孔A21之后，延伸至图2所示的上压块1的第一压块定位孔A9内；

第一天线定位孔B22与上述第一固定块定位孔B8、第一压块定位孔B10相对应，即:定位柱穿过图1所示的该天线固定块2的第一固定块定位孔B8和该图3所示的第一天线定位孔B22之后，延伸至图2所示的上压块1的第一压块定位孔B10内；

其中，在该801分集天线上设有漏铜部分，记为第一漏铜区域26，该第一漏铜区域26与上述天线固定块2上的第一固定块探针穿孔A17相对应，即探针穿过该第一固定块探针穿孔A17后，与该第一漏铜区域26相接触，实现对天线的检测；

如图4所示，该图所示的802分集天线的结构示意图，图中，802分集天线和801分集天线的结构基本相同，即该第一天线定位孔A21与上述第一固定块定位孔A7、第一压块定位孔A9相对应，即:定位柱穿过图1所示的该天线固定块2的第一固定块定位孔A7和该图3所示的第一天线定位孔A21之后，延伸至图2所示的上压块1的第一压块定位孔A9内；

第一天线定位孔B22与上述第一固定块定位孔B8、第一压块定位孔B10相对应，即:定位柱穿过图1所示的该天线固定块2的第一固定块定位孔B8和该图3所示的第一天线定位孔B22之后，延伸至图2所示的上压块1的第一压块定位孔B10内；

其中，在该802分集天线上设有漏铜部分，记为第二漏铜区域27，该第二漏铜区域27与上述天线固定块2上的第一固定块探针穿孔B18相对应，即探针穿过该第一固定块探针穿孔B18后，与该第二漏铜区域27相接触，实现对天线的检测；

如图5所示，该图所示的801主天线的结构示意图，该第二天线定位孔A23与上述第二固定块定位孔A11、第二压块定位孔A14相对应，即:定位柱穿过图1所示的该天线固定块2的第二固定块定位孔A11和该图3所示的第二天线定位孔A23之后，延伸至图2所示的上压块1的第二压块定位孔A14内；

第二天线定位孔B24与上述第二固定块定位孔B12、第二压块定位孔B15相对应，即:定位柱穿过图1所示的该天线固定块2的第二固定块定位孔B12和该图3所示的第二天线定位孔B24之后，延伸至图2所示的上压块1的第二压块定位孔B15内；

第二天线定位孔C25与上述第二固定块定位孔C13、第二压块定位孔C16相对应，即:定位柱穿过图1所示的该天线固定块2的第二固定块定位孔C13和该图3所示的第二天线定位孔C25之后，延伸至图2所示的上压块1的第二压块定位孔C16内；

其中，在该801主天线上设有漏铜部分，分别记为第三漏铜区域28和第四漏铜区域29，该第三漏铜区域28与上述天线固定块2上的第二固定块探针穿孔A19相对应，该第四漏铜区域29与上述天线固定块2上的第二固定块探针穿孔B20相对应，即探针穿过该第二固定块探针穿孔A19后，与该第三漏铜区域28相接触，穿过该第二固定块探针穿孔B20后，与该第四漏铜区域29相接触，可以采用二选一的方式，实现对天线的检测；

如图6所示，该图所示的802主天线的结构示意图，其中，该802主天线和801主天线的结构基本相同，该第二天线定位孔A23与上述第二固定块定位孔A11、第二压块定位孔A14相对应，即:定位柱穿过图1所示的该天线固定块2的第二固定块定位孔A11和该图3所示的第二天线定位孔A23之后，延伸至图2所示的上压块1的第二压块定位孔A14内；

第二天线定位孔B24与上述第二固定块定位孔B12、第二压块定位孔B15相对应，即:定位柱穿过图1所示的该天线固定块2的第二固定块定位孔B12和该图3所示的第二天线定位孔B24之后，延伸至图2所示的上压块1的第二压块定位孔B15内；

第二天线定位孔C25与上述第二固定块定位孔C13、第二压块定位孔C16相对应，即:定位柱穿过图1所示的该天线固定块2的第二固定块定位孔C13和该图3所示的第二天线定位孔C25之后，延伸至图2所示的上压块1的第二压块定位孔C16内；

其中，在该802主天线上设有漏铜部分，分别记为第五漏铜区域30和第六漏铜区域31，该第五漏铜区域30与上述天线固定块2上的第二固定块探针穿孔A19相对应，该第六漏铜区域31与上述天线固定块2上的第二固定块探针穿孔B20相对应，即探针穿过该第二固定块探针穿孔A19后，与该第五漏铜区域30相接触，穿过该第二固定块探针穿孔B20后，与该第六漏铜区域31相接触，可以采用二选一的方式，实现对天线的检测。

上述天线固定块2和上压块1上还设有其他结构，在此不再赘述，但不用以限制本实用新型。

为了便于理解，下述给出本实用新型基于该天线测试装置的天线测试方法的实现过程：

(1)将待测的天线放置到对应的天线放置槽内，将天线与天线固定块2之间各个孔建立对应关系；

即将图3和图4所示的天线放置到第一天线放置槽3内，将图5和图6所示的天线放置到第二天线放置槽4内；

(2)控制上压块1向下移动，使上压块1的第一压块凸起5和第二压块凸起6分别冲向第一天线放置槽和第二天线放置槽，使上压块1与天线固定块2之间压紧；

(3)当探针与对应的漏铜部分接触时，在探针上形成电信号，并传输反馈给相应的检测设备，完成天线的测试。

上述仅给出简单的测试内容，在此不再赘述。

在本实用新型实施例中，天线测试装置包括上压块1和天线固定块2，天线固定块2上设有第一天线放置槽3和第二天线放置槽4，第一天线放置槽3内放置待测的第一类天线，第二天线放置槽4内放置待测的第二类天线，第一类天线上设有若干个第一天线定位孔，第二类天线上设有若干个第二天线定位孔，第一天线放置槽3内设有若干个第一固定块定位孔和若干个第一固定块探针穿孔，第二天线放置槽4内设有若干个第二固定块定位孔和若干个第二固定块探针穿孔，上压块1上设有第一压块凸起5和第二压块凸起6，第一压块凸起5上设有若干个第一压块定位孔，第二压块凸起6上设有若干个第二压块定位孔，第一固定块定位孔、第一天线定位孔以及第一压块定位孔相对应，第二固定块定位孔、第二天线定位孔以及第二压块定位孔相对应，从而实现对天线的检测，而且采用天线漏铜部分的接触方式，提高检测效率，也进一步地提高了天线产品良率。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种天线测试装置，其特征在于，所述天线测试装置包括上压块和天线固定块，其中：

所述天线固定块固定安装在检测电路板上，所述天线固定块上设有第一天线放置槽和第二天线放置槽，所述第一天线放置槽内放置待测的第一类天线，所述第二天线放置槽内放置待测的第二类天线，所述第一类天线上设有若干个第一天线定位孔，所述第二类天线上设有若干个第二天线定位孔；

所述第一天线放置槽内设有若干个第一固定块定位孔和若干个第一固定块探针穿孔，所述第二天线放置槽内设有若干个第二固定块定位孔和若干个第二固定块探针穿孔，所述第一固定块探针穿孔和所述第二固定块探针穿孔套装在所述检测电路板上对应位置的探针上，所述探针穿过所述第一固定块探针穿孔后与所述第一类天线的漏铜部分相接触，所述探针穿过所述第二固定块探针穿孔后与所述第二类天线的漏铜部分相接触；

所述上压块固定安装在升降板与所述天线固定块相对应的一侧，所述上压块上设有第一压块凸起和第二压块凸起，所述第一压块凸起与所述第一天线放置槽相适应，所述第二压块凸起与所述第二天线放置槽相适应，所述第一压块凸起上设有若干个第一压块定位孔，所述第二压块凸起上设有若干个第二压块定位孔；

所述第一固定块定位孔、第一天线定位孔以及第一压块定位孔相对应，所述第二固定块定位孔、第二天线定位孔以及第二压块定位孔相对应。

2.根据权利要求1所述的天线测试装置，其特征在于，所述第一固定块定位孔的数量为两个，分别记为：第一固定块定位孔A和第一固定块定位孔B，相对应的，所述第一压块定位孔的数量也两个，分别记为：第一压块定位孔A和第一压块定位孔B，其中：

所述第一固定块定位孔B位于所述天线固定块的中心位置，所述第一压块定位孔B位于所述上压块的中心位置。

3.根据权利要求2所述的天线测试装置，其特征在于，所述第二固定块定位孔的数量为三个，分别记为：第二固定块定位孔A、第二固定块定位孔B以及第二固定块定位孔C，相对应的，所述第二压块定位孔的数量也为三个，分别记为：第二压块定位孔A、第二压块定位孔B以及第二压块定位孔C，其中：

所述第二固定块定位孔A、第二固定块定位孔B以及第二固定块定位孔C从所述天线固定块的中心向一侧分布，第二压块定位孔A、第二压块定位孔B以及第二压块定位孔C从所述上压块的中心向一侧分布。

4.根据权利要求3所述的天线测试装置，其特征在于，所述第一固定块探针穿孔的数量为两个，分别记为：第一固定块探针穿孔A和第一固定块探针穿孔B；

所述第二固定块探针穿孔的数量为两个，分别记为：第二固定块探针穿孔A和第二固定块探针穿孔B。

5.根据权利要求4所述的天线测试装置，其特征在于，所述第一天线定位孔设置为两个，分别记为:第一天线定位孔A和第一天线定位孔B，所述第二天线定位孔设置为三个，分别记为:第二天线定位孔A、第二天线定位孔B以及第二天线定位孔C。

6.根据权利要求5所述的天线测试装置，其特征在于，所述第一固定块定位孔A、第一天线定位孔A以及第一压块定位孔A相对应；

所述第一固定块定位孔B、第一天线定位孔B以及第一压块定位孔B相对应；

所述第二固定块定位孔A、第二天线定位孔A以及第二固定块定位孔A相对应；

所述第二固定块定位孔B、第二天线定位孔B以及第二固定块定位孔B相对应；

所述第二固定块定位孔C、第二天线定位孔C以及第二固定块定位孔C相对应。

7.根据权利要求6所述的天线测试装置，其特征在于，所述第一类天线为分集天线，所述第二类天线为主天线。