CN204855827U - 金属探测仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种金属探测仪。该金属探测仪包括显示装置及具有一发射接收电路和一鉴别电路的金属探测电路，该发射接收电路用于发射电磁波信号以及接收和测量反射回来的电磁波信号，该金属探测电路包括一体化集成芯片，该一体化集成芯片集成有一单片机、用于初级和后级信号的放大的两个运算放大器、用于将电磁波信号强度与预存的信号强度阈值进行比较的两个比较器、用于检测电磁波信号强度的一A/D转换器、以及用于驱动该显示装置的驱动电路。本实用新型的金属探测仪具备较好的可靠性和抗干扰性，不易受到外界电磁场干扰，并且大大简化了外围电路，从而得以以更短的生产过程制造，降低故障率，实现了金属探测仪产品的小型化。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种金属探测仪。
背景技术
现有的金属探测仪存在如下的问题：
1、分立电路在印刷电路板上容易受到外界环境的电磁场干扰，并且无法适应恶劣的野外气候环境。可靠性和稳定性无法保证。在恶劣的环境下容易产生零漂和自激等现象，严重影响金属探测正确率。
2、大量外围器件的金属探测电路排版时需要大面积的印刷电路板。使金属探测仪无法满足小型化的要求。
3、生产工艺的复杂，生产效率低下而产品故障率较高。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有的金属探测仪容易受到外界电磁场干扰，可靠性和稳定性不足，并且无法满足小型化的需求、生产效率低下的缺陷，提供一种金属探测仪。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：
一种金属探测仪，包括显示装置及具有一发射接收电路和一鉴别电路的金属探测电路，该发射接收电路用于发射电磁波信号以及接收和测量反射回来的电磁波信号，其特点在于，该金属探测电路包括一一体化集成芯片，该一体化集成芯片集成有一单片机、用于初级和后级信号的放大的两个运算放大器、用于将电磁波信号强度与预存的信号强度阈值进行比较的两个比较器、用于检测电磁波信号强度的一A/D转换器(模数转换器)、以及用于驱动该显示装置的驱动电路。
较佳地，该一体化集成芯片还集成有用于调节该鉴别电路和/或该发射接收电路的测量灵敏度的D/A转换器(数模转换器)。
较佳地，该一体化集成芯片还集成有一EEPROM，用于存储该金属探测仪的探测数据。
EEPROM全称ElectricallyErasableProgrammableRead-OnlyMemory，即电可擦可编程只读存储器，其可以使得金属探测仪的探测数据在掉电后仍然不会丢失。
较佳地，该一体化集成芯片还集成有一闪存，用于临时存储该金属探测仪的探测数据。
较佳地，该显示装置为液晶显示器，该驱动电路为一液晶驱动电路。
较佳地，该单片机为8位RISC单片机。RISC全称为ReducedInstructionSetComputer，即精简指令集计算机。
较佳地，该A/D转换器为12位精度的8通道A/D转换器。
较佳地，该金属探测仪还包括一金属探测头，该金属探测头直接连接至该一体化集成芯片。
较佳地，该金属探测仪还包括连接于该一体化集成芯片外部的一电源滤波电路。
在符合本领域常识的基础上，上述各优选条件，可任意组合，即得本实用新型各较佳实例。
本实用新型的积极进步效果在于：本实用新型的金属探测仪具备较好的可靠性和抗干扰性，不易受到外界电磁场干扰，并且大大简化了外围电路，从而得以以更短的生产过程制造，降低故障率，实现了金属探测仪产品的小型化。
附图说明
图1为本实用新型一较佳实施例的金属探测仪中的一体化集成芯片的示意图。
具体实施方式
下面通过实施例的方式进一步说明本实用新型，但并不因此将本实用新型限制在所述的实施例范围之中。
本实施例的金属探测仪，包括显示装置及具有一发射接收电路和一鉴别电路的金属探测电路，该发射接收电路用于发射电磁波信号以及接收和测量反射回来的电磁波信号。该金属探测电路包括一一体化集成芯片。
参考图1所示，该一体化集成芯片集成有用作信号控制和处理的一8位RISC单片机(即8位RISCMCU核心)、用于初级和后级信号的放大的两个运算放大器、用于将电磁波信号强度与预存的信号强度阈值进行比较的两个比较器、一A/D转换器、以及用于驱动该显示装置的驱动电路。其中，该A/D转换器为12位精度的8通道A/D转换器，用作检测信号强度和电池电量。
该一体化集成芯片还集成有用于调节该鉴别电路和/或该发射接收电路的测量灵敏度的D/A转换器、一闪存和一EEPROM。该EEPROM用于存储该金属探测仪的探测数据。该闪存则用于临时存储该金属探测仪的探测数据。
该一体化集成芯片还集成有一些金属探测仪中通常设置的电路部分或元件，例如图1中所示的看门狗定时器、内部振荡器、时基定时器、低压差线性稳压器(即LDO，全称lowdropoutregulator)等等。这些部分所执行的功能是本领域技术人员所熟知或容易理解的，因而在此不作赘述。
本实施例的金属探测仪所采用的该显示装置为液晶显示器，因而相应的该驱动电路为一液晶驱动电路。
该金属探测仪还包括直接连接至该一体化集成芯片的一金属探测头和连接于该一体化集成芯片外部的一电源滤波电路。
本实施例的金属探测仪将大量器件组成的模拟和数字电路集成于该一体化集成芯片，金属探测仪所进行的信号处理几乎都在该一体化集成芯片内部完成，得以大幅减少电路干扰。并且，本实施例于该一体化集成芯片外部只需很少量的外围电阻，电容等器件用作电源滤波、连接LED发光管、金属探测头、扬声器、控制开关等，因此，本实施例的金属探测仪相比于现有的金属探测仪在产品的小型化以及产品的可靠性及抗干扰性方面具有显著的优势。
虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这些仅是举例说明，本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。
Claims (9)
1.一种金属探测仪，包括显示装置及具有一发射接收电路和一鉴别电路的金属探测电路，该发射接收电路用于发射电磁波信号以及接收和测量反射回来的电磁波信号，其特征在于，该金属探测电路包括一一体化集成芯片，该一体化集成芯片集成有一单片机、用于初级和后级信号的放大的两个运算放大器、用于将电磁波信号强度与预存的信号强度阈值进行比较的两个比较器、用于检测电磁波信号强度的一A/D转换器、以及用于驱动该显示装置的驱动电路。
2.如权利要求1所述的金属探测仪，其特征在于，该一体化集成芯片还集成有用于调节该鉴别电路和/或该发射接收电路的测量灵敏度的D/A转换器。
3.如权利要求1所述的金属探测仪，其特征在于，该一体化集成芯片还集成有一EEPROM，用于存储该金属探测仪的探测数据。
4.如权利要求1所述的金属探测仪，其特征在于，该一体化集成芯片还集成有一闪存，用于临时存储该金属探测仪的探测数据。
5.如权利要求1所述的金属探测仪，其特征在于，该显示装置为液晶显示器，该驱动电路为一液晶驱动电路。
6.如权利要求1所述的金属探测仪，其特征在于，该单片机为8位RISC单片机。
7.如权利要求1所述的金属探测仪，其特征在于，该A/D转换器为12位精度的8通道A/D转换器。
8.如权利要求1所述的金属探测仪，其特征在于，该金属探测仪还包括一金属探测头，该金属探测头直接连接至该一体化集成芯片。
9.如权利要求1所述的金属探测仪，其特征在于，该金属探测仪还包括连接于该一体化集成芯片外部的一电源滤波电路。
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| CN201520632132.6U CN204855827U (zh) | 2015-08-20 | 2015-08-20 | 金属探测仪 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN108398723A (zh) * | 2018-02-09 | 2018-08-14 | 李法利 | 用于检测电子产品的检测方法 |
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