CN204836123U - 一种按键开关检测电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及电子电路领域,公开了一种按键开关检测电路,包括上拉电阻R2,下拉电阻R1,上拉供电电压VDD,MCU检测脚MCU-AD,按键开关SW1,三极管Q1,其中,所述按键开关SW1一端连接所述上拉供电电压VDD,另一端连接所述三极管Q1的基极,所述MCU检测脚MCU-AD连接所述上拉电阻R2与下拉电阻R1的公共端,所述上拉电阻R2的另一端连接所述上拉供电电压VDD,所述下拉电阻R1的另一端连接所述三极管Q1的集电极,所述三极管Q1的发射极接地。该技术方案提高了检测电路的可靠及稳定性。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子电路领域,特别涉及一种按键开关检测电路。
背景技术
目前通常使用的按键检测电路,如图1所示,包括R2为上拉电阻,R1为下拉电阻,SW1为按键开关,VDD为上拉供电电压,MCU-AD为MCU检测脚;当SW1开关按下时,通过R2和R1电阻分压会在MCU-AD引脚上产生低于VDD电压的另一个绝对电压值,例如:VDD为5V,R2为10K电阻,R1也为10K电阻,不按下SW1开关,MCU-AD引脚上的电压为5V,当SW1开关按下,通过欧姆定律计算公式,MCU-AD引脚上会从5V变为2.5V,MCU通过检测此电压的变化来实现按键检测的作用。但此电路存在缺陷,SW1开关存在接触电阻,轻按和重力按,此开关的接触电阻不同,而且经过长时间不断的按压,其接触面电阻也会变大,此电阻值的变化会导致MCU-AD脚的电压不稳定,从而会引起当轻按此开关时,按键会没有作用,或使用很短一段时间后,按键会完全失效的问题。
实用新型内容
本实用新型实施例的目的在于提供一种按键开关检测电路,提高了检测电路的可靠及稳定性。
本实用新型实施例提供的一种按键开关检测电路,包括上拉电阻R2,下拉电阻R1,上拉供电电压VDD,MCU检测脚MCU-AD,按键开关SW1,三极管Q1,其中,所述按键开关SW1一端连接所述上拉供电电压VDD,另一端连接所述三极管Q1的基极,所述MCU检测脚MCU-AD连接所述上拉电阻R2与下拉电阻R1的公共端,所述上拉电阻R2的另一端连接所述上拉供电电压VDD,所述下拉电阻R1的另一端连接所述三极管Q1的集电极,所述三极管Q1的发射极接地。
可选地,所述三极管Q1为NPN型三极管。
由上可见,应用本实施例技术方案,由于采用三极管Q1的开关特性,解决了因按键开关本身的接触电阻变大而引起无作用的问题,提高了检测电路的可靠及稳定性。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为提供的现有技术中的一种按键开关检测电路;
图2为本实用新型提供的一种按键开关检测电路。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
实施例:
本实施例提供一种按键开关检测电路,如图2所示,包括上拉电阻R2,下拉电阻R1,上拉供电电压VDD,MCU检测脚MCU-AD,按键开关SW1,三极管Q1,其中,所述按键开关SW1一端连接所述上拉供电电压VDD,另一端连接所述三极管Q1的基极,所述MCU检测脚MCU-AD连接所述上拉电阻R2与下拉电阻R1的公共端,所述上拉电阻R2的另一端连接所述上拉供电电压VDD,所述下拉电阻R1的另一端连接所述三极管Q1的集电极,所述三极管Q1的发射极接地。
本方案在常用电路的基础上增加三极管Q1,所述三极管Q1为NPN型三极管,改变了原有电路结构,当按下所述按键开关SW1后,所述上拉供电电压VDD的电压通过所述按键开关SW1到达三极管Q1的基极,使三极管Q1导通,所述检测脚MCU-AD的引脚获取一个绝对的电压值,三极管Q1的基极和发射极之间只需0.7V的电压就能导通,虽然所述按键开关SW1存在接触电阻,但只要所述上拉供电电压VDD的电压远高于0.7V,所述按键开关SW1的接触电阻的大小变化不会影响三极管Q1导通,因此,此电路可以解决在轻按所述按键开关SW1时,因接触电阻值的变化而引起的按键没有作用的问题,从而提高了电路的可靠及稳定性。
可见,该电路设计通过三极管Q1的开关特性,解决了因按键开关本身的接触电阻变大而引起无作用的问题,提高了检测电路的可靠及稳定性。
以上所述的实施方式,并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等,均应包含在该技术方案的保护范围之内。
Claims (2)
1.一种按键开关检测电路,其特征在于,包括上拉电阻R2,下拉电阻R1,上拉供电电压VDD,MCU检测脚MCU-AD,按键开关SW1,三极管Q1,其中,所述按键开关SW1一端连接所述上拉供电电压VDD,另一端连接所述三极管Q1的基极,所述MCU检测脚MCU-AD连接所述上拉电阻R2与下拉电阻R1的公共端,所述上拉电阻R2的另一端连接所述上拉供电电压VDD,所述下拉电阻R1的另一端连接所述三极管Q1的集电极,所述三极管Q1的发射极接地。
2.如权利要求1所述的一种按键开关检测电路,其特征在于,所述三极管Q1为NPN型三极管。
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