CN204832439U - 一种可控硅脉冲检测电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种可控硅脉冲检测电路，包括芯片IC1、二极管D1、电阻R1和三极管V1，所述电阻R1的一端连接电阻R4、继电器J、二极管D4的阴极、电源VCC、芯片IC1的引脚4、芯片IC1的引脚8，电阻R1的另一端连接电阻R2、二极管D1的阴极和三极管V1的集电极，三极管V1的基极连接电阻R3，电阻R3的另一端连接输入信号IN。本实用新型可控硅脉冲检测电路用于对工作过程中的可控硅进行好坏判断，通过判断流过可控硅的脉冲来检测可控硅的导通状态，并且还能进行电器和电路的保护，同时电路结构简单、元器件少，制作成本低。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测电路，具体是一种可控硅脉冲检测电路。
背景技术
可控硅是一种常见的电子元件，其中双向可控硅的正、反特性具有对称性，所以它可在任何一个方向导通，是一种理想的交流开关器件，单向可控硅能够方便代替继电器进行控制，因此常均被用于电路中的控制器件，是整个控制电路的核心部件。在用于工业控制的过程中，一旦有一组可控硅触发电路出现故障，将会影响到整个控制系统的运转，甚至发生生产事故，而且可控硅的排查比较复杂，要想精准的判断哪一只可控硅没有正常工作更加困难。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种结构简单、测量精准的可控硅脉冲检测电路，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
一种可控硅脉冲检测电路，包括芯片IC1、二极管D1、电阻R1和三极管V1，所述电阻R1的一端连接电阻R4、继电器J、二极管D4的阴极、电源VCC、芯片IC1的引脚4、芯片IC1的引脚8，电阻R1的另一端连接电阻R2、二极管D1的阴极和三极管V1的集电极，三极管V1的基极连接电阻R3，电阻R3的另一端连接输入信号IN，三极管V1的发射极连接电容C1、电阻R5和芯片IC1的引脚1并接地，电阻R2的另一端连接二极管D1的阳极、电容C1的另一端、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6，电阻R4的另一端连接二极管D2的阳极，二极管D2的阴极连接二极管D3的阳极、二极管D4的阳极、继电器J的另一端和芯片IC1的引脚3，二极管D3的阴极连接电阻R5的另一端，芯片IC1的型号为NE555。
作为本实用新型的优选方案：所述二极管D2为绿光发光二极管，二极管D3为红光发光二极管。
作为本实用新型的优选方案：所述电源VCC为12V直流电。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型可控硅脉冲检测电路用于对工作过程中的可控硅进行好坏判断，通过判断流过可控硅的脉冲来检测可控硅的导通状态，并且还能进行电器和电路的保护，同时电路结构简单、元器件少，制作成本低。
附图说明
图1为可控硅脉冲检测电路的电路图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1，一种可控硅脉冲检测电路，包括芯片IC1、二极管D1、电阻R1和三极管V1，所述电阻R1的一端连接电阻R4、继电器J、二极管D4的阴极、电源VCC、芯片IC1的引脚4、芯片IC1的引脚8，电阻R1的另一端连接电阻R2、二极管D1的阴极和三极管V1的集电极，三极管V1的基极连接电阻R3，电阻R3的另一端连接输入信号IN，三极管V1的发射极连接电容C1、电阻R5和芯片IC1的引脚1并接地，电阻R2的另一端连接二极管D1的阳极、电容C1的另一端、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6，电阻R4的另一端连接二极管D2的阳极，二极管D2的阴极连接二极管D3的阳极、二极管D4的阳极、继电器J的另一端和芯片IC1的引脚3，二极管D3的阴极连接电阻R5的另一端，芯片IC1的型号为NE555。
二极管D2为绿光发光二极管，二极管D3为红光发光二极管。
电源VCC为12V直流电。
本实用新型的工作原理是：当可控硅触发脉冲正常时，流过可控硅的信号IN通过电阻R1进入检测电路，使得三极管V1导通，电容C1上的充电电压定时放电，使得芯片IC1的2脚总处于低电平状态，芯片IC1置位，其3脚输出高电平，绿光发光二极管D3发光，红光发光二极管D2不发光，当可控硅脉冲消失或漏掉很多时，三极管V1截止或导通次数比原来减少，电容C1上的充电电压高于2/3VCC，芯片IC1复位，其3脚呈低电平，绿光发光二极管D3熄灭，红光发光二极管D2点亮，指示可控硅有故障，继电器J可以用于控制电源的断开或蜂鸣器的开启，达到保护和声音报警的目的，电路用于对工作过程中的可控硅进行好坏判断，通过判断流过可控硅的脉冲来检测可控硅的导通状态，并且还能进行电器和电路的保护，同时电路结构简单、元器件少，制作成本低。
Claims (3)
1.一种可控硅脉冲检测电路，包括芯片IC1、二极管D1、电阻R1和三极管V1；其特征在于，所述电阻R1的一端连接电阻R4、继电器J、二极管D4的阴极、电源VCC、芯片IC1的引脚4、芯片IC1的引脚8，电阻R1的另一端连接电阻R2、二极管D1的阴极和三极管V1的集电极，三极管V1的基极连接电阻R3，电阻R3的另一端连接输入信号IN，三极管V1的发射极连接电容C1、电阻R5和芯片IC1的引脚1并接地，电阻R2的另一端连接二极管D1的阳极、电容C1的另一端、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6，电阻R4的另一端连接二极管D2的阳极，二极管D2的阴极连接二极管D3的阳极、二极管D4的阳极、继电器J的另一端和芯片IC1的引脚3，二极管D3的阴极连接电阻R5的另一端，芯片IC1的型号为NE555。
2.根据权利要求1所述的一种可控硅脉冲检测电路，其特征在于，所述二极管D2为绿光发光二极管，二极管D3为红光发光二极管。
3.根据权利要求1所述的一种可控硅脉冲检测电路，其特征在于，所述电源VCC为12V直流电。
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| CN106324467A (zh) * | 2016-08-25 | 2017-01-11 | 田红卫 | 单向可控硅全状态监测器 |
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2015
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| CN106324467B (zh) * | 2016-08-25 | 2019-02-01 | 田红卫 | 单向可控硅全状态监测器 |
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