CN204807450U - 聚合样品激光光谱测量实验系统 - Google Patents

聚合样品激光光谱测量实验系统 Download PDF

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Abstract

本实用新型涉及一种聚合样品激光光谱测量实验系统,主要包括泵浦光源(1)、半波片(2)、偏振片(3)、分光镜(4)、透镜(7)、能量计(9)、探测器(10)、光谱仪(11)和计算机(12),依照泵浦光发射方向依次设置激光器(1)、半波片(2)、偏振片(3)、分光镜(4)和样品(6)以及激光器(1)、半波片(2)、偏振片(3)、分光镜(4)、透镜(7)和能量计(9),探测器(10)与样品(6)连接。本实用新型聚合样品激光光谱测量实验系统通过改变可调狭缝的大小,以此来改变样品上泵浦区域的面积,发现随着狭缝大小的改变,受激辐射光光强的大小也随着改变,从而有效验证了随机激光的理论并为相关实验提供了基础。

Description

聚合样品激光光谱测量实验系统
技术领域
本实用新型涉及一种用于聚合物样品测试的固化电路,尤其涉及一种聚合样品激光光谱测量实验系统,属于聚合物激光测试领域。
背景技术
随机激光是目前激光物理领域的研究热点之一。与传统的激光器不同,随机激光无谐振腔,反馈来源于光在无序介质中的多重散射。根据反馈机制的不同,随机激光可以分为非相干反馈和相干反馈随机激光两种类型。关于随机激光的研究,理论方面主要集中于随机激光的形成机制和光学特性;实验方面侧重于实验材料的选取和实验方法的改进。
目前传统的方法都存在一系列的缺点,包括:1)阈值抽运光强度依赖于激发面积,激发面种越小,要求阈值越高。当激发面积小于一个临界值时,无论抽运光多强,都不能产生随机激光;2)各个向都能观察到激光辐射,并且谱线结构随观察角度变化;3)发光区域分布不均匀,当抽运光照射到随机介质上时,形成许多发光区域,在介质的三维空间内随机分布。这种结构随着入射光强度和介质的构造而变化;4)随机激光器的纵模可以是一个,几个和多个,并且随抽运功率而增加。这纵模的频率和频率间距是随机变化的,它们随着抽运光的位置和强度发生变化。并且当抽运区域增大到一定大小时,光谱图上的受激辐射尖峰不是分立的,而是连续变化的。这导致辐射光谱图上形成一个宽峰。这一点不同于传统激光器的多纵模振荡。传统激光器的各个纵模都源于同一谐振腔,虽然纵模数会随抽运光的增强而增加,但纵模间的频率间距是固定不变的而随机激光器的纵模可能来自不同的闭环腔,纵模数随抽运光强度增强而增加时,各纵模间的频率间距也是变化的。
实用新型内容
为了克服现有技术的不足,解决好现有技术的问题,弥补现有目前市场上现有产品的不足。
本实用新型提供了一种聚合样品激光光谱测量实验系统,主要包括泵浦光源、半波片、偏振片、分光镜、透镜、能量计、探测揣、光谱仪和计算机,依照泵浦光发射方向依次设置激光器、半波片、偏振片、分光镜和样品以及激光器、半波片、偏振片、分光镜、透镜和能量计,探测器与样品连接。
优选的,上述泵浦光源为Nd:YAG激光器,采用532nm、3倍频输出光,脉宽为8ns,重复频率为10Hz。
优选的,上述半波片有效通光孔径为18mm。
优选的,上述样品放置在液晶盒中。
优选的,上述分光镜和样品之间设置有可调狭缝。
优选的,上述透镜和能量计之间设置有调制解调器。
优选的,上述探测器通过光纤与光谱仪连接,光谱仪通过数据线与计算机连接。
本实用新型聚合样品激光光谱测量实验系统通过改变可调狄缝的大小,以此来改变样品上泵浦区域的面积,发现随着狭缝大小的改变,受激辐射光光强的大小也随着改变,从而有效验证了随机激光的理论并为相关实验提供了基础。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图。
附图标记:1-泵浦光源;2-半波片;3-偏振片;4-分光镜;5-可调狭缝;6-样品;7-透镜;8-调制解调器;9-能量计;10-探测器;11-光谱仪;12-计算机。
具体实施方式
为了便于本领域普通技术人员理解和实施本实用新型,下面结合附图及具体实施方式对本实用新型作进一步的详细描述。
本实用新型提供的聚合样品激光光谱测量实验系统主要包括泵浦光源1、半波片2、偏振片3、分光镜4、透镜7、能量计9、探测器10、光谱仪11和计算机12,依照泵浦光发射方向依次设置激光器1、半波片2、偏振片3、分光镜4和样品6以及激光器1、半波片2、偏振片3、分光镜4、透镜7和能量计9,探测器10与样品6连接。泵浦光源1为Nd:YAG激光器,采用532nm、3倍频输出光,脉宽为8ns,重复频率为10Hz。半波片2有效通光孔径为18mm。样品6放置在淮晶盒中。分光镜4和样品6之间设置有可调狭缝5。透镜7和能量计9之间设置有调制解调器8。探测器10通过光纤与光谱仪11连按,光谱仪11通过数据线与计算机12连接。
本实用新型提供的聚合样品激光光谱测量实验系统,具体的工作原理是:泵浦光源1使用的是SGR-10脉冲Nd:YAG激光器,采用532nm3倍频输出光,脉宽为8ns,重复频率为10Hz。半波片2(λ/2)有效通光孔径为18mm。实验中测量泵浦能量精确度为0.01。收集光谱所用光谱仪(SPE)为分辨度0.13nm的高分辨率光纤光谱仪。在实验中,用线偏振的、调Q、3倍频、波长为532nm的钇铝石榴石脉冲激光器Nd:YAG(脉冲宽度8ns,频率10Hz)抽运样品,为了调节入射泵浦能量,在偏振片3和偏振分光镜4前放置一个半波片2(波长为532nm)。所以实验中可以通过转动半波片的光轴方向来调节泵浦光强大小。泵浦光经过半波片2、偏振片3后,通过分光镜4,脉冲激光束被分成两条路径:一路进入能量计9(A光束),用于泵浦能量的测量和记录;另一路(B光束)用作激发样品的泵浦光。可调的狭缝能改变激发带的宽度,激光束通过可调狭缝入射到样品上,在样品上形成一个长度9mm和宽度可变(从1mm到0.04mm)的激发带。条带状的激发光照射到样品上,用光纤探测器10在样品边缘测量激光辐射强度。光纤探测器10与光谱仪11通过光纤相连接,光谱仪11通过数据线连接到计算机12上,由计算机12对辐射光信号进行实时监测并记录数据。
本实用新型聚合样品激光光谱测量实验系统通过改变可调狭缝的大小,以此来改变样品上泵浦区域的面积,发现随着狭缝大小的改变,受激辐射光光强的大小也随着改变,从而有效验证了随机激光的理论并为相关实验提供了基础。
以上所述之具体实施方式为本实用新型的较佳实施方式,并非以此限定本实用新型的具体实施范围,本实用新型的范围包括并不限于本具体实施方式,凡依照本实用新型之形状、结构所作的等效变化均在本实用新型的保护范围内。

Claims (7)

1.一种聚合样品激光光谱测量实验系统,其特征在于:所述聚合样品激光光谱测量实验系统主要包括泵浦光源(1)、半波片(2)、偏振片(3)、分光镜(4)、透镜(7)、能量计(9)、探测器(10)、光谱仪(11)和计算机(12),依照泵浦光发射方向依次设置激光器(1)、半波片(2)、偏振片(3)、分光镜(4)和样品(6)以及激光器(1)、半波片(2)、偏振片(3)、分光镜(4)、透镜(7)和能量计(9),探测器(10)与样品(6)连接。
2.根据权利要求1所述的聚合样品激光光谱测量实验系统,其特征在于:所述泵浦光源(1)为Nd:YAG激光器,采用532nm、3倍频输出光,脉宽为8ns,重复频率为10Hz。
3.根据权利要求1所述的聚合样品激光光谱测量实验系统,其特征在于:所述半波片(2)有效通光孔径为18mm。
4.根据权利要求1所述的聚合样品激光光谱测量实验系统,其特征在于:所述样品(6)放置在液晶盒中。
5.根据权利要求1所述的聚合样品激光光谱测量实验系统,其特征在于:所述分光镜(4)和样品(6)之间设置有可调狭缝(5)。
6.根据权利要求1所述的聚合样品激光光谱测量实验系统,其特征在于:所述透镜(7)和能量计(9)之间设置有调制解调器(8)。
7.根据权利要求1-6之一所述的聚合样品激光光谱测量实验系统,其特征在于:所述探测器(10)通过光纤与光谱仪(11)连接,光谱仪(11)通过数据线与计算机(12)连接。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN108318459A (zh) * 2018-01-30 2018-07-24 中国科学院上海光学精密机械研究所 脉冲强激光诱导光致发光谱的测量装置及测量方法
CN112945522A (zh) * 2021-01-29 2021-06-11 合肥工业大学 一种无腔短脉冲聚合物光纤随机激光器的测试方法

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