CN204740188U - 通道内颗粒物的在位式检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种通道内颗粒物的在位式检测装置，所述在位式检测装置包括光源、检测器及分析单元；进一步包括：安装件；探头，所述探头固定在所述安装件上，所述探头内具有光学通道和气体通道；所述光源发出的测量光依次穿过所述安装件、光学通道后从所述探头出射；所述气体通道与所述光学通道在测量光束处交汇。本实用新型具有检测精度高、结构简单、低成本等优点。

Description

通道内颗粒物的在位式检测装置

技术领域

本实用新型涉及颗粒物检测，尤其涉及气体通道内颗粒物的在位式检测装置。

背景技术

目前，现有的粉尘仪普遍采用激光后散射技术，该技术的基本原理是：发射一束有角度的激光到烟囱里，当烟囱里有颗粒物/粉尘时候，照射到颗粒物/粉尘的产生的散射光(后散射光)被粉尘仪检测到，粉尘仪根据能量的大小折算并得到烟囱里颗粒物/粉尘的浓度值。

在正常情况下，烟囱/烟道高度在50m以上，粉尘仪安装点在距离烟囱底部1/3处，所以被测环境为纯黑，没有自然光线以及其他光源的干扰。但在陶瓷等行业普遍低空排放，烟囱高度只有10m左右，自然光严重干扰采用后散射技术的粉尘仪测量，严重地影响了粉尘仪的检测精度。

实用新型内容

为了解决现有技术中存在的不足，本实用新型提供了一种检测精度高、结构简单的气体通道内颗粒物的在位式检测装置。

本实用新型的实用新型目的通过以下技术方案得以实现：

一种通道内颗粒物的在位式检测装置，所述在位式检测装置包括光源、检测器及分析单元；所述在位式检测装置进一步包括：

安装件；

探头，所述探头固定在所述安装件上，所述探头内具有光学通道和气体通道；所述光源发出的测量光依次穿过所述安装件、光学通道后从所述探头出射；所述气体通道与所述光学通道在测量光束处交汇。

根据上述的在位式检测装置，可选地，所述在位式检测装置进一步包括：

连接件，所述连接件设置在所述探头的气体通道的出口处。

根据上述的在位式检测装置，优选地，所述探头为筒状部件，所述出口是所述筒状部件的径向的相对的两侧位置处具有沿着所述筒状部件的轴向延伸的通孔；所述气体通道和光学通道贯穿所述筒状部件的内部。

根据上述的在位式检测装置，优选地，所述探头包括：

第一平板，所述第一平板的一端固定在所述安装件上；

第二平板，所述第二平板的一端固定在所述安装件上，所述第一平板和第二平板之间的距离大于零；所述出口是所述第一平板和第二平板的侧部间间隙，所述气体通道和光学通道形成在所述第一平板和第二平板之间的空间内。

根据上述的在位式检测装置，优选地，所述第一平板和第二平板平行设置。

根据上述的在位式检测装置，优选地，所述侧部是所述第一平板和第二平板的平行于所述测量光束的一侧。

根据上述的在位式检测装置，优选地，所述安装件是法兰。

根据上述的在位式检测装置，可选地，所述探头的内壁和外壁具有黑色涂层。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：

1.检测精度高，探头能够部分地遮挡了自然光，显著地降低了自然光对检测的影响，连接件和黑色涂层的使用则进一步地降低了自然光的影响，从而明显地提高了气体中颗粒物的检测精度；

2.探头可由普通的筒状部件加工而成，或由两块平板固定而成，结构简单，成本低。

附图说明

参照附图，本实用新型的公开内容将变得更易理解。本领域技术人员容易理解的是：这些附图仅仅用于举例说明本实用新型的技术方案，而并非意在对本实用新型的保护范围构成限制。图中：

图1为本实用新型实施例1在位式检测装置的基本结构图；

图2为图1的A-A图；

图3为本实用新型实施例2在位式检测装置的基本结构图；

图4为图3的A-A图。

具体实施方式

图1-4和以下说明描述了本实用新型的可选实施方式以教导本领域技术人员如何实施和再现本实用新型。为了教导本实用新型技术方案，已简化或省略了一些常规方面。本领域技术人员应该理解源自这些实施方式的变型或替换将在本实用新型的范围内。本领域技术人员应该理解下述特征能够以各种方式组合以形成本实用新型的多个变型。由此，本实用新型并不局限于下述可选实施方式，而仅由权利要求和它们的等同物限定。

实施例1：

图1示意性地给出了本实用新型实施例的通道内颗粒物的在位式检测装置的结构图，如图1所示，所述在位式检测装置包括：

光源、检测器及分析单元，这些部件都是本领域的现有技术，在此不再赘述；

安装件11，如法兰，便于将该在位式检测装置安装在烟气通道的壁上；

图2示意性地给出了本实用新型实施例的探头的剖视结构图，如图2所示，探头为筒状部件21，所述筒状部件的径向的相对的两侧位置处具有沿着所述筒状部件的轴向延伸的通孔作为气体通道的进口23、出口22，便于在现场工作时，烟气通道内的气体41从所述进口进入筒状部件内，最后从所述出口排出，所述进口和出口之间的筒状部件内的空间为气体通道；所述光源发出的测量光51依次穿过所述安装件、筒状部件内部后从所述探头出射，最后投射在所述烟气通道的内壁上，产生的散射光反向穿过筒状部件、法兰后被所述探测器接收，送分析单元处理，从而在所述筒状部件内形成有光学通道；可见，光学通道和气体通道在测量光光束处交汇；

连接件31，所述连接件设置在所述出口的两侧的筒状部件上，部分地遮挡所述出口；

黑色涂层，所述黑色涂层设置在所述探头的内壁和外壁上。

实施例2：

图3示意性地给出了本实用新型实施例的通道内颗粒物的在位式检测装置的结构图，如图3所示，所述在位式检测装置包括：

光源、检测器及分析单元，这些部件都是本领域的现有技术，在此不再赘述；

安装件11，如不锈钢圆板，中间具有通孔，便于将该在位式检测装置安装在烟气通道的壁上；

图4示意性地给出了本实用新型实施例的探头的剖视结构图，如图4所示，探头包括分别固定在所述法兰上的第一平板61、第二平板62，所述第一平板和第二平板平行安装，且之间的距离大于零；所述第一平板和第二平板的平行于所述光源发出的测量光束的侧部间间隙分别为气体通道的进口23和出口22，便于在现场工作时，烟气通道内的气体41从所述进口进入平板之间，最后从所述出口排出，所述进口和出口之间的平板间的空间为气体通道；所述光源发出的测量光51依次穿过所述法兰、平板之间后从所述探头出射，最后投射在所述烟气通道的内壁上，产生的散射光反向穿过平板之间、法兰后被所述探测器接收，送分析单元处理，从而在所述平板之间内形成有光学通道；可见，光学通道和气体通道在测量光光束处交汇；

连接件31，所述连接件设置在所述出口的两侧的第一平板和第二平板上，部分地遮挡所述出口；

黑色涂层，所述黑色涂层设置在所述探头的内壁和外壁上。

Claims (8)

1.一种通道内颗粒物的在位式检测装置，所述在位式检测装置包括光源、检测器及分析单元；其特征在于：所述在位式检测装置进一步包括：

安装件；

探头，所述探头固定在所述安装件上，所述探头内具有光学通道和气体通道；所述光源发出的测量光依次穿过所述安装件、光学通道后从所述探头出射；所述气体通道与所述光学通道在测量光束处交汇。

2.根据权利要求1所述的在位式检测装置，其特征在于：所述在位式检测装置进一步包括：

连接件，所述连接件设置在所述探头的气体通道的出口处。

3.根据权利要求2所述的在位式检测装置，其特征在于：所述探头为筒状部件，所述出口是所述筒状部件的径向的相对的两侧位置处具有沿着所述筒状部件的轴向延伸的通孔；所述气体通道和光学通道贯穿所述筒状部件的内部。

4.根据权利要求2 所述的在位式检测装置，其特征在于：所述探头包括：

第一平板，所述第一平板的一端固定在所述安装件上；

第二平板，所述第二平板的一端固定在所述安装件上，所述第一平板和第二平板之间的距离大于零；所述出口是所述第一平板和第二平板的侧部间间隙，所述气体通道和光学通道形成在所述第一平板和第二平板之间的空间内。

5.根据权利要求4所述的在位式检测装置，其特征在于：所述第一平板和第二平板平行设置。

6.根据权利要求1所述的在位式检测装置，其特征在于：所述安装件是法兰。

7.根据权利要求1所述的在位式检测装置，其特征在于：所述探头的内壁和外壁具有黑色涂层。

8.根据权利要求4所述的在位式检测装置，其特征在于：所述侧部是所述第一平板和第二平板的平行于所述测量光束的一侧。