CN204731378U - 一种usb控制芯片测试电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种USB控制芯片测试电路，该芯片测试电路包括第一电源电路、第二电源电路和至少两路检测支路，每路检测支路包括第一取电端DUT0_VDD1和第二取电端DUT0_VDD2，所述第一取电端DUT0_VDD1经可控开关从所述第一电源电路取电，所述第二取电端DUT0_VDD2经第二电源电路取电，测试时通过切换不同的可控开关即可令检测支路从不同的电源取电，而且的，由于多个监测支路的同一类取电端从同一电源电路取电，因此能够有效节约测试机的供电端，实现多芯片同测，缩短测试时间，降低测试成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及自动测试技术领域，特别涉及一种USB控制芯片测试电路。
背景技术
USB是以主机为中心的分层的星状总线拓扑结构，软件比较复杂，对功率要求也比较高，所以在推出后的一段时期内，USB在基于PC的系统中得到了广泛应用，而在嵌入式系统中应用不多。但是，在2000年发表的USB 2.0规范将USB接口的速度从12 Mbps提高到480 Mbps;2001年又发表了USB OTG补充规范，使外部设备可以摆脱PC机，实现在任何两台设备之间直接通信。经过这两次升级，随着有越来越多的带USB接口的廉价外设可供使用，有越来越多的嵌入式系统工程师想把USB接口技术应用到嵌入式系统的设计中。
但是，USB协议的升级却给高速USB控制芯片的测试工作带来问题：现有的芯片基本是整合多个模块，在对整个芯片测试时，芯片有多个电源端，需供不同测试电压，占用过多的测试机资源；而测试机上的供电端是有限的，因此对多芯片同时测试的方案造成极大困扰，导致目前的测试机只能使用单芯片测试，测试时间太长，芯片测试成本极高。
实用新型内容
本实用新型的目的在于避免上述现有技术中的不足之处而提供一种能够有效实现多芯片同时测试，从而缩短芯片的平均测试时间，降低芯片测试成本的USB控制芯片测试电路。
本实用新型的目的通过以下技术方案实现：
提供了一种USB控制芯片测试电路，包括第一电源电路、第二电源电路和至少两路检测支路，每路检测支路包括第一取电端DUT0_VDD1和第二取电端DUT0_VDD2，所述第一取电端DUT0_VDD1经可控开关从所述第一电源电路取电，所述第二取电端DUT0_VDD2经第二电源电路取电。
其中，所述可控开关是光耦继电器。
其中，还包括控制电路，所述控制电路与所述可控开关连接。
其中，所述控制电路基于MAX4820型继电器驱动器实现。
本实用新型的有益效果：本实用新型提供了一种USB控制芯片测试电路，该芯片测试电路包括第一电源电路、第二电源电路和至少两路检测支路，每路检测支路包括第一取电端DUT0_VDD1和第二取电端DUT0_VDD2，所述第一取电端DUT0_VDD1经可控开关从所述第一电源电路取电，所述第二取电端DUT0_VDD2经第二电源电路取电，测试时通过切换不同的可控开关即可令检测支路从不同的电源取电，而且的，由于多个监测支路的同一类取电端从同一电源电路取电，因此能够有效节约测试机的供电端，实现多芯片同测，缩短测试时间，降低测试成本。
附图说明
利用附图对本实用新型作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。
图1为本实用新型一种USB控制芯片测试电路的电路结构示意图。
在图1中包括有：
1——第一电源电路、 2——第二电源电路、3——检测支路、4——可控开关。
具体实施方式
结合以下实施例对本实用新型作进一步描述。
本实用新型一种USB控制芯片测试电路的具体实施方式，如图1所示，包括第一电源电路1、第二电源电路2和至少两路检测支路3，每路检测支路3包括第一取电端DUT0_VDD1和第二取电端DUT0_VDD2，所述第一取电端DUT0_VDD1经可控开关4从所述第一电源电路1取电，所述第二取电端DUT0_VDD2经第二电源电路2取电。
测试时通过切换不同的可控开关4即可令检测支路3从不同的电源取电，而且的，由于多个监测支路的同一类取电端从同一电源电路取电，因此能够有效节约测试机的供电端，实现多芯片同测，缩短测试时间，降低测试成本。
所述可控开关4是光耦继电器。采用光耦继电器是由于光耦继电器的开关时间比机械继电器的开关时间快，在实际的测试中因为需要频繁的进行继电器的切换，使用光耦继电器可以节省测试时间；光耦继电器的体积小，容易进行PCB的布局。具体的，根据实际的情况，可以选用合适的可控开关42，例如机械式继电器。
该电路还包括控制电路，所述控制电路与所述可控开关4连接。所述控制电路基于MAX4820型继电器驱动器实现。
最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
Claims (4)
1.一种USB控制芯片测试电路，其特征在于：包括第一电源电路、第二电源电路和至少两路检测支路，每路检测支路包括第一取电端DUT0_VDD1和第二取电端DUT0_VDD2，所述第一取电端DUT0_VDD1经可控开关从所述第一电源电路取电，所述第二取电端DUT0_VDD2经第二电源电路取电。
2.如权利要求1所述的一种USB控制芯片测试电路，其特征在于：所述可控开关是光耦继电器。
3.如权利要求1所述的一种USB控制芯片测试电路，其特征在于：还包括控制电路，所述控制电路与所述可控开关连接。
4.如权利要求3所述的一种USB控制芯片测试电路，其特征在于：所述控制电路基于MAX4820型继电器驱动器实现。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201520371268.6U CN204731378U (zh) | 2015-06-02 | 2015-06-02 | 一种usb控制芯片测试电路 |
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| CN201520371268.6U CN204731378U (zh) | 2015-06-02 | 2015-06-02 | 一种usb控制芯片测试电路 |
Publications (1)
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| CN204731378U true CN204731378U (zh) | 2015-10-28 |
Family
ID=54389716
Family Applications (1)
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| CN201520371268.6U Active CN204731378U (zh) | 2015-06-02 | 2015-06-02 | 一种usb控制芯片测试电路 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN204731378U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110456185A (zh) * | 2019-07-19 | 2019-11-15 | 成都承芯科技有限公司 | 电子钥匙测试系统及测试方法 |
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2015
- 2015-06-02 CN CN201520371268.6U patent/CN204731378U/zh active Active
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