CN204595036U - 一种带电测试设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种带电测试设备，属于电力测试工具领域，解决现有技术中，测试仪器在进入高压区或退出高压区的时候，由于被测试对象处在高压环境中，会对仪器产生高压放电，而造成仪器损坏的技术问题。本实用新型的带电测试设备包括测试电路和连接在测试电路上的若干测试端口，测试端口之间连接有瞬态抑制二极管。本实用新型应用于电力测试作业中。
Description
【技术领域】
本实用新型涉及一种带电测试设备。
【背景技术】
现有技术中，电力测试仪器需要带电作业，比如需要在不断电的情况下，测量变电站刀闸开关的接触电阻。当测试仪器在进入高压区或退出高压区的时候，由于被测试对象处在高压环境中，会对仪器产生高压放电，如果仪器的端口没有进行适当的保护，很容易被高压放电击穿，造成仪器损坏。
其中，端口的损坏，一般有两种原因，一种是端口和端口之间施加的电压超过了端口间的耐压，造成若干个端口之间电压击穿，高压放电一般是属于这种类型，由于仪器在进入或离开高压带电体的时候，各个端口和高压带电体之间的距离不尽相同，带电体对端口发生放电的强弱也不一样，造成端口间不等电位，电位差超过端口间耐压时，造成端口损坏。另外一种是端口和端口之间有比较大的电流流过，造成烧毁。
【发明内容】
本实用新型解决的技术问题是提供一种带电测试设备，能对设备的测试端口进行保护。
为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：
一种带电测试设备，所述带电测试设备包括测试电路和连接在测试电路上的若干测试端口，所述测试端口之间连接有瞬态抑制二极管。
进一步的，所述测试端口通过导线依次串联，相邻所述测试端口之间的导线上设置所述瞬态抑制二极管。
进一步的，其中一个所述测试端口与其他测试端口之间均连接有所述瞬态抑制二极管。
进一步的，所述瞬态抑制二极管的额定反向关断电压不小于所述测试电路的最大工作电压。
进一步的，所述瞬态抑制二极管的最大箝位电压小于所述测试电路的击穿电压。
进一步的，所述瞬态抑制二极管的最大峰值脉冲功耗大于所述测试电路的峰值功率。
进一步的，所述瞬态抑制二极管的瞬态浪涌电流小于所述测试电路的峰值电流。
进一步的，所述瞬态抑制二极管为双极性瞬态抑制二极管。
本实用新型的有益效果：
本实用新型的带电测试设备，在测试端口之间连接有瞬态抑制二极管。瞬态二极管的两极受到反向瞬态高能量冲击时，它能以10的负12次方秒量级的速度，将其两极间的高阻抗变为低阻抗，吸收高达数千瓦的浪涌功率，使两极间的电压箝位于一个预定值，有效地保护电测试设备中的各种元器件，免受各种浪涌脉冲的损坏。
本实用新型的这些特点和优点将会在下面的具体实施方式、附图中详细的揭露。
【附图说明】
下面结合附图对本实用新型做进一步的说明：
图1为实施例一的结构示意图；
图2为实施例二的结构示意图.
【具体实施方式】
下面结合本实用新型实施例的附图对本实用新型实施例的技术方案进行解释和说明，但下述实施例仅仅为本实用新型的优选实施例，并非全部。基于实施方式中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其它实施例，都属于本实用新型的保护范围。
实施例一：
参考图1，所示一种带电测试设备，带电测试设备包括测试电路和连接在测试电路上的若干测试端口1，测试端口1之间连接有瞬态抑制二极管2。瞬态二极管(Transient Voltage Suppressor)简称TVS，是一种二极管形式的高效能保护器件。当瞬态二极管的两极受到反向瞬态高能量冲击时，它能以10的负12次方秒量级的速度，将其两极间的高阻抗变为低阻抗，吸收高达数千瓦的浪涌功率，使两极间的电压箝位于一个预定值，有效地设备中的元器件，免受各种浪涌脉冲的损坏。
在瞬态峰值脉冲电流作用下，流过瞬态二极管的电流，由原来的反向漏电流ID上升到IR时，其两极呈现的电压由额定反向关断电压VWM上升到击穿电压VBR，瞬态二极管被击穿。随着峰值脉冲电流的出现，流过瞬态二极管的电流达到峰值脉冲电流IPP。在其两极的电压被箝位到预定的最大箝位电压以下。尔后，随着脉冲电流按指数衰减，瞬态二极管两极的电压也不断下降，最后恢复到起始状态。这就是瞬态二极管抑制可能出现的浪涌脉冲功率，保护电子元器件的整个过程。
本实施例中，测试端口1通过导线串联，相邻测试端口1之间的导线上设置瞬态抑制二极管2。例如：有4个端口，则可按图1所示连接。前提条件是端口之间的耐压要高于2个瞬态二极管保护电压之和。
为了保护带电测试设备不被瞬间高压击坏，采用的瞬态抑制二极管2的额定反向关断电压不小于测试电路的最大工作电压。瞬态抑制二极管2的最大箝位电压应小于所述测试电路的击穿电压。瞬态抑制二极管2的最大峰值脉冲功耗大于所述测试电路的峰值功率。瞬态抑制二极管2的瞬态浪涌电流小于所述测试电路的峰值电流。从而有效抑制可能出现的瞬间高压，防止带电测试设备被损坏。
优选的，瞬态抑制二极管2为双极性瞬态抑制二极管2。双极性瞬态抑制二极管2可在更高强度的高压放电中进行保护。
实施例二：
参考图2，一种带电测试设备，带电测试设备包括测试电路和连接在测试电路上的若干测试端口1，测试端口1之间连接有瞬态抑制二极管2。其中一个所 述测试端口1与其他测试端口1之间均连接有瞬态抑制二极管2。本实施例在同一测试端口1上连接有更多的瞬态抑制二极管2，越密集的设置瞬态抑制二极管，能抵抗更高的高压放电。
通过上述实施例，本实用新型的目的已经被完全有效的达到了。熟悉该项技术的人士应该明白本实用新型包括但不限于附图和上面具体实施方式中描述的内容。任何不偏离本实用新型的功能和结构原理的修改都将包括在权利要求书的范围中。
Claims (8)
1.一种带电测试设备，其特征在于：所述带电测试设备包括测试电路和连接在测试电路上的若干测试端口，所述测试端口之间连接有瞬态抑制二极管。
2.根据权利要求1所述的一种带电测试设备，其特征在于：所述测试端口通过导线依次串联，相邻所述测试端口之间的导线上设置所述瞬态抑制二极管。
3.根据权利要求1所述的一种带电测试设备，其特征在于：其中一个所述测试端口与其他测试端口之间均连接有所述瞬态抑制二极管。
4.根据权利要求1或2或3所述的一种带电测试设备，其特征在于：所述瞬态抑制二极管的额定反向关断电压不小于所述测试电路的最大工作电压。
5.根据权利要求1或2或3所述的一种带电测试设备，其特征在于：所述瞬态抑制二极管的最大箝位电压小于所述测试电路的击穿电压。
6.根据权利要求1或2或3所述的一种带电测试设备，其特征在于：所述瞬态抑制二极管的最大峰值脉冲功耗大于所述测试电路的峰值功率。
7.根据权利要求1或2或3所述的一种带电测试设备，其特征在于：所述瞬态抑制二极管的瞬态浪涌电流小于所述测试电路的峰值电流。
8.根据权利要求1或2或3所述的一种带电测试设备，其特征在于：所述瞬态抑制二极管为双极性瞬态抑制二极管。
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|---|---|---|---|
| CN201520227246.2U CN204595036U (zh) | 2015-04-15 | 2015-04-15 | 一种带电测试设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201520227246.2U CN204595036U (zh) | 2015-04-15 | 2015-04-15 | 一种带电测试设备 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN204595036U true CN204595036U (zh) | 2015-08-26 |
Family
ID=53931181
Family Applications (1)
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| CN201520227246.2U Active CN204595036U (zh) | 2015-04-15 | 2015-04-15 | 一种带电测试设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN204595036U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113692099A (zh) * | 2021-07-15 | 2021-11-23 | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 | 一种通用io保护工装 |
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2015
- 2015-04-15 CN CN201520227246.2U patent/CN204595036U/zh active Active
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