CN204575806U - 一种用于无过零检测ic的测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于无过零检测IC的测试装置，它包括直流电源、测试结果显示单元和待测试集成电路，所述待测试集成电路为无过零检测的半成品集成电路，待测试集成电路上集成有能够直接通过直流电源给相关引脚提供所需直流电压的待测试芯片，所述直流电源的电源输出端与待测试芯片的相关输入引脚连接，测试结果显示单元的输入端与待测试芯片的相关输出引脚连接。本实用新型通过直流电源和示波器/万能表，简单有效地检测出待测试集成电路是否正常，能够有效的减少半成品电路板的强电损坏，从而减少元器件的损坏，并节省人力返修。提高了良品率和工作效率。

Description

一种用于无过零检测IC的测试装置

技术领域

本实用新型涉及开关电源检测领域，特别是涉及一种用于无过零检测IC的测试装置。

背景技术

电源管理芯片在做成成品电源后，如果有焊接不良或者元器件故障，在通入220VAC后会炸机造成返修难度增加，PCB损坏，配电箱跳匝，更严重者操作员会被炸裂的元器件残片所损伤。因此在通电之前对电源管理芯片做一个简单的模拟测试，检查相关波形是否正常非常必要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种用于无过零检测IC的测试装置，通过直流电源和示波器/万能表，简单有效地检测出待测试集成电路是否正常，能够有效的减少半成品电路板的强电损坏，从而减少元器件的损坏，并节省人力返修。提高了良品率和工作效率。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：一种用于无过零检测IC的测试装置，它包括直流电源、测试结果显示单元和待测试集成电路，所述待测试集成电路为无过零检测的半成品电路，待测试集成电路上集成有能够直接通过直流电源给相关引脚提供所需直流电压的待测试芯片。

所述直流电源的电源输出端与待测试芯片的相关输入引脚连接，测试结果显示单元的输入端与待测试芯片的相关输出引脚连接。

所述的测试结果显示单元包括示波器和万用表中的一种或多种的组合。

所述的直流电源为输出电压能够根据具体需求而调整的直流电源。

所述的待测试集成电路还包括一个或多个与待测试芯片的输入引脚和输出引脚相对应连接的外围电路，直流电源的电源输出端还与外围电路的电源输入端连接，测试结果显示单元的输入端与外围电路的输出端连接。

本实用新型的有益效果是：本实用新型通过直流电源和示波器/万能表，简单有效地检测出待测试集成电路是否正常，能够有效的减小半成品电路板的强电损坏，从而减少元器件的损坏，并节省人力返修。提高了良品率和工作效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构框图；

图2为本实用新型待测试集成电路的电路图。

具体实施方式

下面结合附图进一步详细描述本实用新型的技术方案，但本实用新型的保护范围不局限于以下所述。

如图1所示，一种用于无过零检测IC的测试装置，它包括直流电源、测试结果显示单元和待测试集成电路，所述待测试集成电路为无过零检测半成品电路，待测试集成电路上集成有能够直接通过直流电源给相关引脚提供所需直流电压的待测试芯片。

所述直流电源的电源输出端与待测试芯片的相关输入引脚连接，测试结果显示单元的输入端与待测试芯片的相关输出引脚连接。

所述的测试结果显示单元包括示波器和万用表中的一种或多种的组合。

所述的直流电源的输出电压能够根据具体需求而调整。

所述的待测试集成电路还包括一个或多个与待测试芯片的输入引脚和输出引脚相对应连接的外围电路，直流电源的电源输出端还与外围电路的电源输入端连接，测试结果显示单元的输入端与外围电路的输出端连接。

所述的待测试集成电路为能够直接通过直流电源给相关引脚提供所需直流电压的开关电源IC，一般为半成品集成电路板，可直接通过直流电源和示波器或万用表，检测待检测芯片的输出参考电压或脉宽调制信号是否正常。所述的待测试芯片为电源管理芯片，例如TI公司的UC3845，ST公司L6599以及ON公司的NCP1654等等。

在拿到一张加工好的电路板，通电之前需要检测加工是否良好，必须对该电路板的芯片功能进行检测。

本实用新型根据待测试集成电路的产品规格书，首先需要了解该待测试集成电路中，待测试芯片各个引脚的功能，初步判断区分其输入引脚和输出引脚，再通过直流电源给待测试集成电路的输入引脚输入其所需要的电压，再用示波器或者万用表检测该待测试集成电路的输出电压或频率是否正常。

本实用新型通过直流电源对待测试集成电路进行检测，能够有效的减小半成品电路板的强电损坏，从而减少元器件的损坏，并节省人力返修。提高了良品率和工作效率。

本实用新型还可以验证待测试集成电路的周边元器件的性能、焊接等特性是否良好。参照产品规格文档，给目标器件的对应引脚施加合理电压，观察输出点是否正常，如果有器件虚焊，或者损坏，那么输出针脚的输出信号产生的电压或频率的异常，就会在电压表或示波器上反应出来，从而可以检查出该半成品是否合格。

如图2所示，待测试集成电路中包括待测试芯片、整流器、启动电路、分压电路、开关电路、电流采样电路和振荡电路，还包括变压器、环路补偿电路等，其中，直流电源根据测试需要分别与启动电路、分压电路、保护电路、环路补偿电路、稳压电路、开关电路、电流采样电路和振荡电路连接。

待测试芯片为UC3845，芯片UC3845包括8个引脚，其中：

第1引脚：补偿输出端，该管脚为误差放大器输出，并可用于环路补偿；

第2引脚：电压反馈输入端，该管脚是误差放大器的反向输入端，通常通过一个电阻分压器（分压电路）连至开关电源（直流电源）输出；

第3引脚：采样电流输入端，一个正比于电感器电流的电压接至此输入，脉宽调制器使用此信息中止输出开关的导通；

第4引脚：频率控制输出端，通过将电阻R6连接至参考电压Vref以及电容C6连接至地，使振荡电路频率和最大输出占空比可调，工作频率达1MHz；

第5引脚：接地端，该管脚是控制电路和电源的公共地；

第6引脚：开关控制输出端，该输出直接驱动功率MOSFET开关管Q1的栅极，高达1A峰值电流经此管脚拉和灌，输出开关频率为振荡器频率的一半；

第7引脚：电源输入端，该管脚是控制集成电路的正电源；

第8引脚：参考电压输出端，该管脚为参考电压Vref输出，它通过电阻R6向电容C6提供充电电流。

该待测试集成电路中，第3引脚、第7引脚为主要的输入引脚，第6引脚、第8引脚为主要的输出引脚。只需要通过直流电源给第7引脚提供一个稳定的13V工作电压，此时若该待测试集成电路正常，则其第8引脚输出为5V电平，通过振荡电路形成一个锯齿波，决定第6引脚的输出方波的频率，而调整第7引脚的电压则可以改变第6引脚输出方波的占空比，从而在示波器或电压表上查看到待测试集成电路的输出状况，与该芯片的产品规格书上的数据相对比，即可知道该待测试芯片是否正常。

如图2所示，变压器包括初级绕组NP、辅助绕组NC和输出绕组NS，辅助绕组NC与待测试集成电路的电压反馈输入端和待测试集成电路的VCC输入端通过整流电路连接，辅助绕组NC的同名端与地对接，辅助绕组NC与输出绕组NS同相位且成固定匝数比的关系，检测辅助绕组NC的电压即使检测输出电压，辅助绕组NC通过分压电路与待测试芯片的电压反馈输入端连接，输出绕组NS包括输出绕组N5和输出绕组N12。

初级绕组NP的周边电路包括电阻R12、电容C9和二极管D4，并联的电阻R12和电容C9的一端与直流电源和初级绕组NP的一端连接，其另一端通过二极管D4的负极与初级绕组NP的另一端连接。在此检测方式中，初级绕组之前电路不参与检测。

输出绕组N5的周边电路包括二极管D6、电感L1、电容C10和电容C11，输出绕组N5的同名端与第一输出端COM1连接，输出绕组N5的另一端依次通过二极管D6的正极、电感L1与+5V电源连接，电感L1的两端分别通过电容C10和电容C11与第一输出端COM1连接。

输出绕组N12包括第一输出绕组N12和第二输出绕组N12，输出绕组N12的周边电路包括二极管D7、二极管D8、电容C12和电容13。

第一输出绕组N12的同名端与通过二极管D8的负极与-12V电源连接，第一输出绕组N12的另一端与+12V的第二输出端COM2连接，第一输出绕组N12的另一端还通过电容C13与-12V电源连接。

第二输出绕组N12的同名端与-12V的第二输出端COM2连接，第二输出绕组N12的同名端还通过电容C12与+12V电源连接，第二输出绕组N12的另一端通过二极管D7的正极与+12V电源连接。待测试芯片的开关控制输出端与开关电路的开关控制输入端连接，开关电路的电流输入端与初级绕组NP连接，开关电路的电流输出端与电流采样电路的电流输入端连接。

整流器的输入端与交流电源连接，整流器的输入正极通过电阻R1与交流电源连接，电容C1并联在整流器的输出端两端，整流器的输出正极输出直流电，整流器的输出负极与地对接。

分压电路包括电阻R4和电阻R3，电阻R4和电阻R3串联的中点与待测试芯片的电压反馈输入端连接，电阻R4的另一端与地对接，电阻R3的另一端分别与辅助绕组NC和待测试芯片的电源输入端连接。

辅助绕组NC和分压电路之间还包括二极管D3、二极管D2、电容C4和电阻R9，二极管D3和二极管D2串联的中点分别通过电阻R9和电容C4与地对接，二极管D3的正极与辅助绕组NC连接，二极管D2的负极与电阻R3连接。

待测试芯片的采样电流输入端与电流采样电路的采样电流输出端连接，待测试集成电路的参考电压输出端与振荡电路的参考电压输入端连接，待测试芯片的频率控制输出端与振荡电路的频率控制输入端连接。

待测试芯片的电源输入端通过启动电路与直流电源的电源输出端连接。启动电路包括电阻R2、电容C2和电容C3，电阻R2的一端与直流电源的电源输出端连接，其另一端分别与待测试集成电路的电源输入端、电容C2和电容C3连接。

待测试芯片的补偿输出端通过环路补偿电路与待测试芯片的电压反馈输入端连接。环路补偿电路包括电阻R5和电容C14，电阻R5和电容C14并联在待测试芯片的补偿输出端和电压反馈输入端之间。

振荡电路包括电阻R6、电容C5和电容C8，待测试集成电路的参考电压输出端分别通过电容C5及串联的电阻R6和电容C8与地对接，电阻R6和电容C8串联的中点与待测试芯片的频率控制输出端连接。

开关电路包括开关管Q1、电阻R7、肖基特二极管D1、电阻R10和电阻R13，待测试集成电路的开关控制输出端通过电阻R7与开关管Q1的栅极连接，还通过肖基特二极管D1的负极与地对接，开关管Q1的栅极还通过电阻R13与地对接，开关管Q1的漏极与初级绕组NP连接，开关管Q1的源极与电流采样电路的电流输入端连接，还通过电阻R10与地对接。

开关电路还包括电容C8、电阻R11和二极管D5，开关管Q1的漏极通过电容C8分别与二极管D5的正极、电阻R11连接，二极管D5的负极和电阻R11的另一端均与地对接。

电流采样电路包括电阻R8和电容C7，电阻R8的一端与待测试芯片的采样电流输入端和电容C7连接，电容C7的另一端与地对接，电阻R8的另一端与电流采样电路的电流输入端连接。

本应用案例图2的工作原理为：

采用直流电源通过电阻R2给对电容C2、电容C3充电，当电容C2、电容C3上的电压上升到待测试芯片的启动电压后，待测试芯片开始工作，MOS管Q1导通。

由于变压器初级绕组NP的存在，电流采样电阻R10上的电流呈线性上升，并在电阻R10上形成线性上升的电压接入第3引脚（内部比较器的同向端）。待测试芯片内部产生一个5V的直流电平由第8引脚输出，通过电阻R6和电容C6构成RC振荡器，产生待测试芯片所需要的工作频率。

并且第8引脚的5V直流电平通过内部电阻分压，给第2引脚内部误差放大器的同向端提供2.5V的电平，与辅助绕组NC提供的电平经过电阻R3、电阻R4分压后施加到第2引脚即内部误差放大器的反向输入端。该误差放大器的输出端接到内部比较器的反向端，与电流采样电阻R10的电压比较。最后共同决定第6引脚的输出控制开关管Q1的导通与关断，即实现占空比的控制，示波器或电压表与第一输出端COM1或第二输出端COM2，从而在示波器或电压表上查看到待测试集成电路的输出状况，与该芯片的产品规格书上的数据相对比，即可知道该待测试芯片是否正常。

由于辅助绕组NC与输出绕组NS同相位且成固定匝比的关系，因此检测辅助绕组电压即使检测输出电压。

Claims (4)

1.一种用于无过零检测IC的测试装置，其特征在于：它包括直流电源、测试结果显示单元和待测试集成电路，所述待测试集成电路为无过零检测的半成品电路，待测试集成电路上集成有能够直接通过直流电源给相应引脚提供所需直流电压的待测试芯片；

所述直流电源的电源输出端与待测试芯片的输入引脚连接，测试结果显示单元的输入端与待测试芯片的输出引脚连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于无过零检测IC的测试装置，其特征在于：所述的测试结果显示单元包括示波器和万用表中的一种或多种的组合。

3.根据权利要求1所述的一种用于无过零检测IC的测试装置，其特征在于：所述的直流电源为输出电压能够根据具体需求而调整的直流电源。

4.根据权利要求1所述的一种用于无过零检测IC的测试装置，其特征在于：所述的待测试集成电路还包括一个或多个与待测试芯片的输入引脚和输出引脚相对应连接的外围电路，直流电源的电源输出端还与外围电路的电源输入端连接，测试结果显示单元的输入端与外围电路的输出端连接。