CN204575549U - 一种可预除尘的纺织品缺陷检测装置 - Google Patents
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Abstract
一种可预除尘的纺织品缺陷检测装置,包括机架,机架具有一平台,机架的平台上由前自后依次设有红外半导体激光器、聚光透镜、物镜、摄像物镜和电子感光器件,机架上还设有一竖向布置的升降气缸,升降气缸的输出轴从该升降气缸的上端面伸出,升降气缸的输出轴上连接有一除尘盒,平台上开设有与除尘盒对应的开口,除尘盒的上端开口且枢接有一盒盖,通过盒盖可将除尘盒封闭;盒盖的正面设有一除尘器,盒盖封闭除尘盒的上端开口后除尘器与除尘盒联通,除尘盒内设有用于夹持纺织品样本的夹手,除尘盒内还设有风管,除尘盒的侧面设有风口,风管插入风口内。本实用新型在检测前先进行除尘处理,检测鉴别结果更加准确。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种纺织品缺陷检测装置。
背景技术
纺织品在制造过程中,其结构和染色材料中可能会存在缺陷。在现有技术中,是由人工利用放大镜对缺陷进行检测鉴别,鉴别结果不准确。为了克服该缺点,专利号为201120036328.0的中国实用新型专利提供了一种纺织品缺陷检测装置,利用电子感光器件对红外激光图像进行光电转换,在显示器上显示具有灰度和对比色度的纺织样品红外激光透射图像,实现较为准确的鉴别。其还存在的缺点在于:在检测时无法预先进行除尘,若纺织品上尘粒较多,则会影响检测效果及图像的成型。
发明内容
为克服现有纺织品缺陷检测装置的上述不足,本实用新型提供一种检测结果更加准确的可预除尘的纺织品缺陷检测装置。
本实用新型解决其技术问题的技术方案是:一种可预除尘的纺织品缺陷检测装置,包括机架,所述的机架具有一平台,所述机架的平台上由前自后依次设有红外半导体激光器、聚光透镜、物镜、摄像物镜和电子感光器件,所述的红外半导体激光器、聚光透镜、物镜、摄像物镜和电子感光器件均位于同一条光路上;
所述物镜和所述的聚光透镜之间设有一位于所述平台上方的用于夹持纺织品样本的织物夹架,所述的电子感光器件与一显示器电连接;
所述的机架上还设有一竖向布置的升降气缸,该升降气缸位于所述平台的下方,所述升降气缸的输出轴从该升降气缸的上端面伸出,所述升降气缸的输出轴上连接有一除尘盒,所述的平台上开设有与所述的除尘盒对应的开口,所述除尘盒的上端开口且枢接有一盒盖,通过所述的盒盖可将所述的除尘盒封闭;
所述盒盖的正面设有一除尘器,所述的盒盖封闭所述除尘盒的上端开口后所述的除尘器与所述的除尘盒联通,所述的除尘盒内设有用于夹持纺织品样本的夹手,所述的除尘盒内还设有风管,所述除尘盒的侧面设有风口,所述的风管插入所述的风口内。
进一步,所述的红外半导体激光器内内置808nm波长红外激光光源或980nm波长红外激光光源。
进一步,所述的电子感光元件为CCD元件或CMOS器件。
进一步,所述机架的平台上设有两条上凸滑轨;还包括聚光透镜支架、物镜支架、摄像物镜支架,所述的聚光透镜安装在所述的聚光透镜支架上,所述的物镜安装在所述的物镜支架上,所述的摄像物镜安装在所述的摄像物镜支架上;
聚光透镜支架、物镜支架、摄像物镜支架的下端均设有滑槽,所述上凸滑轨位于所述的滑槽内,所述的滑槽的侧边上穿设有锁紧螺杆。
进一步,所述的电子感光元件为CCD元件或CMOS器件。
本实用新型的工作原理是:通过红外半导体激光器发射红外激光,经过聚光透镜的会聚后向夹持在织物夹架上的纺织品样本投射并透过该纺织样品,然后再经过物镜和摄像物镜的会聚,由电子感光器件采集红外激光穿过纺织样品后的图像信号。聚光透镜、物镜和摄像物镜起到放大纺织样品图像的作用。利用电子感光器件对好外激光图像进行光电转换,在显示器上显示具有灰度和对比色度的纺织样品红外激光透射图像,可以准确地进行鉴别。
红外激光的高度单色性和定向性应用于透射纺织品图像技术,可获得清晰度十分理想的图像。
纺织纤维在高度单色性红外激光的透射下,织物的纤维获得接近单一波长红外激光相对透明度的纤维图像;在染色纺织品上,颜料的显现颜色是在400nm~760nm的光谱范围内,应用光波波段的红外激光(尤其是波长为808nm和波长为980nm的红外激光)透射纺织品结构以及纺织品的染色缺陷部位,入射光的光波波长在燃料显现颜色光谱范伟之外,能够去除燃料对红外激光入射光的影响,获得染色纺织品和染色缺陷部位相当于去掉燃料光学作用以后的结构成像图,揭示纺织品结构上存在的结构缺陷与染色缺陷之间的关系。
在进行检测前,首先升降气缸动作,将除尘盒抬至平台上方,将纺织品样本放入除尘盒内用夹手夹住,然后翻转盒盖将除尘盒封闭,之后风口通吹风机,通过风管将风吹入除尘盒内,对纺织品样本进行除尘,同时除尘器与除尘盒联通,可将尘粒吸入除尘器内。除尘完毕后再将纺织品样本取出,除尘盒回降,将纺织品样本夹持在织物夹架上。
本实用新型的有益效果在于:利用红外激光透射纺织品样品,并采用光学透镜放大透射处样品的图像,采集红外激光透射图像后进行光电换转,在显示器上显示具有灰度和对比色度的纺织样品红外激光透射图像,可以准确地进行鉴别;且在检测前先进行除尘处理,检测鉴别结果更加准确。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
图2是除尘盒的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细说明。
参照图1、图2,一种可预除尘的纺织品缺陷检测装置,包括机架,该机架具有一平台,所述机架的平台上由前自后依次设有红外半导体激光器1、聚光透镜2、物镜3、摄像物镜4和电子感光器件5,所述的红外半导体激光器1、聚光透镜2、物镜3、摄像物镜4和电子感光器件5均位于同一条光路上;
所述物镜3和所述的聚光透镜2之间设有一位于所述平台上方的用于夹持纺织品样本6的织物夹架,所述的电子感光器件5与一显示器7电连接。电子感光元件5可采用CCD元件或CMOS器件。
推荐在红外半导体激光器1内内置808nm波长红外激光光源或980nm波长红外激光光源。
本实施例中,所述机架的平台上设有两条上凸滑轨;还包括聚光透镜支架、物镜支架、摄像物镜支架,所述的聚光透镜2安装在所述的聚光透镜支架上,所述的物镜3安装在所述的物镜支架上,所述的摄像物镜4安装在所述的摄像物镜支架上;聚光透镜支架、物镜支架、摄像物镜支架的下端均设有滑槽,所述上凸滑轨位于所述的滑槽内,所述的滑槽的侧边上穿设有锁紧螺杆。光透镜支架、物镜支架、摄像物镜支架可在上凸滑轨上滑动,从而可进行位置的调节,调整好位置后拧紧所述的锁紧螺杆使之一上凸滑轨锁紧后即实现固定。
通过红外半导体激光器1发射红外激光,经过聚光透镜2的会聚后向夹持在织物夹架上的纺织品样本6投射并透过该纺织样本6,然后再经过物镜3和摄像物镜4的会聚,由电子感光器件5采集红外激光穿过纺织样本后的图像信号。聚光透镜2、物镜3和摄像物镜4起到放大纺织样品图像的作用。利用电子感光器件5对好外激光图像进行光电转换,在显示器7上显示具有灰度和对比色度的纺织样品红外激光透射图像,可以准确地进行鉴别。
所述的机架上还设有一竖向布置的升降气缸,该升降气缸位于所述平台的下方,所述升降气缸的输出轴从该升降气缸的上端面伸出,所述升降气缸的输出轴上连接有一除尘盒8,所述的平台上开设有与所述的除尘盒8对应的开口,所述除尘盒8的上端开口且枢接有一盒盖9,通过所述的盒盖9可将所述的除尘盒封闭。
所述盒盖9的正面设有一除尘器10,所述的盒盖9封闭所述除尘盒8的上端开口后所述的除尘器10与所述的除尘盒8联通,所述的除尘盒8内设有用于夹持纺织品样本的夹手,所述的除尘盒8内还设有风管11,所述除尘盒8的侧面设有风口,所述的风管插入所述的风口内。
在进行检测前,首先升降气缸动作,将除尘盒8抬至平台上方,将纺织品样本6放入除尘盒8内用夹手夹住,然后翻转盒盖9将除尘盒8封闭,之后风口通吹风机,通过风管11将风吹入除尘盒8内,对纺织品样本进行除尘,同时除尘器10与除尘盒8联通,可将尘粒吸入除尘器10内。除尘完毕后再将纺织品样本取出,除尘盒8回降,将纺织品样本夹持在织物夹架上。
Claims (4)
1.一种可预除尘的纺织品缺陷检测装置,包括机架,所述的机架具有一平台,所述机架的平台上由前自后依次设有红外半导体激光器、聚光透镜、物镜、摄像物镜和电子感光器件,所述的红外半导体激光器、聚光透镜、物镜、摄像物镜和电子感光器件均位于同一条光路上;
所述物镜和所述的聚光透镜之间设有一位于所述平台上方的用于夹持纺织品样本的织物夹架,所述的电子感光器件与一显示器电连接;
其特征在于:所述的机架上还设有一竖向布置的升降气缸,该升降气缸位于所述平台的下方,所述升降气缸的输出轴从该升降气缸的上端面伸出,所述升降气缸的输出轴上连接有一除尘盒,所述的平台上开设有与所述的除尘盒对应的开口,所述除尘盒的上端开口且枢接有一盒盖,通过所述的盒盖可将所述的除尘盒封闭;
所述盒盖的正面设有一除尘器,所述的盒盖封闭所述除尘盒的上端开口后所述的除尘器与所述的除尘盒联通,所述的除尘盒内设有用于夹持纺织品样本的夹手,所述的除尘盒内还设有风管,所述除尘盒的侧面设有风口,所述的风管插入所述的风口内。
2.如权利要求1所述的可预除尘的纺织品缺陷检测装置,其特征在于:所述的红外半导体激光器内内置808nm波长红外激光光源或980nm波长红外激光光源。
3.如权利要求1所述的可预除尘的纺织品缺陷检测装置,其特征在于:所述的电子感光元件为CCD元件或CMOS器件。
4.如权利要求1~3之一所述的可预除尘的纺织品缺陷检测装置,其特征在于: 所述机架的平台上设有两条上凸滑轨;还包括聚光透镜支架、物镜支架、摄像物镜支架,所述的聚光透镜安装在所述的聚光透镜支架上,所述的物镜安装在所述的物镜支架上,所述的摄像物镜安装在所述的摄像物镜支架上;
聚光透镜支架、物镜支架、摄像物镜支架的下端均设有滑槽,所述上凸滑轨位于所述的滑槽内,所述的滑槽的侧边上穿设有锁紧螺杆。
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US10942133B2 (en) | 2017-05-24 | 2021-03-09 | The Hong Kong Research Institute Of Textiles And Apparel Limited | Method and system for automatically detecting fabric defect, and computer readable storage medium |
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