CN204495371U - 一种多用途光学暗箱 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种多用途光学暗箱，包括主机台、宽型线性滑轨、两个光阑、光度探头、待测支架，主机台、两个光阑、光度探头、待测支架依次安装在宽型线性滑轨上，主机台为双轴C型卧式结构，主机台上设有双十字定位激，所述双十字定位激光能够准确定位待测灯及探头，主机台上设置有灯具安装盘为中空结构。本实用新型具有测试精度高，测试功能简单，灯具容易安装等特点。
Description
技术领域
本发明涉及一种多用途光学暗箱，属于照明检测技术。
背景技术
光学暗箱是照明检测最常用的设备之一，目前市面上的产品却存在以下不足：
1、由于测试台和导轨是分体结构，整个测试系统容易形变，失去测试精度。
2、测试灯具或灯珠无法准确定位，多为目测或壁上单激光定位。很多情况下测试中心偏掉。
3、水平轴多为实心，夹具单一，不易安装。
4、暗箱虽然喷黑，但是钢铁表面容易产生掠入射的杂散光，给测试精度带来影响。
5、测试探头固定，测试功能单一。
实用新型内容
针对上述问题，本实用新型提供一种多用光学暗箱，解决测试精度差，测试功能简单，灯具不易安装等多种问题。
为实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：一种多用途光学暗箱，包括测试暗箱壳体及安装在测试暗箱壳体内的主机台、宽型线性滑轨、两个光阑、光度探头、待测支架，所述主机台为双轴C型卧式结构，所述主机台、两个光阑、光度探头支架、待测支架依次安装在宽型线性滑轨上，所述主机台上部设有中空的灯具安装盘，所述光度探头支架上安装有光度探头，所述测试暗箱壳体内贴有黑色吸光绒布，所述主机台上还设有双十字定位激光，所述双十字定位激光包括水平定位十字激光和垂直定位十字激光。
进一步的，所述滑轨上设有刻度显示。
进一步的，所述光度探头支架高度可调，可拆卸。
进一步的，所述灯具安装盘上还可设置灯珠夹具。
进一步的，所述测试暗箱壳体上、主机台的对象面安装有法兰盘。
更进一步的，所述法兰盘可搭载不同的测试附件。
进一步的，所述待测支架上可搭载不同的测试附件。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步说明。
一种多用途光学暗箱，包括测试暗箱壳体(1)及安装在测试暗箱壳体(1)内的主机台(2)、宽型线性滑轨(3)、两个光阑(4)、光度探头(5)、待测支架(6)，主机台(2)为双轴C型卧式结构，主机台(2)、两个光阑(4)、光度探头支架(51)、待测支架(6)依次安装在宽型线性滑轨(3)上，主机台(2)和测试探头都在宽型线性滑轨(3)上，保证了系统的平面度，且不易形变，改变了以前的易变形的问题，所述宽型线性滑轨(3)上设有刻度显示，提高了测试精度。
主机台(3)上部设有中空的灯具安装盘(21)，可设计多款夹具(24)固定其中，如颗粒的测试，灯具的夹具，均方便固定。
光度探头支架(51)上安装有光度探头(5)，光度探头支架高度可调，可拆卸。
测试暗箱壳体(1)内贴有黑色吸光绒布，最大程度的减少杂散光，提供测试精度。
主机台(2)上还设有双十字定位激光，所述双十字定位激光包括水平定位十字激光(22)和垂直定位十字激光(23)，垂直定位十字激光(23)准确定位待测灯具，水平定位十字激光(22)准确定位光度探头(5)。
待测支架(6)和法兰盘(7)可搭载不同的测试附件，可用于搭载光谱仪做空间色度不均匀测试，光生物辐射安全测试，可搭载探头进行灯具闪烁测试。
Claims (7)
1.一种多用途光学暗箱，包括测试暗箱壳体及安装在测试暗箱壳体内的主机台、宽型线性滑轨、两个光阑、光度探头、待测支架，其特征在于，所述主机台为双轴C型卧式结构，所述主机台、两个光阑、光度探头支架、待测支架依次安装在宽型线性滑轨上，所述主机台上部设有中空的灯具安装盘，所述光度探头支架上安装有光度探头，所述测试暗箱壳体内贴有黑色吸光绒布，主机台上还设有双十字定位激光，所述双十字定位激光包括水平定位十字激光和垂直定位十字激光。
2.根据权利要求1所述的一种多用途光学暗箱，其特征在于，所述滑轨上设有刻度显示。
3.根据权利要求1所述的一种多用途光学暗箱，其特征在于，所述光度探头支架高度可调，可拆卸。
4.根据权利要求1所述的一种多用途光学暗箱，其特征在于，所述灯具安装盘上还可设置灯珠夹具。
5.根据权利要求1所述的一种多用途光学暗箱，其特征在于，所述测试暗箱壳体上、主机台的对象面安装有法兰盘。
6.根据权利要求5所述的一种多用途光学暗箱，其特征在于，所述法兰盘可搭载不同的测试附件。
7.根据权利要求1所述的一种多用途光学暗箱，其特征在于，所述待测支架上可搭载不同的测试附件。
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| JP2018080936A (ja) * | 2016-11-14 | 2018-05-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光計測装置及び分光計測システム |
| EP3540396A4 (en) * | 2016-11-14 | 2020-08-12 | Hamamatsu Photonics K.K. | DEVICE FOR SPECTROSCOPIC MEASUREMENT AND SPECTROMETRY SYSTEM |
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2015
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| EP3540396A4 (en) * | 2016-11-14 | 2020-08-12 | Hamamatsu Photonics K.K. | DEVICE FOR SPECTROSCOPIC MEASUREMENT AND SPECTROMETRY SYSTEM |
| EP3540394A4 (en) * | 2016-11-14 | 2020-11-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | SPECTROSCOPIC MEASURING DEVICE AND SPECTROMETRY SYSTEM |
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