CN204479045U - 一种输变电设备防腐涂层厚度带电测量装置 - Google Patents
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Abstract
一种输变电设备防腐涂层厚度带电测量装置，所述装置由大功率射线发射器（6）、半导体射线信号收集器（4）、信号放大器（3）、脉冲信号分析仪（2）和微机（1）组成。大功率射线发射器向防腐涂层（8）发射一次X射线（7），激发防腐涂层元素产生二次X射线（5）；半导体射线信号收集器接收到二次X射线（5），送至信号放大器放大，再送脉冲信号分析仪得到X光能强度谱图；光能强度谱图经微机（1）进行校正、识别转换成厚度值。普通的涂层测厚仪只能对近距离贴近涂层材料进行分析测量，对带电物体及不能近距离接触的输变电设备涂层不能准确有效的进行测量，本实用新型装置能对远距离涂层材料进行分析测量。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种输变电设备防腐涂层厚度带电测量装置，属输变电设备防护检测技术领域。
背景技术
X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被照射物体。受激发的物体的中的元素会放射出二次X射线，并且所放射出的二次X射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量、强度。近年来，X荧光原理分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，大多数分析元素均可用其进行分析，可分析铁磁性材料及非铁磁性材料的涂层厚度，并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。
目前，普通的涂层测厚仪只能对近距离贴近涂层材料进行分析测量，对带电物体及不能近距离接触的输变电设备涂层不能准确有效的进行测量，主要原因是激发出材料元素的特征X射线，正常工作时，X射线管所消耗功率的0.2%左右转变为X射线辐射，其余均变为热能，距离越大X射线衰减的越厉害，使半导体探测器接受到的二次X射线能量不足以进行分析，本装置利用大功率X射线发射器能发射能量持续较强X射线，经大功率发射器、放大器、多道脉冲分析器、微机软件分析，实现带电远距离对涂层厚度进行测量。
发明内容
本实用新型的目的是，为了避免输变电设备停电时检测涂层造成的不便，同时保证测试人员的人身安全，本实用新型公开一种输变电设备防腐涂层厚度带电测量装置。
本实用新型的技术方案是，本实用新型一种输变电设备防腐涂层厚度带电测量装置由大功率射线发射器、半导体射线信号收集器、信号放大器、脉冲信号分析仪、微机组成。半导体射线信号收集器连接信号放大器；信号放大器通过脉冲信号分析仪连接微机。所述大功率射线发射器向防腐涂层发射一次X射线，激发防腐涂层元素产生二次X射线；半导体射线信号收集器接收到二次X射线，送至信号放大器放大，再送脉冲信号分析仪得到X光能强度谱图；光能强度谱图经微机进行校正、识别转换成厚度值。
本实用新型的工作原理是，本实用新型装置由大功率射线发射器、半导体射线信号收集器、信号放大器、脉冲信号分析仪、微机组成。由大功率射线发射器产生足够大的能量，激发被检测输变电设备防腐涂层元素产生二次X射线，通过半导体射线信号收集器，收集反射回来的二次X射线，通过信号放大器对二次X射线进行放大后送到脉冲信号分析器，按二次X射线脉冲强度的大小分别统计脉冲数，从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线，即X光能强度谱图。光能强度谱图经微机软件进行校正识别转换成厚度值，然后显示出来。
本实用新型的有益效果是，普通的涂层测厚仪只能对近距离贴近涂层材料进行分析测量，对带电物体及不能近距离接触的输变电设备涂层不能准确有效的进行测量，本实用新型装置能对远距离涂层材料进行分析测量。
附图说明
图1为本实用新型装置结构示意图；
图中，1是微机；2是脉冲信号分析仪；3是信号放大器；4是半导体射线信号收集器；5是二次X射线；6是大功率射线发射器；7是一次X射线；8是输变电设备防腐涂层。
具体实施方式
以下结合实施例并对照附图对本实用新型进行详细说明。
参见图1，本实施例一种输变电设备防腐涂层厚度带电测量装置由大功率射线发射器6、半导体射线信号收集器4、信号放大器3、脉冲信号分析仪2、微机1组成。由大功率射线发射器6产生足够大的能量，激发被检测输变电设备防腐涂层8的元素产生二次X射线；通过半导体射线信号收集器4，收集反射回来的二次X射线；通过信号放大器3对二次X射线进行放大后送到脉冲信号分析器2，按二次X射线脉冲强度的大小分别统计脉冲数，从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线，即X光能强度谱图。光能强度谱图经微机进行校正、识别转换成厚度值，然后显示出来。
Claims (1)
1.一种输变电设备防腐涂层厚度带电测量装置，其特征在于，所述装置由大功率射线发射器、半导体射线信号收集器、信号放大器、脉冲信号分析仪和微机组成；大功率射线发射器向防腐涂层发射一次X射线，激发防腐涂层元素产生二次X射线；半导体射线信号收集器接收到二次X射线，送至信号放大器放大，再送脉冲信号分析仪得到X光能强度谱图；光能强度谱图经微机进行校正、识别转换成厚度值。
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109556541A (zh) * | 2019-01-14 | 2019-04-02 | 汪诚 | 一种基于x射线的金属表面渗层厚度无损检测装置及方法 |
| CN114608493A (zh) * | 2022-03-23 | 2022-06-10 | 武汉钢铁有限公司 | 带钢镀锌层测厚装置以及测厚方法 |
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2015
- 2015-02-11 CN CN201520098206.2U patent/CN204479045U/zh active Active
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