CN204374245U - Ict测试转接头 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及电子零件测试技术领域，具体涉及一种用于电子零件进行ICT测试的转接头。所述转接头的一端为64pin接头，所述转接头的另一端设有两组32pin接头，所述64pin接头的pin针与每组32pin接头的pin针电藕合联接并对应导通，环绕所述转接头的为外壳。本实用新型结构简单合理，较现有技术，减少了排线与开关板之间磨损、变形，延长了开关板的使用寿命，确保了测试值的准确性和稳定性。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子零件测试技术领域，具体涉及一种用于电子零件进行ICT测试的转接头。
背景技术
在电子零件的生产制造过程中都需要进行ICT测试，进行ICT测试需要利用ICT测试治具，ICT测试治具是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。通常ICT测试治具，有32pin和64pin排线之分，其中32pin排线一端是64pin的插头，另一端是两组32pin的插头，而64pin排线两端皆是64pin的插头。然而，现有ICT测试治具在使用时，通常会遇到下面情况：当更换32pin测试治具时需将原有的64pin治具端和开关板端排线都拔掉；当更换64pin测试治具时亦需将原有的32pin排线治具端和开关板端排线都拔掉。上述情况一方面会增加更换治具的时间，影响生产作业效率；另一方面，开关板端插拔频率高，容易造成开关板pin针磨损、变形，从而影响测试值的稳定性和准确性，开关板pin针变形、磨损到一定程度后需更换，进而增加了生产成本。
实用新型内容
针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种ICT测试转接头。
本实用新型技术方案如下：
ICT测试转接头，所述转接头的一端为64pin接头，所述转接头的另一端设有两组32pin接头，所述64pin接头的pin针与每组32pin接头的pin针电藕合联接并对应导通，环绕所述转接头的为外壳。
本实用新型的有益效果在于：当使用64pinICT测试治具时，而排线是32pin，此时，无需将开关板端排线拔掉，只需将本转接头接入64pinICT测试治具中，再接入32pin排线即可进行ICT测试；若使用32pinICT测试治具时，那么直接将接入上述转接头的32pin排线拔出来，并接入32pinICT测试治具上，正常使用即可；较现有技术，减少了排线与开关板之间磨损、变形，延长了开关板的使用寿命，确保了测试值的准确性和稳定性。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型的主视结构示意图。
图2是64pin接头端的结构示意图。
图3是32pin接头端的结构示意图。
图4是本实用新型内部一侧pin针电联接结构示意图。
其中：1、64pin接头；2、外壳；3、32pin接头；4、pin针。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。
参阅图1至图4，ICT测试转接头，所述转接头的一端为64pin接头1，所述转接头的另一端设有两组32pin接头3，所述64pin接头1的pin针4与每组32pin接头3的pin针4电藕合联接并对应导通，环绕所述转接头的为外壳2。
进行ICT测试时：当使用64pinICT测试治具时，而排线是32pin（此排线一端是64pin的插头，另一端为两组32pin的插头），此时，无需将开关板端排线拔掉，只需将本转接头接入64pinICT测试治具中，再接入32pin排线即可进行ICT测试；若使用32pinICT测试治具时，那么直接将接入上述转接头的32pin排线拔出来，并接入32pinICT测试治具上，正常使用即可。
上述附图及实施例仅用于说明本实用新型，任何所属技术领域普通技术人员对其所做的适当变化或修饰，或改用其他花型做此技术上的改变，都皆应视为不脱离本实用新型专利范畴。
Claims (1)
1.ICT测试转接头，其特征在于：所述转接头的一端为64pin接头（1），所述转接头的另一端设有两组32pin接头（3），所述64pin接头（1）的pin针（4）与每组32pin接头（3）的pin针（4）电藕合联接并对应导通，环绕所述转接头的为外壳（2）。
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Country Status (1)
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| CN (1) | CN204374245U (zh) |
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2015
- 2015-02-02 CN CN201520073293.6U patent/CN204374245U/zh not_active Expired - Fee Related
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