CN204332206U - 一种多功能光电测量综合实验仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种多功能光电测量综合实验仪，包括可安装光学器件的实验平台、显示屏、开关按钮、示波输入端口、功能电路板、信号产生电路板、光电倍增管实验装置、信号输出端和测量仪表平台，所述示波输入端口与功能电路板连接，所述功能电路板与显示屏连接，所述实验平台搭建的被检测系统通过功能电路板将需要检测的信号于显示屏上显示。本实用新型在实验平台上设置有安装螺孔，便于安装各种光学器件，可完成多种功能的光学实验，能够进行现代光学实验所需的实验。本实用新型准确度和精确度好，操作直观简单，便于推广使用。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种涉及光电教学仪器领域，具体涉及一种多功能光电测量综合实验仪。
背景技术
随着近代工业和现代科学技术的发展，高精度、非接触、高效率、自动化是测试技术发展的方向，而传统的光学及光电测试技术已不适应上述要求，在精密自动测试技术中必须注入新的活力。
激光多功能光电测试系统实验仪是最新发展的精密光电测试实验系统，用于大学仪器科学，计算测试专业、自动控制专业以及物理专业等课程教学。其特点是系统配备了专有的移相式数字干涉图像处理软件Csylaser和Wave，分析精度达到1/50。实验内容新颖，技术先进采用的移相式数字干涉系统与普通的光栅摩尔条纹计数在测量范围与精度上是完全不同的概念，功能多样。通过实验指导书提供的数十种实验，能完成包括激光、散斑、衍射、光电、共焦、光纤、纳米、图像、偏振等多种先进测试技术实验。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种操作方便、直观、可满足教学需要的多功能光电测量综合实验仪。
为解决上述技术问题，本实用新型一种多功能光电测量综合实验仪，包括可安装光学器件的实验平台，在所述实验平台上设置有多个用于安装光学器件的螺孔，所述实验仪还设有显示屏、开关按钮、示波输入端口、功能电路板、信号产生电路板、光电倍增管实验装置、信号输出端和测量仪表平台，所述示波输入端口与功能电路板连接，所述功能电路板与显示屏连接，所述实验平台搭建的被检测系统通过功能电路板将需要检测的信号于显示屏上显示。
上述实验平台上设有激光光源，激光光源发出的光经光阑去除杂散光后，再经扩束镜后投射到反光镜上，再经分光镜分成两路光束，一路经测量反光镜反射回到反光镜形成测量光束，另一路经参考光反光镜反射回到反光镜形成参考光束。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
本实用新型在实验平台上设置有安装螺孔，便于安装各种光学器件，可完成多种功能的光学实验，能够进行现代光学实验所需的实验。本实用新型准确度和精确度好，操作简单直观，便于推广使用。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型的实验平台的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示，一种多功能光电测量综合实验仪，包括可安装光学器件的实验平台1，在所述实验平台1上设置有多个用于安装光学器件的螺孔，所述实验仪还设有显示屏2、开关按钮3、示波输入端口4、功能电路板5、信号产生电路板6、光电倍增管实验装置7、信号输出端8和测量仪表平台9，所述示波输入端口4与功能电路板5连接，所述功能电路板5与显示屏2连接，所述实验平台1搭建的被检测系统通过功能电路板5将需要检测的信号于显示屏2上显示。
又如图2所示，所述实验平台1上设有激光光源11，激光光源11发出的光经光阑12去除杂散光后，再经扩束镜13后投射到反光镜17上，再经分光镜16分成两路光束，一路经测量反光镜15反射回到反光镜17形成测量光束，另一路经参考光反光镜14反射回到反光镜17形成参考光束。
上述测量光束和参考光束相遇后产生干涉条纹，再经透镜18汇聚成像到光电器件19处，光电器件19便可检测到干涉条纹信息。
另外，上述各种镜的底部均安装有高度调整装置10，以便于调整各种镜的高度。
Claims (2)
1.一种多功能光电测量综合实验仪，包括可安装光学器件的实验平台(1)，在所述实验平台(1)上设置有多个用于安装光学器件的螺孔，其特征在于：所述实验仪还设有显示屏(2)、开关按钮(3)、示波输入端口(4)、功能电路板(5)、信号产生电路板(6)、光电倍增管实验装置(7)、信号输出端(8)和测量仪表平台(9)，所述示波输入端口(4)与功能电路板(5)连接，所述功能电路板(5)与显示屏(2)连接，所述实验平台(1)搭建的被检测系统通过功能电路板(5)将需要检测的信号于显示屏(2)上显示。
2.根据权利要求1所述的一种多功能光电测量综合实验仪，其特征在于：所述实验平台(1)上设有激光光源(11)，激光光源(11)发出的光经光阑(12)去除杂散光后，再经扩束镜(13)后投射到反光镜(17)上，再经分光镜(16)分成两路光束，一路经测量反光镜(15)反射回到反光镜(17)形成测量光束，另一路经参考光反光镜(14)反射回到反光镜(17)形成参考光束。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201420857155.2U CN204332206U (zh) | 2014-12-30 | 2014-12-30 | 一种多功能光电测量综合实验仪 |
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| CN201420857155.2U CN204332206U (zh) | 2014-12-30 | 2014-12-30 | 一种多功能光电测量综合实验仪 |
Publications (1)
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| CN204332206U true CN204332206U (zh) | 2015-05-13 |
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ID=53168536
Family Applications (1)
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| CN201420857155.2U Expired - Fee Related CN204332206U (zh) | 2014-12-30 | 2014-12-30 | 一种多功能光电测量综合实验仪 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN204332206U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106097855A (zh) * | 2016-07-30 | 2016-11-09 | 浙江工贸职业技术学院 | 一种激光原理实验平台 |
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2014
- 2014-12-30 CN CN201420857155.2U patent/CN204332206U/zh not_active Expired - Fee Related
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| CN106097855A (zh) * | 2016-07-30 | 2016-11-09 | 浙江工贸职业技术学院 | 一种激光原理实验平台 |
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Legal Events
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| C14 | Grant of patent or utility model | ||
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| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20150513 Termination date: 20151230 |
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