CN204314392U

CN204314392U - 一种模拟电源插拔及电容冲击性试验的测试仪

Info

Publication number: CN204314392U
Application number: CN201420738035.0U
Authority: CN
Inventors: 陈君; 张宝玉; 蒋大勇
Original assignee: Hang Jia Electron Technology Co Ltd Of Hefei City
Current assignee: Hang Jia Electron Technology Co Ltd Of Hefei City
Priority date: 2014-12-01
Filing date: 2014-12-01
Publication date: 2015-05-06
Anticipated expiration: 2024-12-01

Abstract

本实用新型涉及一种模拟电源插拔及电容冲击性试验的测试仪，包括主控板、插拔模拟测试电路和电容冲击模拟测试电路。主控板包括微处理器、显示模块电路、调节控制电路和控制输出电路。微处理器，其输入端与调节控制电路的输出端相连，其输出端分别与显示模块电路、控制输出电路的输入端相连。插拔模拟测试电路包括用于控制被测设备电源通断的第一开关器件。电容冲击模拟测试模块包括开关器件、冲击电容和放电电阻。开关器件包括用于控制冲击电容通断的第二开关器件和用于控制放电电阻通断的第三开关器件。该仪器能够对电器设备进行模拟电源插拔及电容冲击性试验，保证电器设备成品的工作稳定性。

Description

一种模拟电源插拔及电容冲击性试验的测试仪

技术领域

本实用新型涉及电器设备测试技术领域，具体涉及一种用于对电器设备进行电源插拔及电容冲击性模拟试验的测试仪。

背景技术

随着国家电力电子科技的发展，各种电器设备，尤其是家电设备的种类及数量也在不断增加。电器设备往往需要频繁的接插电源，而每次接插电源的瞬间会产生过压过流等干扰，电器设备在一定的接插次数后，其电源及系统稳定性会大大降低甚至出现损坏。

另外，在复杂多样的电网系统下，存在各种冲击性负载，冲击性负载会对系统电压电流带来谐波污染，干扰电器设备的电源系统，影响其正常工作。

针对这些问题，电器设备制造企业需要对产品进行充分的试验，以保证其工作稳定性。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种模拟电源插拔及电容冲击性试验的测试仪，该仪器能够对电器设备进行模拟电源插拔及电容冲击性试验，以保证电器设备成品的工作稳定性。

为实现上述目的，本实用新型采用了以下技术方案：

一种模拟电源插拔及电容冲击性试验的测试仪，包括主控板、插拔模拟测试电路和电容冲击模拟测试电路。

所述的主控板包括微处理器、显示模块电路、调节控制电路和控制输出电路。所述的微处理器，其输入端与调节控制电路的输出端相连，其输出端分别与显示模块电路、控制输出电路的输入端相连。

所述的插拔模拟测试电路包括用于控制被测设备电源通断的第一开关器件。

所述的电容冲击模拟测试电路包括开关器件、冲击电容和放电电阻。所述的开关器件包括用于控制冲击电容通断的第二开关器件和用于控制放电电阻通断的第三开关器件。

进一步的，所述的调节控制电路包括用于控制投入时间的第一调节控制电路和用于控制断开时间的第二调节控制电路。所述的第一调节控制电路和第二调节控制电路的结构相同，均包括旋钮开关Key1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C2和电容C3。

进一步的，所述的控制输出电路包括用于控制被测设备电源通断的第一控制输出电路、用于控制冲击电容通断的第二控制输出电路和用于控制放电电阻通断的第三控制输出电路；

所述的第一控制输出电路、第二控制输出电路和第三控制输出电路的结构相同，均包括电子继电器、二极管、电容、晶体三极管和电阻。

由以上技术方案可知，本实用新型能够通过插拔模拟测试电路与电容冲击模拟测试电路，对电器设备在电源插拔及受电容冲击时的电源及系统稳定性进行测试验证。

附图说明

图1是本实用新型的系统原理图；

图2是主控板的原理图；

图3是调节控制电路的电路原理图；

图4是第一控制输出电路的电路原理图；

图5是第二控制输出电路的电路原理图；

图6是第三控制输出电路的电路原理图。

其中：

1、主控板，2、插拔模拟测试电路，3、电容冲击模拟测试电路，4、被测设备，5、微处理器，6、显示模块电路，7、调节控制电路，8、控制输出电路。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步说明：

如图1所示，一种模拟电源插拔及电容冲击性试验的测试仪，包括主控板1、插拔模拟测试电路2和电容冲击模拟测试电路3。插拔模拟测试电路2，用于对被测设备4的电源插拔进行测试。电容冲击模拟测试电路3，用于对被测设备4的抗电容冲击性能进行测试。在本实用新型使用过程中，本实用新型与被测设备4采用两个独立的电源单独供电，用图1中所示的测试仪工作电源为本实用新型供电，用图1中所示的被测设备工作电源为被测设备单独供电。

如图2所示，所述的主控板1包括微处理器5、显示模块电路6、调节控制电路7和控制输出电路8。所述的微处理器5，其输入端与调节控制电路7的输出端相连，其输出端分别与显示模块电路6、控制输出电路8的输入端相连。微处理器5的型号为瑞萨R5F101。显示模块电路6，用于显示本实用新型的投入时间、断开时间及试验次数。调节控制电路7，用于调整本实用新型的功能模式、投入时间、断开时间及启停操作。控制输出电路8，用于控制Relay1- Relay3三个开关设备的通断，以对被测设备4进行不同性能测试。

如图3所示，所述的调节控制电路7包括用于控制投入时间的第一调节控制电路和用于控制断开时间的第二调节控制电路。所述的第一调节控制电路和第二调节控制电路的结构相同，均包括旋钮开关Key1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C2和电容C3。图3中的引脚Key1_1和引脚Key1_2为调节控制电路7的输出端，两个引脚分别与微处理器5的输入端相连。旋钮开关Key1，其引脚1经电阻R2接5V电源信号，其引脚3经电阻R3接5V电源信号，其引脚2接地。电阻R4两端分别连接旋钮开关Key1的引脚1和微处理器引脚Key1_1。电容C2两端分别连接引脚Key1_1和地。电阻R5两端分别连接旋钮开关Key1的引脚3和微处理器引脚Key1_2。电容C3两端分别连接引脚Key1_2和地。此外，还可以用滑动变阻器等其他调节元件来替代旋钮开关Key1。通过旋钮开关Key1和各个电阻、各个电容的相互配合，能够对本实用新型使用时的通断时间进行调节。

如图1所示，主控板1包括3个信号输出接口K1、K2和K3，以及与3个信号输出接口相对应的公共端COM。其中，(K1、COM)，用于控制被测设备的电源通断；(K2、COM)，用于控制冲击电容C1的通断；(K3、COM)，用于控制放电电阻R1的通断。如图4—图6所示，所述的控制输出电路8包括用于控制被测设备电源通断的第一控制输出电路、用于控制冲击电容通断的第二控制输出电路和用于控制放电电阻通断的第三控制输出电路。所述的第一控制输出电路、第二控制输出电路和第三控制输出电路的结构相同，均包括电子继电器、二极管、电容、晶体三极管和电阻。控制输出电路，通过电子继电器将弱电控制信号转换为强电信号，进而控制插拔模拟测试电路与电容冲击模拟测试电路的工作状态。

具体地说，如图4所示，第一控制输出电路包括二极管D11、电子继电器Relay4、电容XC2、电阻R34、电阻R35和晶体三极管Q18。二极管D11，其阴极接12V电源信号，其阳极接晶体管Q18集电极。电子继电器Relay4，其输入端并联在二极管D11的两端，其输出端并联在电容XC2的两端。晶体三极管Q18，其基极经电阻R35接微处理器的输出端Kout1，其发射极接地，其基极与发射极之间连有电阻R34。电容XC2，其上端连接测试仪工作电源的火线L，其下端连接主控板的第一输出接口K1。第一输出接口K1对应的公共端口COM接测试仪工作电源的零线N。

如图5所示，第二控制输出电路包括二极管D12、电子继电器Relay5、电容XC3、电阻R43、电阻R42和晶体三极管Q19。二极管D12，其阴极接12V电源信号，其阳极接晶体管Q19的集电极。电子继电器Relay5，其输入端并联在二极管D12的两端，其输出端并联在电容XC3的两端。晶体三极管Q19，其基极经电阻R43接微处理器的输出端Kout2，其发射极接地，其基极与发射极之间连有电阻R42。电容XC3，其上端连接测试仪工作电源的火线L，其下端连接主控板的第二输出接口K2。第二输出接口K2对应的公共端口COM接测试仪工作电源的零线N。

如图6所示，第三控制输出电路包括二极管D13、电子继电器Relay6、电容XC4、电阻R50、电阻R48和晶体三极管Q20。二极管D13，其阴极接12V电源信号，其阳极接晶体管Q20的集电极。电子继电器Relay6，其输入端并联在二极管D13的两端，其输出端并联在电容XC4的两端。晶体三极管Q20，其基极经电阻R50接微处理器的输出端BreakPower，其发射极接地，其基极与发射极之间连有电阻R48。电容XC4，其上端连接测试仪工作电源的火线L，其下端连接主控板的第三输出接口K3。第二输出接口K3对应的公共端口COM接测试仪工作电源的零线N。

进一步的，如图1所示，所述的插拔模拟测试电路2包括用于控制被测设备电源通断的第一开关器件Relay1。第一开关器件Relay1，其控制端接主控板的第一输出接口K1和公共端COM；其输入端接被测设备工作电源的火线L-EUT与零线N-EUT；其输出端分别与被测设备4、电容冲击模拟测试电路3的输入端相连。在实际使用过程中，要根据被测设备的电压及功率等级来确定第一开关器件Relay1的参数。

进一步的，如图1所示，所述的电容冲击模拟测试电路3包括开关器件、冲击电容C1和放电电阻R1。根据需要的冲击电流大小确定冲击电容的参数，根据放电快慢确定放电电阻的阻值及功率大小。所述的开关器件包括用于控制冲击电容通断的第二开关器件Relay2和用于控制放电电阻通断的第二开关器件Relay3。第二开关器件Relay2，其控制端接主控板的第二输出接口K2和公共端COM；其输入端分别与第一开关器件Relay1的输出端、被测设备的输入端相连；其输出端并联在冲击电容C1两端。如图1所示，放电电阻R1与第三开关器件Relay3串联后，再并联在放电电容C1的两端。第三开关器件Relay3的控制端与主控板的第三输出接口K3及公共端COM相连。

本实用新型的工作原理为：

当本实用新型进行电源插拔模拟测试时，通过第一控制输出电路使第一开关器件Relay1通断，同时通过第二控制输出电路使第二开关器件Relay2保持关断，从而实现被测设备的模拟电源插拔的测试。

当本实用新型进行电容冲击模拟测试时，通过第一控制输出电路使第一开关器件Relay1始终为闭合状态，再通过第二控制输出电路控制冲击电容C1的投入与切除，同时通过第三控制输出电路控制放电电阻的通断。当冲击电容C1投入时，放电电阻R1关断；当冲击电容C1切除时，放电电阻R1闭合，保证电容冲击效果。

当本实用新型未进行任何模拟测试时，通过第三控制输出电路使第三开关器件Relay3始终为闭合状态，使冲击电容C1的充电量为0，从而保证本实用新型及被测设备的安全。

以上所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的范围进行限定，在不脱离本实用新型设计精神的前提下，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案作出的各种变形和改进，均应落入本实用新型权利要求书确定的保护范围内。

Claims

1.一种模拟电源插拔及电容冲击性试验的测试仪，其特征在于：包括主控板（1）、插拔模拟测试电路（2）和电容冲击模拟测试电路（3）；

所述的主控板（1）包括微处理器（5）、显示模块电路（6）、调节控制电路（7）和控制输出电路（8）；所述的微处理器（5），其输入端与调节控制电路（7）的输出端相连，其输出端分别与显示模块电路（6）、控制输出电路（8）的输入端相连；

所述的插拔模拟测试电路（2）包括用于控制被测设备电源通断的第一开关器件；

所述的电容冲击模拟测试电路（3）包括开关器件、冲击电容和放电电阻；所述的开关器件包括用于控制冲击电容通断的第二开关器件和用于控制放电电阻通断的第三开关器件。

2.根据权利要求1所述的一种模拟电源插拔及电容冲击性试验的测试仪，其特征在于：所述的调节控制电路（7）包括用于控制投入时间的第一调节控制电路和用于控制断开时间的第二调节控制电路；所述的第一调节控制电路和第二调节控制电路的电路结构相同，均包括旋钮开关Key1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C2和电容C3。

3.根据权利要求1所述的一种模拟电源插拔及电容冲击性试验的测试仪，其特征在于：所述的控制输出电路（8）包括用于控制被测设备电源通断的第一控制输出电路、用于控制冲击电容通断的第二控制输出电路和用于控制放电电阻通断的第三控制输出电路；

所述的第一控制输出电路、第二控制输出电路和第三控制输出电路的电路结构相同，均包括电子继电器、二极管、电容、晶体三极管和电阻。