CN204287124U - 气相色谱仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种能够以低价的结构抑制基准电压的特性对分析结果造成的影响的气相色谱仪。检测器基板(2)具有对来自TCD(热导检测器)(1)的检测信号进行放大的放大电路(21)、和对放大电路(21)施加基准电压的基准电压施加部(第1电压施加部)(22)。控制基板(3)具有将来自放大电路(21)的检测信号转换为数字信号的ADC(A/D转换器)(32)、和对ADC(32)施加基准电压的基准电压施加部(第2电压施加部)(33)。通过基准电压施加部(22)被施加于放大电路(21)的基准电压作为电压信号被输入至ADC(32)，在该ADC(32)中，基于该电压信号与来自放大电路(21)的检测信号的差动信号，来自放大电路(21)的检测信号被转换为数字信号。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种具有热导检测器的气相色谱仪。
背景技术
在气相色谱仪之中，具有设置热导检测器(TCD：Thermal Conductivity Detector)作为检测器的一例的气相色谱仪。采用此种气相色谱仪的话，可以将热导率低的氦等作为载气，基于被混合于该载气中的试样的热导率对试样的成分进行分析(例如参照下述的专利文献1)。
图2是示出具有TCD101的气相色谱仪的现有例的框图。在该气相色谱仪中，除了设置有TCD101之外，还设置有检测器基板102以及控制基板103。在检测器基板102上，设置有放大电路121、ADC(A/D转换器)122以及基准电压施加部123。又，在控制基板103上设置有CPU(Central Processing Unit，中央处理单元)131。
来自TCD101的检测信号(模拟信号)被输入至检测器基板102的放大电路121，在由该放大电路121放大之后，被输入至ADC122。基准电压施加部123对放大电路121以及ADC122施加基准电压。ADC122将由基准电压施加部123施加的基准电压作为基准，求出来自放大电路121的检测信号与对地电压的电位差，由此将检测信号转换为数字信号。这样被转换为数字信号的检测信号被输入至控制基板103的CPU131。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开平9－236563号公报
实用新型内容
实用新型要解决的课题
在图2所示那样的现有例中，在检测器基板102上设置有ADC122。因此，在为了连接例如氢火焰离子化检测器(FID：Flame Ionization Detector)、火焰光度检 测器(FPD：Flame Photometric Detector)等其他的检测器而设置多个检测器基板102的情况下，需要在各检测器基板102上设置ADC122，因此存在制造成本变高这样的问题。
因此，本申请的发明者想到将ADC设置在控制基板103上，而不将ADC设置在检测器基板102上。图3是示出具有TCD101的气相色谱仪的其他例子的框图。在该气相色谱仪中，与图2的情形一样地设置有TCD101、检测器基板102以及控制基板103，但检测器基板102以及控制基板103的结构不同。
具体来说，不是在检测器基板102上，而是在控制基板103上设置有ADC132。又，对放大电路121施加基准电压的基准电压施加部123和对ADC132施加基准电压的基准电压施加部133分别设置于各自的基板(检测器基板102以及控制基板103)上。
在该情况下，来自TCD101的检测信号被输入至检测器基板102的放大电路121，在由该放大电路121放大之后，就仍以模拟信号的状态被输入至控制基板103。控制基板103的ADC132将由基准电压施加部133施加的基准电压作为基准，求出来自放大电路121的检测信号与对地电压的电位差，由此将检测信号转换为数字信号。这样被转换为数字信号的检测信号在控制基板103内被输入至CPU131。
在该图3所示那样的例子中，不是在检测器基板102而是在控制基板103上设置有ADC132，因此即使在设置了多个检测器基板102的情况下，也不需要在各检测器基板102上设置ADC122。但是，由于对放大电路121施加基准电压的基准电压施加部123和对ADC132施加基准电压的基准电压施加部133分别被设置在各自的基板102、103上，因此由各基准电压施加部123、133所施加的基准电压不是相同的。
即、由于基准电压基于周围的温度环境的变化而变动的现象(所谓的漂移)、基准电压中产生的噪声等的影响，从各基准电压施加部123、133施加的基准电压具有不同的特性。因此，从各基准电压施加部123、133施加的基准电压的特性重叠地对检测信号产生影响，不能确保与如图2那样从同一基准电压施加部123对放大电路121以及ADC122施加基准电压那样的结构相同的性能。尤其是，来自TCD101的检测信号容易受到噪声的影响，因此即使是微小噪声，对分析结果造成的影响也会变大。
本实用新型正是鉴于上述情况而做出的，其目的在于提供一种能够以低价的结构抑制基准电压的特性对分析结果造成的影响的气相色谱仪。
用于解决问题的手段
本实用新型所涉及的气相色谱仪包括：热导检测器、连接有所述热导检测器的检测器基板、和通过所述检测器基板被输入来自所述热导检测器的检测信号的控制基板。所述检测器基板具有对来自所述热导检测器的检测信号进行放大的放大电路、和对所述放大电路施加基准电压的第1电压施加部。所述控制基板具有将来自所述放大电路的检测信号转换为数字信号的A/D转换器、和对所述A/D转换器施加基准电压的第2电压施加部。通过所述第1电压施加部被施加于所述放大电路的基准电压作为电压信号被输入所述A/D转换器，在该A/D转换器中，基于该电压信号与来自所述放大电路的检测信号的差动信号，来自所述放大电路的检测信号被转换为数字信号。
根据这样的结构，由于A/D转换器被设置于控制基板，所以即使在设置了多个检测器基板的情况下，也不需要在各检测器基板设置A/D转换器。又，设置于控制基板的A/D转换器基于被施加于放大电路的基准电压的电压信号与来自放大电路的检测信号的差动信号，将来自放大电路的检测信号转换为数字信号，因此可以抵消被施加于放大电路的基准电压的特性对检测信号造成的影响。因此，可以以低价的结构抑制基准电压的特性对分析结果造成的影响。
实用新型的效果
根据本实用新型，即使在设置有多个检测器基板的情况下，也不需要在各检测器基板设置A/D转换器，且可以抵消被施加于放大电路的基准电压的特性对于检测信号的影响，所以可以以低价的结构抑制基准电压的特性对分析结果的影响。
附图说明
图1是示出本实用新型的一实施形态所涉及的气相色谱仪的构成例的框图。
图2是示具有TCD的气相色谱仪的现有例的框图。
图3是示具有TCD的气相色谱仪的其他例子的框图。
具体实施方式
图1是示出本实用新型的一实施形态所涉及的气相色谱仪的构成例的框图。在本实施形态所涉及的气相色谱仪中，设置有TCD(热导检测器)1、检测器基板2以及控制基板3。在检测器基板2上设置有放大电路21以及基准电压施加部22。又，在控制基板3上设置有CPU31、ADC(A/D转换器)32以及基准电压施加部33。
在TCD1中，在收纳有例如构成电桥电路的热丝的通道内被导入热导率低的氦气等载气。在载气中混合了试样的情况下，热导率根据试样的成分而变化，从被加热的热丝扩散的热量发生变化，因此热丝的电阻发生变化。因此，可以基于热丝中的电压或者电流对热导率进行检测，基于该热导率对试样的成分进行分析。
来自TCD1的检测信号作为模拟信号被输入至连接有该TCD1的检测器基板2的放大电路21。通过基准电压施加部22将基准电压施加于放大电路21。放大电路21通过将由基准电压施加部22施加的稳定的一定的基准电压作为基准而工作，使来自TCD1的检测信号放大。来自TCD1的检测信号通过检测器基板2的放大电路21就照样以模拟信号的形态被输入至控制基板3。
由放大电路21放大后的来自TCD1的检测信号被输入至控制基板3的ADC32。通过基准电压施加部33将基准电压施加于ADC32。ADC32通过将从基准电压施加部33施加的稳定的一定的基准电压作为基准而工作，使来自放大电路21的检测信号转换为数字信号。被转换为数字信号后的检测信号在控制基板3内被输入至CPU31，通过该CPU31的处理而得到气相色谱图。
作为第1电压施加部的基准电压施加部22、以及作为第2电压施加部的基准电压施加部33分别通过各自的基准电压电路构成。基准电压施加部22被设置于检测器基板2，基准电压施加部33被设置于控制基板3，因此由于基准电压基于周围的温度环境的变化而变动的现象(所谓的漂移)、基准电压中产生的噪声等的影响，从各基准电压施加部22、33施加的基准电压具有不同的特性。
ADC32通过求出+侧(正)的输入信号与-侧(负)的输入信号的电位差，将来自放大电路21的检测信号转换为数字信号。在本实施形态中，来自放大电路21的检测信号作为+侧的输入信号被输入至ADC32。又，通过基准电压施加部22施加于放大电路21的基准电压作为-侧的输入信号被输入至ADC32。由此，ADC32能够基于来自放大电路21的检测信号与被施加于放大电路21的基准电压的电压信号的差动信号，将来自放大电路21的检测信号转换为数字信号。
可以在ADC32连接多个(例如四个)检测器基板2。即、在ADC32可以设置多组由+侧以及－侧构成1组的输入端子，向各组的输入端子输入来自各检测器基板2的信号。在该情况下，可以在各检测器基板2上连接例如FID(氢火焰离子化检测器)、FPD(火焰光度检测器)等TCD1以外的检测器。
在本实施形态中，由于ADC32被设置于控制基板3上，因此即使在设置有多个 检测器基板2的情况下，也不需要在各检测器基板2上设置ADC。又，设置于控制基板3上的ADC32基于来自放大电路21的检测信号与被施加于放大电路21的基准电压的电压信号的差动信号，将来自放大电路21的检测信号转换为数字信号，因此可以抵消(取消)被施加于放大电路21的基准电压的特性对检测信号造成的影响。因此，可以以低价的结构抑制基准电压的特性对分析结果造成的影响。
符号说明
1 TCD
2 检测器基板
3 控制基板
21 放大电路
22 基准电压施加部
31 CPU
32 ADC
33 基准电压施加部
101 TCD
102 检测器基板
103 控制基板
121 放大电路
122 ADC
123 基准电压施加部
131 CPU
132 ADC
133 基准电压施加部。
Claims (1)
1.一种气相色谱仪，其特征在于，
包括：热导检测器、连接着所述热导检测器的检测器基板、以及通过所述检测器基板被输入来自所述热导检测器的检测信号的控制基板，
所述检测器基板具有对来自所述热导检测器的检测信号进行放大的放大电路、和对所述放大电路施加基准电压的第1电压施加部，
所述控制基板具有将来自所述放大电路的检测信号转换为数字信号的A/D转换器、和对所述A/D转换器施加基准电压的第2电压施加部，
通过所述第1电压施加部被施加于所述放大电路的基准电压作为电压信号被输入至所述A/D转换器，在所述A/D转换器中，基于该电压信号和来自所述放大电路的检测信号的差动信号，来自所述放大电路的检测信号被转换为数字信号。
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
| JP2014003012U JP3192541U (ja) | 2014-06-09 | 2014-06-09 | ガスクロマトグラフ |
| JP2014-003012 | 2014-06-09 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN204287124U true CN204287124U (zh) | 2015-04-22 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201420584010.XU Active CN204287124U (zh) | 2014-06-09 | 2014-10-09 | 气相色谱仪 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3192541U (zh) |
| CN (1) | CN204287124U (zh) |
-
2014
- 2014-06-09 JP JP2014003012U patent/JP3192541U/ja not_active Expired - Lifetime
- 2014-10-09 CN CN201420584010.XU patent/CN204287124U/zh active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3192541U (ja) | 2014-08-21 |
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