CN204188647U - 接触卡可靠性测试系统 - Google Patents

Abstract

一种接触卡可靠性测试系统，该系统包括测试平台终端，集线器模块，集成读卡器模块，测试子板模块，连接线，电源模块，其中：测试平台终端作为人机交互界面，用户在其上设置各种测试参数，包括测试样卡的选择、复位、上电、下电、发送APDU命令等；集线器模块将测试平台终端与集成读卡器模块连接，实现测试平台终端与读卡器之间的实时通讯，集线器模块具有至少20路以上的集线能力；集成读卡器模块中集成有多个读卡器，完成测试平台终端与被测试接触卡之间的接口转换；测试子板模块为进行多路并行测试的智能卡提供卡槽；连接线连接在集成读卡器模块与测试子板模块之间，包括信号连接线和电源连接线，为测试子板模块提供信号连接和电源连接；电源模块为测试子板和读卡器提供稳定的电源。上述接触卡可靠性测试系统可以支持20个以上的接触卡同时进行测试，支持多接口、多类型接触卡并行处理，提高了大规模测试的效率。

Description

接触卡可靠性测试系统

技术领域

本实用新型涉及接触卡可靠性测试系统，尤其涉及一种高效的SIM卡可靠性测试系统。

背景技术

智能卡是续光电卡、条码卡、磁卡等标识之后出现的一种高性能标识卡，是微电子、计算机和信息技术等发展的产物，现已广泛应用于金融、交通、通讯、娱乐等诸多领域，IC电话卡、金融IC卡、社会保险卡、手机中的SIM卡等都属于智能卡的范畴。智能卡又可分为接触式和非接触式两类。

对于从事SIM卡等智能卡研发的公司，必须对其研发的SIM卡进行各种性能的测试，以便查看其研发的SIM卡是否符合质量标准。在对SIM进行早起失效率测试时，需将SIM卡设置于读卡器的卡槽中，然后从用户界面对读卡器输入测试程序，从而对卡槽中的SIM卡进行测试。此外，为了测试SIM的可靠性能是否满足极端条件的需要，经常需要将SIM卡至于高低温箱中进行测试。在需要大规模对SIM卡进行测试的情况下，现有的读卡器效率太低，且规格固定，难易满足大规模测试和多规格测试的需要。

发明内容

本实用新型实施例提供了一种接触卡可靠性测试系统，以解决当前接触卡测试中效率低下，测试种类单一，测试方法受限的问题。

本实用新型实施例提供了一种接触卡可靠性测试系统，该系统包括测试平台终端，集线器模块，集成读卡器模块，测试子板模块，连接线，电源模块，其中：

测试平台终端作为人机交互界面，用户在其上设置各种测试参数，包括测试样卡的选择、复位、上电、下电、发送APDU命令等；

集线器模块将测试平台终端与集成读卡器模块连接，实现测试平台终端与读卡器之间的实时通讯，集线器模块具有至少20路以上的集线能力；

集成读卡器模块中集成有多个读卡器，完成测试平台终端与被测试接触卡之间的接口转换；

测试子板模块为进行多路并行测试的智能卡提供卡槽；

连接线连接在集成读卡器模块、电源模块与测试子板模块之间，包括信号连线和电源连线，为测试子板模块提供信号连接和电源连接；

电源模块为测试子板和读卡器提供稳定的电源。

优选的，所述系统的集成读卡器模块内的多个读卡器隔离设置，并设置独立的开关。

所述集成读卡器可完成USB接口到7816接口的转换。

优选的，所述集成读卡器模块中还设置有驱动电路。

所述集成读卡器模块的电源线上设有过热、过流保护装置。

优选的，所述测试子板模块的卡槽可设置为接纳不同规格的接触卡。

所述不同规格的接触卡包括SIM卡、SD卡、TF卡等。

优选的，所述电源模块的输出电压是可调的。

所述电源模块的输出电压从1.6v～5.5v可调。

优选的，所述电源模块中采用了自反馈设计，其中包括ADC、DAC、OP等模块。

所述电源模块输出电压的精度可以达到10mv量级。

优选的，所述连接线和测试子板模块采用耐高低温的材料制作。

该系统可工作于-55度至125度。

优选的，所述集线器模块、集成读卡器模块以及电源模块集成在一测试主机中使用。

该测试主机还包括由一输入和显示面板，可以作为调节和控制测试参数。

上述接触卡可靠性测试系统，可以支持20个以上的接触卡同时进行测试，大大提高了大规模测试的效率；支持多接口、多类型接触卡并行处理；采用可调电压源设计，并采用自反馈设计，提高了电源的精度和适用度；连接线和测试子卡模块采用耐高低温材料，可以满足高低温箱寿命测试的需要；测试主机可将集线器模块、集成读卡器模块、电源模块集成在一起，方便使用；还可以在测试主机上设置输入和显示面板，以直接在测试主机上进行测试控制，使测试更加人性化。

附图说明

图1是本实用新型提出的接触卡可靠性测试系统的结构示意图；

图2是PC机上一个智能卡自动测试平台的图示。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

下面，以SIM卡为例介绍本实用新型的接触卡可靠性测试系统，如图1所示，为本实用新型的接触卡可靠性测试系统的结构示意图。该系统包括测试平台终端，集线器模块，集成读卡器模块，测试子板模块，连接线，电源模块。其中：

测试平台终端是作为人机交互界面，用户通过在PC机或其他终端的测试平台软件上设置各项测试参数，或编写测试程序，以完成测试样卡的选择、复位、上电、下电、发送APDU命令等。通过上述参数的设置和测试程序的编写，可以对成品的SIM卡进行测试，以检测其早期失效率等可靠性性能。图2给出了在PC机上一个智能卡自动测试平台的图示。

集线器模块将测试平台终端与集成读卡器模块连接，实现测试平台终端与读卡器之间的实时通讯。该集线器可以完成至少20路以上的一对多数据传送。这样的设计可以大大提高在大规模SIM卡测试时，SIM卡并行测试的能力。现有的集线器一般只有1转3、1转5、1转7等规格，且转换的链路越多，其成本上升越快。本实用新型的至少20路的一对多集线器例如可以利用一个1转3、三个1转7的集线器进行搭建，即满足了多达20路的集线能力，也大大降低了成本。

集成读卡器模块主要完成接口的转换，例如在对SIM进行测试，且集线器与测试平台终端为USB连接的情况下，读卡器模块可以完成从USB接口到满足SIM卡接口标准的7816接口的转换。本实用新型中采用了一个ARM模块完成该接口转换功能。集成读卡器模块中集成有多个读卡器，为了使多个SIM卡并行测试时互不影响，集成读卡器中的多个读卡器采用隔离设计，可以快速定位失效的读卡器电路位置并检测信号，每个读卡器还设有独立的开关，可以单独控制每个读卡器的工作状态。为了安全起见，读卡器的电源线上还设置过热、过流保护装置，一旦检测的电流超过门限电流，立即切断电源。该门限电流例如可以设为0.5A。

测试子板模块主要为进行多路并行测试的智能卡提供卡槽。本实用新型在测试子板上设有多达20个以上的卡槽，可以供20个以上的智能卡同时进行测试。此外，卡槽可以是不同规格，例如对SIM卡进行测试时，采用SIM卡卡槽；对SD卡进行测试时，可以提供SD卡卡槽。也可以为不同规格的卡提供不同种类的卡槽进行并行测试，例如适用于大部分手机的2FF类型的SIM卡、适用于IPHONE4的3FF类型的SIM卡和适用于IPHONE5的4FF类型的SIM卡等。为了满足高低温寿命测试的需要，卡槽可以采用翻盖式设计，以避免卡片在高温条件下弯曲变形，另外测试子板模块可由特殊的耐高低温材料制成。本实用新型的测试子板模块可以工作于-55度至125度，满足工业用高低温寿命测试的需求。

连接线连接在集成读卡器模块、电源模块与测试子板模块之间，包括信号连线和电源连线，为测试子板模块提供信号连接和电源连接。考虑到连接线上存在一定的信号传输损耗，在集成读卡器模块中设有驱动电路，以补偿信号衰减，同时降低噪声干扰。为了满足高低温寿命测试的需要，连接线采用高温屏蔽线涉及，其工作温度可达到-55度至125度，满足工业用高低温寿命测试的需求。

电源模块为测试子板和读卡器提供稳定的电源。为了使工作电源稳定，本实用新型的电源模块使用具有ADC、DAC、OP等子模块的自反馈设计。在采用了上述自反馈设计之后，本实用新型的电源模块具有10mv以上的精度。另外，为了满足不同测试卡的测试规格，本实用新型的电源模块还具有多电压可调功能，智能卡一般具有1.8v、3.3v、5v三种规格，本实用新型通过冗余设计，输出电压从1.6v～5.5v可调，可以满足不同规格智能卡工作/测试需要。在需要调整测试电压时，测试人员只需在测试平台终端进行设定即可，使用非常便利。

根据本实用新型一个实施例，测试平台终端为PC机，该测试平台软件安装在PC机上。根据实际的需要，该测试平台终端也可以为其他终端，如笔记本电脑、掌上电脑、手机等可以安装测试平台软件的终端。为方便使用，集线器模块、集成读卡器模块以及电源模块集成在一起作为测试主机，其通过一USB接口与测试平台终端连接，并通过连接线与测试子板模块连接。该测试主机上设有多个独立开关，分别控制不同的读卡器。测试子板模块可与部分连接线一起放置于高低温箱中，以进行高低温寿命测试。

根据本实用新型另一个实施例，测试主机中可以下载测试平台程序，并且测试主机具有一输入和显示面板，可以采用按键或触摸的方式对上述测试程序进行控制。例如，选择各种测试参数，包括测试电压、测试样卡选择、复位、上电、下电、发送APDU命令等。

上述接触卡可靠性测试系统，可以支持20个以上的接触卡同时进行测试，大大提高了大规模测试的效率；支持多接口、多类型接触卡并行处理；采用可调电压源设计，并采用自反馈设计，提高了电源的精度和适用度；连接线和测试子卡模块采用耐高低温材料，可以满足高低温箱寿命测试的需要；测试主机可将集线器模块、集成读卡器模块、电源模块集成在一起，方便使用；还可以在测试主机上设置输入和显示面板，以直接在测试主机上进行测试控制，使测试更加人性化。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (14)

1.一种接触卡可靠性测试系统，其特征在于，该系统包括测试平台终端，集线器模块，集成读卡器模块，测试子板模块，连接线，电源模块，其中：

测试平台终端作为人机交互界面，用户在其上设置各种测试参数，包括测试样卡的选择、复位、上电、下电、发送APDU命令；

集线器模块将测试平台终端与集成读卡器模块连接，实现测试平台终端与读卡器之间的实时通讯，集线器模块具有至少20路以上的集线能力；

集成读卡器模块中集成有多个读卡器，完成测试平台终端与被测试接触卡之间的接口转换；

测试子板模块为进行多路并行测试的智能卡提供卡槽；

连接线连接在集成读卡器模块、电源模块与测试子板模块之间，包括信号连线和电源连线，为测试子板模块提供信号连接和电源连接；

电源模块为测试子板和读卡器提供稳定的电源。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于：

所述集成读卡器模块内的多个读卡器隔离设置，并设置独立的开关。

3.根据权利要求1、2任一所述的系统，其特征在于：

所述集成读卡器完成USB接口到7816接口的转换。

4.根据权利要求1、2任一所述的系统，其特征在于：

所述集成读卡器模块中还设置有驱动电路。

5.根据权利要求1、2任一所述的系统，其特征在于：

所述集成读卡器模块的电源线上设有过热、过流保护装置。

6.根据权利要求1、2任一所述的系统，其特征在于：

所述测试子板模块的卡槽可设置为接纳不同规格的接触卡。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于：

所述不同规格的接触卡包括SIM卡、SD卡、TF卡。

8.根据权利要求1、2任一所述的系统，其特征在于：

所述电源模块的输出电压是可调的。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在乎：

所述电源模块的输出电压从1.6v～5.5v可调。

10.根据权利要求8所述的系统，其特征在于：

电源模块中采用了自反馈设计，包括ADC、DAC、OP模块。

11.根据权利要求8所述的系统，其特征在于：

所述电源模块输出电压的精度可以达到10mv量级。

12.根据权利要求1、2任一所述的系统，其特征在于：

所述连接线和测试子板模块采用既耐高温也耐低温的材料制作。

13.根据权利要求1、2任一所述的系统，其特征在于：

所述集线器模块、集成读卡器模块以及电源模块集成在一测试主机中使用。

14.根据权利要求13所述的系统，其特征在于：

该测试主机还包括由一输入和显示面板，可以作为调节和控制测试参数。