CN204086560U - 一种用于测量高通量x射线能谱的吸收体阵列的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列装置,包括:铅准直体、吸收体阵列、光电探测器,在铅准直体内部有一排孔,一排孔的前部分为准直孔,用于放置吸收体阵列,一排孔的后部分为光电探测器安置孔,用于安装光电探测器,准直孔和光电探测器安置孔是共轴且相连的,但是孔直径大小不一样,吸收体阵列与光电探测器是紧挨着放置;X射线通过准直孔同时被内置的吸收体阵列部分衰减,出射的X射线被光电探测器探测到。本实用新型集准直孔、吸收体、探测器安置于一体,采用等能量间隔的设计原则,使得测量的一组数据比较离散,相互影响小,从而解谱更精确。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列的装置,属于X射线能谱测量技术领域。
背景技术
目前国内测量高通量中能X射线的能谱有多种方法,其中有MLS(Multi-Layer Stack)法,滤波荧光法等。
MLS法是一层介质与一个探测器组成一个探测节,多个探测节沿测量轴直线分布即组成测量装置。多层介质对X射线的强度进行多次衰减,通过响应函数,解出射线能谱(参见《用于高能量X射线能谱测量的MLS法》陈楠,荆晓兵,高峰,章林文,阴泽杰,李世平,中国工程物理研究院流体物理研究所,中国科学技术大学近代物理系)。如图1所示,一层介质和一个探测器交替放置,每层介质后都有一个探测器,从而可以得到一系列被介质吸收后的X射线强度,通过一定的反解算法,计算出X射线能谱。
滤波荧光法是入射的X射线经过滤片后转变为荧光,被探测器接收到,通过荧光谱线计算公式,计算出X射线的能谱。(参见《滤波一荧光法测量X光能谱的模拟计算》王栋,核物理与化学研究所)
现有技术装置在结构上的缺点是体积大,操作不方便;在技术上缺点是,经过吸收体或者滤片后的数据,彼此之间不可避免的存在一定的串扰,影响最终反解能谱的精确度。
实用新型内容
本实用新型的技术解决问题是:克服高通量X射线能谱测量装置体积大,操作不方便,数据之间的串扰,解谱不精确的不足,提供一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列的装置,它集准直孔、吸收体、探测器安置于一体,采用等能量间隔的设计原则,使得测量的一组数据比较离散,相互影响小,从而解谱更精确。
本实用新型的技术解决方案:一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列装置,包括:铅准直体、光电探测器,吸收体阵列。在铅准直体内部有一排孔,孔的前部分为准直孔,用于放置吸收体阵列,孔的后部分为光电探测器安置孔,用于安装光电探测器, 准直孔和光电探测器安置孔是连接在一起的共轴的,但是孔直径大小不一样。X射线通过准直孔,同时被内置的不同长度的吸收体阵列部分衰减,出射的X射线被光电探测器探测到。
吸收体阵列由不同长度的吸收体构成,吸收体置于准直孔内,光电探测器置于光电探测器安置孔内,因为两个孔在空间上是紧挨的,所以吸收体阵列与光电探测器是紧挨的。吸收体阵列的长度设计原则为等能量间隔衰减原则,即当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时,经过吸收体阵列衰减后,出射的X射线的能量衰减是等间隔的。
当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时,出射能量分别为入射总能量的100%-x,100%-2x,100%-3x…100%-nx,(0<x<1/n),n表示吸收体阵列个数,x表示衰减百分比。
准直孔为紧挨的阵列型准直孔,相互距离较近,但彼此之间又不发生串扰,准直孔的直径根据入射X射线的通量和所需要的空间分辨率而定。
所述准直孔为紧挨的阵列型准直孔,相互距离较近,但彼此之间又不发生串扰,例如在最高能量为200K时,相邻孔壁之间的间距为4.7mm可以保证孔之间没有串扰。准直孔的直径根据入射X射线的通量和所需要的空间分辨率而定,例如要求0.6m外空间分辨率2cm时,此时孔的直径为2mm长度为80mm。所述阵列型准直孔的排列方式为圆形的排列或者若干排的排列。
本实用新型与现有技术相比的优点在于:
(1)本实用新型装置集准直体、吸收体、探测器安置为一体,结构巧妙,体积小巧,使用方便。现有的各种装置,准直体、吸收体阵列、探测器安置分离,体积大使用不方便。
(2)不同长度的吸收体选取原则为等能量间隔,这种全新的设计思想,优点是测量数据比较分散,相互不干扰,因此误差小,由此得到的X射线能谱更精确,测量能谱范围更大。现有的测量方法,不可避免的存在数据之间的相互串扰,影响测量精度和测量能谱的范围。
附图说明
图1为MLS法测量X射线能谱;
图2为本实用新型方法中的吸收体阵列测量装置整体示意图;
图3为本实用新型中准直体正面示意图;
图4为本实用新型中准直体背面示意图;
图5为本实用新型中吸收体阵列示意图;
图6为透射X射线能量和吸收体长度的关系曲线。
具体实施方式
如图2所示,本实用新型装置包括准直体1,准直孔2,探测器安置孔3,内置的吸收体阵列4,探测器5。
图3所示为铅质准直体正面,其上有一排直径为2mm深度为80mm的准直孔2,用于放置铝质吸收体阵列4。
图4所示准直体背面为探测器安置孔3,直径为6.3mm深度为20mm。相邻孔轴之间的间距为11mm。铅质准直体,不仅可以准直入射的X射线,还可以屏蔽外界干扰和各个通道之间的串扰。
图5所示为不同长度的铝质吸收体构成的一个阵列4,吸收体阵列的长度设计原则为等能量间隔衰减原则,长度分别为3mm,6mm,9mm,13mm,19mm,25mm,36mm,54mm即经过吸收体衰减后,出射的X射线的能量衰减是等间隔的。当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时,出射能量分别为入射总能量的80%,70%,60%,50%,40%,30%,20%,10%,如图6所示。
X射线通过准直孔,同时被内置的不同长度的吸收体部分衰减,出射的X射线被光电探头探测到,经过后端电子学系统处理得到一系列衰减后的X射线的不同强度,再结合吸收体的响应函数,利用反解算法,反解出高通量时X射线的能谱。
所测得弦数少于脉冲高度量化个数Q,需要采用迭代结合MC的方法来解此方程组。
目前该测量方法已用于中能X射线等离子体测量系统,测量得到高通量X射线能谱,取得了很好的效果。
提供以上实施例仅仅是为了描述本实用新型的目的,而并非要限制本实用新型的范围。本实用新型的范围由所附权利要求限定。不脱离本实用新型的精神和原理而做出的各种等同替换和修改,均应涵盖在本实用新型的范围之内。
Claims (6)
1.一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列装置,其特征在于包括:铅准直体(1)、吸收体阵列(4)、光电探测器(5),在铅准直体(1)内部有一排孔,一排孔的前部分为准直孔(2),用于放置吸收体阵列(4),一排孔的后部分为光电探测器安置孔(3),用于安装光电探测器(5),准直孔(2)和光电探测器安置孔(3)是共轴且相连的,但是孔直径大小不一样,吸收体阵列(4)与光电探测器(5)是紧挨着放置;X射线通过准直孔(2)同时被内置的吸收体阵列(4)部分衰减,出射的X射线被光电探测器(5)探测到。
2.根据权利要求1所述的用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列装置,其特征在于:所述吸收体阵列(4)由不同长度的吸收体构成,每个吸收体置于准直孔(2)内。
3.根据权利要求1所述的用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列装置,其特征在于:所述吸收体阵列(4)的长度设计原则为等能量间隔衰减原则,即当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时,经过吸收体阵列衰减后,出射的X射线的能量衰减是等间隔的。
4.根据权利要求1所述的用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列装置,其特征在于:当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时,所述出射的X射线能量分别为入射总能量的100%-x,100%-2x,100%-3x…100%-nx,0<x<1/n,n表示吸收体阵列个数,x表示衰减百分比。
5.根据权利要求1所述的用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列装置,其特征在于:所述准直孔(2)为紧挨的阵列型准直孔即准直孔相互距离较近,在最高能量为200K时,相邻孔壁之间的间距为4.7mm,保证孔之间没有串扰;准直孔(2)的直径根据入射X射线的通量和所需要的空间分辨率而定,要求0.6m外空间分辨率2cm时,此时孔的直径为2mm长度为80mm。
6.根据权利要求4所述的用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列装置,其特征在于:所述阵列型准直孔的排列方式为圆形的排列或者若干排的排列。
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