CN204045304U - 采样电阻结构组件 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种采样电阻结构组件，包括：检测段，这是一段已知电阻值的电阻；铜排一，连接在检测段的第一端；在铜排一的中央部位具有固定孔一；铜排二，连接在检测段的第二端；在铜排二的中央部位具有固定孔二；并且铜排一、检测段、铜排二依次连接而为一整体结构；该采样电阻结构组件还包括：针脚一，采用激光焊方式固定于铜排一且两者电性连接，针脚一紧挨着检测段的第一端；针脚二，采用激光焊方式固定于铜排二且两者电性连接，针脚二紧挨着检测段的第二端。本申请采样电阻结构组件大大提高了电流检测的精确性。

Description

采样电阻结构组件

技术领域

本申请涉及一种用于检测电流值的采样电阻结构组件。

背景技术

请参阅图1，这是一种现有的采样电阻结构组件，包括：

——检测段10，这是一段电阻值已知、且电阻值精准的电阻；

——铜排一11，位于检测段10的第一端；铜排一11的中央部位具有固定孔一；

——铜排二12，位于检测段10的第二端；铜排二12的中央部位具有固定孔二；并且铜排一11、检测段10、铜排二12依次连接而为一整体结构；

——针脚一21，固定于铜排一11且两者电性连接；针脚一21上具有固定孔三；

——针脚二22，固定于铜排二12且两者电性连接；针脚二22上具有固定孔四；

——螺钉一31，贯穿铜排一11上的固定孔和针脚一21上的固定孔，用来使铜排一11和针脚一21固定在一起且电性连接；

——螺钉二32，贯穿铜排二12上的固定孔和针脚二22上的固定孔，用来使铜排二12和针脚二22固定在一起且电性连接。

上述采样电阻结构组件的工作原理为：将需检测电流的电路断开，由螺钉一31固定到该电路的断开端一，由螺钉二32固定到该电路的断开端二，从而使整个采样电阻结构组件成为了该电路中电流必须流经的一部分。由针脚一21、针脚二22分别测得检测段10的两端电压值，将这两端电压值相减后除以检测段10已知的电阻值，即可获知流过检测段10的电流值。

上述采样电阻结构组件的应用广泛。例如，新能源汽车(混合动力汽车、纯电动汽车等)具有电力电子转换器，用于将高压电池输出的高压直流电转化为低压直流电，从而为低压电池充电并向低压系统供电。所述电力电子转换器需要保证副边的输出电流在一定的范围内，从而需要在副边部署采样电阻结构组件进行电流检测。

上述采样电阻结构组件具有如下缺点：针脚一21到检测段10的第一端之间距离较远，该段距离需要经过针脚一21的电压采样点到固定孔三之间的部分、螺钉一31的固定孔三到固定孔一之间的部分、铜排一11的固定孔一到检测段10的第一端之间的部分。针脚二22到检测段10的第二端之间也是相同情况。一方面，铜在温度变化时会产生电阻的变化。另一方面，螺钉连接会引入接触电阻，且该接触电阻受制于产品装配会有很大的波动。因此，从电压采样点到精密电阻之间过长的连接距离以及螺钉不可预知的接触电阻降低了所计算的电流值的精确性。

实用新型内容

本申请所要解决的技术问题是提供一种新型的采样电阻结构组件，可以具有更高的电流检测精度。

为解决上述技术问题，本申请采样电阻结构组件包括：

——检测段，这是一段已知电阻值的电阻；

——铜排一，连接在检测段的第一端；在铜排一的中央部位具有固定孔一；

——铜排二，连接在检测段的第二端；在铜排二的中央部位具有固定孔二；并且铜排一、检测段、铜排二依次连接而为一整体结构；

——针脚一，采用激光焊方式固定于铜排一且两者电性连接，针脚一紧挨着检测段的第一端；

——针脚二，采用激光焊方式固定于铜排二且两者电性连接，针脚二紧挨着检测段的第二端。

优选地，各针脚均由底座和竖直部所组成；底座采用激光焊方式固定于铜排；竖直部与底座之间大致成垂直，并且竖直部作为电压采样点。

优选地，针脚一到检测段的第一端之间的距离仅经过针脚一的电压采样点到底座之间的部分、铜排一的与针脚一的底座焊接部位到检测段的第一端之间的部分；

针脚二到检测段的第二端之间的距离仅经过针脚二的电压采样点到底座之间的部分、铜排二的与针脚二的底座焊接部位到检测段的第二端之间的部分。

本申请采样电阻结构组件显著缩短了从电压采样点到精密电阻之间的连接距离，该段距离仅包含很少的铜排从而削弱了温度变化对铜排的电阻影响，该连接中不包含螺钉从而避免了螺钉连接的接触电阻，该连接中针脚与铜排之间的激光焊所形成的电阻稳定，这些因素相互叠加从而大大提高了电流检测的精确性。

附图说明

图1是一种现有的采样电阻结构组件的结构示意图；

图2是本申请的采样电阻结构组件的结构示意图；

图3是铜排一、检测段、铜排二依次连接而为一整体结构的示意图；

图4是本申请的采样电阻结构组件中，针脚的单独结构示意图。

图中附图标记说明：

10为检测段；11为铜排一；12为铜排二；15为固定孔一；16为固定孔二；21为针脚一；21a为底座；21b为竖直部；22为针脚二；31为螺钉一；32为螺钉二。

具体实施方式

请参阅图2，这是本申请的采样电阻结构组件，包括：

——检测段10，这是一段电阻值已知、且电阻值精准的电阻；

——铜排一11，位于检测段10的第一端；铜排一11的中央部位具有固定孔一15；

——铜排二12，位于检测段10的第二端；铜排二12的中央部位具有固定孔二16；并且铜排一11、检测段10、铜排二12依次连接而为一整体结构，如图3所示；

——针脚一21，采用激光焊方式固定于铜排一11且两者电性连接，针脚一21紧挨着检测段10的第一端；

——针脚二22，采用激光焊方式固定于铜排二12且两者电性连接，针脚二22紧挨着检测段10的第二端。

上述采样电阻结构组件的工作原理为：将需检测电流的电路断开，由螺钉一(未图示)贯穿固定孔一15固定到该电路的断开端一，由螺钉二(未图示)贯穿固定孔二16固定到该电路的断开端二，从而使整个采样电阻结构组件成为了该电路中电流必须流经的一部分。由针脚一21、针脚二22分别测得检测段10的两端电压值，将这两端电压值相减后除以检测段10已知的电阻值，即可获知流过检测段10的电流值。

请参阅图4，这是本申请的采样电阻结构组件中针脚的结构示意图，以针脚一21为例。针脚一21由底座21a和竖直部21b所组成。底座21a采用激光焊方式固定于铜排。竖直部21b与底座21a之间大致成垂直，并且竖直部21b作为电压采样点。

与现有的采样电阻结构组件相比，本申请具有如下特点：

其一，针脚一21到检测段10的第一端之间距离很近，仅需要经过针脚一21的电压采样点到底座21a之间的部分、铜排一11的与针脚一21的底座21a焊接部位到检测段10的第一端之间的部分。针脚二22到检测段10的第二端之间也是相同情况。这段距离所包含的铜排很少，因此削弱了温度变化时铜排所产生的电阻变化。

其二，从电压采样点21b到精密电阻10之间的连接距离不包含螺钉，因此避免了引入螺钉连接的接触电阻。

其三，针脚与铜排之间采用激光焊工艺，焊接点的电阻值相对稳定，有利于电流检测。

由于以上三个特点，本申请的采样电阻结构组件可以较大幅度地提升电流检测精度。

以上仅为本申请的优选实施例，并不用于限定本申请。对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种采样电阻结构组件，包括：

——检测段，这是一段已知电阻值的电阻；

——铜排一，连接在检测段的第一端；在铜排一的中央部位具有固定孔一；

——铜排二，连接在检测段的第二端；在铜排二的中央部位具有固定孔二；并且铜排一、检测段、铜排二依次连接而为一整体结构；

其特征是，该采样电阻结构组件还包括：

——针脚一，采用激光焊方式固定于铜排一且两者电性连接，针脚一紧挨着检测段的第一端；

——针脚二，采用激光焊方式固定于铜排二且两者电性连接，针脚二紧挨着检测段的第二端。

2.根据权利要求1所述的采样电阻结构组件，其特征是，各针脚均由底座和竖直部所组成；底座采用激光焊方式固定于铜排；竖直部与底座之间大致成垂直，并且竖直部作为电压采样点。

3.根据权利要求2所述的采样电阻结构组件，其特征是，针脚一到检测段的第一端之间的距离仅经过针脚一的电压采样点到底座之间的部分、铜排一的与针脚一的底座焊接部位到检测段的第一端之间的部分；

针脚二到检测段的第二端之间的距离仅经过针脚二的电压采样点到底座之间的部分、铜排二的与针脚二的底座焊接部位到检测段的第二端之间的部分。