CN203894329U - 一种多电阻测试处理电路 - Google Patents

Abstract

一种多电阻测试处理电路，设置有信号采集单元、滤波单元、数码显示单元、复位单元、触发开关单元和微处理器；所述微处理器为型号STC12C5404AD的芯片；数码显示单元设置有数码管电路、段限流电路和驱动电路，段限流电路设置有电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻R19、电阻R20和电阻R21；驱动电路设置有电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R24、三极管Q2、三极管Q3、三极管Q4和三极管Q5；触发开关单元设置有开关S1和开关S2，复位单元设置有电容C1和电阻R1。该多电阻测试处理电路能够同时对多个电阻的检测结果数据进行采样分析，检测效率高，检测结果精确。

Description

一种多电阻测试处理电路

技术领域

本实用新型涉及电子产品检测技术领域，特别是涉及一种多电阻测试处理电路。 

背景技术

电阻是电子产品广泛使用的元器件之一，电阻阻值的精确度是众多器件有效工作的重要保障。现有技术中，对厚膜电阻测试通常是通过万用表逐个进行检测，不仅效率低，而且容易出现差错的情况。 

故，对多个电阻情况下的检测需要能够一次进行多组检测，为了配合这种结构改进，相应的检测处理电路也要能够实现一次进行多个电阻测试结果处理的电路结构。 

而现有技术中的检测处理电路不能满足上述要求，因此，针对现有技术不足，提供一种的多电阻测试处理电路以克服现有技术不足甚为必要。 

发明内容

本实用新型的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种多电阻测试处理电路，能够对多个电阻的检测结果进行采样分析，具有检测效率高，检测结果精确的特点。 

本实用新型的上述目的通过如下技术手段实现。   

一种多电阻测试处理电路，设置有信号采集单元、滤波单元、数码显示单元、复位单元、触发开关单元和微处理器；

所述微处理器为型号STC12C5404AD的芯片；

所述信号采集单元的输出端与所述滤波单元的输入端连接，所述滤波单元的输出端、所述数码显示单元、所述复位单元、所述触发开关单元分别与所述微处理器连接。

上述数码显示单元设置有数码管电路、段限流电路和驱动电路； 

所述数码管电路包括四组八段共阴数码管；

所述段限流电路设置有电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻R19、电阻R20和电阻R21；

所述驱动电路设置有电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R24、三极管Q2、三极管Q3、三极管Q4和三极管Q5、

所述数码管电路的a脚与电阻R14一端连接，电阻R14另一端与微处理器的引脚16连接，所述数码管电路的b脚与电阻R15一端连接，电阻R15另一端与微处理器的引脚15连接，所述数码管电路的c脚与电阻R16一端连接，电阻R16另一端与微处理器的引脚13连接，所述数码管电路的d脚与电阻R17一端连接，电阻R17另一端与微处理器的引脚12连接，所述数码管电路的e脚与电阻R18一端连接，电阻R18另一端与微处理器的引脚2连接，所述数码管电路的f脚与电阻R19一端连接，电阻R19另一端与微处理器的引脚1连接，所述数码管电路的g脚与电阻R20一端连接，电阻R20另一端与微处理器的引脚27连接，所述数码管电路的dp脚与电阻R21一端连接，电阻R21另一端与微处理器的引脚26连接；

所述三极管Q5的射极与数码管电路的com1脚连接，三极管Q5的基极与电阻R24一端连接，电阻R24另一端与所述微处理器的引脚18连接，所述三极管Q4的射极与数码管电路的com2脚连接，三极管Q4的基极与电阻R13一端连接，电阻R13另一端与所述微处理器的引脚17连接，所述三极管Q3的射极与数码管电路的com3脚连接，三极管Q3的基极与电阻R12一端连接，电阻R12另一端与所述微处理器的引脚11连接，所述三极管Q2的射极与数码管电路的com4脚连接，三极管Q2的基极与电阻R11一端连接，电阻R11另一端与所述微处理器的引脚10连接，三极管Q5的集电极、三极管Q4的集电极、三极管Q3的集电极和三极管Q2的集电极均接地。

上述三极管Q5、Q4、Q3和三极管 Q2的型号均为8550，所述电阻R11、电阻R12、电阻R13和电阻R24均为1千欧；所述电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻R19、电阻R20和电阻R21均为510欧。 

上述触发开关单元设置有开关S1和开关S2，所述开关S1的一端、所述开关S2的一端接地，所述开关S1的另一端与所述微处理器的引脚8连接，所述开关S2的另一端与所述微处理器的引脚9连接。 

上述复位单元设置有电容C1和电阻R1，所述电容C1的一端与VCC连接，所述电容C1的另一端、电阻R1一端与微处理器的引脚13连接，电阻R1另一端接地。 

上述电容C1为10微法，所述电阻R1为10千欧。 

上述信号采集单设置有电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8和电阻R9； 

所述滤波电路设置有电阻R41、电阻R42、电阻R43、电阻R44、电阻R45、电阻R46、电容C41、电容C42、电容C43、电容C44、电容C45和电容C46；

所述电阻R4的一端与电阻R46一端连接，电阻R46另一端与电容C46、微处理器的引脚20连接，所述电阻R5的一端与电阻R45一端连接，电阻R45另一端与电容C45、微处理器的引脚21连接，所述电阻R6的一端与电阻R44一端连接，电阻R44另一端与电容C44、微处理器的引脚22连接，所述电阻R7的一端与电阻R43一端连接，电阻R43另一端与电容C43、微处理器的引脚23连接，所述电阻R8的一端与电阻R42一端连接，电阻R42另一端与电容C42、微处理器的引脚24连接，所述电阻R9的一端与电阻R41一端连接，电阻R41另一端与电容C43、微处理器的引脚25连接，

所述电阻R4、电阻R45、电阻R6、电阻R7、电阻R8和电阻R9的另一端均接地，所述电容C41、电容C42、电容C43、电容C44、电容C45和电容C46的另一端均接地。

上述多电阻测试处理电路还设置有报警单元，所述报警单元设置有电阻R22、三极管Q6和警铃BUZZER,所述电阻R22一端与所述微处理器的引脚19连接，所述R22另一端与三极管Q6的基极连接，三极管Q6的集电极接地，三极管Q6的发射极与警铃BUZZER连接。 

上述多电阻测试处理电路还设置有电源退耦单元，所述电源退耦单元设置有电容C2和电容C3，所述电容C2的一端、电容C3的一端、微处理器的引脚28均接VCC,电容C2的另一端、电容C3的另一端接地。 

上述多电阻测试处理电路还设置有指示单元，所述指示单元设置为发光二极管D1，二极管D1的正极与微处理器的引脚4连接，二极管D1的负极接地。 

本实用新型的多电阻测试处理电路，设置有信号采集单元、滤波单元、数码显示单元、复位单元、触发开关单元和微处理器；所述微处理器为型号STC12C5404AD的芯片；所述信号采集单元的输出端与所述滤波单元的输入端连接，所述滤波单元的输出端、所述数码显示单元、所述复位单元、所述触发开关单元分别与所述微处理器连接。该多电阻测试处理电路能够同时对多个电阻的检测结果数据进行采样分析，具有检测效率高，检测结果精确的特点。 

附图说明

利用附图对本实用新型作进一步的说明，但附图中的内容不构成对本实用新型的任何限制。 

图1是本实用新型一种多电阻测试处理电路的电路图； 

图2是使用本实用新型多电阻测试处理电路的一种多电阻检测装置的结构示意图。

在图1、图2中，包括： 

数码显示10、

    数码管电路11、段限流电路12、驱动电路13、

报警单元20、信号采集单元30、滤波单元40、

电源退耦单元50、微处理器60、

触发开关单元70、复位单元80、指示单元90、

水平载料台100、

纵向支架200、

检测单元300、

   基板310、

探针320、

盖板330、     

滑动导轨400、轴承410、

纵向驱动机构、

连杆510、

固定座520、

上连接端521、下连接端522、

测试手柄530、

测试手柄的固定端531、

连接耳540、

底座600、

检测样品700。

具体实施方式

结合以下实施例对本实用新型作进一步描述。 

实施例1。

一种多电阻测试处理电路，如图1所示，设置有信号采集单元30、滤波单元40、数码显示单元10、复位单元80、触发开关单元70和微处理器60。 

微处理器60为型号STC12C5404AD的芯片。信号采集单元30的输出端与滤波单元40的输入端连接，滤波单元40的输出端、数码显示单元10、复位单元80、触发开关单元70分别与微处理器60连接。 

触发开关单元70设置有开关S1和开关S2，开关S1的一端、开关S2的一端接地，开关S1的另一端与所述微处理器60的引脚8连接，开关S2的另一端与微处理器60的引脚9连接。触发开关S1用于控制系统的校准，闭合开关S1，系统进行校准，确保检查结果的准确性。触发开关用于控制显示功能，闭合开关S2后，显示单元会显示相应检查结果。 

复位单元80设置有电容C1和电阻R1，电容C1的一端与VCC连接，电容C1的另一端、电阻R1一端与微处理器60的引脚13连接，电阻R1另一端接地。复位单元80用于保持微控制器复位状态，确保微控制器稳定工作。 

信号采集单设置有电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8和电阻R9。 

滤波电路设置有电阻R41、电阻R42、电阻R43、电阻R44、电阻R45、电阻R46、电容C41、电容C42、电容C43、电容C44、电容C45和电容C46。 

电阻R4的一端与电阻R46一端连接，电阻R46另一端与电容C46、微处理器60的引脚20连接，电阻R5的一端与电阻R45一端连接，电阻R45另一端与电容C45、微处理器60的引脚21连接，电阻R6的一端与电阻R44一端连接，电阻R44另一端与电容C44、微处理器60的引脚22连接，电阻R7的一端与电阻R43一端连接，电阻R43另一端与电容C43、微处理器60的引脚23连接，电阻R8的一端与电阻R42一端连接，电阻R42另一端与电容C42、微处理器60的引脚24连接，所述电阻R9的一端与电阻R41一端连接，电阻R41另一端与电容C43、微处理器60的引脚25连接，电阻R4、电阻R45、电阻R6、电阻R7、电阻R8和电阻R9的另一端均接地，电容C41、电容C42、电容C43、电容C44、电容C45和电容C46的另一端均接地。 

采集单元通过电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8和电阻R9的一端连接采集数据，所采集的数据经过滤波单元40滤波后输送至微处理器60。微处理器60对所采集的数据进行A/D转换，并进行计算判断，并控制其它单元工作。 

数码显示单元10设置有数码管电路11、段限流电路12和驱动电路13。 

数码管电路11包括四组八段共阴数码管；段限流电路12设置有电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻R19、电阻R20和电阻R21；驱动电路13设置有电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R24、三极管Q2、三极管Q3、三极管Q4和三极管Q5。 

数码管电路11的a脚与电阻R14一端连接，电阻R14另一端与微处理器60的引脚16连接，数码管电路11的b脚与电阻R15一端连接，电阻R15另一端与微处理器60的引脚15连接，数码管电路11的c脚与电阻R16一端连接，电阻R16另一端与微处理器60的引脚13连接，数码管电路11的d脚与电阻R17一端连接，电阻R17另一端与微处理器60的引脚12连接，数码管电路11的e脚与电阻R18一端连接，电阻R18另一端与微处理器60的引脚2连接，数码管电路11的f脚与电阻R19一端连接，电阻R19另一端与微处理器60的引脚1连接，数码管电路11的g脚与电阻R20一端连接，电阻R20另一端与微处理器60的引脚27连接，数码管电路11的dp脚与电阻R21一端连接，电阻R21另一端与微处理器60的引脚26连接。 

三极管Q5的射极与数码管电路11的com1脚连接，三极管Q5的基极与电阻R24一端连接，电阻R24另一端与所述微处理器60的引脚18连接，三极管Q4的射极与数码管电路11的com2脚连接，三极管Q4的基极与电阻R13一端连接，电阻R13另一端与微处理器60的引脚17连接，三极管Q3的射极与数码管电路11的com3脚连接，三极管Q3的基极与电阻R12一端连接，电阻R12另一端与所述微处理器60的引脚11连接，三极管Q2的射极与数码管电路11的com4脚连接，三极管Q2的基极与电阻R11一端连接，电阻R11另一端与所述微处理器60的引脚10连接，三极管Q5的集电极、三极管Q4的集电极、三极管Q3的集电极和三极管Q2的集电极均接地。 

多电阻测试处理电路还设置有报警单元20，报警单元20设置有电阻R22、三极管Q6和警铃BUZZER,电阻R22一端与所述微处理器60的引脚19连接， R22另一端与三极管Q6的基极连接，三极管Q6的集电极接地，三极管Q6的发射极与警铃BUZZER连接。 

该多电阻测试处理电路还设置有电源退耦单元50，电源退耦单元50设置有电容C2和电容C3，所述电容C2的一端、电容C3的一端、微处理器60的引脚28均接VCC,电容C2的另一端、电容C3的另一端接地。电源退耦单元50有浓郁减少噪声干扰，稳定电源值。 

该多电阻测试处理电路还设置有指示单元90，指示单元90设置为发光二极管D1，二极管D1的正极与微处理器60的引脚4连接，二极管D1的负极接地。指示单元90用于指示待检测的电阻值合格信息。 

本实用新型的多电阻测试处理电路通过采集单元采集多个电阻的检测结果数据，并对数据进行计算判断，具有检测效率高，检测结果精确的特点。 

实施例2。

一种多电阻测试处理电路，其它特征与实施例1相同，不同之处在于：还具有如下特征：三极管Q56、Q5、Q4、Q3和三极管 Q2的型号均为8550，电阻R11、电阻R12、电阻R13和电阻R24均为1千欧；电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻R19、电阻R20和电阻R21均为510欧。电容C1为10微法，电阻R1为10千欧。电容C2为10微法和电容C3为0.1微法。电阻R22为1千欧。 

本实用新型的多电阻测试处理电路通过采集单元采集多个电阻的检测结果数据，并对数据进行计算判断，具有检测效率高，检测结果精确的特点。 

实施例3。

一种多电阻检测装置，如图2所示，设置有水平载料台100、纵向支架200、检测单元300、滑动导轨400、纵向驱动机构、还设置有如实施例1和2所述的多电阻测试处理电路。该多电阻检测装置还设置有底座600，水平载料台100固定设置于底座600。 

水平载料台100用于承载待检测的多个厚膜电阻或者薄膜电阻或者普通电阻，纵向支架200提供安装纵向结构的支架，检测单元300用于对待检测的样品进行电性能检测。 

具体的，水平载料台100与纵向支架200呈垂直设置，检测单元300设置于水平载料台100上方，滑动导轨400一端固定于水平载料台100，且滑动导轨400穿设于检测单元300并活动装配于检测单元300，纵向驱动机构固定于纵向支架200，纵向驱动机构驱动检测单元300纵向移动。通过纵向驱动机构驱动检测单元300纵向移动，可以调整检测单元300靠近或者远离带检测的电阻，以便有效控制检测过程。滑动导轨400提供了在纵向驱动机构驱动下，检测单元300移动的轨道，使得检测单元300能够沿着滑动导轨400上下移动，从而实现检测单元300靠近或者远离水平载料台100。 

检测单元300设置有基板310以及装配于基板310的多个探针320，探针320固定装配于基板310，探针320露出基板310的一端用于与待测基板310带接触，探针320露出所述基板310的另一端与检测电路的输入端连接。探针320露出基板310的一端为探针320具有弹性结构的一端。作为本领域公知常识，为了避免探针320在接触检测样品的过程中出现探针320碰撞损伤，探针320接触检测样品的一端一般设置为弹性结构，探针320的具体结构在此不再赘述。 

具体的，基板310设置有装配孔，探针320装配于装配孔。 

检测单元300还设置有盖板330，盖板330罩设于探针320上方并固定于基板310，纵向驱动机构与盖板330固定连接。可将盖板330与基板310设置为一体成型结构，具有结构简单，制备方便的特点。 

当检测单元300靠近水平载料台100上的检测样品时，探针320露出基板310的一端逐渐靠近检测样品并最终与检测样品有效接触，探针320的另一端件检测信息输送至多电阻测试处理电路，多电阻测试处理电路根据探针320输送的电信号进行计算求得待检测样品相应部位的参数并进行输出。 

滑动导轨400套设有轴承410。为了保护设备，确保检测单元300移动过程中的稳定，该多电阻检测装置还设置有缓冲弹簧，缓冲弹簧套设于滑动导轨且缓冲弹簧位于基板310与水平载料台100之间，以缓冲检测单元300沿着滑动导轨400移动过程中能够平稳定位。需要说明的是，实现缓冲功能的结构很多，不局限于本实施例的缓冲弹簧结构。也可以单独在水平载料台100上固定一些弹簧或者通过其它方式实现缓冲效果。 

纵向驱动机构设置有连杆510、固定座520、测试手柄530和连接耳540，固定座固定设置于纵向支架200，固定座520设置有上连接端521和下连接端522。 

连杆510的一端与盖板330固定连接，连杆510穿过固定座520的下连接端522并与连接耳540的一端轴接，连接耳540的另一端与测试手柄530的中部轴接，测试手柄530的固定端531与固定座520的上连接端521轴接。 

纵向驱动机构提供使检测单元300纵向移动的驱动力，检测完毕后，将测试手柄530抬高时，测试手柄530的固定沿着固定座的连接端向上旋转，测试手柄530的中部带动连接耳540向上方移动，连接耳540带动连杆510也向上移动，连杆510带动盖板330也向上运动，从而带动基板310及探针320一起沿着滑动导轨400向上移动。此时，检测单元300与水平载料台100上的检测样品700分离。当进行检测时，将测试手柄530推下，测试手柄530的固定端531沿着固定座的连接端向下旋转，测试手柄530的中部带动连接耳540向下方移动，连接耳540带动连杆510也向上下移动，连杆510带动盖板330也向下运动，从而带动基板310及探针320一起沿着滑动导轨400向下移动。此时，探针320与水平载料台100上的检测样品接触，进行电性能检测。该纵向驱动机构的结构简单、制备方便，操作便捷。 

需要说明的是，纵向驱动机构的结构不局限于本实施例的情况，只要能够实现将检测单元300沿着纵向移动的驱动结构都符合要求。如可通过气缸带动盖板330移动，也可以通过马达带动盖板330移动，或者其它如齿轮驱动等结构。 

该多电阻检测装置可以根据不同的位置电阻排布特征设置不同的探针320排布，通过探针一次检测多组电阻，并通过多电阻测试处理电路进行多组检测结果计算分析，能够一次进行多组电阻电性能检测，检测方便、检测效率高，而且结果精确。 

最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非对本实用新型保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。 

Claims (10)

1.一种多电阻测试处理电路，其特征在于：设置有信号采集单元、滤波单元、数码显示单元、复位单元、触发开关单元和微处理器；

所述微处理器为型号STC12C5404AD的芯片；

所述信号采集单元的输出端与所述滤波单元的输入端连接，所述滤波单元的输出端、所述数码显示单元、所述复位单元、所述触发开关单元分别与所述微处理器连接。

2.根据权利要求1所述的多电阻测试处理电路，其特征在于：所述数码显示单元设置有数码管电路、段限流电路和驱动电路；

所述数码管电路包括四组八段共阴数码管；

所述段限流电路设置有电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻R19、电阻R20和电阻R21；

所述驱动电路设置有电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R24、三极管Q2、三极管Q3、三极管Q4和三极管Q5；

所述数码管电路的a脚与电阻R14一端连接，电阻R14另一端与微处理器的引脚16连接，所述数码管电路的b脚与电阻R15一端连接，电阻R15另一端与微处理器的引脚15连接，所述数码管电路的c脚与电阻R16一端连接，电阻R16另一端与微处理器的引脚13连接，所述数码管电路的d脚与电阻R17一端连接，电阻R17另一端与微处理器的引脚12连接，所述数码管电路的e脚与电阻R18一端连接，电阻R18另一端与微处理器的引脚2连接，所述数码管电路的f脚与电阻R19一端连接，电阻R19另一端与微处理器的引脚1连接，所述数码管电路的g脚与电阻R20一端连接，电阻R20另一端与微处理器的引脚27连接，所述数码管电路的dp脚与电阻R21一端连接，电阻R21另一端与微处理器的引脚26连接；

所述三极管Q5的射极与数码管电路的com1脚连接，三极管Q5的基极与电阻R24一端连接，电阻R24另一端与所述微处理器的引脚18连接，所述三极管Q4的射极与数码管电路的com2脚连接，三极管Q4的基极与电阻R13一端连接，电阻R13另一端与所述微处理器的引脚17连接，所述三极管Q3的射极与数码管电路的com3脚连接，三极管Q3的基极与电阻R12一端连接，电阻R12另一端与所述微处理器的引脚11连接，所述三极管Q2的射极与数码管电路的com4脚连接，三极管Q2的基极与电阻R11一端连接，电阻R11另一端与所述微处理器的引脚10连接，三极管Q5的集电极、三极管Q4的集电极、三极管Q3的集电极和三极管Q2的集电极均接地。

3.根据权利要求2所述的多电阻测试处理电路，其特征在于：所述三极管Q5、Q4、Q3和三极管 Q2的型号均为8550，所述电阻R11、电阻R12、电阻R13和电阻R24均为1千欧；所述电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17、电阻R18、电阻R19、电阻R20和电阻R21均为510欧。

4.根据权利要求2所述的多电阻测试处理电路，其特征在于：

所述触发开关单元设置有开关S1和开关S2，所述开关S1的一端、所述开关S2的一端接地，所述开关S1的另一端与所述微处理器的引脚8连接，所述开关S2的另一端与所述微处理器的引脚9连接。

5.根据权利要求2所述的多电阻测试处理电路，其特征在于：所述复位单元设置有电容C1和电阻R1，所述电容C1的一端与VCC连接，所述电容C1的另一端、电阻R1一端与微处理器的引脚13连接，电阻R1另一端接地。

6.根据权利要求5所述的多电阻测试处理电路，其特征在于：所述电容C1为10微法，所述电阻R1为10千欧。

7.根据权利要求2所述的多电阻测试处理电路，其特征在于：所述信号采集单设置有电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8和电阻R9；

所述滤波电路设置有电阻R41、电阻R42、电阻R43、电阻R44、电阻R45、电阻R46、电容C41、电容C42、电容C43、电容C44、电容C45和电容C46；

所述电阻R4的一端与电阻R46一端连接，电阻R46另一端与电容C46、微处理器的引脚20连接，所述电阻R5的一端与电阻R45一端连接，电阻R45另一端与电容C45、微处理器的引脚21连接，所述电阻R6的一端与电阻R44一端连接，电阻R44另一端与电容C44、微处理器的引脚22连接，所述电阻R7的一端与电阻R43一端连接，电阻R43另一端与电容C43、微处理器的引脚23连接，所述电阻R8的一端与电阻R42一端连接，电阻R42另一端与电容C42、微处理器的引脚24连接，所述电阻R9的一端与电阻R41一端连接，电阻R41另一端与电容C43、微处理器的引脚25连接，

所述电阻R4、电阻R45、电阻R6、电阻R7、电阻R8和电阻R9的另一端均接地，所述电容C41、电容C42、电容C43、电容C44、电容C45和电容C46的另一端均接地。

8.根据权利要求1至7任一所述的多电阻测试处理电路，其特征在于：还设置有报警单元，所述报警单元设置有电阻R22、三极管Q6和警铃BUZZER,所述电阻R22一端与所述微处理器的引脚19连接，所述R22另一端与三极管Q6的基极连接，三极管Q6的集电极接地，三极管Q6的发射极与警铃BUZZER连接。

9.根据权利要求8所述的多电阻测试处理电路，其特征在于：还设置有电源退耦单元，所述电源退耦单元设置有电容C2和电容C3，所述电容C2的一端、电容C3的一端、微处理器的引脚28均接VCC,电容C2的另一端、电容C3的另一端接地。

10.根据权利要求8所述的多电阻测试处理电路，其特征在于：还设置有指示单元，所述指示单元设置为发光二极管D1，二极管D1的正极与微处理器的引脚4连接，二极管D1的负极接地。