CN203737620U - 智能光敏电阻检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种智能光敏电阻检测装置，包括上位PC机，上位PC机上连接有USB接口单片机，USB接口单片机上连接有双口RAM，双口RAM上设置有数据线与数据采集模块单片机相连接；数据采集模块单片机上连接有模数转换电路和分检显示电路；模数转换电路上连接有光敏电阻测试电路。本实用新型装置采用数据传输率很高且使用方便的USB总线针对光敏电阻测试分档的智能化检测，从根本上解决了手工分档的一系列题目：如光源光照强度的控制，人工读数带来的误差，测试结果的保存等，极大地提高了使用效率，方便生产利应用。
Description
技术领域
本实用新型涉及智能光敏电阻检测装置，属于检测技术领域。
背景技术
测试分档是光敏电阻生产环节中后期的一个重要工序。由于不同应用领域对光敏电阻有关参数如亮电阻、暗电阻等的要求也不一样，生产厂家必须能够十分正确地给出自己产品的上述参数值，以满足用户使用的具体要求。生产厂家根据用户对亮电阻、暗电阻等参数的要求范围，来为生产的光敏电阻分类，这就是光敏电阻的测试分档。
目前国内厂家的测试分档基本以手工操纵为主，这样的弊端是显而易见的：光源的光照强度不能正确控制，手工分档速度很慢，人工读数引进了较大误差，测试数据只能人工记录保存，这就大大地影响了分档的精度和产品的一致性。
实用新型内容
本实用新型的目的在于借助计算机强大的数据处理与存储功能，采用数据传输率很高且使用方便的USB总线研究和设计了一种用于光敏电阻测试分档的智能化检测装置，从根本上解决了手工分档的一系列题目：如光源光照强度的控制，人工读数带来的误差，测试结果的保存等。
为了实现上述目的，本实用新型的技术方案如下。
一种智能光敏电阻检测装置，包括上位PC机，上位PC机上连接有USB接口单片机，USB接口单片机上连接有双口RAM，双口RAM上设置有数据线与数据采集模块单片机相连接；数据采集模块单片机上连接有模数转换电路和分检显示电路；模数转换电路上连接有光敏电阻测试电路。
进一步地，上位PC机与USB接口单片机之间采用USB接口芯片相连接。
进一步地，装置中还设置有逻辑控制电路，逻辑控制电路分别与USB接口芯片、USB接口单片机双口RAM相连接。
进一步地，数据采集模块单片机为AT89C52，该单片机上还连接有锁存器74LS373、A／D芯片AD574、8路模拟开关CD4051、光敏电阻测试电路、与USB数据传输接口模块通讯的IDC26接口。
其中，该装置中的AD574是美国AD公司生产的12位高速逐次逼近型模数变换器。片内自备时钟基准源，无需外接元器件就可独立完成A／D转换功能，它的转换时间为15～35μs，转换精度为0.05％，可以并行输出12位，也可以分成8位和4位两次输出。数字量可直接采用双极性模拟信号输进，供电电源为±15V，逻辑电源为+5V。广泛应用在数据采集系统中。
系统的硬件设计在连接上主要考虑了三总线(控制总线、地址总线、数据总线)的连接。由于AD574输出具有三态缓冲器，可直接与微机的总线接口，而无须附加逻辑接口电路。AD574片内有时钟，故无需外加时钟信号。该电路采用单极性输进方式，可对0～10V或0～20V模拟信号进行转换，本装置采用0～10V输进。转换结果的高8位从DB11～DB4输出，低4位从DB3～DB0输出，并且直接和单片机的数据总线相连。
本系统采用基于PDIUSBD12接口芯片的USB数据传输接口模块。用于连接数据采集模块和PC计算机的USB数据传输接口模块主要由3个部分组成：(1)USB总线接口部分，包括B类USB连接线插座和PDIUSBD12接口芯片。(2)微处理器及逻辑控制部分，包括AT89C52单片机及逻辑控制电路。(3)双端口数据存储区，包括双端口RAM芯片CY7C136和一个IDC26封装的8位并行数据接口插座CN3。AT89C52单片机的外部中断INT0用于USB接口芯片PDIUSBD12的中断请求，外部中断INT1用于双端口RAM芯片CY7C136的左侧信箱中断请求，完成数据采集模块单片机采集数据的上传。
该实用新型的有益效果在于：本实用新型装置采用数据传输率很高且使用方便的USB总线针对光敏电阻测试分档的智能化检测，从根本上解决了手工分档的一系列题目：如光源光照强度的控制，人工读数带来的误差，测试结果的保存等，极大地提高了使用效率，方便生产和应用。
附图说明
图1是本实用新型实施例中所使用装置结构关系示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式进行描述，以便更好的理解本实用新型。
如图1所示的智能光敏电阻检测装置，包括上位PC机，上位PC机上连接有USB接口单片机，USB接口单片机上连接有双口RAM，双口RAM上设置有数据线与数据采集模块单片机相连接；数据采集模块单片机上连接有模数转换电路和分检显示电路；模数转换电路上连接有光敏电阻测试电路。上位PC机与USB接口单片机之间采用USB接口芯片相连接。装置中还设置有逻辑控制电路，逻辑控制电路分别与USB接口芯片、USB接口单片机双口RAM相连接。数据采集模块单片机为AT89C52，该单片机上还连接有锁存器74LS373、A／D芯片AD574、8路模拟开关CD4051、光敏电阻测试电路、与USB数据传输接口模块通讯的IDC26接口。
其中，该装置中的AD574是美国AD公司生产的12位高速逐次逼近型模数变换器。片内自备时钟基准源，无需外接元器件就可独立完成A／D转换功能，它的转换时间为15～35μs，转换精度为0.05％，可以并行输出12位，也可以分成8位和4位两次输出。数字量可直接采用双极性模拟信号输进，供电电源为±15V，逻辑电源为+5V。广泛应用在数据采集系统中。
系统的硬件设计在连接上主要考虑了三总线(控制总线、地址总线、数据总线)的连接。由于AD574输出具有三态缓冲器，可直接与微机的总线接口，而无须附加逻辑接口电路。AD574片内有时钟，故无需外加时钟信号。该电路采用单极性输进方式，可对0～10V或0～20V模拟信号进行转换，本装置采用0～10V输进。转换结果的高8位从DB11～DB4输出，低4位从DB3～DB0输出，并且直接和单片机的数据总线相连。
本系统采用基于PDIUSBD12接口芯片的USB数据传输接口模块。用于连接数据采集模块和PC计算机的USB数据传输接口模块主要由3个部分组成：(1)USB总线接口部分，包括B类USB连接线插座和PDIUSBD12接口芯片。(2)微处理器及逻辑控制部分，包括AT89C52单片机及逻辑控制电路。(3)双端口数据存储区，包括双端口RAM芯片CY7C136和一个IDC26封装的8位并行数据接口插座CN3。AT89C52单片机的外部中断INT0用于USB接口芯片PDIUSBD12的中断请求，外部中断INT1用于双端口RAM芯片CY7C136的左侧信箱中断请求，完成数据采集模块单片机采集数据的上传。
本实用新型装置中，模数转换电路在来自PC机命令的控制下完成8路光敏电阻亮电阻、暗电阻等参数的采集，采集数据由USB数据传输接口模块传送至上位PC机，由计算机完成参数的后续处理，算出对应光敏电阻的Y值，随后分检显示电路根据亮、暗电阻和Y值确定对应光敏电阻应属哪一档。
以上所述是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本实用新型的保护范围。
Claims (5)
1.一种智能光敏电阻检测装置，包括上位PC机，其特征在于：所述上位PC机上连接有USB接口单片机，所述USB接口单片机上连接有双口RAM，所述双口RAM上设置有数据线与数据采集模块单片机相连接；所述数据采集模块单片机上连接有模数转换电路和分检显示电路；所述模数转换电路上连接有光敏电阻测试电路。
2.根据权利要求1所述的智能光敏电阻检测装置，其特征在于：所述上位PC机与USB接口单片机之间采用USB接口芯片相连接。
3.根据权利要求1所述的智能光敏电阻检测装置，其特征在于：所述装置中还设置有逻辑控制电路，所述逻辑控制电路分别与USB接口芯片、USB接口单片机双口RAM相连接。
4.根据权利要求1所述的智能光敏电阻检测装置，其特征在于：所述数据采集模块单片机为AT89C52，该单片机上还连接有锁存器74LS373、A／D芯片AD574、8路模拟开关CD4051、光敏电阻测试电路、与USB数据传输接口模块通讯的IDC26接口。
5.根据权利要求1所述的智能光敏电阻检测装置，其特征在于：所述USB接口单片机包括三个部分：(1)USB总线接口部分，包括B类USB连接线插座和PDIUSBD12接口芯片；(2)微处理器及逻辑控制部分，包括AT89C52单片机及逻辑控制电路；(3)双端口数据存储区，包括双端口RAM芯片CY7C136和一个IDC26封装的8位并行数据接口插座CN3。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106623007A (zh) * | 2016-11-17 | 2017-05-10 | 南阳理工学院 | 自动光敏电阻测试分选机 |
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2013
- 2013-12-31 CN CN201320895835.9U patent/CN203737620U/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
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| CN106623007A (zh) * | 2016-11-17 | 2017-05-10 | 南阳理工学院 | 自动光敏电阻测试分选机 |
| CN106623007B (zh) * | 2016-11-17 | 2020-08-11 | 南阳理工学院 | 自动光敏电阻测试分选机 |
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