CN203720644U - 一种限温器触头寿命测试装置 - Google Patents

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范凌云
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Abstract

本申请公开了一种限温器触头寿命测试装置,其通过输出电压和输出电流可调的供电电路、可调电感和可调电阻组成基本测试电路,由于其电压、电流及功率因数均可调,故可准确模拟限温器实际应用的任一电路环境,消除了电路环境差异带来的测量误差;进而通过加热器和散热器对限温器所处环境进行周期性升温、降温,使得限温器周期性开合,同时通过计数器记录其开合次数,测试结束时,计数器的读数记为限温器的触头寿命,提高了触头寿命的测量精度。

Description

一种限温器触头寿命测试装置
技术领域
本申请涉及检测技术领域,尤其涉及一种限温器触头寿命测试装置。
背景技术
限温器,即一种温度敏感控制器,主要部件包括感温部件、触头等。正常情况下,触头闭合,相应的电路正常工作;当感温部件感应到的温度超出设定范围(低于或高于某一特定温度值)时,触头断开,使得相应的电路断开;当温度恢复到设定范围内时,触头重新闭合,相应的电路也重新闭合;因此,限温器可将相应温度限定在设定范围内,起到保护作用,广泛应用于热水器、电饭煲等对温度有一定要求的设备。
触头寿命,即触头可重复开合的次数,是反应限温器质量、可靠性的重要参数之一。实际使用中,由于外界环境变化、人为操作等多种因素的影响,限温器会频繁通断,因此为保证限温器及相应的应用设备正常运行,限温器触头必须具有足够的触头寿命。
现有限温器触头寿命测试工装,无法模拟限温器在实际使用中所处的电路环境,因而测量结果与限温器在实际应用时的触头寿命存在较大误差。
实用新型内容
有鉴于此,本申请目的在于提供一种限温器触头寿命测试装置,以解决现有触头寿命测试方式测量误差大的问题。
为实现上述目的,本申请提供如下技术方案:
一种限温器触头寿命测试装置,包括:输出电压和/或电流可调的供电电路、可调电感、可调电阻、加热器、散热器、计数器和触头状态检测部件;
所述可调电感和可调电阻串联接于所述供电电路的输出端;
所述加热器与限温器串联接于所述可调电阻的两端;
所述加热器用于对所述限温器所处环境进行加热;
所述散热器用于对所述限温器所处环境进行散热;
所述计数器用于记录所述限温器触头的开合次数;
所述触头状态检测部件用于检测所述限温器触头的状态,根据检测结果触发所述计数器进行计数;且当检测到所述触头断开时,启动所述散热器,当检测到所述触头闭合时,关闭所述散热器。
优选的,所述触头状态检测部件包括继电器;
所述继电器的线圈与所述触头连接,所述继电器的第一常闭触点与所述散热器串联。
优选的,所述计数器包括第一计数器,用于记录所述限温器触头的闭合次数;所述继电器的第一常开触点与所述第一计数器连接。
优选的,所述计数器包括第二计数器,用于记录所述限温器触头的断开次数;所述第一计数器与所述继电器的第二常闭触点连接。
优选的,所述供电电路包括调压器。
优选的,所述散热器包括散热风扇。
优选的,所述散热器包括具有多档工作功率的多档位散热器。
优选的,所述加热器包括具有多档工作功率的多档位加热器。
优选的,所述限温器触头寿命测试装置还包括熔断器,所述熔断器与所述可调电感串联。
从上述的技术方案可以看出,本申请通过输出电压和输出电流可调的供电电路、可调电感和可调电阻组成基本测试电路,由于其电压、电流及功率因数均可调,故可准确模拟限温器实际应用的任一电路环境,消除了电路环境差异带来的测量误差;进而通过加热器和散热器对限温器所处环境进行周期性升温、降温,使得限温器周期性开合,同时通过计数器记录其开合次数,测试结束时,计数器的读数记为限温器的触头寿命,提高了触头寿命的测量精度,解决了现有技术的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例一提供的限温器触头寿命测试装置的电路接线图;
图2为本申请实施例二提供的限温器触头寿命测试装置的电路接线图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
本申请实施例公开了一种限温器触头寿命测试装置,以解决现有触头寿命测试方式测量误差大的问题。
参照图1,本申请实施例一提供的限温器触头寿命测试装置,包括:输出电压和/或电流可调的供电电路1、可调电感L、可调电阻R、加热器2、散热器3、计数器4和触头状态检测部件5。
其中,可调电感L和可调电阻R串联接于供电电路1的输出端;
加热器2与限温器0串联接于可调电阻R的两端;
加热器2用于对限温器0所处环境进行加热;
散热器3用于对限温器0所处环境进行散热;
计数器4用于记录限温器触头的开合次数;
触头状态检测部件5用于检测所述限温器触头的状态,根据检测结果触发所述计数器进行计数;且当检测到所述触头断开时,启动散热器3,当检测到所述触头闭合时,关闭散热器3。
上述装置中,可调电感L和可调电阻R构成RL电路,通过调节可调电感L的实际电感值和可调电阻R的实际电阻值,可改变可调电感L和可调电阻R的实际阻抗比,从而实现对测量电路的功率因数的调节;同时,通过调节的供电电路1的输出电压和输出电流,可实现对测量电路的电流和电压的调节,使限温器0的测量环境(电流、电压和功率因数)与限温器0的实际应用环境相同,避免了电路环境的差异对测量结果的影响,提高了触头寿命的测量精度。
上述装置的操作方法及工作原理如下:
上电前,根据限温器0的应用环境,设置供电电路1的输出电压、输出电流,以及可调电阻R的实际电感值、可调电感L的实际电阻值。
以限温器触头的初始状态为闭合状态为例,上电后,在触头状态检测部件5的控制下,散热器3不工作;加热器2得电,对限温器0所处环境进行加热;当加热至环境温度达到限温器0的动作阈值时,限温器0的触头断开,加热器2断电、加热停止,同时在触头状态检测部件5的控制下,散热器3启动,开始对限温器0所处环境进行散热;当散热至环境温度达到限温器0的恢复温度时,限温器0的触头闭合,加热器2得电,散热器3断电,重复上述工作流程。在上述循环工作过程中,计数器4记录限温器0的开合次数。
测试完成后,读取计数器4的计数值,即为限温器0的触头寿命。
由上述结构及工作原理可知,本申请实施例通过输出电压和输出电流可调的供电电路、可调电感和可调电阻组成基本测试电路,由于其电压、电流及功率因数均可调,故可准确模拟限温器实际应用的任一电路环境,消除了电路环境差异带来的测量误差;进而通过加热器和散热器对限温器所处环境进行周期性升温、降温,使得限温器周期性开合,同时通过计数器记录其开合次数,测试结束时,计数器的读数记为限温器的触头寿命。因此,本申请实施例提高了触头寿命的测量精度,解决了现有技术的问题。
优选的,本申请实施例中,所述输出电压和/或输出电流可调的供电电路包括调压器。
优选的,本申请实施例中,所述散热器包括散热风扇。
优选的,本申请实施例中,所述散热器包括具有多档工作功率的多档位散热器;更具体的,所述散热器包括具有多档工作功率的多档位散热风扇。相应的,所述加热器包括具有多档工作功率的多档位加热器。通过将散热风扇和/或散热器工作于高功率档位,可相应缩短加热和散热时间,从而缩短了测试周期,提高了测试效率。
如图2所示,本申请实施例二提供了另一种限温器触头寿命测试装置,包括:调压器11、可调电感L、可调电阻R、加热器2、散热器3、计数器4和触头状态检测部件5。
与实施例一相同的,可调电感L和可调电阻R串联接于供电电路1的输出端;加热器2与限温器0串联接于可调电阻R的两端;加热器2用于对限温器0所处环境进行加热;散热器3用于对限温器0所处环境进行散热;计数器4用于记录限温器触头的开合次数。
具体的,由于限温器触头的断开和闭合是一一对应的,故计数器4可包括:只记录限温器触头的闭合次数n1第一计数器,以及只记录限温器触头的断开次数n2的第二计数器;n1和n2均可表征限温器0的触头寿命。
特别的,触头状态检测部件5包括继电器51。
继电器51的线圈KA与限温器0的触头连接;当触头闭合时,继电器51的线圈KA得电,当触头断开时,继电器51的线圈KA失电。
继电器51的第一常闭触点KA1与散热器3串联;当继电器51的线圈KA得电时,第一常闭触点KA1断开,散热器3不工作,当继电器51的线圈KA失电时,第一常闭触点KA1闭合,散热器3开始工作。
因此,通过继电器51实现了:当限温器0的触头闭合时,加热器2工作、散热器3不工作,当限温器0的触头断开时,加热器2不工作、散热器3工作,满足测试要求。
另外,为实现对计数器4的同步计数控制,对于上述记录限温器触头的闭合次数的第一计数器,将其与继电器51的一常开触点连接;所谓常开触点,即继电器在线圈没有得电时,常处于断开状态的触点;从而当限温器的触头闭合、继电器51的线圈KA得电时,继电器51的常开触点闭合,触发第一计数器计数一次,即当触头闭合时第一计数器的计数值加1,实现了对限温器触头的闭合次数的同步计数。所述常开触点优选与第一常闭触点KA1对应的第一常开触点KA2,如图2所示。
另外,对于上述记录限温器触头的断开次数的第二计数器,可将其与继电器51的第二常闭触点连接;所谓常闭触点,即继电器在线圈没有得电时,常处于闭合状态的触点;从而当限温器的触头断开、继电器51的线圈KA失电时,第二常闭触点闭合,触发第二计数器计数一次,即当触头断开时第二计数器的计数值加1,实现了对限温器触头的断开次数的同步计数。
优选的,仍参照图2,在上述实施例的基础上,本申请提供的限温器触头寿命测试装置,还包括熔断器Rs,所述熔断器与所述可调电感串联;当电路电流过大时,熔断器Rs熔断,对该测试装置起到限流保护作用。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中,所述程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory,ROM)或随机存储记忆体(Random Access Memory,RAM)等。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (9)

1.一种限温器触头寿命测试装置,其特征在于,包括:输出电压和/或电流可调的供电电路、可调电感、可调电阻、加热器、散热器、计数器和触头状态检测部件; 
所述可调电感和可调电阻串联接于所述供电电路的输出端; 
所述加热器与限温器串联接于所述可调电阻的两端; 
所述加热器用于对所述限温器所处环境进行加热; 
所述散热器用于对所述限温器所处环境进行散热; 
所述计数器用于记录所述限温器触头的开合次数; 
所述触头状态检测部件用于检测所述限温器触头的状态,根据检测结果触发所述计数器进行计数;且当检测到所述触头断开时,启动所述散热器,当检测到所述触头闭合时,关闭所述散热器。 
2.根据权利要求1所述的限温器触头寿命测试装置,其特征在于,所述触头状态检测部件包括继电器; 
所述继电器的线圈与所述触头连接,所述继电器的第一常闭触点与所述散热器串联。 
3.根据权利要求2所述的限温器触头寿命测试装置,其特征在于,所述计数器包括第一计数器,用于记录所述限温器触头的闭合次数;所述继电器的第一常开触点与所述第一计数器连接。 
4.根据权利要求2所述的限温器触头寿命测试装置,其特征在于,所述计数器包括第二计数器,用于记录所述限温器触头的断开次数;所述第二计数器与所述继电器的第二常闭触点连接。 
5.根据权利要求1~4任一项所述的限温器触头寿命测试装置,其特征在于,所述供电电路包括调压器。 
6.根据权利要求1~4任一项所述的限温器触头寿命测试装置,其特征在于,所述散热器包括散热风扇。 
7.根据权利要求1~4任一项所述的限温器触头寿命测试装置,其特征在于,所述散热器包括具有多档工作功率的多档位散热器。 
8.根据权利要求1~4任一项所述的限温器触头寿命测试装置,其特征在于,所述加热器包括具有多档工作功率的多档位加热器。 
9.根据权利要求1~4任一项所述的限温器触头寿命测试装置,其特征在于,还包括熔断器,所述熔断器与所述可调电感串联。 
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