CN203706921U - 电磁式光路转换开关 - Google Patents

Abstract

一种电磁式光路转换开关，由机架、校准切换光闸和检测切换光闸组成，所述机架上开有机架照明光纤安装孔、机架检测光纤安装孔和机架参比光纤安装孔，所述校准切换光闸由校准切换光纤座、校准切换光闸片、校准切换电磁铁壳、校准切换电磁铁芯和校准切换回位弹簧组成，所述检测切换光闸由检测切换光纤座、检测切换光闸片、检测切换电磁铁壳、检测切换电磁铁芯和检测切换回位弹簧组成。本开关仅用了两个低价格的电磁铁、两片光闸片和一个机架等几个简单的零部件，就实现了光谱分析仪三路光线四个状态的切换，所以可以减小光谱分析仪的体积、简化光谱分析仪的结构和控制系统。

Description

电磁式光路转换开关

技术领域

本实用新型涉及一种应用在光谱分析仪中的光路转换开关。

背景技术

光路转换开关是一种安装在光谱分析仪（即一个用光谱技术进行分析的完整设备）中的装置，通过调节控制光路转换开关，可以使光谱分析仪在测参比模式、测标准片模式、测样品模式和测暗电流模式之间切换。

现有的光路转换开关都是单光路设计，即每一光路设置一个转换装置，对应的光路转换均为独立式工作，具有体积大、结构复杂、操作控制繁杂的缺点，所以急需要改进。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种电磁式光路转换开关，要解决安装在光谱分析仪中的光路转换开关体积大、结构复杂、操作控制繁杂的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：一种电磁式光路转换开关，其特征在于：由机架、设在机架正面的校准切换光闸、以及设在机架背面的检测切换光闸组成。

所述机架上开有由机架正面通向机架背面的一个机架照明光纤安装孔、一个机架检测光纤安装孔和一个机架参比光纤安装孔。

所述校准切换光闸由校准切换光纤座、校准切换光闸片、校准切换电磁铁壳、校准切换电磁铁芯和校准切换回位弹簧组成。

所述校准切换光纤座固定连接在机架的正面，并且校准切换光纤座与机架之间设有滑槽，校准切换光纤座上设有与机架照明光纤安装孔、机架检测光纤安装孔和机架参比光纤安装孔对应的校准切换光纤座照明光纤安装孔、校准切换光纤座检测光纤安装孔和校准切换光纤座参比光纤安装孔，校准切换光纤座上还设有与校准切换光纤座照明光纤安装、校准切换光纤座检测光纤安装孔和校准切换光纤座参比光纤安装孔相通的固定光纤用的螺钉锁紧孔一。

所述校准切换电磁铁壳固定设置在校准切换光纤座的上表面与机架的上表面之间。

所述校准切换电磁铁芯横向穿过校准切换电磁铁壳、并可相对校准切换电磁铁壳滑动；

所述校准切换回位弹簧套在校准切换电磁铁芯上、并且夹在校准切换电磁铁芯的头部与校准切换电磁铁壳之间。

所述校准切换光闸片设在校准切换光纤座与机架之间的滑槽中，并且校准切换光闸片的尾部与校准切换电磁铁芯的尾部刚性连接，校准切换光闸片上设有一个校准切换光闸片照明光纤安装孔、一个校准切换光闸片检测光纤安装孔和一个校准切换光闸片参比光纤安装孔。

所述检测切换光闸由检测切换光纤座、检测切换光闸片、检测切换电磁铁壳、检测切换电磁铁芯和检测切换回位弹簧组成。

所述检测切换光纤座固定连接在机架的背面，并且检测切换光纤座与机架之间设有滑槽，检测切换光纤座上设有与机架照明光纤安装孔、机架检测光纤安装孔和机架参比光纤安装孔对应的检测切换光纤座照明光纤安装孔、检测切换光纤座检测光纤安装孔和检测切换光纤座参比光纤安装孔，检测切换光纤座的底部还设有与检测切换光纤座照明光纤安装孔、检测切换光纤座检测光纤安装孔和检测切换光纤座参比光纤安装孔相通的固定光纤用的螺钉锁紧孔二。

所述检测切换电磁铁壳固定设置在检测切换光纤座的上表面与机架的上表面之间。

所述检测切换电磁铁芯横向穿过检测切换电磁铁壳、并可相对检测切换电磁铁壳滑动。

所述检测切换回位弹簧套在检测切换电磁铁芯上、并且夹在检测切换电磁铁芯的头部与检测切换电磁铁壳之间。

所述检测切换光闸片设在检测切换光纤座与机架之间的滑槽中，并且检测切换光闸片的尾部与检测切换电磁铁芯的尾部刚性连接，检测切换光闸片上设有一个检测切换光闸片照明光纤安装孔、一个检测切换光闸片检测光纤安装孔、一个检测切换光闸片参比光纤安装孔一和一个检测切换光闸片参比光纤安装孔二。

所述校准切换光闸片的头部可设有校准切换光闸片横向长孔，所述机架靠校准切换光闸片的头部的一侧刚性连接有校准切换定位销支架，校准切换定位销支架上又连接有校准切换定位销，并且校准切换定位销伸至校准切换光闸片头部的校准切换光闸片横向长孔中。

所述检测切换光闸片的头部可设有检测切换光闸片横向长孔，所述机架靠检测切换光闸片的头部的一侧刚性连接有检测切换定位销支架，检测切换定位销支架上又连接有检测切换定位销，并且检测切换定位销伸至检测切换光闸片头部的检测切换光闸片横向长孔中。

所述校准切换光闸片和校准切换电磁铁芯的首尾位置，可与检测切换光闸片和检测切换电磁铁芯的首尾位置相反。

与现有技术相比本实用新型具有以下特点和有益效果：本实用新型仅用了两个低价格的电磁铁、两片光闸片、两个导向销和一个机架等几个简单的零部件，就实现了光谱分析仪三路光线四个状态的切换（即可同时实现四个光路的切换）。

本实用新型结构非常简单，操作也很简单方便，可以减小光谱分析仪的体积、简化光谱分析仪的结构和控制系统，有效的解决了四个光路状态的工作转换需求，尤其适合应用在便携式果品分析仪中，用于实现便携式果品分析仪的光路转换功能。

附图说明

下面结合附图对本实用新型做进一步详细的说明。

图1是本实用新型处在工作状态一时的立体示意图。

图2是本实用新型处在工作状态一时在机架参比光纤安装孔处的断面示意图。

图3是本实用新型处在工作状态一时在机架照明光纤安装孔处的断面示意图。

图4是本实用新型处在工作状态一时在机架检测光纤安装孔处的断面示意图。

图5是本实用新型处在工作状态二时的立体示意图。

图6是本实用新型处在工作状态二时在机架参比光纤安装孔处的断面示意图。

图7是本实用新型处在工作状态二时在机架照明光纤安装孔处的断面示意图。

图8是本实用新型处在工作状态二时在机架检测光纤安装孔处的断面示意图。

图9是本实用新型处在工作状态三时的立体示意图。

图10是本实用新型处在工作状态三时在机架参比光纤安装孔处的断面示意图。

图11是本实用新型处在工作状态三时在机架照明光纤安装孔处的断面示意图。

图12是本实用新型处在工作状态三时在机架检测光纤安装孔处的断面示意图。

图13是本实用新型处在工作状态四时的立体示意图。

图14是本实用新型处在工作状态四时在机架参比光纤安装孔处的断面示意图。

图15是本实用新型处在工作状态四时在机架照明光纤安装孔处的断面示意图。

图16是本实用新型处在工作状态四时在机架检测光纤安装孔处的断面示意图。

图17是机架的正面斜四十五度立体示意图。

图18是机架的背面斜四十五度立体示意图。

图19是校准切换光纤座的立体示意图。

图20是检测切换光纤座的立体示意图。

图21是校准切换光闸片的立体示意图。

图22是检测切换光闸片的立体示意图。

图23是装有本实用新型的光谱分析仪的原理示意图。

附图标记：1－机架、1.1－机架照明光纤安装孔、1.2－机架检测光纤安装孔、1.3－机架参比光纤安装孔；

2－校准切换光纤座、2.1－校准切换光纤座照明光纤安装孔、2.2－校准切换光纤座检测光纤安装孔、2.3－校准切换光纤座参比光纤安装孔、2.4－固定光纤用的螺钉锁紧孔一；

3－校准切换光闸片、3.1－校准切换光闸片照明光纤安装孔、3.2－校准切换光闸片检测光纤安装孔、3.3－校准切换光闸片参比光纤安装孔、3.4－校准切换光闸片横向长孔；

4－校准切换定位销支架；5－校准切换定位销；6－校准切换电磁铁壳；7－校准切换电磁铁芯；8－校准切换回位弹簧；

9－检测切换光纤座、9.1－检测切换光纤座照明光纤安装孔、9.2－检测切换光纤座检测光纤安装孔、9.3－检测切换光纤座参比光纤安装孔、9.4－固定光纤用的螺钉锁紧孔二；

10－检测切换光闸片、10.1－检测切换光闸片照明光纤安装孔、10.2－检测切换光闸片检测光纤安装孔、10.3－检测切换光闸片参比光纤安装孔一、10.4－检测切换光闸片横向长孔、10.5－检测切换光闸片参比光纤安装孔二；

11－检测切换定位销支架；12－检测切换定位销；13－检测切换电磁铁壳；14－检测切换电磁铁芯；15－检测切换回位弹簧；

16－照明光源；17－照明光线；18－照明光纤；19－检测探头；20－样品；21－检测光纤；22－参比光线；23－参比光纤；24－汇合光纤；25－光谱仪系统。

具体实施方式

实施例参见图1、图17-22所示，这种电磁式光路转换开关，由机架1、设在机架1正面的校准切换光闸、以及设在机架1背面的检测切换光闸组成。

所述机架1上开有由机架正面通向机架背面的一个机架照明光纤安装孔1.1、一个机架检测光纤安装孔1.2和一个机架参比光纤安装孔1.3。

所述校准切换光闸由校准切换光纤座2、校准切换光闸片3、校准切换电磁铁壳6、校准切换电磁铁芯7和校准切换回位弹簧8组成。

所述校准切换光纤座2固定连接（本实施例中为螺纹联接）在机架1的正面，并且校准切换光纤座2与机架1之间设有滑槽，校准切换光纤座2上设有与机架照明光纤安装孔1.1、机架检测光纤安装孔1.2和机架参比光纤安装孔1.3对应的校准切换光纤座照明光纤安装孔2.1、校准切换光纤座检测光纤安装孔2.2和校准切换光纤座参比光纤安装孔2.3，校准切换光纤座2上还设有与校准切换光纤座照明光纤安装孔2.1、校准切换光纤座检测光纤安装孔2.2和校准切换光纤座参比光纤安装孔2.3相通的固定光纤用的螺钉锁紧孔一2.4。

所述校准切换电磁铁壳6固定设置在校准切换光纤座2的上表面与机架1的上表面之间。

所述校准切换电磁铁芯7横向穿过校准切换电磁铁壳7、并可相对校准切换电磁铁壳7滑动。

所述校准切换回位弹簧8套在校准切换电磁铁芯6上、并且夹在校准切换电磁铁芯6的头部与校准切换电磁铁壳7之间。

所述校准切换光闸片3设在校准切换光纤座2与机架1之间的滑槽中，并且校准切换光闸片3的尾部与校准切换电磁铁芯7的尾部刚性连接，校准切换光闸片3上设有一个校准切换光闸片照明光纤安装孔3.1、一个校准切换光闸片检测光纤安装孔3.2和一个校准切换光闸片参比光纤安装孔3.3。

所述检测切换光闸由检测切换光纤座9、检测切换光闸片10、检测切换电磁铁壳13、检测切换电磁铁芯14和检测切换回位弹簧15组成。

所述检测切换光纤座9固定连接（本实施例中为螺纹联接）在机架1的背面，并且检测切换光纤座9与机架1之间设有滑槽，检测切换光纤座9上设有与机架照明光纤安装孔1.1、机架检测光纤安装孔1.2和机架参比光纤安装孔1.3对应的检测切换光纤座照明光纤安装孔9.1、检测切换光纤座检测光纤安装孔9.2和检测切换光纤座参比光纤安装孔9.3，检测切换光纤座9的底部还设有与检测切换光纤座照明光纤安装孔9.1、检测切换光纤座检测光纤安装孔9.2和检测切换光纤座参比光纤安装孔9.3相通的固定光纤用的螺钉锁紧孔二9.4。

所述检测切换电磁铁壳13固定设置在检测切换光纤座9的上表面与机架1的上表面之间。

所述检测切换电磁铁芯14横向穿过检测切换电磁铁壳13、并可相对检测切换电磁铁壳13滑动。

所述检测切换回位弹簧15套在检测切换电磁铁芯14上、并且夹在检测切换电磁铁芯14的头部与检测切换电磁铁壳13之间。

所述检测切换光闸片10设在检测切换光纤座9与机架1之间的滑槽中，并且检测切换光闸片10的尾部与检测切换电磁铁芯14的尾部刚性连接，检测切换光闸片10上设有一个检测切换光闸片照明光纤安装孔10.1、一个检测切换光闸片检测光纤安装孔10.2、一个检测切换光闸片参比光纤安装孔一10.3和一个检测切换光闸片参比光纤安装孔二10.5。

所述校准切换光闸片3的头部设有校准切换光闸片横向长孔3.4，所述机架1靠校准切换光闸片3的头部的一侧刚性连接有校准切换定位销支架4，校准切换定位销支架4上又连接有校准切换定位销5，并且校准切换定位销5伸至校准切换光闸片3头部的校准切换光闸片横向长孔3.4中。

所述检测切换光闸片10的头部设有检测切换光闸片横向长孔10.4，所述机架1靠检测切换光闸片10的头部的一侧刚性连接有检测切换定位销支架11，检测切换定位销支架11上又连接有检测切换定位销12，并且检测切换定位销12伸至检测切换光闸片10头部的检测切换光闸片横向长孔10.4中。

从设计方便考虑，本实施例中，校准切换光闸片3和校准切换电磁铁芯7的首尾位置，与检测切换光闸片10和检测切换电磁铁芯14的首尾位置相反，即设计成为两侧反向对称式。当然，在其它实施例中，也可以使校准切换光闸片3和校准切换电磁铁芯7的首尾位置，与检测切换光闸片10和检测切换电磁铁芯14的首尾位置相同，即设计成为镜像对称式。

所述机架1提供主体支撑作用。

所述校准切换光纤座和检测切换光纤座主要为固定光纤所用。

所述校准切换定位销5对校准切换光闸片起定位和滑动导向作用，检测切换定位销12对检测切换光闸片起定位和滑动导向作用。

使用时，对校准切换电磁铁壳和/或检测切换电磁铁壳通电，校准切换电磁铁壳和/或检测切换电磁铁壳就会驱动校准切换电磁铁芯和/或检测切换电磁铁芯移动，从而使校准切换电磁铁芯和/或检测切换电磁铁芯带动校准切换光闸片和/或检测切换光闸片移动（校准切换光闸片和/或检测切换光闸片在定位销的限定作用下、在光纤座与机架之间的滑槽中移动），从而通过校准切换光闸片和/或检测切换光闸片来控制机架照明光纤安装孔1.1、机架检测光纤安装孔1.2和机架参比光纤安装孔1.3透光或不透光。

本实用新型的光路切换共有四个工作状态（光线经汇合光纤进入光谱仪系统），现描述如下。

参见图1-4，工作状态一：参比光谱进入光谱仪系统工作，校准切换光闸不吸合、检测切换光闸不吸合；当校准切换光闸不吸合、检测切换光闸不吸合时，校准切换光闸片3上的校准切换光闸片参比光纤安装孔3.3、检测切换光闸片10上的检测切换光闸片参比光纤安装孔一10.3和机架1上的机架参比光纤安装孔1.3相通，此时机架参比光纤安装孔1.3处于透光状态，机架照明光纤安装孔1.1和机架检测光纤安装孔1.2均处于挡光不透光状态。此时通过机架参比光纤安装孔1.3检测参比能量，从而进行光谱分析仪的校准。此时的光谱分析仪，处于参比测量光路开通模式，光谱分析仪用参比测量光路来进行数据采集（测参比R），从而进行光谱分析仪的校准。

参见图5-8，工作状态二：照明及样品光谱进入光谱仪系统工作，校准切换光闸不吸合、检测切换光闸吸合；当校准切换光闸不吸合、检测切换光闸吸合时，校准切换光闸片3上的校准切换光闸片参比光纤安装孔3.3、检测切换光闸片10上的检测切换光闸片参比光纤安装孔二10.5和机架1上的机架参比光纤安装孔1.3相通，此时机架参比光纤安装孔1.3处于透光状态，机架照明光纤安装孔1.1和机架检测光纤安装孔1.2均处于挡光不透光状态。此时在机架参比光纤安装孔1.3的光路上设标准片，通过机架参比光纤安装孔1.3检测标准片的能量，从而进行光谱分析仪的校准。此时的光谱分析仪，处于标准片测量光路开通模式，光谱分析仪用标准片测量光路来进行数据采集，从而进行光谱分析仪的校准。

参见图9-12，工作状态三：暗背景光谱进入光谱仪系统工作，校准切换光闸吸合、检测切换光闸吸合；当校准切换光闸吸合、检测切换光闸吸合时，机架照明光纤安装孔1.1、机架检测光纤安装孔1.2和机架参比光纤安装孔1.3均处于挡光不透光状态。此时的光谱分析仪检测暗电流，从而进行光谱分析仪的校准。

参见图13-16，工作状态四：校准光谱进入光谱仪系统工作，校准切换光闸吸合、检测切换光闸不吸合；当校准切换光闸吸合、检测切换光闸不吸合时，校准切换光闸片3上的校准切换光闸片照明光纤安装孔3.1和检测切换光闸片10上的检测切换光闸片照明光纤安装孔10.1与机架1上的机架照明光纤安装孔1.1相通，校准切换光闸片3上的校准切换光闸片检测光纤安装孔3.2和检测切换光闸片10上的检测切换光闸片检测光纤安装孔10.2与机架1上的机架检测光纤安装孔1.2相通，此时机架参比光纤安装孔1.3处于不透光状态，机架照明光纤安装孔1.1和机架检测光纤安装孔1.2均处于透光状态。此时光谱分析仪处于样品20（果品）测量光路开通模式，可进行样品（果品）测量（测样品S），即机架检测光纤安装孔1.2对样品（果品）提供照明，机架照明光纤安装孔1.1接收样品（果品）光谱信息，然后计算得到的样品（果品）吸光度。

上述工作状态一、工作状态二和工作状态三都是光谱分析仪在进行样品测量前、先进行的光谱分析仪自检。

参见图23，本实用新型的功能简述如下。

1、照明光源16发出的照明光线17通过照明光纤安装孔（即机架照明光纤安装孔1.1、校准切换光纤座照明光纤安装孔2.1、校准切换光闸片照明光纤安装孔3.1、检测切换光纤座照明光纤安装孔9.1、检测切换光闸片照明光纤安装孔10.1）、照明光纤18及检测探头19实现对被检测的样品20的照明。

2、被检测的样品20发出的漫反射光经检测探头19、检测光纤21和检测光纤安装孔（即机架检测光纤安装孔1.2、校准切换光纤座检测光纤安装孔2.2、校准切换光闸片检测光纤安装孔3.2、检测切换光纤座检测光纤安装孔9.2、检测切换光闸片检测光纤安装孔10.2）到汇合光纤24，然后进入光谱仪系统25（光谱仪系统25的主要功能是检测器,将通过光纤汇总后的光信号进行转换成电信号然后输出成光谱，它是光谱分析仪中的一个部件））。

3、照明光源16的余光形成的参比光线22通过参比光纤安装孔（机架参比光纤安装孔1.3、校准切换光纤座参比光纤安装孔2.3、校准切换光闸片参比光纤安装孔3.3、检测切换光纤座参比光纤安装孔9.3、检测切换光闸片参比光纤安装孔一10.3或检测切换光闸片参比光纤安装孔二10.5）和参比光纤23到汇合光纤24，然后进入光谱仪系统25。

4、校准切换光闸片3和检测切换光闸片10的作用是在程序控制下，在切换电磁铁（即校准切换电磁铁壳6、校准切换电磁铁芯7、检测切换电磁铁壳13和检测切换电磁铁芯14）的驱动下实现光路的功能切换。

Claims (4)

1.一种电磁式光路转换开关，其特征在于：由机架（1）、设在机架（1）正面的校准切换光闸、以及设在机架（1）背面的检测切换光闸组成；

所述机架（1）上开有由机架正面通向机架背面的一个机架照明光纤安装孔（1.1）、一个机架检测光纤安装孔（1.2）和一个机架参比光纤安装孔（1.3）；

所述校准切换光闸由校准切换光纤座（2）、校准切换光闸片（3）、校准切换电磁铁壳（6）、校准切换电磁铁芯（7）和校准切换回位弹簧（8）组成；

所述校准切换光纤座（2）固定连接在机架（1）的正面，并且校准切换光纤座（2）与机架（1）之间设有滑槽，校准切换光纤座（2）上设有与机架照明光纤安装孔（1.1）、机架检测光纤安装孔（1.2）和机架参比光纤安装孔（1.3）对应的校准切换光纤座照明光纤安装孔（2.1）、校准切换光纤座检测光纤安装孔（2.2）和校准切换光纤座参比光纤安装孔（2.3），校准切换光纤座（2）上还设有与校准切换光纤座照明光纤安装孔（2.1）、校准切换光纤座检测光纤安装孔（2.2）和校准切换光纤座参比光纤安装孔（2.3）相通的固定光纤用的螺钉锁紧孔一（2.4）；

所述校准切换电磁铁壳（6）固定设置在校准切换光纤座（2）的上表面与机架（1）的上表面之间；

所述校准切换电磁铁芯（7）横向穿过校准切换电磁铁壳（7）、并可相对校准切换电磁铁壳（7）滑动；

所述校准切换回位弹簧（8）套在校准切换电磁铁芯（6）上、并且夹在校准切换电磁铁芯（6）的头部与校准切换电磁铁壳（7）之间；

所述校准切换光闸片（3）设在校准切换光纤座（2）与机架（1）之间的滑槽中，并且校准切换光闸片（3）的尾部与校准切换电磁铁芯（7）的尾部刚性连接，校准切换光闸片（3）上设有一个校准切换光闸片照明光纤安装孔（3.1）、一个校准切换光闸片检测光纤安装孔（3.2）和一个校准切换光闸片参比光纤安装孔（3.3）；

所述检测切换光闸由检测切换光纤座（9）、检测切换光闸片（10）、检测切换电磁铁壳（13）、检测切换电磁铁芯（14）和检测切换回位弹簧（15）组成；

所述检测切换光纤座（9）固定连接在机架（1）的背面，并且检测切换光纤座（9）与机架（1）之间设有滑槽，检测切换光纤座（9）上设有与机架照明光纤安装孔（1.1）、机架检测光纤安装孔（1.2）和机架参比光纤安装孔（1.3）对应的检测切换光纤座照明光纤安装孔（9.1）、检测切换光纤座检测光纤安装孔（9.2）和检测切换光纤座参比光纤安装孔（9.3），检测切换光纤座（9）的底部还设有与检测切换光纤座照明光纤安装孔（9.1）、检测切换光纤座检测光纤安装孔（9.2）和检测切换光纤座参比光纤安装孔（9.3）相通的固定光纤用的螺钉锁紧孔二（9.4）；

所述检测切换电磁铁壳（13）固定设置在检测切换光纤座（9）的上表面与机架（1）的上表面之间；

所述检测切换电磁铁芯（14）横向穿过检测切换电磁铁壳（13）、并可相对检测切换电磁铁壳（13）滑动；

所述检测切换回位弹簧（15）套在检测切换电磁铁芯（14）上、并且夹在检测切换电磁铁芯（14）的头部与检测切换电磁铁壳（13）之间；

所述检测切换光闸片（10）设在检测切换光纤座（9）与机架（1）之间的滑槽中，并且检测切换光闸片（10）的尾部与检测切换电磁铁芯（14）的尾部刚性连接，检测切换光闸片（10）上设有一个检测切换光闸片照明光纤安装孔（10.1）、一个检测切换光闸片检测光纤安装孔（10.2）、一个检测切换光闸片参比光纤安装孔一（10.3）和一个检测切换光闸片参比光纤安装孔二（10.5）。

2.根据权利要求1所述的电磁式光路转换开关，其特征在于：所述校准切换光闸片（3）的头部设有校准切换光闸片横向长孔（3.4），所述机架（1）靠校准切换光闸片（3）的头部的一侧刚性连接有校准切换定位销支架（4），校准切换定位销支架（4）上又连接有校准切换定位销（5），并且校准切换定位销（5）伸至校准切换光闸片（3）头部的校准切换光闸片横向长孔（3.4）中。

3.根据权利要求1所述的电磁式光路转换开关，其特征在于：所述检测切换光闸片（10）的头部设有检测切换光闸片横向长孔（10.4），所述机架（1）靠检测切换光闸片（10）的头部的一侧刚性连接有检测切换定位销支架（11），检测切换定位销支架（11）上又连接有检测切换定位销（12），并且检测切换定位销（12）伸至检测切换光闸片（10）头部的检测切换光闸片横向长孔（10.4）中。

4.根据权利要求1所述的电磁式光路转换开关，其特征在于：所述校准切换光闸片（3）和校准切换电磁铁芯（7）的首尾位置，与检测切换光闸片（10）和检测切换电磁铁芯（14）的首尾位置相反。