CN203630266U - 一种大张氧化铟锡玻璃开短路测试治具 - Google Patents

一种大张氧化铟锡玻璃开短路测试治具 Download PDF

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Abstract

本实用新型的一种大张氧化铟锡玻璃开短路测试治具,包括测试系统,其中:所述的测试系统包括电容屏和探针,所述的探针的针脚压接在电容屏表面,探针连接LED灯;本实用新型在于提供一种适用范围广、结构简单、调试快捷和降低成本等特点的大张氧化铟锡玻璃开短路测试治具。

Description

一种大张氧化铟锡玻璃开短路测试治具
【技术领域】
本实用新型涉及一种测试治具,尤其涉及一种大张氧化铟锡玻璃开短路测试治具。
【背景技术】
目前行业内对切割前的大张氧化铟锡玻璃的断短路测试均采用传统的测试方法,就是用万用表点测,或者在切割后待完成FPC压合后使用功能测试治具进行检测。使用万用表点测效率低下,而且容易漏测;而在压合FPC之后进行功能测试时一旦发现不良已无法修补,因为没有了切割前的对位靶标,故没法进行二次印刷修补;因此,如何解决上述问题成为亟待解决的问题。 
【实用新型内容】
     本实用新型为解决上述问题而提供了一种适用范围广、结构简单、调试快捷和降低成本等特点的大张氧化铟锡玻璃开短路测试治具。
  本实用新型解决上述问题的技术方案是:本实用新型所涉及的一种大张氧化铟锡玻璃开短路测试治具,包括测试系统,其特征在于:所述的测试系统包括电容屏和探针,所述的探针的针脚压接在电容屏表面,探针连接LED灯。
上述一种大张氧化铟锡玻璃开短路测试治具,其特征在于,所述电容屏为大张氧化铟锡玻璃。 
     本实用新型的有益效果是:1、适用范围广,目前的大张氧化铟锡玻璃都能适用;2、结构简单,调试更快捷,能快速高效的查找产品不良位置,使得生产更顺畅更高效;3、整体良率的提高和材料成本的降低促成更低的生产成本。
【附图说明】
图1是本实用新型的结构示意图。
【具体实施方式】
 为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
  本实用新型所涉及的一种大张氧化铟锡玻璃开短路测试治具,包括测试系统,其中:所述的测试系统包括电容屏1和探针2,所述的探针2的针脚压接在电容屏1表面,探针2连接LED灯。
电容屏1为大张氧化铟锡玻璃,目前行业内的大张氧化铟锡玻璃基本都能适用;都能用这种测试方法来进行测试。
本实用新型在具体实用时,在大张氧化铟锡玻璃切割成触摸屏半成品前,用治具两端针脚压接氧化铟锡玻璃表面,对各线路进行串接或并接通电,并通过观察LED等的亮灭状态来判断氧化铟锡玻璃表面各线路是否开短路以及开短路具体位置,判断准确率99.9%。
 以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (2)

1.一种大张氧化铟锡玻璃开短路测试治具,包括测试系统,其特征在于:所述的测试系统包括电容屏(1)和探针(2),所述的探针(2)的针脚压接在电容屏(1)表面,探针(2)连接LED灯。
2.根据权利要求1所述一种大张氧化铟锡玻璃开短路测试治具,其特征在于,所述电容屏(1)为大张氧化铟锡玻璃。
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