CN203535139U - 一种新型音叉晶体的动态测试电路 - Google Patents

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王斌
李向东
刘坤
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Abstract

本实用新型涉及到测试电路领域，是一种新型音叉晶体的动态测试电路。其特征是分压调节电路A、分压调节电路B分压调节电路C和分压调节电路D分别与选通网络一端连接，选通网络的另一端与加法电路连接，加法电路的另一端通过信号输入端与自动增益控制反相控制电路连接，加法电路的另一端通过小信号整流电路与自动增益控制反相控制电路和同相比例运算放大电路的连接线相连，测试音叉晶体的另一端与自动增益控制反相控制电路连接。由于采用了本技术方案，在石英音叉晶体的振荡回路中，增加四个分压调节电路，在选通网络的控制下，使发振回路的振幅控制电压发生变化，使加在石英音叉晶体两端的激励电压改变，从而实现对石英音叉晶体的动态测量。

Description

一种新型音叉晶体的动态测试电路
技术领域
本实用新型涉及到测试电路领域，是一种新型音叉晶体的动态测试电路。具体是石英音叉晶体在分析其稳定度时使用激励电压动态变化检测其频率、阻抗等参数的一种测试方法。 
背景技术
在石英晶体生产领域，需要对成品的电气性能进行测试，现有的一般性测试都是在电压处于稳态时进行的测试，由于石英音叉晶体应用在不同领域，在不同的发振电路中发振激励电压是各不相同的，导致有些晶体由于稳定度性能达不到要求，频率会发生很大变化，与出厂时的标称频率发生了差异。为了避免这种差错，需要对晶体进行动态测试。 
发明内容
本实用新型的目的是要提供一种用于音叉晶体的动态测试电路。 
本实用新型的技术方案是：一种新型音叉晶体的动态测试电路，其特征是分压调节电路A、分压调节电路B分压调节电路C和分压调节电路D分别与选通网络一端连接，选通网络的另一端与加法电路连接，加法电路的另一端通过信号输入端与自动增益控制反相控制电路连接，加法电路的另一端通过小信号整流电路与自动增益控制反相控制电路和同相比例运算放大电路的连接线相连，同相比例运算放大电路的另一端与测试音叉晶体的一端连接，测试音叉晶体的另一端与自动增益控制反相控制电路连接。 
由于采用了上述技术方案，在石英音叉晶体的振荡回路中，增加四个分压调节电路，选通网络，加法电路，在选通网络的控制下，使发振回路的振幅控制电压发生变化，使加在石英音叉晶体两端的激励电压改变，从而实现对石英音叉晶体的动态测量。 
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。 
在图中：1、分压调节电路A；2、分压调节电路B；3、分压调节电路C；4、分压调节电路D；5、选通网络；6、加法电路；7、小信号整流电路；8、同相比例运算放大电路；9、自动增益控制反相控制电路；10、测试音叉晶体；11、信号输入端。 
具体实施方式
下面结合实施例对本实用新型作进一步的说明。 
在图1中，分压调节电路A1、分压调节电路B2分压调节电路C3和分压调节电路D4分别与选通网络5一端连接，选通网络5的另一端与加法电路6连接，加法电路6的另一端通过信号输入端11与自动增益控制反相控制电路9连接，加法电路6的另一端通过小信号整流电路7与自动增益控制反相控制电路9和同相比例运算放大电路8的连接线相连，同相比例运算放大电路8的另一端与测试音叉晶体10的一端连接，测试音叉晶体10的另一端与自动增益控制反相控制电路9连接。 
实施例，测试音叉晶体10，在同相比例运算放大电路8，和反相比例运算放大电路9构成的主回路作用下，开始振荡，主回路中振荡产生的频率由测试音叉晶体10决定。由于测试音叉晶体在振荡时有特性阻抗，不同的晶体特性阻抗有差异，在回路中表现为主回路电流幅度不同，主回路中的电流经过小信号整流电路7，把交变电流转换为稳恒直流电压，输入到自动增益控制反相控制电路9的信号输入端11端中，该反馈信号为电压幅度控制负反馈，有了反馈信号电路的自动调节使不同晶体两端激励电压保持稳定，改变反馈信号，晶体两端激励电压会改变，在这个基本电路中，通过加法电路6，加入一个直流电压信号，根据叠加原理，附加的电压信号叠加在原有主回路反馈信号上，使晶体两端激励电压固定增大或减小。为了判别晶体的稳定性需要在不同的激励电压下测试，分压调节电路A 1、分压调节电路B 2、分压调节电路C 3、分压调节电路D 4分别为分压电路，得到不同的电压，在选通网络5的控制下，这4个大小不同的电压分时通过加法电路6，得到动态的输入信号，输入信号动态变化，被测音叉晶体的激励功率也动态变化，这样实现了对音叉晶体的动态测量。 

Claims (1)

1.一种新型音叉晶体的动态测试电路，其特征是分压调节电路A(1)、分压调节电路B(2)分压调节电路C(3)和分压调节电路D(4)分别与选通网络(5)一端连接，选通网络(5)的另一端与加法电路(6)连接，加法电路(6)的另一端通过信号输入端(11)与自动增益控制反相控制电路(9)连接，加法电路(6)的另一端通过小信号整流电路(7)与自动增益控制反相控制电路(9)和同相比例运算放大电路(8)的连接线相连，同相比例运算放大电路(8)的另一端与测试音叉晶体(10)的一端连接，测试音叉晶体(10)的另一端与自动增益控制反相控制电路(9)连接。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN103529326A (zh) * 2013-10-23 2014-01-22 湖北泰晶电子科技股份有限公司 一种新型音叉晶体的动态测试电路
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