CN203492075U - 一种检测手机sim卡座及天线的自动测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种检测手机SIM卡座及天线的自动测试系统，它包括测试主机（1）、测试排针（2）和测试卡座（3），测试卡座（3）内插接有测试用SIM卡（4），测试卡座（3）通过排线（5）与测试排针（2）通信连接，测试排针（2）安装于测试夹具上,测试排针（2）上装有与待测SIM卡座（8）上弹片触点（7）相匹配的顶针（6），测试主机（1）和待测SIM卡座（8）通信连接，待测SIM卡座（8）装于待测手机主板上，待测手机主板置于测试夹具内。本实用新型实现了手机SIM卡座及天线好坏的自动化测试，减少了测试人员的工作量，减低了生产成本，提高了测试效率、测试的稳定性及测试的准确率，且适用于工业化流水线生产。

Description

一种检测手机SIM卡座及天线的自动测试系统

技术领域

本实用新型涉及一种测试系统，特别是涉及一种检测手机SIM卡座及天线的自动测试系统。 

背景技术

在使用手机时，必须在手机SIM卡座内插入SIM卡才能正常使用手机。SIM卡通过SIM卡座的弹片触点与手机主板连通，从而完成信号传递，进行数据存储和加解密处理，故SIM卡座的好坏是决定手机是否能够正常工作的必要条件之一。除此以外，在使用手机时，对信号的接收与发射主要是通过手机天线来完成，手机天线的好坏也是影响手机质量的一个重要因素，因此，对SIM卡座及天线好坏的测试也就成为手机生产过程必不可少的步骤。 

目前对手机SIM卡座及天线的测试主要是通过测试人员手动操作进行的，测试人员先将SIM卡放置于待测手机主板的SIM卡座内，再将待测手机主板置于测试夹具内，测试人员手动开机后，手机进入待机界面，约5～10秒后手机接收到网络信号并显示。若在手机界面能够看到信号强度与运营商提示，则判定待测手机主板上的SIM卡座、基带芯片射频部分、射频功放芯片及外围匹配电路均正常，否则为不正常。待测试完成后，测试人员需将SIM卡从被测手机主板的SIM卡座内取出，用于下一待测手机主板。 

上述测试方法过程复杂，测试人员工作量大，测试效率低，生产成本高；测试人员在测试过程中需将SIM卡反复在SIM卡座上插入与取出，这将对SIM卡的磁芯造成损坏，从而降低了测试的准确率。 

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种可实现自动化测试手机SIM卡座及天线的测试系统，该系统利用排针连接插有SIM卡的SIM卡座与待测SIM卡座，在测试过程中，不需要频繁的抽插SIM卡，降低了测试过程SIM卡芯片的损坏率，提高了测试的稳定性及准确率；通过控制机构与测试主机的共同作用，实现了测试的自动化与智能化，提高了测试效率，减少了测试人员的工作量，降低了生产成本，且适用于工业化流水线生产。 

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：一种检测手机SIM卡座及天线的自动测试系统，它包括测试主机、测试排针和测试卡座，测试卡座内插接有测试用SIM卡，测试卡座通过排线与测试排针通信连接，测试排针安装于测试夹具上,测试排针上装有与待测SIM卡座上弹片触点相匹配的顶针，测试主机和待测SIM卡座通信连接，待测SIM卡座装于待测手机主板上，待测手机主板置于测试夹具内。 

所述弹片触点和顶针的数量均为6个。 

它还包括控制机构，测试排针通过控制机构安装于测试夹具上，控制机构与测试主机电连接。 

本实用新型的有益效果是： 

1）将待测试手机主板安装在测试夹具上，接上测试主机即可自动完成测试，无需人工干预，自动化和智能化程度高，减少了测试人员的工作量，减低了生产成本，提高了测试效率，且适用于工业化流水线生产；

2）利用测试排针接触待测SIM卡座的弹片触点等效于插入SIM卡，测试过程中无需插拔SIM卡，降低了测试过程中对SIM卡及SIM卡座的磨损，从而测试的稳定性及测试的准确率。 

附图说明

图1为本实用新型结构示意图； 

图中，1-测试主机，2-测试排针，3-测试卡座，4-测试用SIM卡，5-排线，6-顶针，7-弹片触点，8-待测SIM卡座，9-控制机构。 

具体实施方式

下面结合附图进一步详细描述本实用新型的技术方案，但本实用新型的保护范围不局限于以下所述。 

如图1所示，一种检测手机SIM卡座及天线的自动测试系统，它包括测试主机1、测试排针2和测试卡座3，测试卡座3内插接有测试用SIM卡4，测试卡座3通过排线5与测试排针2通信连接，测试排针2安装于测试夹具上,测试排针2上装有与待测SIM卡座8上弹片触点7相匹配的顶针6，所述排针为双排排针，所述弹片触点7和顶针6的数量均为6个，测试主机1和待测SIM卡座8通信连接，待测SIM卡座8装于待测手机主板上，待测手机主板置于测试夹具内。它还包括控制机构9，测试排针2通过控制机构9安装于测试夹具上，控制机构9与测试主机1电连接。 

本实用新型的工作过程：测试人员将待测手机主板放置于测试夹具内，测试主机向控制机构发送命梳，使排针向下接触待测SIM卡座的弹片接触，此时信号引出，接到插有SIM卡的SIM卡座，测试时，测试主机发送命梳给已开机的手机主板，手机基带芯片以查询SIM卡的ID及内容，同时通过手机自动查询当前网络运营商与信号强度。如所得数据正常，则回报给测试主机，说明待测手机的SIM卡座、基带芯片射频部分及射频功放芯片均正常，若在测试过程中无法显示相关内容则将对应的错误代码返回，以便测试主机显示具体故障部件。 

Claims (2)

1.一种检测手机SIM卡座及天线的自动测试系统，它包括测试主机（1），其特征在于：它包括测试主机（1）、它还包括测试排针（2）、控制机构（9）和测试卡座（3），测试卡座（3）内插接有测试用SIM卡（4），测试卡座（3）通过排线（5）与测试排针（2）通信连接，测试排针（2）通过控制机构（9）安装于测试夹具上测试排针（2）安装于测试夹具上,控制机构（9）与测试主机（1）电连接，测试排针（2）上装有与待测SIM卡座（8）上弹片触点（7）相匹配的顶针（6），测试主机（1）和待测SIM卡座（8）通信连接，待测SIM卡座（8）装于待测手机主板上，待测手机主板置于测试夹具内。

2.根据权利要求1所述的一种检测手机SIM卡座及天线的自动测试系统，其特征在于：所述弹片触点（7）和顶针（6）的数量均为6个。

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