CN203433026U - 新型分流器、一种电流采样及电路控制装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种新型分流器、一种电流采样及电路控制装置，其特征在于，包括第一接线柱；第二接线柱；采样电阻，所述采样电阻两端分别与第一接线柱和第二接线柱接触连接；第一导线，所述第一导线与所述第一接线柱或所述采样电阻在第一采样点连接；第二导线，所述第二导线与所述第二接线柱或所述采样电阻在第二采样点连接；所述第一采样点位于所述采样电阻或第一接线柱正表面，所述第二采样点位于所述采样电阻或第二接线柱反表面；或者第一采样点位于所述采样电阻或第一接线柱反表面，第二采样点位于采样电阻或第二接线柱正表面；采样电阻设置有通孔；通孔自采样电阻的正表面延伸至反表面；第一导线与第二导线其中之一穿过所述通孔后与另一个在绞合点开始绞合延伸。

Description

新型分流器、一种电流采样及电路控制装置

技术领域

本实用新型涉及一种新型分流器，一种电流采样及电路控制装置。 

背景技术

分流器是电流计量领域常用的器件，其对被测量电路的电流采样，利用电流表测量通过分流器的电流值，通过计算可得出被测量电路中的电流值。图1所示为一种分流器结构示意图，如图1所示，其结构包括第一接线柱31、第二接线柱32、采样电阻33及第一导线34、第二导线35。第一接线柱31和第二接线柱32分别设置在采样电阻33两端，并与采样电阻33接触连接。第一导线34与采样电阻33在第一采样点36连接；第二导线35与采样电阻33在第二采样点37连接。第一采样点36与第二采样点37均位于采样电阻33上端。第一导线34与第二导线35在绞合点38开始绞合延伸。在实际使用时，绞合点38与第一采样点36之间的第一导线34、绞合点38与第二采样点37之间的第二导线35及第一采样点36和第二采样点37之间的采样电阻33形成一环路区域39。由电磁感应定律可知，当穿过该环路区域39的磁场发生变化时，会在形成该环路区域的导体内产生感应电流。感应电流的产生会导致电流表检测到的电流值与实际电流值不一致，存在误差，影响测量精度。 

继电器是常用的电控制器件。继电器的工作原理是利用线圈中的小电流产生电磁场，控制大电流开关的动作，以控制主电路的连通或断开。当需要切换状态时，利用线圈中的激励电流产生的电磁场来完成切换，以控制主电路的连通或断开。这样的继电器大量使用于智能电表中。当智能电表工作时，如果在其周边环境中存在其他磁场，这些磁场会干扰到继电器内的线圈所产生的磁场的工作，导致继电器性能降低甚至失灵。 

实用新型内容

本实用新型的目的之一是为了克服现有技术中的不足，提供一种可降低外部磁场干扰的新型分流器。 

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案实现： 

新型分流器，其特征在于，包括： 

第一接线柱； 

第二接线柱； 

采样电阻，所述采样电阻两端分别与第一接线柱和第二接线柱接触连接； 

第一导线，所述第一导线与所述第一接线柱或所述采样电阻在第一采样点连接； 

第二导线，所述第二导线与所述第二接线柱或所述采样电阻在第二采样点连接； 

所述第一采样点位于所述采样电阻或第一接线柱正表面，所述第二采样点位于所述采样电阻或第二接线柱反表面；或者所述第一采样点位于所述采样电阻或第一接线柱反表面，所述第二采样点位于所述采样电阻或第二接线柱正表面； 

所述采样电阻设置有通孔；所述通孔自所述采样电阻的正表面延伸至反表面；所述第一导线与第二导线其中之一穿过所述通孔后与另一个在绞合点开始绞合延伸。 

优选地是，所述通孔和所述第一采样点在上下方向的距离与所述通孔和所述第二采样点在上下方向的距离之差不超过较小距离的一倍。 

优选地是，所述通孔和所述第一采样点在水平方向的距离与所述通孔和所述第二采样点在水平方向的距离之差不超过较小距离的一倍。 

优选地是，所述第一采样点与第二采样点以所述通孔为中心对称设置。 

优选地是，所述第一采样点、第二采样点和绞合点位于同一水平线上。 

优选地是，所述第一采样点和第二采样点位于采样电阻上端与下端之间。 

优选地是，所述通孔位于采样电阻左端与右端之间的中部。 

优选地是，所述绞合点位于所述通孔的轴线方向上。 

优选地是，所述第一导线与所述第二导线的绞合点位于所述采样电阻上端与下端之间、左端与右端之间。 

优选地是，所述第二导线穿过所述通孔后与所述第一导线在所述绞合点开始绞合延伸，在所述的绞合点，所述第一导线位于所述第二导线和所述采样电阻之间。 

优选地是，所述第一采样点与所述第二采样点均设置于所述采样电阻上；所述第一采样点位于所述通孔与所述采样电阻上端之间，所述第二采样点位于所述通孔与所述采样电阻下端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

优选地是，所述第一采样点与所述第二采样点均设置于所述采样电阻上；所述第一采样点位于所述通孔与所述采样电阻下端之间，所述第二采样点位于所述通孔与所述采样电阻上端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

优选地是，所述第一采样点设置于所述第一接线柱上，且位于所述通孔与所述第一接线柱上端之间；所述第二采样点设置于所述第二接线柱上，且位于所述通孔与所述第二接线柱下端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

优选地是，所述第一采样点设置于所述第一接线柱上，且位于所述通孔与所述第一接线柱下端之间；所述第二采样点设置于所述第二接线柱上，且位于所述通孔与所述第二接线柱上端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

优选地是，所述第一导线与所述第二导线在所述绞合点绞合后，沿垂直于所述采样电阻正表面或反表面的方向延伸。 

优选地是，所述的第一导线焊接在所述采样电阻或第一接线柱上的所述第一采样点；所述第二导线焊接在所述采样电阻或第二接线柱上的所述第二采样点。 

本实用新型的目的之二是为了克服现有技术中的不足，提供一种可降低外部磁场干扰的电流采样及电路控制装置。 

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案实现： 

一种电流采样及电路控制装置，其特征在于，包括继电器和分流器； 

所述继电器包括： 

用于控制主电路开和关的继电器本体；所述继电器本体包括壳体，所述壳体包括顶面、底面和侧壁；所述侧壁由四个面依次连接形成；所述顶面与底面设置于侧壁两端，形成一封闭结构； 

由所述继电器本体向外延伸的多个连接端子； 

所述分流器设置在所述继电器本体之外，并包括： 

第一接线柱； 

第二接线柱； 

采样电阻，所述采样电阻两端分别与第一接线柱和第二接线柱接触连接； 

第一导线，所述第一导线与所述第一接线柱或所述采样电阻在第一采样点连接； 

第二导线，所述第二导线与第二接线柱或所述采样电阻在第二采样点连接； 

所述第一采样点位于采样电阻或第一接线柱正表面，所述第二采样点位于采样电阻或第二接线柱反表面；或者所述第一采样点位于采样电阻或第一接线柱反表面，所述第二采样点位于采样电阻或第二接线柱正表面； 

所述采样电阻设置有通孔；所述通孔自所述采样电阻的正表面延伸至反表面；所述第一导线与第二导线其中之一穿过所述通孔后与另一个在绞合点开始绞合延伸； 

所述第一接线柱和第二接线柱之一与所述多个连接端子之一连接或形成一体。 

优选地是，所述通孔和所述第一采样点在上下方向的距离与所述通孔和所述第二采样点在上下方向的距离之差不超过距离较小的一倍。 

优选地是，所述通孔和所述第一采样点在水平方向的距离与所述通孔和所述第二采样点在水平方向的距离之差不超过较小距离的一倍。 

优选地是，所述第一采样点与第二采样点以通孔为中心对称设置。 

优选地是，所述第一采样点、第二采样点和绞合点位于同一水平线上。 

优选地是，所述第一采样点和第二采样点位于采样电阻上端与下端之间。 

优选地是，所述通孔位于采样电阻左端与右端之间的中部。 

优选地是，所述绞合点位于所述通孔的轴线方向上。 

优选地是，所述第一导线与所述第二导线的绞合点位于所述采样电阻上端与下端之间、左端与右端之间。 

优选地是，所述第二导线穿过所述通孔后与所述第一导线在所述绞合点开始绞合延伸，在所述的绞合点，所述第一导线位于所述第二导线和所述采样电阻之间。 

优选地是，所述第一采样点与所述第二采样点均设置于所述采样电阻上；所述第一采样点位于所述通孔与所述采样电阻上端之间，所述第二采样点位于所述通孔与所述采样电阻下端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

优选地是，所述第一采样点与所述第二采样点均设置于所述采样电阻上；所述第一采样点位于所述通孔与所述采样电阻下端之间，所述第二采样点位于所述通孔与所述采样电阻上端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

优选地是，所述第一采样点设置于所述第一接线柱上，且位于所述通孔与所述第一接线柱上端之间；所述第二采样点设置于所述第二接线柱上，且位于所述通孔与所述第二接线柱下端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

优选地是，所述第一采样点设置于所述第一接线柱上，且位于所述通孔与所述第一接线柱下端之间；所述第二采样点设置于所述第二接线柱上，且位于所述通孔与所述第二接线柱上端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔 延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向向所述通孔延伸。 

优选地是，所述第一导线与所述第二导线在所述绞合点绞合后，沿垂直于所述采样电阻正表面或反表面的方向延伸。 

优选地是，所述的第一导线焊接在所述采样电阻或第一接线柱上的所述第一采样点；所述第二导线焊接在所述采样电阻或第二接线柱上的所述第二采样点。 

优选地是，所述继电器还包括用于屏蔽继电器本体以外的磁场的屏蔽外壳；所述继电器本体设置于屏蔽外壳内；所述分流器设置于屏蔽外壳之外。 

优选地是，所述屏蔽外壳设置于所述壳体外表面，并围绕所述侧壁三个面。 

优选地是，所述屏蔽外壳还设置有扣板，所述扣板覆盖侧壁第四个面的一部分，并压紧在该侧壁第四个面上。 

优选地是，所述屏蔽外壳设置于所述壳体外表面，并围绕所述侧壁四个面。 

优选地是，所述屏蔽外壳设置于所述壳体外表面，围绕所述侧壁四个面并覆盖所述顶面。 

优选地是，所述屏蔽外壳设置有第一缺口；所述第一缺口自其中一个连接端子向另一个连接端子的方向延伸。 

优选地是，所述屏蔽外壳设置有第二缺口；所述第二缺口自其中一个线圈端子向另一个线圈端子的方向延伸；所述第二缺口长度大于等于两个线圈端子之间的距离；所述侧壁包括依次连接的上壁、右壁、下壁和左壁；线圈端子与上壁的距离小于线圈端子与下壁的距离；所述第二缺口设置在覆盖所述上壁的一面上。 

优选地是，所述屏蔽外壳的下沿与所述壳体的下沿具有一设定的距离。 

优选地是，所述屏蔽外壳为导磁外壳。 

本实用新型中的新型分流器，第一导线与第二导线的绞合点可设置在采样电阻上下端之间，消除了图1所示包括环路区域39在内的垂直于纸面方向的环路区域，进一步降低了外界 交变磁场变化而产生感应电流的影响。将第一采样点和第二采样点分别设置在分流器的正表面、反表面上，第一采样点与第二采样点两者与通孔的在上下方向的距离和在水平方向的距离控制在本实用新型的选择范围之内，可使垂直于上下方向的两个环路区域面积大致相等，且产生的感应电流相反，因此两个环路区域产生的感应电流可以大部分相互抵消。第一采样点与第二采样点以通孔为中心对称设置，绞合点位于通孔的轴线方向上，可使垂直于上下方向的两个环路区域面积相等，且产生的感应电流相反，因此两个环路区域产生的感应电流可以相互抵消。 

本实用新型中的新型分流器可用于各种电路控制装置中，对电路控制装置的电路进行电流采样。在本实用新型中的电流采样及电路控制装置中，还可增加屏蔽外壳，可有效屏蔽外部磁场对电路控制装置的干扰。屏蔽外壳设置第一缺口、第二缺口或者屏蔽外壳下沿与壳体下沿设定一距离，可以防止电路控制装置的两个连接端子或两个线圈端子因距离屏蔽外壳太近而导通发生短路。屏蔽外壳三面围绕侧壁，既能够实现屏蔽磁场作用，又节省成本。设置扣板还可以增加屏蔽外壳与电路控制装置本体的连接强度，避免屏蔽外壳脱落。屏蔽外壳四面围绕侧壁并覆盖顶面，使得电路控制装置本体与屏蔽外壳连接更紧密，对电路控制装置本体的保护更全面。本实用新型尤其适合使用于智能电表中。第一采样点及第二采样点与通孔不在同一水平线上时，更有利于工艺性操作，生产更方便。 

附图说明

图1为一种分流器结构示意图。 

图2为本实用新型实施例1中的分流器结构正视图。 

图3为本实用新型实施例1中的分流器结构后视图。 

图4为图2的俯视图。 

图5为本实用新型实施例2中的分流器立体结构图。 

图6为本实用新型实施例2中的分流器结构正视图。 

图7为本实用新型实施例2中的分流器结构后视图。 

图8为本实用新型实施例3中的分流器立体结构图。 

图9为本实用新型实施例3中的分流器结构正视图。 

图10为本实用新型实施例3中的分流器结构后视图。 

图11为本实用新型实施例4中的电流采样及电路控制装置结构示意图。 

图12为实施例4中的继电器本体结构示意图。 

图13为实施例4中的继电器结构示意图。 

图14为实施例4中的继电器从另一角度示意的结构示意图。 

图15为本实用新型实施例5中的继电器结构示意图。 

图16为本实用新型实施例5中的继电器从另一角度示意的结构示意图。 

图17为本实用新型实施例6中的继电器结构示意图。 

图18为本实用新型实施例6中的继电器从另一角度示意的结构示意图。 

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型进行详细的描述： 

如图1所示的分流器，为避免环路区域39受到外界磁场影响，其中一种方法是将第一采样点36设置在采样电阻33下端。这样会在采样电阻33上端和下端分别形成两个环形区域。这两个环形区域的感应电流相反，可以相互抵消。但这样设置的问题之一在于，无法保证两个环形区域的面积相等，因此也就无法保证两个环形区域的感应电流大小相等，导致仍然存在感应电流的影响。这样设置的另一个问题在于，由于第一导线和第二导线均与采样电阻隔有绝缘材料，因此，当第一采样点36位于采样电阻33下端时，会形成垂直于水平方向或上下方向的环形区域。垂直于上下方向的环形区域仍然容易受外界磁场影响而产生感应电流，降低测量精度。 

本实用新型中的新型分流器，第一采样点和第二采样点位于分流器上端与下端之间，例 如，第一采样点和第二采样点位于采样电阻上下端之间的中部。通孔和第一采样点在分流器上下方向的距离与通孔和第二采样点在分流器上下方向的距离之差不超过较小距离的一倍。另外，通孔和第一采样点在分流器水平方向的距离与通孔和第二采样点在分流器水平方向的距离之差不超过较小距离的一倍。这样既减小或消除了图1所示的垂直于纸面方向的环形区域；而且使垂直于上下方向的分别在采样电阻正表面一侧和反表面一侧形成的两个环形区域面积较小并且两者相差不大或者相等。例如，在所述的绞合点，所述第一导线位于所述第二导线和所述采样电阻之间，这样设置可确保第二导线进入所述通孔之前紧贴采样电阻反表面；第一导线在于第二导线绞合之前紧贴采样电阻正表面。因此，这样有助于形成的垂直于上下方向的两个环路区域面积相等，受外界磁场变化影响而产生的感应电流相等且方向相反，可以相互抵消。 

又，本实用新型中的新型分流器中，第一导线与第二导线的绞合点可设置在采样电阻上端与下端之间、左端与右端之间，从而消除了图1所示的垂直于纸面方向的环路区域，进一步降低了外界交变磁场变化而产生感应电流的影响。例如，本实用新型中的新型分流器，将第一采样点、第二采样点和绞合点设置在同一水平线上。即使第一采样点、第二采样点和绞合点设置不在同一水平线上，第一采样点及第二采样点与绞合点的上下方向的距离和水平方向的距离均也可以设置在相差不大的范围内。因此，本实用新型可以降低外界磁场的影响甚至可以完全消除外界磁场的影响，测量精度高。 

实施例1 

如图2、图3、图4所示，新型分流器，包括第一接线柱31、第二接线柱32、采样电阻33和第一导线34、第二导线35。采样电阻33可为锰铜电阻。采样电阻33包括上端331、下端332、左端333和右端334。在本实施例中，采样电阻33的中心部分设置通孔40，例如，通孔40设置在采样电阻33上端331、下端332、左端333和右端334之间的中部。通孔40自采样电阻33的正表面延伸至反表面。采样电阻33的右端334和左端333分别与第一接线柱31和第二接线柱32接触连接。第一导线34与第一接线柱31在第一采样点36连接。第一采样点36位于第一接线柱31正表面。第二导线35与第二接线柱32在第二采样点37连接。第二采样点37位于第二接线柱32反表面。在上下方向上，第一采样点36和第二采样点37位于采样电阻33上下端的中部，且以通孔40为中心对称设置。第二导线35穿过通孔40后与第一导线34在绞合点38开始绞合延伸。绞合点38位于通孔40的轴线方向上，即以图2所示的正视投影图中，绞合点38与通孔40的投影重合。如图2、图4所示，在所述的绞合 点38，第一导线34位于第二导线35和采样电阻33之间。本实施例以第一导线34与第二导线35绞合向上延伸为例说明，在所述的绞合点38，第一导线34位于第二导线35和采样电阻33之间，即，第二导线35穿过通孔40后，自第一导线34下方延伸至越过第一导线34，再向上延伸与第一导线34绞合延伸。第一导线34与第二导线35绞合后，竖直向上延伸。 

本实施例中的分流器，还可以将第一采样点36和第二采样点37均设置于采样电阻33上，以通孔40为中心对称设置。 

实施例2 

如图5、图6和图7所示，新型分流器，包括第一接线柱31、第二接线柱32、采样电阻33和第一导线34、第二导线35。采样电阻33可为锰铜电阻。采样电阻33包括上端331、下端332、左端333和右端334。在本实施例中，采样电阻33的中心部分设置通孔40，例如，通孔40设置在采样电阻33上端331、下端332、左端333和右端334之间的中部。通孔40自采样电阻33的正表面延伸至反表面。采样电阻33的右端334和左端333分别与第一接线柱31和第二接线柱32接触连接。第一导线34与采样电阻33在第一采样点36连接（如焊接）。第一采样点36位于采样电阻33正表面。第二导线35与采样电阻33在第二采样点37连接（如焊接）。第二采样点37位于采样电阻33反表面。在上下方向上，第一采样点36位于通孔40与采样电阻33的下端332之间，第二采样点37位于通孔40与采样电阻33的上端331之间。在水平方向上，第一采样点36位于通孔40右侧，第二采样点37位于通孔40左侧。第一采样点36与第二采样点37以通孔40为中心对称设置。第一导线34自第一采样点36起竖直延伸至与通孔40齐平，再沿水平方向延伸至通孔40处，然后穿过通孔40，即第一导线34包括了依次连接的竖直段341和水平段342。水平段342延伸至通孔40后，穿过通孔40。第二导线35自第二采样点37起竖直延伸至与通孔40齐平，再沿水平方向向通孔40处延伸，即第二导线35包括了依次连接的竖直段351和水平段352。在通孔40处，第一导线34与第二导线35在绞合点38开始绞合延伸。绞合点38位于通孔40的轴线方向上，即以图7所示的后视投影图中，绞合点38与通孔40的投影重合。在如图7所示的示例中，第一导线34与第二导线35绞合后的延伸方向，垂直于采样电阻33的反表面。 

实施例3 

如图8、图9和图10所示，新型分流器，包括第一接线柱31、第二接线柱32、采样电 阻33和第一导线34、第二导线35。采样电阻33可为锰铜电阻。采样电阻33包括上端331、下端332、左端333和右端334。在本实施例中，采样电阻33的中心部分设置通孔40，例如，通孔40设置在采样电阻33上端331、下端332、左端333和右端334之间的中部。通孔40自采样电阻33的正表面延伸至反表面。采样电阻33的右端334和左端333分别与第一接线柱31和第二接线柱32接触连接。第一导线34与第一接线柱31在第一采样点36连接（如焊接）。第一采样点36位于第一接线柱31正表面。第二导线35与第二接线柱32在第二采样点37连接（如焊接）。第二采样点37位于第二接线柱32反表面。在上下方向上，第一采样点36位于通孔40与采样电阻33的下端332之间，第二采样点37位于通孔40与采样电阻33的上端331之间。在水平方向上，第一采样点36位于通孔40右侧，第二采样点37位于通孔40左侧。第一采样点36与第二采样点37以通孔40为中心对称设置。第一导线34自第一采样点36起竖直延伸至与通孔40齐平，再沿水平方向延伸至通孔40处，然后穿过通孔40，即第一导线34包括了依次连接的竖直段341和水平段342。水平段342延伸至通孔40后，穿过通孔40。第二导线35自第二采样点37起竖直延伸至与通孔40齐平，再沿水平方向向通孔40处延伸，即第二导线35包括了依次连接的竖直段351和水平段352。在通孔40处，第一导线34与第二导线35在绞合点38开始绞合延伸。绞合点38位于通孔40的轴线方向上，即以图10所示的后视投影图中，绞合点38与通孔40的投影重合。在如图10所示的示例中，第一导线34与第二导线35绞合后的延伸方向，垂直于采样电阻33的反表面。 

本实用新型中的上、下、左、右、竖直、水平均为相对概念，以图2、图6及图9所示的方向为参照。正表面与反表面相对，即图2、图6、图9中的正视图示出的是正表面；图3、图7、图10的后视图示出的是反表面。本实用新型中的竖直方向，是指图2、图6和图9中的上下方向；水平方向，是指图2、图6和图9中的左右方向。 

实施例4 

如图11所示，电流采样及电路控制装置，包括继电器和实施例1所述的新型分流器。继电器包括继电器本体100和两个连接端子，即第一连接端子14和第二连接端子15。继电器还包括两个线圈端子，即第一线圈端子16和第二线圈端子17。第一接线柱31与第一接线端子14连接或形成一体。第二接线柱32连接于主电路中，如与电表的连接端子相连。电流表（图中未示出）通过第一导线34和第二导线35与采样电阻33连接。 

如图12、图13和图14所示的继电器，其继电器本体100包括壳体10。壳体10包括顶面11、底面12和侧壁13。侧壁13由四个面依次连接形成，即上壁131、右壁132、下壁133 和左壁134。顶面11与底面12设置于侧壁13两端，形成一个可容纳其他零部件的四方体结构。继电器本体100内部设置有可接触并可分离的两个触点、电磁组件、衔铁等现有技术中常用的零部件（图中未示出），在此不再赘述。 

继电器的两个连接端子，即第一连接端子14和第二连接端子15，贯穿底面12并向外延伸。如图5和图6所示，第一连接端子14及第二连接端子15与上壁131的距离小于与下壁133的距离，也就是相对于下壁133，第一连接端子14及第二连接端子15更靠近上壁131。连接端子自底面12向外延伸的长度可视使用要求而定。 

继电器的两个连接端子还可设置呈从壳体10的顶面11或侧壁13中的一个向外延伸。另外，两个连接端子还可从壳体10的顶面11、底面12和侧壁13中的不同表面向外延伸。例如，第一连接端子14和第二连接端子15可分别从壳体10的顶面11和底面12向外延伸。 

继电器还包括两个线圈端子，即第一线圈端子16和第二线圈端子17。第一线圈端子16和第二线圈端子17贯穿底面12并向外延伸。第一线圈端子16及第二线圈端子17与上壁131的距离小于与下壁133的距离。也就是相对于下壁133，第一线圈端子16及第二线圈端子17更靠近上壁131。线圈端子自底面12向外延伸的长度可视使用要求而定。 

继电器用于控制主电路开和关，第一连接端子14和第二连接端子15连接于主电路中，利用第一连接端子14和第二连接端子15位于壳体10内部的两个触点的接触或分离控制主电路的开和关。 

继电器还包括屏蔽外壳20，继电器本体100设置于屏蔽外壳20内。屏蔽外壳20为导磁外壳，其可以为铁外壳、碳钢外壳、硅钢外壳或合金外壳。屏蔽外壳20设置于壳体10外表面并围绕侧壁13三个表面设置，并设置一扣板23覆盖右壁132一部分，右壁132的其余部分暴露在屏蔽外壳20之外。扣板23压紧在右壁132上，可防止屏蔽外壳20从继电器本体100上脱落。如此设置的屏蔽外壳20不但可以节省材料，减轻重量，还可方便将屏蔽外壳20安装到继电器本体100上。 

屏蔽外壳20自所述顶面11延伸至所述底面12。屏蔽外壳20覆盖上壁131的一面上设置有第一缺口21。第一缺口21自第一连接端子14向第二连接端子15延伸，且第一缺口21的延伸长度大于等于第一连接端子14与第二连接端子15的距离。屏蔽外壳20覆盖上壁131的一面上设置有第二缺口22。第二缺口22自第一线圈端子16向第二线圈端子17延伸，且 第二缺口22的延伸长度大于等于第一线圈端子16与第二线圈端子17的距离。 

实施例5 

如图15、图16所示，本实施例中的继电器与实施例2不同之处在于，屏蔽外壳20围绕侧壁13四个面设置；屏蔽外壳20未设置第二缺口22，其余结构与实施例1相同。 

实施例6 

如图17、图18所示，本实施例中的继电器与实施例2不同之处在于，屏蔽外壳20围绕侧壁13四个面并覆盖顶面11。屏蔽外壳20覆盖顶面11的一面上设置有一通孔24。连接端子或线圈端子可穿过通孔24向外延伸。屏蔽外壳下沿24与壳体下沿18具有一设定的距离；未设置第一缺口21和第二缺口22。屏蔽外壳下沿24与壳体下沿18的距离的大小视具体使用要求而定，使其能够避免两个连接端子即使与屏蔽外壳不接触时而因屏蔽外壳连通。 

实施例4、5、6中的电流采样及电路控制装置，其可以采用实施例2、3中所述的新型分流器代替实施例1中的新型分流器，也可以采用实施例1、2和3中的特征组合后的新型分流器代替。 

以上实施例中的各技术方案还可以进行另外的组合。 

本实用新型中的分流器，采用屏蔽罩屏蔽外部磁场特别是变化或交变磁场的干扰，可以防止外部磁场干扰造成测量误差，提高测量精度。本实用新型中的电流采样及电路控制装置，增加了屏蔽外壳，可有效屏蔽外部磁场对电路控制装置的干扰。屏蔽外壳设置第一缺口、第二缺口或者屏蔽外壳下沿与壳体下沿设定一距离，可以防止两个连接端子或两个线圈端子因距离屏蔽外壳太近而导通发生短路。屏蔽外壳三面围绕侧壁，既能够实现屏蔽磁场作用，又节省成本。设置扣板还可以增加屏蔽外壳与电路控制装置本体的连接强度，避免屏蔽外壳脱落。屏蔽外壳四面围绕侧壁并覆盖顶面，使得电路控制装置本体与屏蔽外壳连接更紧密，对电路控制装置本体的保护更全面。本实用新型尤其适合使用于智能电表中。第一采样点及第二采样点与通孔不在同一水平线上时，更有利于工艺性操作，生产更方便。 

本实用新型中的实施例仅用于对本实用新型进行说明，并不构成对权利要求范围的限制，本领域内技术人员可以想到的其他实质上等同的替代，均在本实用新型保护范围内。 

Claims (41)

1.新型分流器，其特征在于，包括： 

第一接线柱； 

第二接线柱； 

采样电阻，所述采样电阻两端分别与第一接线柱和第二接线柱接触连接； 

第一导线，所述第一导线与所述第一接线柱或所述采样电阻在第一采样点连接； 

第二导线，所述第二导线与所述第二接线柱或所述采样电阻在第二采样点连接； 

所述第一采样点位于所述采样电阻或第一接线柱正表面，所述第二采样点位于所述采样电阻或第二接线柱反表面；或者所述第一采样点位于所述采样电阻或第一接线柱反表面，所述第二采样点位于所述采样电阻或第二接线柱正表面； 

所述采样电阻设置有通孔；所述通孔自所述采样电阻的正表面延伸至反表面；所述第一导线与第二导线其中之一穿过所述通孔后与另一个在绞合点开始绞合延伸。 

2.根据权利要求1所述的新型分流器，其特征在于，所述通孔和所述第一采样点在上下方向的距离与所述通孔和所述第二采样点在上下方向的距离之差不超过较小距离的一倍。 

3.根据权利要求1或2所述的新型分流器，其特征在于，所述通孔和所述第一采样点在水平方向的距离与所述通孔和所述第二采样点在水平方向的距离之差不超过较小距离的一倍。 

4.根据权利要求3所述的新型分流器，其特征在于，所述第一采样点与第二采样点以所述通孔为中心对称设置。 

5.根据权利要求4所述的新型分流器，其特征在于，所述第一采样点、第二采样点和绞合点位于同一水平线上。 

6.根据权利要求1所述的新型分流器，其特征在于，所述第一采样点和第二采样点位于采样电阻上端与下端之间。 

7.根据权利要求1所述的新型分流器，其特征在于，所述通孔位于采样电阻左端与右端之间 的中部。 

8.根据权利要求1所述的新型分流器，其特征在于，所述绞合点位于所述通孔的轴线方向上。 

9.根据权利要求1所述的新型分流器，其特征在于，所述第一导线与所述第二导线的绞合点位于所述采样电阻上端与下端之间、左端与右端之间。 

10.根据权利要求1所述的新型分流器，其特征在于，所述第二导线穿过所述通孔后与所述第一导线在所述绞合点开始绞合延伸，在所述的绞合点，所述第一导线位于所述第二导线和所述采样电阻之间。 

11.根据权利要求1所述的新型分流器，其特征在于，所述第一采样点与所述第二采样点均设置于所述采样电阻上；所述第一采样点位于所述通孔与所述采样电阻上端之间，所述第二采样点位于所述通孔与所述采样电阻下端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

12.权利要求1所述的新型分流器，其特征在于，所述第一采样点与所述第二采样点均设置于所述采样电阻上；所述第一采样点位于所述通孔与所述采样电阻下端之间，所述第二采样点位于所述通孔与所述采样电阻上端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

13.根据权利要求1所述的新型分流器，其特征在于，所述第一采样点设置于所述第一接线柱上，且位于所述通孔与所述第一接线柱上端之间；所述第二采样点设置于所述第二接线柱上，且位于所述通孔与所述第二接线柱下端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

14.根据权利要求1所述的新型分流器，其特征在于，所述第一采样点设置于所述第一接线柱上，且位于所述通孔与所述第一接线柱下端之间；所述第二采样点设置于所述第二接线柱上，且位于所述通孔与所述第二接线柱上端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸 至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

15.根据权利要求1所述的新型分流器，其特征在于，所述第一导线与所述第二导线在所述绞合点绞合后，沿垂直于所述采样电阻正表面或反表面的方向延伸。 

16.根据权利要求1所述的新型分流器，其特征在于，所述的第一导线焊接在所述采样电阻或第一接线柱上的所述第一采样点；所述第二导线焊接在所述采样电阻或第二接线柱上的所述第二采样点。 

17.一种电流采样及电路控制装置，其特征在于，包括继电器和分流器； 

所述继电器包括： 

用于控制主电路开和关的继电器本体；所述继电器本体包括壳体，所述壳体包括顶面、底面和侧壁；所述侧壁由四个面依次连接形成；所述顶面与底面设置于侧壁两端，形成一封闭结构； 

由所述继电器本体向外延伸的多个连接端子； 

所述分流器设置在所述继电器本体之外，并包括： 

第一接线柱； 

第二接线柱； 

采样电阻，所述采样电阻两端分别与第一接线柱和第二接线柱接触连接； 

第一导线，所述第一导线与所述第一接线柱或所述采样电阻在第一采样点连接； 

第二导线，所述第二导线与第二接线柱或所述采样电阻在第二采样点连接； 

所述第一采样点位于采样电阻或第一接线柱正表面，所述第二采样点位于采样电阻或第二接线柱反表面；或者所述第一采样点位于采样电阻或第一接线柱反表面，所述第二采样点位于采样电阻或第二接线柱正表面； 

所述采样电阻设置有通孔；所述通孔自所述采样电阻的正表面延伸至反表面；所述第一导 线与第二导线其中之一穿过所述通孔后与另一个在绞合点开始绞合延伸； 

所述第一接线柱和第二接线柱之一与所述多个连接端子之一连接或形成一体。 

18.根据权利要求17所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述通孔和所述第一采样点在上下方向的距离与所述通孔和所述第二采样点在上下方向的距离之差不超过距离较小的一倍。 

19.根据权利要求17或18所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述通孔和所述第一采样点在水平方向的距离与所述通孔和所述第二采样点在水平方向的距离之差不超过较小距离的一倍。 

20.根据权利要求19所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述第一采样点与第二采样点以通孔为中心对称设置。 

21.根据权利要求20所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述第一采样点、第二采样点和绞合点位于同一水平线上。 

22.根据权利要求17所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述第一采样点和第二采样点位于采样电阻上端与下端之间。 

23.根据权利要求17所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述通孔位于采样电阻左端与右端之间的中部。 

24.根据权利要求17所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述绞合点位于所述通孔的轴线方向上。 

25.根据权利要求17所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述第一导线与所述第二导线的绞合点位于所述采样电阻上端与下端之间、左端与右端之间。 

26.根据权利要求17所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述第二导线穿过所述通孔后与所述第一导线在所述绞合点开始绞合延伸，在所述的绞合点，所述第一导线位于所述第二导线和所述采样电阻之间。 

27.根据权利要求17所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述第一采样点与所述 第二采样点均设置于所述采样电阻上；所述第一采样点位于所述通孔与所述采样电阻上端之间，所述第二采样点位于所述通孔与所述采样电阻下端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

28.权利要求17所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述第一采样点与所述第二采样点均设置于所述采样电阻上；所述第一采样点位于所述通孔与所述采样电阻下端之间，所述第二采样点位于所述通孔与所述采样电阻上端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

29.根据权利要求17所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述第一采样点设置于所述第一接线柱上，且位于所述通孔与所述第一接线柱上端之间；所述第二采样点设置于所述第二接线柱上，且位于所述通孔与所述第二接线柱下端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

30.根据权利要求17所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述第一采样点设置于所述第一接线柱上，且位于所述通孔与所述第一接线柱下端之间；所述第二采样点设置于所述第二接线柱上，且位于所述通孔与所述第二接线柱上端之间；所述第一导线自所述第一采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸；所述第二导线自所述第二采样点竖直延伸至与所述通孔齐平后再水平向所述通孔延伸。 

31.根据权利要求17所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述第一导线与所述第二导线在所述绞合点绞合后，沿垂直于所述采样电阻正表面或反表面的方向延伸。 

32.根据权利要求17所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述的第一导线焊接在所述采样电阻或第一接线柱上的所述第一采样点；所述第二导线焊接在所述采样电阻或第二接线柱上的所述第二采样点。 

33.根据权利要求17所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述继电器还包括用于屏蔽继电器本体以外的磁场的屏蔽外壳；所述继电器本体设置于屏蔽外壳内；所述分流器设置于屏蔽外壳之外。 

34.根据权利要求33所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述屏蔽外壳设置于所述壳体外表面，并围绕所述侧壁三个面。 

35.根据权利要求34所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述屏蔽外壳还设置有扣板，所述扣板覆盖侧壁第四个面的一部分，并压紧在该侧壁第四个面上。 

36.根据权利要求33所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述屏蔽外壳设置于所述壳体外表面，并围绕所述侧壁四个面。 

37.根据权利要求33所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述屏蔽外壳设置于所述壳体外表面，围绕所述侧壁四个面并覆盖所述顶面。 

38.根据权利要求33至37任一权利要求所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述屏蔽外壳设置有第一缺口；所述第一缺口自其中一个连接端子向另一个连接端子的方向延伸。 

39.根据权利要求33至37任一权利要求所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述屏蔽外壳设置有第二缺口；所述第二缺口自其中一个线圈端子向另一个线圈端子的方向延伸；所述第二缺口长度大于等于两个线圈端子之间的距离；所述侧壁包括依次连接的上壁、右壁、下壁和左壁；线圈端子与上壁的距离小于线圈端子与下壁的距离；所述第二缺口设置在覆盖所述上壁的一面上。 

40.根据权利要求33至37任一权利要求所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述屏蔽外壳的下沿与所述壳体的下沿具有一设定的距离。 

41.根据权利要求40所述的电流采样及电路控制装置，其特征在于，所述屏蔽外壳为导磁外壳。 

Images