CN203365486U - 多列式接点薄膜探针 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种多列式接点薄膜探针,其包含有一测试压块,该测试压块上装设有一软性电路板及一探针单元,其中,该探针单元具有多个导线,多个导线间隔设于该软性电路板,且每一导线上各设有两个金属接点,金属接点排列成两列,借此,当其中一列金属接点损坏时,使用者还可利用另一列金属接点对电子装置进行测试,如此可有效改善现有薄膜探针于其中一金属接点损毁便需整块更换的缺点,从而达到节省成本与环保的目的。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种多列式接点薄膜探针。
背景技术
为了便于使用者测试TFT面板、LED面板或太阳能薄膜等电子装置的电路是否正常,业内有业者开发出一种薄膜探针,该薄膜探针主要具有一软性电路板,且该软性电路板上平行设置有多条导线,该多条导线上各设有一金属接点,借此,只要将该薄膜探针进一步装置于一测试压块上,再通过该测试压块将该薄膜探针压抵于一待测的电子装置上,让该多个金属接点分别接触于该电子装置的每一条电路,便能够测试出该电路板是否正常。
然而,由于该现有薄膜探针的每一导线上仅设有一金属接点,因此当其中一导线上的金属接点毁损故障时,该薄膜探针将无法对该电子装置进行测试,必须整块丢弃换新,不仅非常浪费与不环保,且会增加使用者的成本,因此,该现有薄膜探针存在进一步改进的必要。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种多列式接点薄膜探针,能够有效改善现有薄膜探针于其中一金属接点损毁便需整块更换的缺点,并能够达到节省成本与环保的目的。
本实用新型提供一种多列式接点薄膜探针,包含有:
一测试压块,其具有一本体,且该本体的前端设有一压头,该压头上采用一体灌注方式形成有一橡胶压条,该本体上还设有至少一锁孔;
一软性电路板,其装设于该测试压块上,且该软性电路板上设有至少一固定孔,而该固定孔与该锁孔对应设置;
一探针单元,其具有多条间隔设置于该软性电路板上的导线,且每一条导线上各设有至少两个金属接点,所有金属接点排列成至少两列。
进一步地,多条导线平行设置于该软性电路板上。
进一步地,该所有金属接点平行排列于该导线上。
进一步地,该所有金属接点交错排列于该导线上。
进一步地,该固定孔为长条形固定孔。
进一步地,该本体上还设有至少一定位销,且该软性电路板上设有至少一定位孔,该定位孔与该定位销对应设置。
进一步地,该定位孔为长条形定位孔。
进一步地,该软性电路板上还设有至少一标记部。
进一步地,该标记部为一标线。
本实用新型具有的优点在于:
本实用新型提供的多列式接点薄膜探针,由于每一导线上均设有至少两个金属接点,且该金属接点排列成至少两列,因此当其中一列的金属接点发生损坏时,使用者还可利用另外一列的金属接点对该电子装置进行测试,借此,不仅能够大幅提升该多列式接点薄膜探针的使用寿命,而且可有效改善现有薄膜探针于其中一金属接点损毁便需整块更换的缺点,而使该多列式接点薄膜探针能够达到节省成本与环保的目的。
附图说明
图1为本实用新型的较佳实施例的分解立体图。
图2为本实用新型的较佳实施例的软性电路板的立体图。
图3为本实用新型的较佳实施例的局部剖视图。
图4为本实用新型的较佳实施例的使用示意图。
图5为本实用新型的较佳实施例的使用示意图。
图6为本实用新型的较佳实施例的使用示意图。
图7为本实用新型的另一较佳实施例的分解立体图。
图8为本实用新型的另一较佳实施例的软性电路板的立体图。
图9为本实用新型的又一较佳实施例的分解立体图。
图10为本实用新型的又一较佳实施例的软性电路板的立体图。
图中:
100 多列式接点薄膜探针;
10 测试压块; 11 本体;
12 螺栓; 13 压头;
14 橡胶压条; 15 锁孔;
16 定位销; 17 螺栓;
20 软性电路板; 21 固定孔;
22 定位孔; 23 标记部;
30 探针单元; 31 导线;
32 金属接点;
40 一体式测试压块; 41 本体;
42 压头; 43 橡胶压条;
44 定位销; 45 锁孔;
46 螺栓;
200 电子装置; 201 电路。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明,以使本领域的技术人员可以更好的理解本实用新型并能予以实施,但所举实施例不作为对本实用新型的限定。
请参阅图1所示,为本实用新型的较佳实施例的分解立体图,其揭露有ㄧ种多列式接点薄膜探针100,该多列式接点薄膜探针100包含有:
一测试压块10,其具有一本体11,且该本体11的前端通过多个螺栓12锁设有一压头13,该压头13上进一步采用一体灌注形成有一橡胶压条14,另外,该本体11上还设有至少一锁孔15以及至少一定位销16,于本实施例中,该本体11的顶面邻近两侧处的互相对应各设有一锁孔15以及一定位销16。
一软性电路板20,其装设于该测试压块10上,请再同时配合参阅图2所示,该软性电路板20上设有至少一固定孔21以及至少一定位孔22,而该固定孔21与该锁孔15对应设置,供至少一螺栓17穿过该固定孔21并锁固于对应的该锁孔15,而该定位孔22与该定位销16对应设置,于本实施例中,该软性电路板20的顶面邻近两侧处互相对应各设有一固定孔21以及一定位孔22,且该固定孔21与该定位孔22形成长条状。
一探针单元30,请再同时配合参阅图3所示,该探针单元30具有多条间隔设置于该软性电路板20的导线31,且每一条导线31上各设有至少两个金属接点32,该金属接点32排列成至少两列,于本实施例中,该多条导线31平行设置于该软性电路板20上,且每一导线31上均设有两个金属接点32,该金属接点32平行排列于该导线31上。
请再同时参阅图1、图4以及图5所示,当使用者欲使用该多列式接点薄膜探针100对一电子装置200,如TFT面板、LED面板或太阳能薄膜等,进行测试时,首先,使用者必须将设有该探针单元30的该软性电路板20置设于该测试压块10上,并让该定位孔22套设于对应的该定位销16,此时因为该定位孔22形成长条状,所以使用者可借由该定位销16的限位,沿着该定位孔22的长轴方向调整该软性电路板20于该本体11上的位置,使位于最前一列的金属接点32对准该橡胶压条14,之后再通过一螺栓17穿过该固定孔21并锁固于对应的锁孔15,便可将设有该探针单元30的该软性电路板20装设于该测试压块10上。
当用户将设有该探针单元30的该软性电路板20装设于该测试压块10后,便可开始对该电子装置200进行测试,用户只要将该测试压块10直接压抵于该电子装置200上,让该金属接点32接触于该电子装置200的每一条电路201,便可对该电路201进行通电,以测试该电子装置200是否可以正常使用,值得一提的是,因为该测试压块10上设有该橡胶压条14,所以可提供缓冲空间以缓冲该金属接点32压抵于该电路201上的力道,以防止过大的压抵力量导致该金属接点32损毁,从而能够达到提升该金属接点32寿命的效果。
请再同时参阅图6所示,当最前一列的金属接点32在长期使用后发生损毁时,此时因为每一导线31上均设有至少两个金属接点32,且该金属接点32排列成至少两列,所以使用者还可利用另外一列的金属接点32对该电子装置200进行测试,于本实施例中,使用者只要将设有该探针单元30的该软性电路板20由该测试压块10上取下,再对设有该探针单元30的该软性电路板20进行裁切,将损坏的金属接点32整列切除,之后再将设有该探针单元30的该软性电路板20重新装回该测试压块10上,并调整位置使裁切后位于最前一列的金属接点32对准该橡胶压条14,便可继续使用该多列式接点薄膜探针100对该电子装置200进行测试,借此,不仅能够大幅提升该多列式接点薄膜探针100的使用寿命,且可有效改善现有薄膜探针于其中一金属接点损毁便需整块更换的缺点,而使该多列式接点薄膜探针100能够达到节省成本与环保的目的。
值得一提的是,使用者也可直接调整设有该探针单元30的该软性电路板20位于该测试压块10上的位置,使另外一列金属接点32对准该橡胶压条14,以供对该电子装置200进行测试,而不用对设有该探针单元30的该软性电路板20进行裁切动作。
请再同时参阅图7以及图8所示,其揭露本实用新型的另一较佳实施例,该多列式接点薄膜探针100与前述较佳实施例不同之处在于,该探针单元30的金属接点32交错排列于该导线31上,且该软性电路板20上仅设有一对固定孔21,该固定孔21形成圆形,而该测试压块10上则设有对应的两对锁孔15,借此,能够对设有该探针单元30的该软性电路板20装设位置进行优化,让用户只要将该固定孔21对准该锁孔15便可准确的将设有该探针单元30的该软性电路板20装设于该测试压块10上,同时在该多列式接点薄膜探针100因为金属接点32发生损坏而需要调整位置时,用户也只要将设有该探针单元30的该软性电路板20往前锁设于该测试压块10的另一对锁孔15,便可完成装设作业,从而能够达到简化装设程序的效果。
请再同时参阅图9以及图10所示,其揭露本实用新型的又一较佳实施例,该多列式接点薄膜探针与前述较佳实施例不同之处在于,该软性电路板20上还进一步设有至少一标记部23,可供辅助使用者准确的对设有该探针单元30的该软性电路板20进行裁切者,于本实施例中,该软性电路板20上设有一个标记部23,且该标记部23为一以假想线表示的标线,此外设有该探针单元30的该软性电路板20还可装设于一个一体式测试压块40上,该一体式测试压块40主要具有一本体41,且该本体41的一侧一体成型有一压头42,该压头42上设有一橡胶压条43,同时该本体41上还设有一对定位销44以及一对锁孔45,借此,使用者只要通过一螺栓46将设有该探针单元30的该软性电路板20锁设于该一体式测试压块40上,便可对该电子装置进行测试,而能够达到与前述较佳实施例相同的效果。
以上所述实施例仅是为充分说明本实用新型而所举的较佳的实施例,本实用新型的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本实用新型基础上所作的等同替代或变换,均在本实用新型的保护范围之内。本实用新型的保护范围以权利要求书为准。
Claims (9)
1.一种多列式接点薄膜探针,其特征在于,包含有:
一测试压块,其具有一本体,且该本体的前端设有一压头,该压头上采用一体灌注方式形成有一橡胶压条,该本体上还设有至少一锁孔;
一软性电路板,其装设于该测试压块上,且该软性电路板上设有至少一固定孔,而该固定孔与该锁孔对应设置;
一探针单元,其具有多条间隔设置于该软性电路板上的导线,且每一条导线上各设有至少两个金属接点,所有金属接点排列成至少两列。
2.根据权利要求1所述的多列式接点薄膜探针,其特征在于,多条导线平行设置于该软性电路板上。
3.根据权利要求1所述的多列式接点薄膜探针,其特征在于,该所有金属接点平行排列于该导线上。
4.根据权利要求1所述的多列式接点薄膜探针,其特征在于,该所有金属接点交错排列于该导线上。
5.根据权利要求1所述的多列式接点薄膜探针,其特征在于,该固定孔为长条形固定孔。
6.根据权利要求1所述的多列式接点薄膜探针,其特征在于,该本体上还设有至少一定位销,且该软性电路板上设有至少一定位孔,该定位孔与该定位销对应设置。
7.根据权利要求6所述的多列式接点薄膜探针,其特征在于,该定位孔为长条形定位孔。
8.根据权利要求1所述的多列式接点薄膜探针,其特征在于,该软性电路板上还设有至少一标记部。
9.根据权利要求8所述的多列式接点薄膜探针,其特征在于,该标记部为一标线。
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