CN203324383U - 一种用于微波模块的连接测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种用于微波模块的连接测试装置，包括连接器金属测试围框，于连接器金属测试围框内对称装置液晶聚合物介质，位于连接器金属测试围框的两端通过紧固件对称连接金属测试法兰，各金属测试法兰通过紧固件连接测试接头。本实用新型结构简单、安装简单方便，不仅实现微波信号小驻波、低损耗的垂直可靠互连，还能实现小型化微波模块的3D低频信号、直流供电的可靠互连，有效的实现了微波信号的垂直可靠互连，以及微波模块的低成本及小型化。

Description

一种用于微波模块的连接测试装置

技术领域

本实用新型涉及微波信号传输领域，尤其涉及一种用于小型化片式微波模块中高频信号的垂直互连、低频信号或直流供电的垂直互连的微波模块的连接测试装置。

背景技术

    随着通信、广播、雷达系统等现代电子技术的不断发展，对电路模块的体积、重量、成本等方面设定了较为严格标准及要求。微波模块实现高性能和小型化的主要制约因素已不再是元器件本身，而是组装与封装形式。从20世纪90年代开始，在表面安装技术（SMT）的基础上，发展了新一代以多芯片组件（MCM）为代表的微组装技术。而现在，基于MMIC及各种超大规模数模集成电路的3D互连技术及高性能组装正在发展起来。目前，在小型化3D微波垂直互连实际的应用中，尤其是在振动要求较高的环境下，传统同轴刚性连接的接地可靠性无法保证，并且还会引入额外的调制噪声，因此微波模块的小型化、低成本就变得越来越重要。

实用新型内容

本申请人针对上述现有问题，进行了研究改进，提供一种用于微波模块的连接测试装置，有效的实现了微波信号的垂直可靠互连，以及微波模块的低成本及小型化。

本实用新型所采用的技术方案如下：

一种用于微波模块的连接测试装置，包括连接器金属测试围框，于连接器金属测试围框内对称装置液晶聚合物介质，位于连接器金属测试围框的两端通过紧固件对称连接金属测试法兰，各金属测试法兰通过紧固件连接测试接头。

其进一步技术方案在于：

液晶聚合物介质为“十”字形，微波信号走线与纤维纽扣贯穿装置于所述液晶聚合物介质，于所述微波信号走线与纤维纽扣的两端配合连接刚性触头；

微波信号走线位于两条纤维纽扣之间；

测试接头为SMA型测试接头，测试接头贯穿安装于连接法兰上；

连接器金属测试围框及金属测试法兰上均开有供紧固件安装的螺纹安装孔；

连接器金属测试围框及金属测试法兰均为矩形。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型结构简单、安装简单方便，不仅实现微波信号小驻波、低损耗的垂直可靠互连，还能实现小型化微波模块的3D低频信号、直流供电的可靠互连，有效的实现了微波信号的垂直可靠互连，以及微波模块的低成本及小型化。

附图说明

图1为本实用新型的立体结构示意图。

    图2为本实用新型中液晶聚合物介质的俯视图。

图3为液晶聚合物介质的主视图。

具体实施方式

下面结合附图，说明本实用新型的具体实施方式。

如图1所示，本实用新型包括连接器金属测试围框5，于连接器金属测试围框5内对称装置液晶聚合物介质6，液晶聚合物介质6为“十”字形，液晶聚合物介质6在微波频段介电常数低、损耗小，较常规聚四氟乙烯介质强度大、吸湿率低。如图2、图3所示，在液晶聚合物介质6内开有三条穿孔602，微波信号走线603与纤维纽扣604贯穿装置于液晶聚合物介质6，微波信号走线603位于两条纤维纽扣604之间。于微波信号走线603与纤维纽扣604的两端配合连接刚性触头601，微波信号走线603与限位纽扣604构成了微波信号的传输线，纤维纽扣604具有一定的伸缩量，保证振动条件下互连刚性触头601的可靠接触，装置有微波信号走线603及纤维纽扣604的液晶聚合物介质6形成微波模块的连接器。位于连接器金属测试围框5的两端通过紧固件2对称连接金属测试法兰4，各金属测试法兰4通过紧固件2连接测试接头1，测试接头1为SMA型测试接头，测试接头1贯穿安装于连接法兰3上。在金属测试法兰4上开有供紧固件2安装的第一螺纹孔401及供液晶聚合物介质6贯穿的安装孔402，安装孔402用于微波信号传输，安装孔402的直径小于。在连接器金属测试围框5上还开有供金属测试法兰4上紧固件安装的第二螺纹孔501，及供连接法兰3上的紧固件2安装的第三螺纹孔502，所述第二螺纹孔501与第一螺纹孔401相对应。连接器金属测试围框5及金属测试法兰4均为矩形。

本实用新型的具体工作过程如下：

将测试接头1的微波触头101与液晶聚合物介质6上的微波信号走线603的刚性触头601相接触，变可以进行测试校准，实际测试出的0.7mm连接器（该连接器指装置有微波信号走线及纤维纽扣的液晶聚合物介质）在X波段及以下频段的插入损耗小于0.2dB，驻波小于1.5，满足使用要求。将连接器金属测试围框5的体积缩小，并将多个连接器（该连接器指装置有微波信号走线及纤维纽扣的液晶聚合物介质）嵌入在其中，就构成了微波信号、低频信号、直流供电的多重互连结构。

以上描述是对本实用新型的解释，不是对实用新型的限定，本实用新型所限定的范围参见权利要求，在不违背本实用新型的基本结构的情况下，本实用新型可以作任何形式的修改。

Claims (6)

1.一种用于微波模块的连接测试装置，其特征在于：包括连接器金属测试围框（5），于所述连接器金属测试围框（5）内对称装置液晶聚合物介质（6），位于所述连接器金属测试围框（5）的两端通过紧固件（2）对称连接金属测试法兰（4)，各金属测试法兰（4）通过紧固件(2)连接测试接头（1）。

2.如权利要求1所述的一种用于微波模块的连接测试装置，其特征在于：所述液晶聚合物介质（6）为“十”字形，微波信号走线（603）与纤维纽扣（604）贯穿装置于所述液晶聚合物介质（6），于所述微波信号走线（603）与纤维纽扣（604）的两端配合连接刚性触头（601）。

3.如权利要求2所述的一种用于微波模块的连接测试装置，其特征在于：所述微波信号走线（603）位于两条纤维纽扣（604）之间。

4.如权利要求1所述的一种用于微波模块的连接测试装置，其特征在于：所述测试接头（1）为SMA型测试接头，所述测试接头（1）贯穿安装于连接法兰（3）上。

5.如权利要求1所述的一种用于微波模块的连接测试装置，其特征在于：所述连接器金属测试围框（5）及金属测试法兰（4）上均开有供紧固件（2）安装的螺纹安装孔。

6.如权利要求1所述的一种用于微波模块的连接测试装置，其特征在于：所述连接器金属测试围框（5）及金属测试法兰（4）均为矩形。

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