CN203178182U - 光电分析装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种光电分析装置，所述光电分析装置包括光源、探测器及分析单元，所述光源包括钨灯和氘灯，进一步包括：比色皿设置在所述光源和探测器之间的光路上；分光器件设置在所述比色皿和探测器之间的光路上；第一光纤设置在所述钨灯和比色皿之间；第二光纤设置在所述氘灯和比色皿之间；光开关用于使钨灯发出的通过第一光纤传输的第一测量光和氘灯发出的通过第二光纤传输的第二测量光选择性地通过所述比色皿；控制单元用于控制所述光开关。本实用新型具有结构简单、成本低、可靠性好等优点。

Description

光电分析装置

技术领域

本实用新型涉及光电分析，特别涉及具有两个光源的光电分析装置。

背景技术

光谱分析技术作为一种快速、准确的技术，在液体、气体分析中得到了广泛的应用。光谱分析技术的基本原理是：待测流体进入流通池内，光源发出的测量光射进所述流通池内的待测流体，探测器将接收到的与所述待测流体作用后的测量光转换为电信号，并送分析单元；所述分析单元分析待测流体对测量光的影响，如吸收、折射、散射等，从而获知待测流体的信息，如浓度。

氘灯和钨灯是光谱式分析仪器中必须使用的两个光源，选用Heraeus公司生产氘灯产生光源的波长范围为200nm～400nm，选用OSRAM公司生产的钨灯产生光源的波长范围为340nm～1000nm。在传统的分析仪器中，在使用这两种光源的时候，是通过使用机械和电机，通过切换凹面聚焦反光镜的角度，来选择光源。通过传统的氘、钨灯组合方式，在需要进行全波段扫描时，需先设定凹面聚焦反光镜的角度，选择钨灯，并关闭氘灯，进行能量扫描完成后，通过电机转动凹面聚焦反光镜，使其选择氘灯，并关闭钨灯，进行能量扫描。该技术方案具有诸多不足，如：

1、在换时有等待时间，且操作复杂。

2、由于此种组合方式是通过电机和机械来切换凹面聚焦反光镜，在生产和装配时需要进行角度的精确调整，若因运输或装配等原因导致角度不精确，直接导致检测的信号噪声大，检测精度低。

3、使用运动部件，成本高、可靠性差。

实用新型内容

为了解决上述现有技术方案中的不足，本实用新型提供了一种结构简单、成本低、可靠性好的光电分析装置。

本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的：

一种光电分析装置，所述光电分析装置包括光源、探测器及分析单元；所述光源包括钨灯和氘灯，所述光电分析装置进一步包括：

比色皿，所述比色皿设置在所述光源和探测器之间的光路上；

分光器件，所述分光器件设置在所述比色皿和探测器之间的光路上；

第一光纤，所述第一光纤设置在所述钨灯和比色皿之间；

第二光纤，所述第二光纤设置在所述氘灯和比色皿之间；

光开关，所述光开关用于使钨灯发出的通过第一光纤传输的第一测量光和氘灯发出的通过第二光纤传输的第二测量光选择性地通过所述比色皿；

控制单元，所述控制单元用于控制所述光开关。

根据上述的光电分析装置，优选地，所述第一光纤和第二光纤的尾端并在一起。

根据上述的光电分析装置，可选地，并在一起的第一光纤和第二光纤的尾端和比色皿之间设有会聚器件。

根据上述的光电分析装置，可选地，所述比色皿和分光器件之间设有会聚器件。

根据上述的光电分析装置，优选地，所述第一光纤和/或第二光纤至少为2根。

根据上述的光电分析装置，可选地，所述光开关包括：

第一光开关，所述第一光开关设置在所述第一光纤上；

第二光开关，所述第二光开关设置在所述第二光纤上。

根据上述的光电分析装置，优选地，所述第一光纤和第二光纤采用紫外光纤。

与现有技术相比，本实用新型具有的有益效果为：

1、光路切换极快，操作简单。

2、可无需运动部件，光路调节容易，检测精度高。

3、可无需运动部件，成本低、可靠性好。

附图说明

参照附图，本实用新型的公开内容将变得更易理解。本领域技术人员容易理解的是：这些附图仅仅用于举例说明本实用新型的技术方案，而并非意在对本实用新型的保护范围构成限制。图中：

图1是根据本实用新型实施例1的光电分析装置简图。

具体实施方式

图1和以下说明描述了本实用新型的可选实施方式以教导本领域技术人员如何实施和再现本实用新型。为了教导本实用新型技术方案，已简化或省略了一些常规方面。本领域技术人员应该理解源自这些实施方式的变型或替换将在本实用新型的范围内。本领域技术人员应该理解下述特征能够以各种方式组合以形成本实用新型的多个变型。由此，本实用新型并不局限于下述可选实施方式，而仅由权利要求和它们的等同物限定。

实施例1：

图1示意性地给出了本实用新型实施例的光电分析装置的剖视图，如图1所示，所述光电分析装置包括：

光源，所述光源包括钨灯1和氘灯2，所述钨灯1和氘灯2是本领域的现有技术，在此不再赘述。

探测器，所述探测器采用光电传感器，如阵列式的CCD、CMOS等；

比色皿5，所述比色皿5设置在所述光源和探测器之间的光路上；

分光器件，所述分光器件设置在所述比色皿和探测器之间的光路上，可采用光栅、棱镜等分光器件；上述分光器件和探测器集成在光谱仪7中；

第一光纤8，所述第一光纤设置在所述钨灯1和比色皿5之间；

第二光纤9，所述第二光纤9设置在所述氘灯2和比色皿5之间；所述第一光纤8和第二光纤9均采用紫外光纤，且尾端并在一起。

光开关3，所述光开关3用于使钨灯1发出的通过第一光纤8传输的第一测量光和氘灯2发出的通过第二光纤9传输的第二测量光选择性地通过所述比色皿5；

控制单元(未示出)，所述控制单元用于控制所述光开关，具体采用控制电路来实现控制功能。

为了将射进比色皿的光转换为平行光，可选地，并在一起的第一光纤和第二光纤的尾端和比色皿之间设有会聚器件，如平-凸透镜，凸面对着比色皿。

为了会聚射出比色皿的光，可选地，所述比色皿和分光器件之间设有会聚器件，如平-凸透镜，凸面对着比色皿。

实施例2：

本实用新型实施例的光电分析装置，所述光电分析装置包括：

光源，所述光源包括钨灯和氘灯，所述钨灯和氘灯是本领域的现有技术，在此不再赘述。

探测器，所述探测器采用光电传感器，如阵列式的CCD、CMOS等；

比色皿，所述比色皿设置在所述光源和探测器之间的光路上；

分光器件，所述分光器件设置在所述比色皿和探测器之间的光路上，可采用光栅、棱镜等分光器件；上述分光器件和探测器集成在光谱仪中；

第一光纤，所述第一光纤设置在所述钨灯和比色皿之间；所述第一光纤的数量至少为2根，如10根扎在一起；

第二光纤，所述第二光纤设置在所述氘灯和比色皿之间；所述第二光纤的数量至少为2根，如10根扎在一起；所述第一光纤和第二光纤均采用紫外光纤，且尾端并在一起。

光开关，所述光开关用于使钨灯发出的通过第一光纤传输的第一测量光和氘灯发出的通过第二光纤传输的第二测量光选择性地通过所述比色皿；所述光开关包括：

第一光开关，所述第一光开关设置在所述第一光纤上；

第二光开关，所述第二光开关设置在所述第二光纤上。

控制单元(未示出)，所述控制单元用于控制所述光开关，具体采用控制电路来实现控制功能。

为了将射进比色皿的光转换为平行光，可选地，并在一起的第一光纤和第二光纤的尾端和比色皿之间设有会聚器件，如平-凸透镜，凸面对着比色皿。

为了会聚射出比色皿的光，所述比色皿和分光器件之间设有会聚器件，如平-凸透镜，凸面对着比色皿。

Claims (7)

1.一种光电分析装置，所述光电分析装置包括光源、探测器及分析单元，其特征在于：所述光源包括钨灯和氘灯，所述光电分析装置进一步包括：

比色皿，所述比色皿设置在所述光源和探测器之间的光路上；

分光器件，所述分光器件设置在所述比色皿和探测器之间的光路上；

第一光纤，所述第一光纤设置在所述钨灯和比色皿之间；

第二光纤，所述第二光纤设置在所述氘灯和比色皿之间；

光开关，所述光开关用于使钨灯发出的通过第一光纤传输的第一测量光和氘灯发出的通过第二光纤传输的第二测量光选择性地通过所述比色皿；

控制单元，所述控制单元用于控制所述光开关。

2.根据权利要求1所述的光电分析装置，其特征在于：所述第一光纤和第二光纤的尾端并在一起。

3.根据权利要求2所述的光电分析装置，其特征在于：并在一起的第一光纤和第二光纤的尾端和比色皿之间设有会聚器件。

4.根据权利要求1所述的光电分析装置，其特征在于：所述比色皿和分光器件之间设有会聚器件。

5.根据权利要求1所述的光电分析装置，其特征在于：所述第一光纤和/或第二光纤至少为2根。

6.根据权利要求1所述的光电分析装置，其特征在于：所述光开关包括：

第一光开关，所述第一光开关设置在所述第一光纤上；

第二光开关，所述第二光开关设置在所述第二光纤上。

7.根据权利要求1所述的光电分析装置，其特征在于：所述第一光纤和第二光纤采用紫外光纤。

Images