CN202994048U - 一种奇数齿或花键大径的测量设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种奇数齿或花键大径的测量设备,该设备包括主尺部件以及测量部件，所述测量部件包括外测量端和内测量端，所述外测量端或内测量端设置为带有一定凹陷角度的测量端，所述一定凹陷角度为180°-360°/Z，其中，Z为奇数齿的齿数。本实用新型能够解决各种规格奇数齿轮、花键的大径在生产现场的快速测量的问题，具有生产成本低、方便快捷等优点，极其适于生产应用。

Description

一种奇数齿或花键大径的测量设备

技术领域

本实用新型涉及一种用于测量待测量的奇数齿轮或花键大径的测量方法的相应的测量设备。

背景技术

三坐标即三坐标测量机，是指在三维可测的空间范围内，能够根据测头系统返回的点数据，通过三坐标的软件系统计算各类几何形状、尺寸等测量能力的仪器，又称为三坐标测量仪或三坐标量床。

现在各行业中对奇数齿轮大径的测量，由于无法使用通用量具如游标卡尺、外径千分尺等进行测量，一般需采用三座标测量，而三座标需在专门的场所，且测量效率低、成本较高，从而直接影响了现场的生产。

实用新型内容

鉴于上述现有技术存在的问题，提出了本实用新型。

本实用新型要解决的技术问题是，如何利用奇数齿或花键大径的测量方法对现有测量工具进行改进的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了如下技术方案：一种依照奇数齿或花键大径的测量方法的测量设备，包括主尺部件以及测量部件，所述测量部件包括外测量端和内测量端，所述外测量端或内测量端设置为带有一定凹陷角度的测量端，所述一定凹陷角度为180°-360°/Z，其中，Z为奇数齿的齿数。

作为本实用新型所述测量设备一种优选方案，其中：所述主尺部件的刻度根据

进行设定，其中，α为180°/Z，Z为奇数齿的齿数。

作为本实用新型所述测量设备的一种优选方案，其中：所述主尺部件为游标卡尺结构。

作为本实用新型所述测量设备的一种优选方案，其中：所述游标卡尺结构为数显卡尺结构。

作为本实用新型所述测量设备的一种优选方案，其中：所述主尺部件为外径千分尺结构。

作为本实用新型所述测量设备的一种优选方案，其中：所述外径千分尺结构为数显卡尺结构。

作为本实用新型所述测量设备一种优选方案，其中：所述主尺部件的螺距根据

进行设定，其中，α为180°/Z，Z为奇数齿的齿数。

本实用新型是利用三角函数关系解决奇数齿或奇数花键的大径的直接测量的方法，利用此方法可以制造的游标卡尺结构，此游标卡尺中的刻度可以是标准刻度，也可以是表中1/Δ数值为刻度进行制造,从而可以直接进行测量，此游标卡尺结构可以是但不限于此结构，还可以是数显卡尺结构；利用此方法还可以制造外径千分尺结构，此外径千分尺中的螺距可以是标准螺距，也可以是表中1/Δ数值为螺距进行制造,从而可以直接进行测量，此外径千分尺结构可以是但不限于此结构，还可以是数显结构。本实用新型能够解决各种规格奇数齿轮、花键的大径在生产现场的快速测量的问题，具有生产成本低、方便快捷等优点，极其适于生产应用。

附图说明

图1是本实用新型所述测量方法的数据关系示意图。

图2是本实用新型所述测量设备的一个实施例的示意图。

图3是本实用新型所述测量设备的另一个实施例的示意图。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

图中，主尺部件1、测量部件2以及外测量端2a和内测量端2b。

如图1所示，该奇数齿或花键大径的测量方法，利用三角函数关系对奇数齿或花键大径进行三点测量，具体关系如下：

角度β：β=180°-360°/Z（其中Z为奇数齿的齿数）；

α=180/Z

h为测量值

a=h*cosα

因为tgα=b/a，所以b=h*cosα*tgα

因为tgα/2=c/a，所以c=h*cosα*tgα/2

因为tgα=(b-c)/r，所得到r=(h*cosα*tgα-h*cosα*tgα/2)/tgα，即r=h*cosα(tgα-tgα/2)/tgα，即φD=2r=2h*cosα(tgα-tgα/2)/tgα

由此，h值：

$h=\frac{r*\mathrm{tg\α}}{\cos \mathrm{\α}(\mathrm{tg\α}-\mathrm{tg}\frac{\mathrm{\α}}{2})};$

其中2cosα(tgα-tgα/2)/tgα可以作为与齿数关联的常用系数（如用Δ表示），从而推算出不同齿数的常数Δ及1/Δ。如下表

如图2所示，在该实施例中，其中的主尺部件1为游标卡尺结构，此游标卡尺中的刻度可以是标准刻度，也可以是表中1/Δ数值为刻度进行制造,从而可以直接进行测量，此游标卡尺结构可以是但不限于此结构，还可以是数显卡尺结构。

该实施例中，内测量端2b向内凹陷呈β角度，β=180°-360°/Z，使用时，将外测量端2a抵触齿轮的顶端，而相对应的两个齿轮抵触内测量端2b，此时，如果游标卡尺中的刻度是标准刻度，则按照

进行测量获得奇数齿或花键的大径；如果按照1/Δ数值为刻度进行制造，则可以直接读数获得奇数齿或花键的大径。

如图3所示，在这一实施例中，其中的主尺部件1为外径千分尺结构，此外径千分尺中的螺距可以是标准螺距，也可以是表中1/Δ数值为螺距进行制造,从而可以直接进行测量，此外径千分尺结构可以是但不限于此结构，还可以是数显结构。

该这一实施例中，外测量端2a向内凹陷呈β角度，β=180°-360°/Z，使用时，将内测量端2b抵触齿轮的顶端，而相对应的两个齿轮抵触外测量端2a，此时，如果外径千分尺中的螺距是标准螺距，则按照

进行测量获得奇数齿或花键的大径；如果按照1/Δ数值为刻度进行制造，则可以直接读数获得奇数齿或花键的大径。

应说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。

Claims (7)

1.一种奇数齿或花键大径的测量设备，包括主尺部件以及测量部件，所述测量部件包括外测量端和内测量端，其特征在于：所述外测量端或内测量端设置为带有一定凹陷角度的测量端，所述一定凹陷角度为180°-360°/Z，其中，Z为奇数齿的齿数。

2.如权利要求1所述的测量设备，其特征在于：所述主尺部件的刻度根据

进行设定，其中，α为180°/Z，Z为奇数齿的齿数。

3.如权利要求1所述的测量设备，其特征在于：所述主尺部件为游标卡尺结构。

4.如权利要求3所述的测量设备，其特征在于：所述游标卡尺结构为数显卡尺结构。

5.如权利要求1所述的测量设备，其特征在于：所述主尺部件为外径千分尺结构。

6.如权利要求5所述的测量设备，其特征在于：所述外径千分尺结构为数显卡尺结构。

7.如权利要求5所述的测量设备，其特征在于：所述主尺部件的螺距根据

进行设定，其中，α为180°/Z，Z为奇数齿的齿数。

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