CN202956485U - 校表检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种校表检测装置，其包括电源、标准源脉冲测试口以及设置在所述电源和所述标准源脉冲测试口之间的光耦合器，所述光耦合器上设置有两个输入口和两个输出口，所述两个输入口分别与电表和所述电源相连，所述两个输出口分别与所述标准源脉冲测试口的两个输入端相连，从而所述校表检测装置可对单路电表的脉冲数进行校准；而若在所述电源和所述标准源脉冲测试口之间设置有对应多个电表的若干个并联设置的所述光耦合器，则所述校表检测装置还可对多路电表的脉冲数进行检测、校准。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测装置，尤其涉及一种对电表脉冲数进行检测、校准的校表检测装置。
背景技术
智能电表在出厂时，需要对精准度进行检测以确认是否符合标准精准度的要求。通常精准度的校准是通过对电表脉冲数的校准来使电表运行满足规定的误差要求。而在校表时，首先需要检测电表的脉冲数，然后计算该脉冲数与标准源的脉冲数之间的误差，接着按照设定好的算式将该差值转换成修正值并写入计量芯片，最后计量芯片再根据修正值计量电能并输出。但现有的校准装置不仅结构复杂、不易操作，同时还不能对多路电表进行校准检测，用途比较单一。
有鉴于此，有必要对现有的校准装置予以改进，以解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种新型的校表检测装置，该校表检测装置不仅结构简单、易操作，同时还能对多路电表进行校准检测。
为实现上述目的，本实用新型提供了一种校表检测装置，用以对单路电表的脉冲数进行校准，所述校表检测装置包括电源、标准源脉冲测试口以及设置在所述电源和所述标准源脉冲测试口之间的光耦合器，所述光耦合器上设置有两个输入口和两个输出口，所述两个输入口分别与电表和所述电源相连，所述两个输出口分别与所述标准源脉冲测试口的两个输入端相连。
作为本实用新型的进一步改进，所述电源与所述光耦合器之间还连接有用以限制所连支路中电流大小的电阻。
作为本实用新型的进一步改进，所述光耦合器的一个输入口与所述电阻相连，另一个输入口与所述电表的有功脉冲相连。
作为本实用新型的进一步改进，所述电表的有功脉冲处于高电平时，所述光耦合器断开，无输出；所述电表的有功脉冲处于低电平时，所述光耦合器闭合，有输出。
作为本实用新型的进一步改进，所述电源为5V。
为实现上述目的，本实用新型还提供了一种校表检测装置，用以对多路电表的脉冲数进行校准，所述校表检测装置包括共用电源、标准源脉冲测试口以及设置在所述共用电源和所述标准源脉冲测试口之间的若干并联设置的光耦合器，每个所述光耦合器均包括两个输入口和两个输出口，其中一个所述输入口与所述共用电源相连、另一个所述输入口与对应的电表相连，所述两个输出口用以在对相应的所述电表进行脉冲数校准时连接到所述标准源脉冲测试口的两个输入端上。
作为本实用新型的进一步改进，所述共用电源为5V。
作为本实用新型的进一步改进，所述共用电源与每个所述光耦合器之间都连接有用以限制所连支路中电流大小的电阻。
作为本实用新型的进一步改进，每个所述光耦合器的一个输入口与所述电阻相连，另一个输入口与相应每个电表的有功脉冲相连。
作为本实用新型的进一步改进，所述电表的有功脉冲处于高电平时，所述光耦合器断开，无输出；所述电表的有功脉冲处于低电平时，所述光耦合器闭合，有输出。
本实用新型的有益效果是：本实用新型的校表检测装置设置有电源、标准源脉冲测试口以及设置在所述电源和所述标准源脉冲测试口之间的光耦合器，所述光耦合器上设置有两个输入口和两个输出口，所述两个输入口分别与电表和所述电源相连，所述两个输出口分别与所述标准源脉冲测试口的两个输入端相连，从而所述校表检测装置可对单路电表的脉冲数进行校准；若在所述电源和所述标准源脉冲测试口之间并联有若干个所述光耦合器，且每个所述光耦合器的其中一个输入口与电源相连、另一个输入口与对应的电表相连，两个输出口在对相应的电表进行脉冲数校准时连接到所述标准源脉冲测试口的两个输入端上，从而可实现对多路电表脉冲数的检测、校准。
附图说明
图1是本实用新型的校表检测装置对单路电表进行校准的电路原理图。
图2是本实用新型的校表检测装置对多路电表进行校准的电路原理图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细描述。
如图1所示，本实用新型的校表检测装置用以对单路电表（未图示）的脉冲数进行校准。所述校表检测装置包括电源（VCC）10、标准源脉冲测试口30以及设置在所述电源10和所述标准源脉冲测试口30之间的光耦合器20。本实施方式中，所述电源10为电表的5V电源，所述光耦合器20的型号为NEC2501。
所述光耦合器20上设置有两个输入口和两个输出口。所述两个输入口包括与所述电源10相连的第一输入口21和与电表相连的第二输入口22。所述两个输出口包括输出正测试信号（P1+）的第一输出口23和输出负测试信号（P1-）的第二输出口24，且所述第一输出口23和所述第二输出口24分别与所述标准源脉冲测试口30的两个输入端相连，从而可通过所述正测试信号（P1+）和所述负测试信号（P1-）来计算所述电表的脉冲数。
所述电源10与所述光耦合器20之间还连接有用以限制所连支路中电流大小的电阻40，所述电阻40设置于所述电表内。从而，进一步地，所述第一输入口21与所述电阻40相连，所述第二输入口22与所述电表的有功脉冲（CF1）相连以通过所述光耦合器20对所述电表的脉冲数进行光电转换。本实施方式中，所述电表的有功脉冲的实际输入是高低电平，且在所述电表的有功脉冲处于高电平时，所述光耦合器20断开，从而无输出；所述电表的有功脉冲处于低电平时，所述光耦合器20闭合，从而有输出。
电表脉冲数的校准原理为：首先检测电表的脉冲数，然后计算该脉冲数与标准源的脉冲数之间的误差，接着按照设定好的算式将该差值转换成修正值并写入计量芯片，最后计量芯片再根据修正值计量电能并输出。
在对电表的脉冲数进行测试时，从所述第一输入口21和所述第二输入口22引出两根线（可以以pin针的方式体现）并分别连接到所述电源10和所述电表的有功脉冲，从所述第一输出口23和所述第二输出口24引出两根线（也可以以pin针的方式体现）并分别连接到所述标准源脉冲测试口30的两个输入端，从而所述电表的脉冲数即可通过所述光耦合器20转换成相应的正负测试信号（P1+、P1-）并传送至所述标准源脉冲测试口30，以在所述标准源脉冲测试口30内进一步完成检测和校准。
如图2并结合图1所示，本实用新型的校表检测装置还可用于对多路电表的脉冲数进行校准。图2所示的多路电表校准原理图与图1所示的单路电表校准原理图基本相同，两者之间的区别仅在于：图2所示的多路电表校准原理图在所述电源10和所述标准源脉冲测试口30之间设置有若干个并联设置的所述光耦合器20。本说明书以三路电表（未图示）为例，来举例说明本实用新型的校表检测装置对多路电表脉冲数进行校准的方式。
所述电源10共用电表5V电源，所述标准源脉冲测试口30也共用一个，三个所述光耦合器分别对应三路电表设置，且所述电源10与每个所述光耦合器之间都连接有用以限制所连支路中电流大小的电阻40。三个所述光耦合器分别包括与第一电表相连的第一光耦合器20、与第二电表相连的第二光耦合器20′及与第三电表相连的第三光耦合器20〞。
所述第一光耦合器20的第一输入口21与所述电阻40相连、第二输入口22与所述第一电表的有功脉冲（CF1）相连，从所述第一光耦合器20的第一输出口23和第二输出口24向外引出两根线（可以以pin针的方式体现），以在对所述第一电表进行脉冲数校准时连接到所述标准源脉冲测试口30的两个输入端上，从而对经所述第一光耦合器20转换变成的正负测试信号（P1+、P1-）进行校准。
所述第二光耦合器20′的第一输入口21′与所述电阻40相连、第二输入口22′与所述第二电表的有功脉冲（CF2）相连，从所述第二光耦合器20′的第一输出口23′和第二输出口24′向外引出两根线（可以以pin针的方式体现），以在对所述第二电表进行脉冲数校准时连接到所述标准源脉冲测试口30的两个输入端上，从而对经所述第二光耦合器20′转换变成的正负测试信号（P2+、P2-）进行校准。
所述第三光耦合器20〞的第一输入口21〞与所述电阻40相连、第二输入口22〞与所述第三电表的有功脉冲（CF3）相连，从所述第三光耦合器20〞的第一输出口23〞和第二输出口24〞向外引出两根线（可以以pin针的方式体现），以在对所述第三电表进行脉冲数校准时连接到所述标准源脉冲测试口30的两个输入端上，从而对经所述第三光耦合器20〞转换变成的正负测试信号（P3+、P3-）进行校准。
在对多路电表进行校准时，先将三个光耦合器20、20′、20〞的第一输入口21、21′、21〞与所述电阻40相连、第二输入口22、22′、22〞分别与三路电表的有功脉冲CF1、CF2、CF3相连、从第一输出口23、23′、23〞和第二输出口24、24′、24〞分别向外引出两根线，从而在对第一电表进行校准时，只需将所述第一光耦合器20的第一输出口23和第二输出口24的两根线连接到所述标准源脉冲测试口30的两个输入端即可，而在对第二电表进行校准时，只需断开所述第一光耦合器20与所述标准源脉冲测试口30的连接，改将所述第二光耦合器20′的第一输出口23′和第二输出口24′的两根线连接到所述标准源脉冲测试口30的两个输入端即可，依次类推。
综上所述，本实用新型的校表检测装置通过设置有电源10、标准源脉冲测试口30以及设置在所述电源10和所述标准源脉冲测试口30之间的光耦合器20，从而所述电表的脉冲数可经过所述光耦合器20的光电转换变成正负测试信号并传送至所述标准源脉冲测试口30以进行检测、校准；若在所述电源10和所述标准源脉冲测试口30之间设置有若干个并联设置的所述光耦合器20，则本实用新型的校表检测装置不仅可对单路电表的脉冲数进行校准，还可对多路电表的脉冲数进行检测、校准，结构简单、方便校表。
以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种校表检测装置，用以对单路电表的脉冲数进行校准，其特征在于：所述校表检测装置包括电源、标准源脉冲测试口以及设置在所述电源和所述标准源脉冲测试口之间的光耦合器，所述光耦合器上设置有两个输入口和两个输出口，所述两个输入口分别与电表和所述电源相连，所述两个输出口分别与所述标准源脉冲测试口的两个输入端相连。
2.根据权利要求1所述的校表检测装置，其特征在于：所述电源与所述光耦合器之间还连接有用以限制所连支路中电流大小的电阻。
3.根据权利要求2所述的校表检测装置，其特征在于：所述光耦合器的一个输入口与所述电阻相连，另一个输入口与所述电表的有功脉冲相连。
4.根据权利要求3所述的校表检测装置，其特征在于：所述电表的有功脉冲处于高电平时，所述光耦合器断开，无输出；所述电表的有功脉冲处于低电平时，所述光耦合器闭合，有输出。
5.根据权利要求1所述的校表检测装置，其特征在于：所述电源为5V。
6.一种校表检测装置，用以对多路电表的脉冲数进行校准，其特征在于：所述校表检测装置包括共用电源、标准源脉冲测试口以及设置在所述共用电源和所述标准源脉冲测试口之间的若干并联设置的光耦合器，每个所述光耦合器均包括两个输入口和两个输出口，其中一个所述输入口与所述共用电源相连、另一个所述输入口与对应的电表相连，所述两个输出口用以在对相应的所述电表进行脉冲数校准时连接到所述标准源脉冲测试口的两个输入端上。
7.根据权利要求6所述的校表检测装置，其特征在于：所述共用电源为5V。
8.根据权利要求6所述的校表检测装置，其特征在于：所述共用电源与每个所述光耦合器之间都连接有用以限制所连支路中电流大小的电阻。
9.根据权利要求8所述的校表检测装置，其特征在于：每个所述光耦合器的一个输入口与所述电阻相连，另一个输入口与相应每个电表的有功脉冲相连。
10.根据权利要求9所述的校表检测装置，其特征在于：所述电表的有功脉冲处于高电平时，所述光耦合器断开，无输出；所述电表的有功脉冲处于低电平时，所述光耦合器闭合，有输出。
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