CN202837198U - 一种太阳能晶硅电池片的测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种太阳能晶硅电池片的测试装置，放置于组件EL测试仪的暗室里，下底板为高透光钢化玻璃，在高透光钢化玻璃上安装有若干下探针导轨，下探针导轨上安装有下探针头，下探针头的位置与待测试晶硅电池片的栅线分布相对应，与下探针头相连接的引出线缆连接组件EL测试仪测试线的负极；所述上压板上安装有上探针导轨，上探针导轨上安装有上探针头，上探针头的位置与下探针头对应，与上探针头相连接的引出线缆连接组件EL测试仪测试线的正极。通过本实用新型可以使用普通的组件EL测试仪在晶硅电池片没有焊接之前就可以进行检测，满足企业对电池片来料的检验，并且操作简单，速度快，成本低廉。

Description

一种太阳能晶硅电池片的测试装置

技术领域

本发明涉及一种测试装置，尤其涉及利用电致发光原理对单个太阳能晶硅电池片进行测试的装置。

背景技术

太阳能光伏组件主要的生产过程是使用钢化玻璃、EVA胶膜、电池片、背板等材料经过高温固化后形成层压组件，在其四周安装铝边框提高其机械强度并用于户外安装。目前光伏组件使用的电池片平均厚度仅为180μm左右，在电池片生产过程中很多环节都有可能造成隐裂（隐裂指的是电池片出现肉眼无法察觉的裂缝），一旦隐裂的电池片被封装入电池组件内，会导致组件的使用寿命降低。组件生产车间通常会利用晶硅电池片电致发光的原理对组件进行检测，用以检验组件是否存在隐裂、裂片、断栅等不良，称为EL（Electroluminescence）测试，进行这种测试的仪器被称为组件EL测试仪。但是，这种普遍使用的测试方法及测试仪器只能针对已经焊接的电池片进行，而此时已无法明确的区分出现的隐裂是电池片来料缺陷或是焊接过程中造成，也就是说无法对隐裂电池片进行有效地来料控制，如果要检验未焊接的电池片是否存在隐裂等缺陷，需要另外购置专用的单片EL测试仪，此类测试仪市场价格大约在30-40万人民币，对于企业来说需要负担较高的成本，无法普及使用。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明提供一种可连接于组件EL测试仪的测试装置，采用这种装置，可以使用普通的组件EL测试仪在晶硅电池片没有焊接之前就可以进行检测，满足企业对电池片来料的检验，并且操作简单，速度快，成本低廉。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种单片EL测试装置，放置于组件EL测试仪的暗室里，包括下底板、上压板、高度限位框架、探针导轨和探针头。

所述下底板为高透光钢化玻璃，在高透光钢化玻璃上安装有若干下探针导轨，下探针导轨上安装有下探针头，下探针头的位置与待测试晶硅电池片的栅线分布相对应，与下探针头相连接的引出线缆连接组件EL测试仪测试线的的负极；所述上压板上安装有上探针导轨，上探针导轨上安装有上探针头，上探针头的位置与下探针头对应，与上探针头相连接的引出线缆连接组件EL测试仪测试线的正极；上压板和下底板在一侧铰接。

所述上探针导轨之间位置距离可调，上探针导轨可拆卸添加；所述上探针头数量、上探针头之间距离可调；所述下探针导轨之间位置距离可调，下探针导轨可拆卸添加；所述下探针头数量、下探针头之间距离可调。

所述上压板在边框上固定有锁扣装置及高度限位块，使上压板扣合后探针头与电池片能充分接触，且压力适中，避免由于压力过大造成电池片损伤。

所述上压板在边框上固定有把手。

所述下底板在边框上固定有上端限位块及侧面限位块，用以固定测试电池片的位置。

本发明的有益效果是：本发明可以安装在组件生产车间现有的组件EL测试仪上对一块电池片进行测试，观察其是否在尚未焊接的情况下即出现隐裂现象，可作为组件车间的电池片来料检验工具。其成本低廉，不需占用额外的空间，可满足不同规格电池片测试。使用时操作简单，使用寿命长。其作用可以完全等同于一台独立的单片EL测试仪。

附图说明

图1为本发明的结构示意图；

图2为本发明的侧视图；

图3为上压板的仰视图；

图4为下底板的俯视图；

图中：1-上压板；2-上压板把手；3-上压板探针导轨；4-探针头；5-下底板引出线缆；6-上压板引出线缆；7-上端限位块；8-下底板；9-钢化玻璃；10-下底板探针导轨；11-侧面限位块；12-高度限位框；13-锁扣装置。

具体实施方式

本发明提供一种单片EL测试装置，需加装于组件EL测试仪上。组件EL测试仪主要包括暗室及红外相机，单片EL测试装置放置于组件EL测试仪的暗室里，并与组件EL测试仪的电源正负极相连接。在通电后，单片EL测试装置可利用晶硅电池片电致发光的特性进行测试作业。

所述单片EL测试装置的特征是：一种单片EL测试装置，放置于组件EL测试仪的暗室里，包括下底板、上压板、上端限位块、侧面限位块、高度限位框架、锁扣装置、探针导轨、探针头和EL测试仪连接线。

所述下底板为高透光钢化玻璃，在高透光钢化玻璃上装有下探针导轨，探针导轨上分布着探针头，探针导轨可按照测试晶硅电池片栅线数量、栅线间距离进行调整，探针头数量级分布密度可根据测试晶硅电池片栅线情况进行调整。在下底板后侧有与探针头相连接的引出线缆，用以连接组件EL测试仪测试线的的负极。

所述上压板上装有上探针导轨，探针导轨上分布着探针头，探针导轨可按照测试晶硅电池片栅线数量、栅线间距离进行调整，探针头数量级分布密度可根据测试晶硅电池片栅线情况进行调整。在上压板上装有把手。在上压板后侧有与探针头相连接的引出线缆，用以连接组件EL测试仪测试线的正极。

所述探针导轨之间位置距离可调，探针导轨可拆卸添加。所述探针头数量、探针头之间距离可调。

所述下底板与上压板在一侧成合页状连接，上压板在测试时扣合，在其余时间翻开，上压板上含有锁扣装置及高度限位块，使上压板扣合后探针头与电池片能充分接触，且压力适中，避免由于压力过大造成电池片损伤。

所述下底板具有上端限位块及侧面限位块，用以固定测试电池片的位置。

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

所述单片EL测试装置，如图1-4所示，它包括上压板1、下底板8，上压板1上安装有上压板探针导轨3，上压板探针导轨3可以拆卸，其距离可调整。在上压板探针导轨3上均匀排布有探针头4，探针头4数量与位置可调。所述上压板1上含有锁扣装置13，上压板1的外框为高度限位框架12，上压板1上含有上压板引出线缆6及上压板把手2。上压板1与下底板8之间连接，上压板1可扣合至下底板8上。所述下底板8上含有钢化玻璃9，钢化玻璃9上装有下底板探针导轨10，下底板探针导轨10可拆卸，距离可调整。下底板探针导轨10上均匀分布有探针头4，探针头4数量与位置可调，下底板探针导轨10配合上压板探针导轨3使用，可适应不同规格电池片的测试。下底板8上装有上端限位块7及侧面限位块11。

具体使用方法：将下底板引出线缆5、上压板引出线缆6分别连接至组件EL测试仪的正极、负极。根据待测电池片的栅线位置、栅线数量调整上压板探针导轨3、下底板探针导轨10的位置及探针头4的排布方式。将上压板1打开，放入待测试电池片，对照上端限位块7及侧面限位块11固定待测电池片的位置。将上压板扣合，锁扣装置13锁定，此时可将组件EL测试仪的顶盖关闭，使其营造出暗室环境。组件EL测试仪通过下底板引出线缆5及上压板引出线缆6向单片EL测试装置通以恒定电流，并通过上压板探针导轨3、下底板探针导轨10上的探针头4使被测试的晶硅电池片通电，电池片会由于电致发光原理发出红外光，此时利用组件测试仪上的红外相机控制系统对电池片发光的图像进行拍摄，并显示于电脑上，通过图像即可判断尚未焊接的晶硅电池片是否存在缺陷，至此完成测试。测试结束后将组件EL测试仪的顶盖升起，并将上压板1打开，取出测试电池片，完成一个工作循环。

Claims (5)

1.一种太阳能晶硅电池片的测试装置，放置于组件EL测试仪的暗室里，包括下底板、上压板、高度限位框架、探针导轨和探针头，其特征在于：所述下底板为高透光钢化玻璃，在高透光钢化玻璃上安装有若干下探针导轨，下探针导轨上安装有下探针头，下探针头的位置与待测试晶硅电池片的栅线分布相对应，与下探针头相连接的引出线缆连接组件EL测试仪测试线的的负极；所述上压板上安装有上探针导轨，上探针导轨上安装有上探针头，上探针头的位置与下探针头对应，与上探针头相连接的引出线缆连接组件EL测试仪测试线的正极；上压板和下底板在一侧铰接。

2.根据权利要求1所述的太阳能晶硅电池片的测试装置，其特征在于：所述上探针导轨之间位置距离可调，上探针导轨可拆卸添加；所述上探针头数量、上探针头之间距离可调；所述下探针导轨之间位置距离可调，下探针导轨可拆卸添加；所述下探针头数量、下探针头之间距离可调。

3.根据权利要求1所述的太阳能晶硅电池片的测试装置，其特征在于：所述上压板在边框上固定有锁扣装置及高度限位块，使上压板扣合后探针头与电池片能充分接触，且压力适中，避免由于压力过大造成电池片损伤。

4.根据权利要求1所述的太阳能晶硅电池片的测试装置，其特征在于：所述上压板在边框上固定有把手。

5.根据权利要求1所述的太阳能晶硅电池片的测试装置，其特征在于：所述下底板在边框上固定有上端限位块及侧面限位块，用以固定测试电池片的位置。

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