CN202816379U - 辐射抑制装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种辐射抑制装置，包括：硬盘和由吸波材料制成的辐射吸收块，辐射吸收块在第一平面上的垂直投影位于第一指定位置上，辐射吸收块用于吸收硬盘的向外辐射，第一平面为硬盘的连接器所在平面，第一指定位置为第一平面上除连接器所在位置外的其他位置，本实用新型通过将辐射吸收块放置在硬盘的指定位置上，以使辐射吸收块吸收硬盘辐射的能量，从而减少硬盘的向外辐射。
Description
技术领域
本实用新型涉及辐射抑制技术，尤其涉及一种辐射抑制装置。
背景技术
电磁兼容性（Electro Magnetic Compatibility，EMC）认证包括两个方面的要求：一方面是指设备在正常运行过程中对所在环境产生的电磁干扰不能超过一定的限值，另一方面是指设备对所在环境中存在的电磁干扰具有一定程度的抗扰度。目前EMC认证的辐射发射（Radiated Emission，RE）测试频段为30MHZ-6GHZ，最高可达40GHZ。测试频率越高，设备的屏蔽难度越大，使设备在高频段的EMC设计越困难。
硬盘为存储设备中的重要部件，存储设备在出厂前需要进行EMC测试，由于硬盘自身的共模噪声很大，会驱动硬盘的连接器辐射，导致存储设备的辐射超标，EMC认证失败。
现有技术中，主要是通过改进存储设备的结构来加强存储设备的屏蔽结构，屏蔽硬盘的辐射，减少硬盘的向外辐射。但在高频情况下，屏蔽结构的屏蔽效果有限，当为了满足散热要求，在存储设备的机箱上开通风孔时，屏蔽结构的屏蔽效果更差，硬盘的向外辐射更高。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种辐射抑制装置，用于解决硬盘的向外辐射过高的问题。
本实用新型的一方面提供一种辐射抑制装置，包括：
硬盘和由吸波材料制成的辐射吸收块；
所述辐射吸收块在所述第一平面上的垂直投影位于第一指定位置上，所述辐射吸收块用于吸收所述硬盘的向外辐射，所述第一平面为所述硬盘的连接器所在平面，所述第一指定位置为所述第一平面上除所述连接器所在位置外的其他位置。
如上所述的辐射抑制装置，所述辐射吸收块在所述第一平面上的垂直投影位于第一指定位置上，具体为：
所述辐射吸收块固定贴在所述第一指定位置上。
如上所述的辐射抑制装置，所述辐射吸收块在所述第一平面上的垂直投影位于第一指定位置上，具体为：
所述辐射吸收块固定贴在第二平面的第二指定位置上，所述第二平面为背板的面向所述第一平面的平面，所述第二指定位置为所述第二平面上与所述第一指定位置相对应的位置，所述背板为安装所述硬盘的机箱的背板。
如上所述的辐射抑制装置，所述辐射吸收块在所述第一平面上的垂直投影位于第一指定位置上，具体为：
所述辐射吸收块固定贴在第三平面的第三指定位置上，所述第三平面为支架的面向所述第一平面的平面，所述第三指定位置为所述第三平面上与所述第一指定位置相对应的位置，所述支架位于所述硬盘与所述背板之间，固定在所述背板上。
如上所述的辐射抑制装置，所述硬盘和所述辐射吸收块分别为多个，每个所述硬盘对应一个所述辐射吸收块。
如上所述的辐射抑制装置，所述辐射吸收块的厚度为1mm-5mm。
如上所述的辐射抑制装置，所述第一指定位置为长方形，所述第一指定位置的长度与所述硬盘的宽度相等。
如上所述的辐射抑制装置，所述第一指定位置的宽度的值为所述硬盘的厚度与所述连接器的宽度的差值。
如上所述的辐射抑制装置，所述第一平面上设置有第一通风孔，则所述辐射吸收块的与所述第一通风孔对应的位置上设有第二通风孔。
如上所述的辐射抑制装置，所述第一通风孔和所述第二通风孔分别为多个，每个所述第一通风孔对应一个所述第二通风孔，所述第一通风孔与所述第二通风孔的形状和大小相同。
本实用新型通过将辐射吸收块放置在硬盘的指定位置上，以使辐射吸收块吸收硬盘辐射的能量，从而减少硬盘的向外辐射。
附图说明
图1a为本实用新型辐射抑制装置一个实施例的结构示意图；
图1b为本实用新型辐射抑制装置一个实施例的俯视图；
图1c为本实用新型辐射抑制装置一个实施例的左视图；
图1d为本实用新型辐射抑制装置一个实施例的正视图；
图2a为本实用新型辐射抑制装置辐射吸收块厚度的俯视图；
图2b为本实用新型辐射抑制装置辐射吸收块厚度和宽度的左视图；
图3为本实用新型辐射抑制装置辐射吸收块带第二通风孔的正视图；
图4a为本实用新型辐射抑制装置又一个实施例的俯视图；
图4b为本实用新型辐射抑制装置又一个实施例的左视图；
图5a为本实用新型辐射抑制装置另一个实施例的俯视图；
图5b为本实用新型辐射抑制装置另一个实施例的左视图；
图6为本实用新型辐射抑制装置又一个实施例的正视图。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型提供的辐射抑制装置一个实施例，辐射抑制装置可以包括：
硬盘和由吸波材料制成的辐射吸收块；
辐射吸收块在第一平面上的垂直投影位于第一指定位置上，辐射吸收块用于吸收硬盘的向外辐射，第一平面为硬盘的连接器所在平面，第一指定位置为第一平面上除连接器所在位置外的其他位置。
其中，辐射吸收块在第一平面上的垂直投影位于第一指定位置上，具体为：辐射吸收块固定贴在第一指定位置上。
图1a、图1b、图1c和图1d分别为本实用新型辐射抑制装置一个实施例的结构示意图、俯视图、左视图和正视图，如图1a、图1b、图1c和图1d所示，辐射抑制装置可以包括：硬盘11和辐射吸收块12，辐射吸收块12固定贴在硬盘11的连接器15所在平面的第一指定位置上，第一指定位置为图1d中连接器15上方的位置。
硬盘11还包括连接器15，硬盘11可以为机械硬盘或者固态硬盘（SolidState Disk，SSD）。辐射抑制装置可以设置在计算机或者服务器的机箱中。
进一步地，第一指定位置可为长方形，第一指定位置的长度与硬盘11的宽度相等，第一指定位置的宽度的值为硬盘11的厚度与连接器15的宽度的差值。第一指定位置上固定贴的辐射吸收块12的长度可以等于或者小于硬盘11的宽度，辐射吸收块12的宽度可以等于或者小于第一指定位置的宽度，辐射吸收块12的厚度可以为1mm-5mm，如图2a和图2b所示，优选的，辐射吸收块12的长度等于硬盘11的宽度，辐射吸收块12的宽度等于第一指定位置的宽度，辐射吸收块12的厚度为5mm。
更进一步地，第一平面上设置有第一通风孔，则辐射吸收块12的与第一通风孔对应的位置上设有第二通风孔，第一通风孔和第二通风孔可以分别为多个，每个第一通风孔对应一个第二通风孔，第一通风孔与第二通风孔的形状和大小相同，如图3所示。
第二通风孔也可以与第一通风孔的形状和大小不同，数目也可以不同，有多个第二通风孔在连接器15所在的第一平面上的垂直投影与多个第一通风孔有交叠区域，能够满足散热要求即可。
本实用新型实施例提供的辐射抑制装置通过将由吸波材料制成的辐射吸收块贴在硬盘的连接器所在的平面上，利用辐射吸收块吸收硬盘的向外辐射能量，从而降低硬盘的向外辐射，使硬盘或者包含硬盘的设备顺利通过测试认证。
图4a和图4b分别为本实用新型辐射抑制装置又一个实施例的俯视图和左视图，如图4a和图4b所示，与图1a所示实施例的区别为：
辐射吸收块12在第一平面上的垂直投影位于第一指定位置上，具体为：辐射吸收块12固定贴在第二平面的第二指定位置上，第二平面为背板13的面向第一平面的平面，第二指定位置为第二平面上与第一指定位置相对应的位置，背板13为安装硬盘11的机箱的背板。
其中，辐射吸收块12在第一平面上的垂直投影的长度可以等于或者小于硬盘11的宽度，辐射吸收块12在第一平面上的垂直投影的宽度可以等于或者小于第一指定位置的宽度的值，辐射吸收块12的厚度可为1mm-5mm，辐射吸收块12贴在背板13上，与硬盘11的第一平面之间可以有一定的距离，当第一平面上设置有第一通风孔时，辐射吸收块12的对应位置上可以不设第二通风孔。
本实用新型实施例提供的辐射抑制装置，通过将由吸波材料制成的辐射吸收块贴在背板上，利用辐射吸收块吸收硬盘的向外辐射能量，从而降低硬盘的向外辐射，使硬盘或者包含硬盘的设备顺利通过测试认证，当辐射抑制装置位于机箱中时，降低机箱的屏蔽结构的设计成本。
图5a和图5b分别为本实用新型辐射抑制装置另一个实施例的俯视图和左视图，如图5a和图5b所示，与图1a所示实施例和图4a所示实施例的区别为：
辐射吸收块12在第一平面上的垂直投影位于第一指定位置上，具体为：辐射吸收块12固定贴在第三平面的第三指定位置上，第三平面为支架14的面向第一平面的平面，第三指定位置为第三平面上与第一指定位置相对应的位置，支架14位于硬盘11与背板13之间，固定在背板13上。
其中，支架14可以为长方体、正方体或者其他形状，支架14有一个平面面向第一平面，可以贴辐射吸收块12即可。
本实用新型实施例提供的辐射抑制装置，通过将由吸波材料制成的辐射吸收块贴在支架上，利用辐射吸收块吸收硬盘的向外辐射能量，从而降低硬盘的向外辐射，使硬盘或者包含硬盘的设备顺利通过测试认证。
图6为本实用新型辐射抑制装置又一个实施例的正视图，如图6所示，与图1a所示实施例、图4a所示实施例和图5a所示实施例的区别为：
硬盘11和辐射吸收块12可分别为多个，每个硬盘11对应一个辐射吸收块12。
其中，本实施例中的多个辐射吸收块12的粘贴方式可以为以下三种方式中的一种或者多种组合：图1a所示实施例的方式、图4a所示实施例的方式和图5a所示实施例的方式。
本实施例中的多个辐射吸收块12在第一平面上的垂直投影的长度可以等于或者小于硬盘11的宽度，辐射吸收块12在第一平面上的垂直投影的宽度可以等于或者小于第一指定位置的宽度的值，辐射吸收块12的厚度可为1mm-5mm。优选的，辐射吸收块12在第一平面上的垂直投影的长度等于硬盘11的宽度，辐射吸收块12在第一平面上的垂直投影的宽度等于第一指定位置的宽度的值，辐射吸收块12的厚度为5mm。
本实用新型实施例提供的辐射抑制装置，通过采用以下三种方式中的一种或多种粘贴多个辐射吸收块：贴在硬盘的连接器所在的平面上、贴在背板上和贴在支架上，利用辐射吸收块吸收硬盘的向外辐射能量，从而降低硬盘的向外辐射，使硬盘或者包含硬盘的设备顺利通过测试认证。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。
Claims (10)
1.一种辐射抑制装置，其特征在于，包括：
硬盘和由吸波材料制成的辐射吸收块；
所述辐射吸收块在所述第一平面上的垂直投影位于第一指定位置上，所述辐射吸收块用于吸收所述硬盘的向外辐射，所述第一平面为所述硬盘的连接器所在平面，所述第一指定位置为所述第一平面上除所述连接器所在位置外的其他位置。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述辐射吸收块在所述第一平面上的垂直投影位于第一指定位置上，具体为：
所述辐射吸收块固定贴在所述第一指定位置上。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述辐射吸收块在所述第一平面上的垂直投影位于第一指定位置上，具体为：
所述辐射吸收块固定贴在第二平面的第二指定位置上，所述第二平面为背板的面向所述第一平面的平面，所述第二指定位置为所述第二平面上与所述第一指定位置相对应的位置，所述背板为安装所述硬盘的机箱的背板。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述辐射吸收块在所述第一平面上的垂直投影位于第一指定位置上，具体为：
所述辐射吸收块固定贴在第三平面的第三指定位置上，所述第三平面为支架的面向所述第一平面的平面，所述第三指定位置为所述第三平面上与所述第一指定位置相对应的位置，所述支架位于所述硬盘与所述背板之间，固定在所述背板上。
5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述硬盘和所述辐射吸收块分别为多个，每个所述硬盘对应一个所述辐射吸收块。
6.根据权利要求1-5任一项所述的装置，其特征在于，所述辐射吸收块的厚度为1mm-5mm。
7.根据权利要求1-5任一项所述的装置，其特征在于，所述第一指定位置为长方形，所述第一指定位置的长度与所述硬盘的宽度相等。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一指定位置的宽度的值为所述硬盘的厚度与所述连接器的宽度的差值。
9.根据权利要求1-5任一项所述的装置，其特征在于，所述第一平面上设置有第一通风孔，则所述辐射吸收块的与所述第一通风孔对应的位置上设有第二通风孔。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述第一通风孔和所述第二通风孔分别为多个，每个所述第一通风孔对应一个所述第二通风孔，所述第一通风孔与所述第二通风孔的形状和大小相同。
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