CN202794788U

CN202794788U - 阵列基板

Info

Publication number: CN202794788U
Application number: CN201220488350.3U
Authority: CN
Inventors: 周思思
Original assignee: Shanghai AVIC Optoelectronics Co Ltd
Current assignee: Shanghai AVIC Optoelectronics Co Ltd
Priority date: 2012-09-21
Filing date: 2012-09-21
Publication date: 2013-03-13
Anticipated expiration: 2022-09-21

Abstract

本实用新型公开了一种阵列基板，包括多个显示单元集合，每个显示单元集合均包括一个连接检查探针的连接显示单元和至少一个组内显示单元，还包括对应所述连接显示单元的多个检查衬垫，所述多个检查衬垫分别通过多个第一导线与所述连接显示单元连接，所述多个检查衬垫分别通过多个第二导线与所述至少一个组内显示单元连接，与同一个检查衬垫连接的第一导线与第二导线的电阻的差值小于一预设值。上述阵列基板，可以使每个显示单元接受到的衰减后的检查信号差异减小，从而保证了检查的准确性。

Description

阵列基板

技术领域

本实用新型涉及平板显示技术，特别涉及一种阵列基板。

背景技术

液晶显示装置主要包括阵列基板和彩膜基板，在阵列基板上包括多个显示单元，每个显示单元包括多个薄膜晶体管（TFT）、多条数据线和多条扫描线。而在阵列基板的生产制作的过程中，需要经过多道成膜、曝光和刻蚀工艺，每一道工艺过程都有可能会影响到数据线、扫描线和TFT的品质，产生短线、短路或者TFT失效等不良。为了及时发现上述各种不良，通常在阵列基板的生产制作的过程中，设置多道阵列检查工序。每道阵列检查工序都会对阵列基板上的多个TFT进行通电检查。为了配合上述阵列检查，需要在阵列基板上设置检查衬垫，检查衬垫通过导线与所述显示单元相连接，检查信号通过检查探针、导线和检查衬垫送入各显示单元。

因为大尺寸mask的费用昂贵以及曝光系统的尺寸限制，通常对整个阵列基板的一次曝光是通过同一块mask经过累积多次分曝光完成的。每一次分曝光可以完成一组显示单元集合的曝光，每组显示单元集合可以包括至少一个以上的显示单元，每组显示单元集合共用一组检查探针。在阵列基板上对应于每个显示单元会设置多个检查衬垫，每个检查衬垫通过导线与显示单元连接，每组显示单元集合中的各显示单元对应的检查衬垫之间通过导线连接。在阵列检查时，所述检查探针与显示单元集合中的一个显示单元对应的检查衬垫相连接，检查信号通过检查探针、导线和检查衬垫送入各显示单元。

下面举例说明上述一次曝光后的阵列基板情况，如图1所示，阵列基板100经过6次分曝光后，形成6组显示单元集合101，每组显示单元集合101包括一个连接显示单元102和一个组内显示单元103，所述显示单元集合101还包括与所述连接显示单元102对应的多个检查衬垫104，所述多个检查衬垫104通过第一导线105与所述连接显示单元102连接，所述多个检查衬垫104通过第二导线106与所述组内显示单元103相连接。在对所述阵列基板100进行阵列检查时，检查探针107与每组显示单元集合101中的连接显示单元102对应的检查衬垫104相连接，将检查信号通过检查衬垫104、第一导线105和第二导线106送入各显示单元内，即，通过第一导线105送入连接显示单元102，通过第二导线106送入组内显示单元103。如图1所示，因为第一导线105和第二导线106长度不同，所以检查探针107到各显示单元（连接显示单元102和组内显示单元103）的电阻也不同，从而导致进入各显示单元的检查信号是检查探针的信号经过了不同电阻的导线的分压后的信号。也就是说，每个显示单元接受到的检查信号并不相同，当导线的电阻差异较大时，会使每个显示单元接受到的检查信号的差异也比较大，从而影响检查的准确性。

实用新型内容

本实用新型提供一种阵列基板，解决每个显示检查单元接受的检查信号差异大的问题，以达到提高阵列检查准确性的目的。

为解决上述问题，本实用新型提供一种阵列基板，包括多个显示单元集合，每个显示单元集合均包括一个连接检查探针的连接显示单元和至少一个组内显示单元，还包括对应所述连接显示单元的多个检查衬垫，所述多个检查衬垫分别通过多个第一导线与所述连接显示单元连接，所述多个检查衬垫分别通过多个第二导线与所述至少一个组内显示单元连接，与同一个检查衬垫连接的第一导线与第二导线的电阻的差值小于一预设值。

可选的，每个第一导线中至少有一部分为波浪线。

可选的，每个第一导线中至少有一部分为周期性波浪线。

可选的，每个第二导线中至少有一部分为直线。

可选的，与同一个检查衬垫连接的第一导线与第二导线中，所述第二导线中至少有一部分的线宽大于所述第一导线的线宽。

可选的，所述预设值的范围为50Ω～1000Ω。

可选的，所述检查衬垫的数量为5-10个。

可选的，所述多个第一导线和第二导线的材质相同。

在本实用新型中，与同一检查衬垫连接的第一导线与第二导线的电阻的差值小于一预设值。对于不同的产品，可以灵活设置所述预设值，使得所述第一导线和所述第二导线的电阻值尽可能的接近。从检查探针输入的检查信号，经过电阻值接近的第一导线和第二导线后分别进入连接显示单元和组内显示单元，因此检查信号因为第一导线和第二导线而受到的衰减也基本接近，因此每个显示单元接受到的衰减后的检查信号差异并不大，从而保证了检查的准确性。

附图说明

图1为现有技术的阵列基板的示意图；

图2本实用新型一实施例的阵列基板的示意图；

图3为图2中虚线圈内的放大图；

图4为本实用新型另一实施例的阵列基板的局部放大图。

具体实施方式

本实用新型的核心思想在于，设置每个检查衬垫连接的第一导线与第二导线的电阻的差值小于一预设值。通过灵活设置所述预设值，可以使所述第一导线和所述第二导线的电阻值尽可能的接近。从检查探针输入的检查信号，经过电阻值接近的第一导线和第二导线后分别进入连接显示单元和组内显示单元，因此检查信号因为第一导线和第二导线而受到的衰减也基本接近，因此每个显示单元接受到的衰减后的检查信号差异并不大，从而保证了检查的准确性。

为了使本实用新型的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图来进一步做详细说明。

如图2所示，阵列基板200包括多个显示单元集合201，每个显示单元集合201均包括一个与检查探针202连接的连接显示单元203和至少一个组内显示单元204。在本实施例中，阵列基板200包括6个显示单元集合201，每个显示单元集合201包括一个连接显示单元203和一个组内显示单元204。阵列基板200还包括对应所述连接显示单元203的多个检查衬垫205，优选的，所述检查衬垫的数量为5-10个。所述多个检查衬垫205分别通过多个第一导线206与所述连接显示单元连接203，所述多个检查衬垫205分别通过多个第二导线207与所述至少一个组内显示单元204连接，与同一个检查衬垫205连接的第一导线206与第二导线207的电阻的差值小于一预设值。

当与同一个检查衬垫205连接的第一导线206与第二导线207的电阻值相等时，检查探针202的检查信号从检查衬垫205分别经过第一导线206和第二导线207后，分别输入连接显示单元203和组内显示单元204。优选的，当所述预设值为零时，也就是说，与每个检查衬垫205连接的第一导线206与第二导线207的电阻值相等时，检查信号经过第一导线205和第二导线206而受到的衰减相等，因此每个显示单元接受到的衰减后的检查信号也相等，这时对于每个显示单元来说接受到的检查信号一样，因此对每个显示单元检查也完全相同

但是，因为不同产品在阵列基板200内的排列设计不同，很难做到与每个检查衬垫205连接的第一导线206与第二导线207的电阻值相等。如图2所示，所述显示单元集合201的个数取决于曝光机所使用的掩膜版的尺寸和整个所述阵列基板200的尺寸，所述阵列基板200的尺寸越大掩膜版的尺寸越小，所述组内显示单元集合201的个数就越多。而所述显示单元集合201内所包含的组内显示单元204的个数，则与显示单元本身的尺寸有关，显示单元本身的尺寸越小，所述组内显示单元204的个数越多。随着所述组内显示单元204的个数的增加，所述第二导线207的数量也相应跟随增加，而且对应不同的组内显示单元的第二导线207的直线距离并不相同，同时第一导线206和第二导线的直线距离也不同，因此很难做到与每个检查衬垫205连接的第一导线206与第二导线207的电阻值相等。但是，为了减少检查信号因为电阻值不同的第一导线206和第二导线207的而产生的衰减不同，应当使与每个检查衬垫205第一导线206和所有第二导线207的电阻的差值尽可能的小。也就是说，所述预设值的值越小越好。对应不同的产品的设计不同，所述预设值的范围通常在50Ω～1000Ω之间。

如图3所示，在第一导线206和第二导线207的直线距离相差较大的情况下，为了使所述预设值尽可能的小，可将每个第一导线206中至少有一部分为波浪线，也可以将第一导线206全部都设置为波浪线。随着在第一导线206和第二导线207的直线距离相差进一步扩大后，可以配合将第二导线207全部设置为直线。当所述显示单元集合201内包括多个组内显示单元204时，对应不同的组内显示单元具有不同直线距离的第二导线207，为了使第一导线206和所有的第二导线的电阻的差值都尽可能的小，也可以将部分所述第二导线207的部分导线设置为波浪线。为了使得设计和生产方便，可以将所述波浪线设置为周期性波浪线。图3中示出的情形是，第一导线206全部为波浪线，第二导线207全部为直线，而且第一导线206的线宽也小于第二导线207的线宽。在所述第一导线206和第二导线207的直线距离相差悬殊的情况下，可以采用图3所示的技术方案。

图4为本实用新型另一实施例的阵列基板对应在图2中虚线圈内的放大图。如图4所示，在第一导线206和第二导线207的直线距离相差不大的情况下，为了使所述预设值尽可能的小，可以将每个第二导线207中至少有一部分的线宽设置为大于所述第一导线206的线宽。使得直线距离较长的第二导线207因为线宽较大使电阻值变小，而直线距离较短的第一导线206因为线宽变窄而使电阻变大，通过上述设置，可以拉近第一导线206和第二导线207的电阻值，从而减小了预设值。

根据导线电阻与导线长度成正比与导线线宽成反比的原理，本实用新型通过调整第一导线206和第二导线207的线宽和/或线形，就能够实现调整第一导线206和第二导线207的电阻，从而达到尽可能缩小所述第一导线206和第二导线207的电阻差的目的。应当理解的是，为了尽可能的缩小所述第一导线206和第二导线207的电阻差，任何对第一导线206和第二导线207的线形以及线宽的变化或者组合做出的变形，都在本实用新型的保护范围内。

另外，影响导线电阻的另一个因素是导线的材质，通常情况下，所述第一导线206和第二导线207是由同一层金属形成的。因此通常情况下，所述多个第一导线和第二导线的材质相同。

综上，本实用新型设置每个检查衬垫连接的第一导线与第二导线的电阻的差值小于一预设值。并通过调整第一导线和第二导线的线宽和/或线形，改变了第一导线和第二导线的电阻，通过灵活的设置，可以使所述第一导线和所述第二导线的电阻值尽可能的接近。从检查探针输入的检查信号，经过电阻值接近的第一导线和第二导线后分别进入连接显示单元和组内显示单元，因此检查信号因为第一导线和第二导线而受到的衰减也基本接近，因此每个显示单元接受到的衰减后的检查信号差异并不大，从而保证了检查的准确性。

显然，本领域的技术人员可以对实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包括这些改动和变型在内。

Claims

1.一种阵列基板，包括多个显示单元集合，每个显示单元集合均包括一个连接检查探针的连接显示单元和至少一个组内显示单元，还包括对应所述连接显示单元的多个检查衬垫，所述多个检查衬垫分别通过多个第一导线与所述连接显示单元连接，所述多个检查衬垫分别通过多个第二导线与所述至少一个组内显示单元连接，其特征在于，与同一个检查衬垫连接的第一导线与第二导线的电阻的差值小于一预设值。

2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，每个第一导线中至少有一部分为波浪线。

3.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，每个第一导线中至少有一部分为周期性波浪线。

4.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，每个第二导线中至少有一部分为直线。

5.如权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，与同一个检查衬垫连接的第一导线与第二导线中，所述第二导线中至少有一部分的线宽大于所述第一导线的线宽。

6.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，与同一个检查衬垫连接的第一导线与第二导线中，所述第二导线中至少有一部分的线宽大于所述第一导线的线宽。

7.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，与同一个检查衬垫连接的第一导线与第二导线中，所述第二导线中至少有一部分的线宽大于所述第一导线的线宽。

8.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述预设值的范围为50Ω~1000Ω。

9.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述检查衬垫的数量为5-10个。

10.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述多个第一导线和第二导线的材质相同。