CN202599984U - 一种二极管测试座 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提出了一种二极管测试座，包括：用于测试二极管的定电极，所述定电极为成对使用；与所述定电极连接，用于固定所述定电极的底座；设置在所述底座上，用于启动的触发开关；与所述底座连接，用于与所述定电极配合使用、夹紧被检测二极管的夹紧电极，所述夹紧电极成对使用。实用新型所述二极管测试座，在提高二极管测试数据的精度、测试速度的同时，又使得被测二极管放入和取出都变得很方便，提高工作效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及二极管测试技术领域，特别是指一种二极管测试座。
背景技术
现有的二极管测试装置是直接将二极管与测试装置接触后，再进行测试，在这种方法中二极管与测试装置接触不牢固，很容易产生误差，使得测试数据不准确，因此需要重复测试，严重影响工作效率。
实用新型内容
本实用新型提出一种二极管测试座，解决了现有技术中二极管测试数据试数据不准确的问题。
本实用新型的技术方案是这样实现的：
一种二极管测试座，包括：
用于测试二极管的定电极，所述定电极为成对使用；
与所述定电极连接，用于固定所述定电极的底座；
设置在所述底座上，用于启动的触发开关；
与所述底座连接，用于与所述定电极配合使用、夹紧被检测二极管的夹紧电极，所述夹紧电极成对使用。
进一步，还包括：设置在所述定电极与所述底座之间用于安装所述定电极的底座板。
进一步，所述定电极与所述夹紧电极相对设置。
进一步，所述定电极与所述夹紧电极夹紧构成V字型。
进一步，两个所述定电极之间的距离大于被测二极管的距离。
进一步，两个所述夹紧电极之间的距离大于被测二极管的距离。
本实用新型技术方案通过一对所述定电极和一对所述夹紧电极的设计，通过所述定电极和所述夹紧电极一起把被检测的二极管夹紧，使被测二极管的引线与所述定电极和所述夹紧电极紧密接触，从而提高了二极管测试数据的精度，提高了测试速度；又因为所述定电极与所述夹紧电极组合构成V字型，使得被测二极管放入和取出都变得很方便，提高工作效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型一种二极管测试座一个实施例的结构示意图；
图2为本实用新型一种二极管测试座另一个实施例的结构示意图；
图3为本实用新型一种二极管测试座侧视图的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
如图1所述，一种二极管测试座，包括：
用于测试二极管的定电极1，所述定电极1为成对使用；
与所述定电极1连接，用于固定所述定电极1的底座3；
设置在所述底座3上，用于启动的触发开关4；
与所述底座3连接，用于与所述定电极1配合使用、夹紧被检测二极管的夹紧电极2，所述夹紧电极2成对使用。
所述底座3上设置有用于启动的所述触发开关4，通过所述触发开关4使电路接通；在所述底座3上安装有用于测试二极管的定电极1和与所述定电极1配合使用、夹紧被检测二极管的夹紧电极2，当要检测二极管时，将被检测的二级管放入到所述定电极1和所述夹紧电极2之间，通过所述夹紧电极2将二极管的引线与所述定电极1和所述夹紧电极2紧密接触，按动所述触发开关4对二极管进行检查。
进一步，还包括：设置在所述定电极1与所述底座3之间用于安装所述定电极1的底座板5。
进一步，所述定电极1与所述夹紧电极2相对设置。
进一步，所述定电极1与所述夹紧电极2夹紧构成V字型。
进一步，两个所述定电极1之间的距离大于被测二极管的距离。
进一步，两个所述夹紧电极2之间的距离大于被测二极管的距离。
所述底座板5安装在所述底座3上，所述定电极1和所述夹紧电极2都安装在所述底座板5上；所述定电极1与所述夹紧电极2相对设置，且所述定电极1与所述夹紧电极2组合后构成V字型，这样方便被测二极管的放入和取出，缩短工作时间，提高了工作效率；两个所述定电极1之间的距离大于被测二极管的距离；两个所述夹紧电极2之间的距离也大于被测二极管的距离；当要检测二极管时，将被检测的二级管放入到所述定电极1和所述夹紧电极2之间，通过所述夹紧电极2将二极管的引线与所述定电极1和所述夹紧电极2紧密接触，按动所述触发开关4对二极管进行检查。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种二极管测试座，其特征在于，包括：
用于测试二极管的定电极，所述定电极为成对使用；
与所述定电极连接，用于固定所述定电极的底座；
设置在所述底座上，用于启动的触发开关；
与所述底座连接，用于与所述定电极配合使用、夹紧被检测二极管的夹紧电极，所述夹紧电极成对使用。
2.如权利要求1所述二极管夹持式测试座，其特征在于，还包括：设置在所述定电极与所述底座之间用于安装所述定电极的底座板。
3.如权利要求1或2所述二极管夹持式测试座，其特征在于，所述定电极与所述夹紧电极相对设置。
4.如权利要求3所述二极管夹持式测试座，其特征在于，所述定电极与所述夹紧电极夹紧构成V字型。
5.如权利要求4所述二极管夹持式测试座，其特征在于，两个所述定电极之间的距离大于被测二极管的距离。
6.如权利要求5所述二极管夹持式测试座，其特征在于，两个所述夹紧电极之间的距离大于被测二极管的距离。
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|---|---|---|---|
| CN 201220128282 CN202599984U (zh) | 2012-03-30 | 2012-03-30 | 一种二极管测试座 |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104459502A (zh) * | 2013-09-22 | 2015-03-25 | 中国振华集团永光电子有限公司 | 电流调整二极管的电参数测试装置和测试方法 |
| CN113358998A (zh) * | 2021-06-10 | 2021-09-07 | 中国科学院半导体研究所 | 一种通用led测试装置及测试方法 |
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2012
- 2012-03-30 CN CN 201220128282 patent/CN202599984U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN113358998B (zh) * | 2021-06-10 | 2023-01-06 | 中国科学院半导体研究所 | 一种通用led测试装置及测试方法 |
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