CN202503512U

CN202503512U - Pon系统测试用光功率计用集成光组件

Info

Publication number: CN202503512U
Application number: CN2012201424252U
Authority: CN
Inventors: 赵新民; 段磊
Original assignee: CHONGQING O-SEND PHOTOELECTRIC TECHNOLOGY Co Ltd
Current assignee: CHONGQING O-SEND PHOTOELECTRIC TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date: 2012-04-07
Filing date: 2012-04-07
Publication date: 2012-10-24
Anticipated expiration: 2022-04-07

Abstract

本实用新型提供一种PON系统测试用光功率计用集成光组件，包括光耦合器、波分复用器件；所述光耦合器为分光比2∶8的2×2光纤耦合器，所述光耦合器的其中两个端口为标准光纤连接头，另外两个端口制作金属钢针分别与三个PIN进行耦合固定；同轴耦合结构直接耦合上行光信号1310nm光探测器，波分复用器件分别耦合下行光信号1490和1550nm波长的两个光探测器。本实用新型的关键技术在于采用分光比2∶8的2×2光纤耦合器的分光特性，实现器件在线测试上下行光信号的功能；同时，设计了1490nm和1550nm下行光信号的波分复用耦合结构，使组件结构紧凑，各项技术指标达到用户使用要求。它具有产品性能可靠，组件体积小，生产成本低等优点。

Description

PON系统测试用光功率计用集成光组件

技术领域

本实用新型涉及无源光纤网络技术领域，具体涉及一种PON系统测试用光功率计用集成光组件。

背景技术

目前FTTx网络建设正成为国内外接入网建设的热点。PON（Passive Optical Network：无源光纤网络）接入网技术是业内公认的FTTx的最佳解决方案，这种技术可以使多个用户共享单根光纤，从而使光分配网（ODN）中不需要使用任何有源器件，即不需要通过光电光（OEO）转换，这种单点到多点的构架大大降低了网络安装、管理和维护成本。

参见图2，PON系统中上行信号采用1310nm波长，下行信号采用1490nm和1550nm波长，分别以相反方向沿同一光纤传输。上行信号接入采用突发模式，线路上的光信号即为突发光信号，正确检测出突发光信号就是需要检测出发射机激活发光期间的平均光功率，而普通的标准光功率计只能正确测试连续的光信号，这样如果使用传统的光功率计（记录一个采样周期内的平均光功率）将不能得到正确的测试结果，从而给网络的安装维护带来困难。

实用新型内容

　　针对现有技术存在的上述不足，本实用新型的目的在于提供一种能满足PON系统功率测试要求用于光功率计检测的专用集成器件，以提高产品性能，降低生产成本，提高生产效率，减小组件体积。

本实用新型采用的技术方案如下：一种PON系统测试用光功率计用集成光组件，包括光耦合器、波分复用器件；其特征在于，所述光耦合器为分光比2∶8的2×2光纤耦合器，所述光耦合器设有两个标准光纤连接头端口，以及分别连接同轴耦合结构和波分复用耦合结构的输出端口；同轴耦合结构直接耦合上行光信号1310nm光探测器，波分复用器件分别耦合下行光信号1490和1550 nm波长的两个光探测器。

PON系统中上行信号采用1310 nm波长，下行信号采用1490和1550 nm波长，分别以相反方向沿同一根光纤传输。本实用新型工作原理是通过2×2光耦合器，将下行（第一端口）和上行（第二端口）信号进行分光到第三端口和第四端口，第三端口采用波分复用（WDM）耦合结构对下行信号进行波分处理，使1490和1550 nm波长分别耦合不同的光探测器中，第四端口采用同轴耦合结构直接耦合1310nm光探测器。组件满足以下几点要求：（1）同时探测1310、1490和1550nm 三种波长的光发射；（2）实现光功率的在线测试；（3）能探测1310nm突发信号光功率。

如图3所示：功率计采用两头结构，用双向耦合器对测试线路进行20%分光，对上行信号（1310nm）分光后直接接入探测器进行功率探测。对于下行信号（1490nm和1550nm）分光后再用高隔离度的WDM将波长分开后再分别接入探测器进行功率探测。这样就能同时探测三个波长的光功率，并且测量期间线路保持正常通信。

相比现有技术，本实用新型具有如下优点：

本实用新型的关键技术在于采用分光比2∶8的2×2光纤耦合器的分光特性，实现器件在线测试上下行光信号的功能；同时，设计了1490nm和1550nm下行光信号的波分复用耦合结构，使组件结构紧凑，各项技术指标达到用户使用要求。具有产品性能可靠，组件体积小，生产成本低等优点。

附图说明

图1为本实用新型器件结构示意图；

图2为PON系统测试用光功率计的光路结构原理图；

图3 为本实用新型光纤耦合器加工制作示意图；

图4 为本实用新型波分复用腔体结构示意图；

图5 为本实用新型同轴管体结构示意图；

图6 为本实用新型波分复用耦合结构示意图；

图7为本实用新型同轴耦合结构图；

图8 为本实用新型组件工艺操作平台示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对实用新型作进一步详细说明。

如图1所示，一种PON系统测试用光功率计用集成光组件，包括光耦合器、波分复用器件；所述光耦合器为分光比2∶8的2×2光纤耦合器，所述光耦合器的光纤接头和金属钢针分别与三个PIN进行耦合固定；同轴耦合结构直接耦合上行光信号1310nm光探测器，波分复用器件分别耦合下行光信号1490和1550 nm波长的两个光探测器。

本实用新型的设计方案是针对PON系统功率测试要求的新型光功率计所用到的混和光电探测组件，主要包括光探测器（PIN）、光纤耦合器（COUPLE）、波分复用器（WDM）及光纤接头。所述的2×2光纤耦合器两端制作光纤钢插针分别与突发接收1310nm的PIN和通过波分复用结构固定在一起的1490nm和1550nm波长的PIN进行耦合焊接，制作同时探测三个波长光发射，并且测量期间线路保持正常通信的光探测器组件。

参见图3，本实用新型的工作原理是上行1310nm输入光通过光纤连接头

进入光纤耦合器分光，其中20%进入光纤

端，通过耦合焊接等工艺将上行光信号输入突发接收1310nm的PIN器件；80%通过光纤耦合器从光纤连接头输出。下行光通过光纤连接头

进入光纤耦合器分光，其中20%进入光纤

端由及光纤进入波分复器，波分用器的波长选择性能分别将1490nm和1550nm输入光通过耦合送至光探测器；同样，下行光的80%通过光纤耦合器从光纤连接头输出，达到了测量三种波长光功率同时保持正常通信的效果。

一、主要结构部件加工制作：

1．如图3，将分光比2∶8的2×2光纤耦合器的四个端口加工制作成两个标准光接口和两个耦合用插针结构；

2．如图4，采用不锈钢精密加工，设计制作出1490nm和1550nm下行光信号的波分复用耦合结构焊接用腔体，其功能在于精确安装固定光学透镜、波分复用滤波器、固定焊接光纤耦合器端口

不锈钢插针及探测1490nm和1550nm波长的两个PIN；

3．如图5，采用不锈钢精密加工，设计制作出1310nm上行光信号耦合结构焊接用管体，其功能在于精确安装固定光学透镜、固定焊接光纤耦合器端口

不锈钢插针及探测1310nm波长的PIN；

二、耦合结构说明

1．如图6，波分复用耦合结构，首先将光学透镜及滤波器精确组装固定在腔体中，然后用专用耦合台分别对1490nm、1550nm两个波长的PIN管与光纤进行精确耦合定位并固定。

2．如图7，同轴耦合结构，首先将光学透镜精确组装固定在管体中，然后用同轴耦合台对1310nm波长的PIN管与光纤进行精确耦合定位并固定。

三、工艺操作简介

如图8，稳定化光源相应波长的光信号通过光耦合器，输出到光功率计和PIN三维耦合台；通过三维耦合台的调试，使PIN输出光电流最大，通过焊机焊接固定管座。

最后说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的宗旨和范围。

Claims

1.PON系统测试用光功率计用集成光组件，包括光耦合器、波分复用器件；其特征在于，所述光耦合器为分光比2∶8的2×2光纤耦合器，所述光耦合器设有两个标准光纤连接头端口，以及分别连接同轴耦合结构和波分复用耦合结构的输出端口；同轴耦合结构直接耦合上行光信号1310nm光探测器，波分复用器件分别耦合下行光信号1490和1550 nm波长的两个光探测器。

2.根据权利要求1所述的PON系统测试用光功率计用集成光组件，其特征在于，所述波分复用耦合结构由腔体、光学透镜及滤波器精确组装而成，设有1490nm、1550nm两个波长的PIN管输出端，和一个光纤输入端。