CN202126246U - 一种贴片印刷锡膏快速三维测量系统 - Google Patents

一种贴片印刷锡膏快速三维测量系统 Download PDF

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CN202126246U
CN202126246U CN201120157313XU CN201120157313U CN202126246U CN 202126246 U CN202126246 U CN 202126246U CN 201120157313X U CN201120157313X U CN 201120157313XU CN 201120157313 U CN201120157313 U CN 201120157313U CN 202126246 U CN202126246 U CN 202126246U
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China
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grating
phase
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light source
image acquisition
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English (en)
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罗兵
章云
周贤善
阳孝鑫
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ALEADER VISION TECHNOLOGY Co Ltd
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ALEADER VISION TECHNOLOGY Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种贴片印刷锡膏快速三维测量系统，包括结构光投影单元、图像采集单元和计算机；计算机连接控制结构光投影单元和图像采集单元；结构光投影单元包括光源、聚光透镜、线性渐变光栅、远心镜头和控制光栅的移相装置；图像采集单元包括数字相机、偏振片、远心镜头；计算机连接控制数字相机、光源及移相转置。本实用新型通过采用线性渐变光栅代替正弦光栅，根据移相的光栅投影下采集多幅图像来计算各点相位，不需要三角函数，而是线性函数，计算速度快。另外，将光栅周期选择大于锡膏高度可能产生的对光栅的最大调制距离，这样相位展开时得到的锡膏相对高度值应在一个光栅周期范围内，若为负，则加上一个周期，使相位展开变得简单。

Description

一种贴片印刷锡膏快速三维测量系统
技术领域
本实用新型涉及印刷电路板制造技术领域，具体涉及一种电路板上印刷锡膏的三维测量系统。 
背景技术
在电子制造业的印刷电路板上安装元器件时，目前通常采用的是表面贴片安装技术（SMT）。工艺过程中，首先要在电路板上印刷锡膏，然后要检测所印刷锡膏的质量，包括面积、体积、形状等，如果有缺陷，则立即修复，以避免后期产品缺陷，需更高的修复成本。同时，调整印刷锡膏的设备参数，以避免更多印刷缺陷。在对印刷锡膏的体积、形状检测中，需要精确检测所印刷锡膏的三维高度。目前市场上同类产品是采用正弦光栅投影、相位移动的相位测量法，即投影光栅亮度呈正弦变化的光栅图案到被检测的印刷了锡膏的电路板上，采集图像，然后移动光栅的相位四分之一周期，再次采集图像，共移动相位、采集图像四次，得到四幅图像： 
Figure 257519DEST_PATH_549174DEST_PATH_IMAGE001
、
Figure 174659DEST_PATH_540264DEST_PATH_IMAGE002
、
Figure 954397DEST_PATH_380044DEST_PATH_IMAGE003
和
Figure 349606DEST_PATH_860704DEST_PATH_IMAGE004
。则图像上各像素点的相位为：
设
Figure 924124DEST_PATH_947926DEST_PATH_IMAGE006
为锡膏上某点的相位，其沿光栅方向的邻近电路板基板点的相位为
Figure 191157DEST_PATH_579895DEST_PATH_IMAGE007
，则锡膏相对于电路板基板的相对相位为：，
锡膏相对于电路板的相对高度（即印刷锡膏的厚度）为：
其中n是相位展开时根据具体情况确定的一个0附近的整数，T为光栅的周期，
Figure 52300DEST_PATH_671982DEST_PATH_IMAGE010
是一个常数，
Figure 806629DEST_PATH_158458DEST_PATH_IMAGE011
是投影光轴与图像采集光轴间的夹角。
存在的问题是：由于计算各点相位时要计算反正切函数，计算速度慢，不能满足在线实时检测的需要。另外，由于反正切函数的值域是
Figure 730592DEST_PATH_246500DEST_PATH_IMAGE012
，这样相位展开时，需要加上几个
Figure 253977DEST_PATH_513533DEST_PATH_IMAGE013
，不易确定，相位展开存在难度。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是针对现有技术的缺陷，提供一种计算速度快、在线实时检测性能好的贴片印刷锡膏快速三维测量系统。 
为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：一种贴片印刷锡膏快速三维测量系统，其特征在于：该系统的结构包括结构光投影单元、图像采集单元和计算机；计算机连接控制结构光投影单元和图像采集单元；结构光投影单元包括光源、聚光透镜、线性渐变光栅、远心镜头和控制光栅的移相装置，远心镜头设于渐变光栅前面，渐变光栅设于光源头面，移相装置连接控制渐变光栅；图像采集单元包括数字相机、偏振片、远心镜头，偏振片设于远心镜头前面，远心镜头设于数字相机前面；计算机连接控制数字相机、光源及移相转置。 
该系统的测量方法为：采用亮度呈三角波周期变化的亮度线性渐变光栅投影，然后从与投影方向成角度θ用数字相机采集光栅投影下的锡膏图像
Figure 683821DEST_PATH_650116DEST_PATH_IMAGE015
；然后移动光栅的相位四分之一周期，采集第二幅图像
Figure 925447DEST_PATH_53416DEST_PATH_IMAGE017
；然后继续同方向移动光栅的相位四分之一周期，采集第三幅图像
Figure 200570DEST_PATH_312359DEST_PATH_IMAGE019
；然后再继续同方向移动光栅的相位四分之一周期，采集第四幅图像
Figure 844041DEST_PATH_4371DEST_PATH_IMAGE021
；根据采集的在不同相位的光栅投影下的四幅图像的灰度值，快速计算得到印刷锡膏的相对于电路板附近位置的相对高度，而不用进行反正切函数计算，其中第四幅图像的灰度值也可以由前三幅图像的灰度值计算得到： 
Figure 116891DEST_PATH_741383DEST_PATH_IMAGE023
；
可根据整个三维测量中移相、采集、存储的时间开销与三维高度测量软件运算的时间开销比较进行灵活选择，然后分别计算图像中各锡膏区域像素点对光栅的调制后相位
Figure 845812DEST_PATH_264769DEST_PATH_IMAGE025
、锡膏相对于电路板附近位置的相对调制相位和相对高度
Figure 422604DEST_PATH_605413DEST_PATH_IMAGE029
：
（1）如果
Figure 194251DEST_PATH_146115DEST_PATH_IMAGE031
而且
Figure 144889DEST_PATH_789586DEST_PATH_IMAGE033
，则
（2）如果
Figure 71224DEST_PATH_791357DEST_PATH_IMAGE037
而且
Figure 13772DEST_PATH_807855DEST_PATH_IMAGE039
，则
Figure 451707DEST_PATH_243515DEST_PATH_IMAGE041
（3）如果
Figure 872324DEST_PATH_687266DEST_PATH_IMAGE043
而且
Figure 344893DEST_PATH_903484DEST_PATH_IMAGE045
，则
Figure 458343DEST_PATH_785989DEST_PATH_IMAGE047
（4）如果而且
Figure 545565DEST_PATH_18705DEST_PATH_IMAGE051
，则
Figure 607062DEST_PATH_456639DEST_PATH_IMAGE053
选择与投影光栅线平行方向的锡膏相邻电路板位置一个点
Figure 891412DEST_PATH_877256DEST_PATH_IMAGE055
或几个点作为基板，同样按上述方法计算得到
Figure 303939DEST_PATH_287509DEST_PATH_IMAGE057
或几个值取平均，相对调制相位为：
Figure 331938DEST_PATH_135379DEST_PATH_IMAGE059
，
如果
Figure 700471DEST_PATH_60610DEST_PATH_IMAGE061
，则，否则
Figure 789967DEST_PATH_549677DEST_PATH_IMAGE065
；
各锡膏点相对于邻近电路板基板位置的相对高度为：
Figure 356078DEST_PATH_834028DEST_PATH_IMAGE067
其中T、k均为已知常数：，θ是光栅投影光轴与图像采集光轴间的夹角，取值为15~20度范围内；T是投影光栅的周期，取在200~250 μm范围内。
投影采用数字微处理设备投影仪来产生光栅图案，或者采用均匀光源照射玻璃光栅来产生光栅图案。 
在每个检测视场区域，计算机控制光源照射，经聚光透镜照射到光栅，产生线性渐变的结构光图案，经远心镜头使光线变为平行光线而减小变形；结构光图案经远心镜头后照射到被检测的印刷了锡膏的电路板上，电路板上印刷的锡膏高度变化会对结构光图案产生调制，计算机同时控制数字相机采集被检测的印刷了锡膏的电路板图像；然后，计算机控制移相装置使光栅移相光栅周期的四分之一距离，重复控制使光源照射，数字相机再次采集图像；如此移相、采集四次，得到四幅在不同相位的相同光栅图案照射下的被检测对象的图像：
Figure 18320DEST_PATH_937868DEST_PATH_IMAGE015
、
Figure 343122DEST_PATH_57134DEST_PATH_IMAGE017
、
Figure 712924DEST_PATH_450069DEST_PATH_IMAGE019
和
Figure 603519DEST_PATH_349892DEST_PATH_IMAGE021
；其中第四幅图像可以采集，也可以由前三幅图像计算得到：； 
投影光栅图案也可直接由数字投影仪分别投影四幅不同相位的光栅图案而产生。
光栅图案投影到没有锡膏的光滑电路板平面，就会产生亮度呈周期性线性渐变的结构光投影光栅图案，但是由于投影光线和图像采集方向存在一个角度θ，且一般在15~20度的范围内，印刷锡膏的厚度变化或者说相对与电路板的高度变化，会提前挡住其后面的光线，使光栅图案产生变化，即对光栅产生了调制；某点的相对高度变化与其所挡住光线的点的相对水平位置
Figure 182902DEST_PATH_515928DEST_PATH_IMAGE073
间的关系是：，记，则有
Figure 946087DEST_PATH_101128DEST_PATH_IMAGE077
。 
但是高度变化产生的对投影光栅的调制在亮度变化和高度变化上的关系由于光栅的周期性而不是简单的线性关系，使用一中间变量成为相位
Figure 657691DEST_PATH_898182DEST_PATH_IMAGE079
，对于投影光栅在一个周期内的相位定义为线性从0~8，相位和各点的沿垂直于光栅方向的位置x在每周期内是线性关系：
Figure 522879DEST_PATH_444701DEST_PATH_IMAGE081
；据此可确定相位和采集的图像灰度间的关系，首先将光栅周期分为四个区域，在移相四分之一周期的四个光栅图案投影下，各点的相位和其位置变化间的关系在四个区域是不同的，第i次光栅投影下采集的图像在像素点
Figure 661736DEST_PATH_618194DEST_PATH_IMAGE083
的灰度为： 
Figure 182848DEST_PATH_628875DEST_PATH_IMAGE085
其中
Figure 432563DEST_PATH_534514DEST_PATH_IMAGE087
为与投影光栅无关的背景光线在该像素点产生的灰度，
Figure 417837DEST_PATH_630646DEST_PATH_IMAGE089
为第i次光栅投影在该像素点产生的灰度，设各周期起始相位为0，
Figure 727595DEST_PATH_76671DEST_PATH_IMAGE091
为光栅亮度变化的斜率；
在第一区域：
Figure 798320DEST_PATH_145121DEST_PATH_IMAGE093
，
Figure 851726DEST_PATH_283978DEST_PATH_IMAGE095
，
Figure 878457DEST_PATH_867406DEST_PATH_IMAGE097
，
Figure 359117DEST_PATH_51876DEST_PATH_IMAGE099
；
所以得到：
在第二区域：
Figure 508656DEST_PATH_346908DEST_PATH_IMAGE101
，
Figure 202942DEST_PATH_417632DEST_PATH_IMAGE095
，
Figure 854503DEST_PATH_408722DEST_PATH_IMAGE103
，
Figure 837503DEST_PATH_248502DEST_PATH_IMAGE099
；
所以得到：
Figure 232712DEST_PATH_729162DEST_PATH_IMAGE041
在第三区域：
Figure 781505DEST_PATH_959286DEST_PATH_IMAGE101
，
Figure 869547DEST_PATH_816383DEST_PATH_IMAGE105
，
Figure 136580DEST_PATH_510670DEST_PATH_IMAGE103
，
Figure 335480DEST_PATH_99914DEST_PATH_IMAGE107
；
所以得到：
Figure 424266DEST_PATH_145231DEST_PATH_IMAGE047
在第四区域：
Figure 683209DEST_PATH_540440DEST_PATH_IMAGE109
，
，
Figure 174550DEST_PATH_114958DEST_PATH_IMAGE111
，
Figure 697935DEST_PATH_381991DEST_PATH_IMAGE107
；
所以得到：
Figure 65462DEST_PATH_315312DEST_PATH_IMAGE053
；
上述得到的
Figure 41509DEST_PATH_921874DEST_PATH_IMAGE025
即为在四个区域中各点的相位和其位置变化间的关系。
在采集四幅图像的过程中，依次移动光栅的相位、采集图像，重复四次，或者第四次图像由前三次的图像数据计算得到
Figure 582211DEST_PATH_180817DEST_PATH_IMAGE023
，光栅的移动采用压电陶瓷控制光栅每次移动四分之一周期，然后在整个投影采集系统移动到下一个采集视场区域的同时，控制光栅回复到初始位置。 
本实用新型通过采用亮度呈线性变化的光栅代替正弦光栅，根据移相的光栅投影下采集的多幅图像来计算各点相位时，不需要三角函数，而是线性函数，计算速度快。另外，将光栅周期选择大于锡膏高度可能产生的对光栅的最大调制距离，这样相位展开时得到的锡膏相对高度值应在一个光栅周期范围内，若为负，则加上一个周期，使相位展开变得简单。 
在亮度呈线性渐变的周期光栅投影下，分别改变光栅相位四分之一周期，采集四幅图像，根据四幅图像的灰度值，可以采用简单的线性计算得到各点的高度值，推导有具体的准确计算公式。简单地说就是计算速度快、相位展开简单、不会出错。 
附图说明
图1为本实用新型相位测量算法流程图； 
图2为本实用新型测量系统硬件结构示意框图；
图3为投影光栅沿垂直光栅方向的位置-亮度线性变化示意图；
图4为投影光栅四次移相后的位置-亮度变化示意图；
图5为四次移相光栅投影下各点相位计算示意图。
具体实施方式
本实施例中，参照图2，所述贴片印刷锡膏快速三维测量系统，系统的结构包括结构光投影单元、图像采集单元和计算机；计算机连接控制结构光投影单元和图像采集单元；结构光投影单元包括光源、聚光透镜、线性渐变光栅、远心镜头和控制光栅的移相装置，远心镜头设于渐变光栅前面，渐变光栅设于光源头面，移相装置连接控制渐变光栅；图像采集单元包括数字相机、偏振片、远心镜头，偏振片设于远心镜头前面，远心镜头设于数字相机前面；计算机连接控制数字相机、光源及移相转置。 
参照图1、图3、图4和图5，该系统的测量方法为：采用亮度呈三角波周期变化的亮度线性渐变光栅投影，然后从与投影方向成角度θ用数字相机采集光栅投影下的锡膏图像
Figure 225682DEST_PATH_669567DEST_PATH_IMAGE015
；然后移动光栅的相位四分之一周期，采集第二幅图像
Figure 560849DEST_PATH_609841DEST_PATH_IMAGE017
；然后继续同方向移动光栅的相位四分之一周期，采集第三幅图像
Figure 289770DEST_PATH_133226DEST_PATH_IMAGE019
；然后再继续同方向移动光栅的相位四分之一周期，采集第四幅图像
Figure 555536DEST_PATH_297491DEST_PATH_IMAGE021
；根据采集的在不同相位的光栅投影下的四幅图像的灰度值，快速计算得到印刷锡膏的相对于电路板附近位置的相对高度，而不用进行反正切函数计算，其中第四幅图像的灰度值也可以由前三幅图像的灰度值计算得到： 
Figure 53513DEST_PATH_476800DEST_PATH_IMAGE023
；
可根据整个三维测量中移相、采集、存储的时间开销与三维高度测量软件运算的时间开销比较进行灵活选择，然后分别计算图像中各锡膏区域像素点对光栅的调制后相位
Figure 559581DEST_PATH_17503DEST_PATH_IMAGE025
、锡膏相对于电路板附近位置的相对调制相位
Figure 775798DEST_PATH_395395DEST_PATH_IMAGE027
和相对高度
Figure 658304DEST_PATH_936753DEST_PATH_IMAGE029
：
（1）如果
Figure 10788DEST_PATH_400095DEST_PATH_IMAGE031
而且
Figure 891019DEST_PATH_744489DEST_PATH_IMAGE033
，则
Figure 328954DEST_PATH_242466DEST_PATH_IMAGE035
（2）如果
Figure 749571DEST_PATH_686217DEST_PATH_IMAGE037
而且，则
（3）如果
Figure 995241DEST_PATH_75107DEST_PATH_IMAGE043
而且
Figure 907965DEST_PATH_752076DEST_PATH_IMAGE045
，则
Figure 235041DEST_PATH_190011DEST_PATH_IMAGE047
（4）如果而且
Figure 931918DEST_PATH_20881DEST_PATH_IMAGE051
，则
Figure 694338DEST_PATH_134330DEST_PATH_IMAGE053
选择与投影光栅线平行方向的锡膏相邻电路板位置一个点
Figure 875921DEST_PATH_997244DEST_PATH_IMAGE055
或几个点作为基板，同样按上述方法计算得到
Figure 268856DEST_PATH_221552DEST_PATH_IMAGE057
或几个值取平均，相对调制相位为：
Figure 168679DEST_PATH_548628DEST_PATH_IMAGE059
，
如果
Figure 734789DEST_PATH_832979DEST_PATH_IMAGE061
，则
Figure 770878DEST_PATH_917610DEST_PATH_IMAGE063
，否则
Figure 397032DEST_PATH_945608DEST_PATH_IMAGE065
；
各锡膏点相对于邻近电路板基板位置的相对高度为：
其中T、k均为已知常数：
Figure 75324DEST_PATH_520126DEST_PATH_IMAGE069
，θ是光栅投影光轴与图像采集光轴间的夹角，取值为15~20度范围内；T是投影光栅的周期，取在200~250 μm范围内。
投影采用数字微处理设备投影仪来产生光栅图案，或者采用均匀光源照射玻璃光栅来产生光栅图案。 
在每个检测视场区域，计算机控制光源照射，经聚光透镜照射到光栅，产生线性渐变的结构光图案，经远心镜头使光线变为平行光线而减小变形；结构光图案经远心镜头后照射到被检测的印刷了锡膏的电路板上，电路板上印刷的锡膏高度变化会对结构光图案产生调制，计算机同时控制数字相机采集被检测的印刷了锡膏的电路板图像；然后，计算机控制移相装置使光栅移相光栅周期的四分之一距离，重复控制使光源照射，数字相机再次采集图像；如此移相、采集四次，得到四幅在不同相位的相同光栅图案照射下的被检测对象的图像：
Figure 231499DEST_PATH_419949DEST_PATH_IMAGE015
、
Figure 28553DEST_PATH_986060DEST_PATH_IMAGE017
、
Figure 637389DEST_PATH_959832DEST_PATH_IMAGE019
和
Figure 810882DEST_PATH_585985DEST_PATH_IMAGE021
；其中第四幅图像可以采集，也可以由前三幅图像计算得到：
Figure 821563DEST_PATH_707525DEST_PATH_IMAGE023
； 
投影光栅图案也可直接由数字投影仪分别投影四幅不同相位的光栅图案而产生。
光栅图案投影到没有锡膏的光滑电路板平面，就会产生亮度呈周期性线性渐变的结构光投影光栅图案，但是由于投影光线和图像采集方向存在一个角度θ，且一般在15~20度的范围内，印刷锡膏的厚度变化或者说相对与电路板的高度变化，会提前挡住其后面的光线，使光栅图案产生变化，即对光栅产生了调制；某点的相对高度变化
Figure 727202DEST_PATH_12080DEST_PATH_IMAGE071
与其所挡住光线的点的相对水平位置
Figure 823334DEST_PATH_168255DEST_PATH_IMAGE073
间的关系是：
Figure 269359DEST_PATH_965310DEST_PATH_IMAGE075
，记
Figure 400126DEST_PATH_511828DEST_PATH_IMAGE069
，则有
Figure 538983DEST_PATH_419742DEST_PATH_IMAGE077
； 
但是高度变化产生的对投影光栅的调制在亮度变化和高度变化上的关系由于光栅的周期性而不是简单的线性关系，使用一中间变量成为相位
Figure 122411DEST_PATH_430423DEST_PATH_IMAGE079
，对于投影光栅在一个周期内的相位定义为线性从0~8，相位和各点的沿垂直于光栅方向的位置x在每周期内是线性关系：
Figure 75191DEST_PATH_336062DEST_PATH_IMAGE081
；据此可确定相位和采集的图像灰度间的关系，首先将光栅周期分为四个区域，在移相四分之一周期的四个光栅图案投影下，各点的相位和其位置变化间的关系在四个区域是不同的，第i次光栅投影下采集的图像在像素点
Figure 60465DEST_PATH_432194DEST_PATH_IMAGE083
的灰度为：
Figure 370223DEST_PATH_143798DEST_PATH_IMAGE085
其中
Figure 440947DEST_PATH_274565DEST_PATH_IMAGE087
为与投影光栅无关的背景光线在该像素点产生的灰度，
Figure 494354DEST_PATH_351106DEST_PATH_IMAGE089
为第i次光栅投影在该像素点产生的灰度，设各周期起始相位为0，
Figure 334134DEST_PATH_668954DEST_PATH_IMAGE091
为光栅亮度变化的斜率；
在第一区域：
Figure 752477DEST_PATH_184249DEST_PATH_IMAGE093
，
Figure 44918DEST_PATH_107206DEST_PATH_IMAGE095
，
Figure 902016DEST_PATH_416965DEST_PATH_IMAGE097
，
Figure 596302DEST_PATH_222110DEST_PATH_IMAGE099
；
所以得到：
Figure 247863DEST_PATH_150882DEST_PATH_IMAGE035
在第二区域：
Figure 293180DEST_PATH_990663DEST_PATH_IMAGE101
，
Figure 875340DEST_PATH_471322DEST_PATH_IMAGE095
，
Figure 424133DEST_PATH_967026DEST_PATH_IMAGE103
，
Figure 512174DEST_PATH_558544DEST_PATH_IMAGE099
；
所以得到：
在第三区域：
Figure 712529DEST_PATH_169971DEST_PATH_IMAGE101
，
Figure 381407DEST_PATH_714540DEST_PATH_IMAGE105
，
Figure 578034DEST_PATH_109749DEST_PATH_IMAGE103
，
Figure 66784DEST_PATH_924121DEST_PATH_IMAGE107
；
所以得到：
在第四区域：
Figure 592760DEST_PATH_951300DEST_PATH_IMAGE109
，
Figure 757025DEST_PATH_150200DEST_PATH_IMAGE105
，
Figure 998651DEST_PATH_756762DEST_PATH_IMAGE111
，
Figure 227769DEST_PATH_750126DEST_PATH_IMAGE107
；
所以得到：
Figure 605661DEST_PATH_504455DEST_PATH_IMAGE053
；
上述得到的
Figure 206406DEST_PATH_444730DEST_PATH_IMAGE025
即为在四个区域中各点的相位和其位置变化间的关系。
在采集四幅图像的过程中，依次移动光栅的相位、采集图像，重复四次，或者第四次图像由前三次的图像数据计算得到，光栅的移动采用压电陶瓷控制光栅每次移动四分之一周期，然后在整个投影采集系统移动到下一个采集视场区域的同时，控制光栅回复到初始位置。 
以上已将本实用新型做一详细说明，以上所述，仅为本实用新型之较佳实施例而已，当不能限定本实用新型实施范围，即凡依本申请范围所作均等变化与修饰，皆应仍属本实用新型涵盖范围内。 

Claims (3)

1.一种贴片印刷锡膏快速三维测量系统，其特征在于：该系统的结构包括结构光投影单元、图像采集单元和计算机；计算机连接控制结构光投影单元和图像采集单元；结构光投影单元包括光源、聚光透镜、线性渐变光栅、远心镜头和控制光栅的移相装置，远心镜头设于渐变光栅前面，渐变光栅设于光源头面，移相装置连接控制渐变光栅；图像采集单元包括数字相机、偏振片、远心镜头，偏振片设于远心镜头前面，远心镜头设于数字相机前面；计算机连接控制数字相机、光源及移相转置。
2.根据权利要求1所述的贴片印刷锡膏快速三维测量系统，其特征在于：所述线性渐变光栅为亮度呈三角波周期变化的亮度线性渐变光栅。
3.根据权利要求1所述的贴片印刷锡膏快速三维测量系统，其特征在于：投影光源采用数字微处理设备投影仪或者均匀光源照射。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103047944A (zh) * 2013-01-22 2013-04-17 廖怀宝 三维物体测量方法及其测量装置
CN104197837A (zh) * 2014-09-19 2014-12-10 福建师范大学 一种复杂表面物体体积的非接触式光学测量方法及装置
CN104655027A (zh) * 2015-03-11 2015-05-27 罗艺 微小高度的检测方法及系统
CN107270823A (zh) * 2017-07-28 2017-10-20 深圳市兴华炜科技有限公司 一种钢网厚度检测设备和检测方法
CN108139208A (zh) * 2015-12-22 2018-06-08 Ckd株式会社 三维测量装置
CN109357636A (zh) * 2018-12-10 2019-02-19 电子科技大学 一种基于黑色件结构光扫描的相位放大计算方法
TWI706318B (zh) * 2019-03-15 2020-10-01 鴻海精密工業股份有限公司 錫膏印刷品質檢測方法、數據處理裝置及電腦存儲介質
CN112461141A (zh) * 2021-02-03 2021-03-09 嘉兴景焱智能装备技术有限公司 结构光3d测高装置及测高方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103047944A (zh) * 2013-01-22 2013-04-17 廖怀宝 三维物体测量方法及其测量装置
CN103047944B (zh) * 2013-01-22 2014-04-02 廖怀宝 三维物体测量方法及其测量装置
CN104197837A (zh) * 2014-09-19 2014-12-10 福建师范大学 一种复杂表面物体体积的非接触式光学测量方法及装置
CN104655027A (zh) * 2015-03-11 2015-05-27 罗艺 微小高度的检测方法及系统
CN108139208A (zh) * 2015-12-22 2018-06-08 Ckd株式会社 三维测量装置
CN107270823A (zh) * 2017-07-28 2017-10-20 深圳市兴华炜科技有限公司 一种钢网厚度检测设备和检测方法
CN109357636A (zh) * 2018-12-10 2019-02-19 电子科技大学 一种基于黑色件结构光扫描的相位放大计算方法
CN109357636B (zh) * 2018-12-10 2019-12-17 电子科技大学 一种基于黑色件结构光扫描的相位放大计算方法
TWI706318B (zh) * 2019-03-15 2020-10-01 鴻海精密工業股份有限公司 錫膏印刷品質檢測方法、數據處理裝置及電腦存儲介質
CN112461141A (zh) * 2021-02-03 2021-03-09 嘉兴景焱智能装备技术有限公司 结构光3d测高装置及测高方法

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