CN201917651U - 一种剩余电流检测环自检电路 - Google Patents
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Abstract
一种剩余电流检测环自检电路,依次由相互连接的外置剩余电流检测环接口J1、自检电阻R1、采样电路、差动放大电路及MCU的A\D端口Iin。采样电路包括采样电阻R2和高频滤波电容C1,剩余电流检测环的内阻为Ri,与采样电阻R2并联后分压由R1输入的自检信号,输出到运算放大器U1的反相输入端和同相输入端;运算放大器U1与电阻R5、R3、R4、R7组成差动放大电路将信号放大后输送到MCU的A\D输入端口Iin进行采样数值的计算。本实用新型电路简洁不需单独的震荡电路、自检准确高且快速,提高了效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种自检电路,特别是涉及一种剩余电流检测环自检电路。
背景技术
目前大部分厂家生产的剩余电流式电气火灾监控探测器的剩余电流检测环自检大多采用剩余电流检测环增加自检绕组监控器震荡电路实现,自检时震荡电路产生模拟的交流信号来自检检测环,自检的监控器电路复杂,检测环有两个自检绕组,即两个接线端,自检时震荡信号还需维持一定时间来检测,有自检周期长,电路复杂等缺点,有些低端产品为了节约成本甚至没有检测环自检功能,更是给检测器带来很大的隐患。
发明内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供一种剩余电流检测环自检电路,电路简洁不需单独的震荡电路、自检准确高且快速,提高了效率。
为了达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是:一种剩余电流检测环自检电路,依次由相互连接的外置剩余电流检测环接口J1、自检电阻R1、采样电路、运算放大电路及MCU的A\D端口Iin。剩余电流检测环的内阻为Ri,采样电路包括采样电阻R2和高频滤波电容C1,在外置剩余电流检测环接口J1和采样电阻R2之间连接有防止剩余电流检测环开路的保护二极管D1、D2;自检电阻R1接MCU的自检输出I/O端口Censor,在自检电阻R1与MCU的自检输出I/O端口Censor之间接一保护二极管D3;MCU的自检输出I/O端口Censor输出的自检信号经剩余电流检测环的内阻Ri与采样电阻R2并联后与自检电阻R1的分压输入到运算放大器U1、R3、R4、R5、R7构成的差动放大电路;运算放大器U1的输出端串联一电阻R6后输送到MCU的A\D输入端口Iin进行采样数值的计算。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:电路简洁不需单独的震荡电路、自检准确高且快速,提高了效率。
附图说明:
图1为本实用新型的电路原理图。
具体实施方式:
本实用新型的主旨在于克服现有技术的不足,提供一种剩余电流检测环自检电路,电路简洁不需单独的震荡电路、自检准确高且快速,提高了效率。下面结合实施例参照附图进行详细说明,以便对本实用新型的技术特征及优点进行更深入的诠释。
本实用新型的原理框图如图1所示,一种剩余电流检测环自检电路,依次由相互连接的外置剩余电流检测环接口J1、自检电阻R1、采样电路、差动运算放大电路及MCU的A\D端口Iin。剩余电流检测环的内阻为Ri,采样电路包括采样电阻R2和高频滤波电容C1,在外置剩余电流检测环接口J1和采样电阻R2之间连接有防止剩余电流检测环开路的保护二极管D1、D2;自检电阻R1接MCU的自检输出I/O端口Censor,在自检电阻R1与MCU的自检输出I/O端口Censor之间接一保护二极管D3;自检I/O端口Censor输出的自检信号经剩余电流检测环的内阻Ri与采样电阻R2并联后与自检电阻R1分压后输入到运算放大器U1、R3、R4、R5、R7构成的差动放大电路,运算放大器U1的输出端串联一电阻R6后输送到MCU的A\D输入端口Iin进行采样数值的计算。
剩余电流式电气火灾监控探测器在接收到自检检测环指令后,首先判断当前是否存在剩余电流值,当前存在剩余电流则说明检测环工作正常,无需自检,当前没有剩余电流则启动检测环自检电路。
MCU的自检输出I/O端口Censor置高电平输出,输出上偏置自检电压信号,经剩余电流检测环的内阻Ri与采样电阻R2并联后与自检电阻R1分压后输入到运算放大器U1、R3、R4、R5、R7构成的差动放大电路放大后输出到MCU的A\D端口,MCU根据A\D的采样数值来计算检测环的大致内阻来判断检测环是否损坏,从而实现检测环的自检,自检结束后MCU的自检输出I/O端口Censor置高阻输入状态,对MCU的剩余电流采样没有影响。
Claims (5)
1.一种剩余电流检测环自检电路,其特征在于:依次由相互连接的外置剩余电流检测环接口J1、自检电阻R1、采样电路、运算放大电路及MCU的A\D端口Iin。
2.根据权利要求1所述的剩余电流检测环自检电路,其特征在于:所述的剩余电流检测环自检电路的剩余电流检测环的内阻为Ri,采样电路包括采样电阻R2和高频滤波电容C1,在外置剩余电流检测环接口J1和采样电阻R2之间连接有防止剩余电流检测环开路的保护二极管D1、D2。
3.根据权利要求2所述的剩余电流检测环自检电路,其特征在于:所述的剩余电流检测环自检电路的自检电阻R1接MCU的自检输出I/O端口Censor,在自检电阻R1与MCU的自检输出I/O端口Censor之间接一保护二极管D3。
4.根据权利要求3所述的剩余电流检测环自检电路,其特征在于:所述的I/O端口Censor输出的自检信号经自检电阻R1与并联的剩余电流检测环的内阻Ri、采样电阻R2的分压连接运算放大器U1的反相输入端和同相输入端。
5.根据权利要求4所述的剩余电流检测环自检电路,其特征在于:所述的运算放大器U1的输出端串联一电阻R6后连接MCU的A\D输入端口Iin。
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- 2010-12-13 CN CN201020655292XU patent/CN201917651U/zh not_active Expired - Lifetime
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