CN201892666U - 平行线状样品托 - Google Patents

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欧宏炜
吕洋
刁杰
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Abstract

本实用新型提供一种平行线状样品托,至少包括一个本体,所述本体(10)设有一对相对的平行外边,以及另一对相对的向外的弧线外边,所述本体设有一个贯通的中心圆孔,所述圆孔的两端面处分别设有具一定宽度的圆形凸台(1),所述两圆形凸台(1)中至少有一个凸台上设有平行凹槽(2)。本实用新型能使被测线状样品处于定形、定量状态;保持被测线状样品处于一定张力状态,利于二次X荧光信号的收集与测量;平行式绕线方式既减少了样品使用量,又大大降低了绕线难度和绕线时间,使测量更便捷。

Description

平行线状样品托
技术领域
本实用新型涉及一种承载测试用样品的装置,具体而言是一种平行线状样品托。
背景技术
X射线荧光光谱分析法具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末(需压制成块状)、液体、糊状物、油脂、薄膜等。利用 X射线荧光光谱技术分析样品具有很多优势,例如:只需少量或无需样品制备,快速无损分析,操作简单,可由生产人员操作,不会产生有害的化学物质。
但是,到目前为止,由于线状样品不易固定和成形,尚无针对线状样品(例如纺织物,医用缝合线等等)的应用。通常我们只能将线状样品团成一团放入X射线荧光光谱分析仪中进行测量,这就使得待测样品的状态处于一种不受控制的随机状态,从而导致测量重现性差,严重影响了测量的准确性。
因此,我们急需一种可以适合承载线状样品的样品托,来控制线性样品的状态,保证测量的重现性,使得X射线荧光光谱分析法能应用到线状样品的测量中。
实用新型内容
本实用新型的目的在于解决现有技术的不足,提供一种平行线状样品托。
为了解决实现上述目的,本实用新型的技术方案是这样的:
一种平行线状样品托,至少包括一个本体,所述本体设有一对相对的平行外边,以及另一对相对的向外的弧线外边,所述本体设有一个贯通的中心圆孔,所述圆孔的两端面处分别设有具一定宽度的圆形凸台,所述两圆形凸台中至少有一个凸台上设有平行凹槽。
所述的平行凹槽与平行外边呈垂直设置。
所述平行凹槽等距离设置。
相对的凸台上设置的所述平行凹槽数量相等。
本实用新型的积极效果是:
1、被测线状样品处于定形、定量状态,提高了测量结果的重现性和准确性。
2、保持被测线状样品处于一定张力状态,利于二次X荧光信号的收集与测量,为测量样品中微量有害元素提供了基础。
3、平行式绕线方式既减少了样品使用量,又大大降低了绕线难度和绕线时间,使测量更便捷。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式来详细说明本实用新型。
图1为主视图。
图2为俯视图。
图3为仰视图。
图中:1—圆形凸台、2—平行凹槽、10—本体。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体图示,进一步阐述本实用新型。
如图1所示,本实用新型一种平行线状样品托,包括一个本体10,所述本体10设有一对相对的平行外边,以及另一对相对的向外的弧线外边,所述本体设有一个贯通的中心圆孔,所述圆孔的两端面处设有具一定宽度的圆形凸台1,所述圆形凸台1中的一个凸台上设有平行凹槽2。所述的平行凹槽2呈等距离设置,且与平行外边相互垂直。
如图2、图3所示,使用时,只需将线状样品依次嵌入平行凹槽2中,完成线状样品的绕线工作即可。在进行X射线荧光光谱分析时,只需将绕线完成的样品托放入仪器的样品盘中即可。
本实用新型的积极效果是:
1、被测线状样品处于定形、定量状态,提高了测量结果的重现性和准确性。
2、保持被测线状样品处于一定张力状态,利于二次X荧光信号的收集与测量,为测量样品中微量有害元素提供了基础。
3、平行式绕线方式既减少了样品使用量,又大大降低了绕线难度和绕线时间,使测量更便捷。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。

Claims (4)

1.一种平行线状样品托,至少包括一个本体(10),其特征在于,所述本体(10)设有一对相对的平行外边,以及另一对相对的向外的弧线外边,所述本体设有一个贯通的中心圆孔,所述圆孔的两端面处分别设有具一定宽度的圆形凸台(1),所述两圆形凸台(1)中至少有一个凸台上设有平行凹槽(2)。
2.如权利要求1所述的平行线状样品托,其特征在于,所述的平行凹槽(2)与平行外边呈垂直设置。
3.如权利要求1或2所述的平行线状样品托,其特征在于,凹槽(2)等距离设置。
4.如权利要求1或2所述的平行线状样品托,其特征在于,相对的凸台上设置的所述凹槽(2)数量相等。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN108068118A (zh) * 2016-11-14 2018-05-25 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 一种应用于真空互联系统的样品传送系统

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