CN201860016U - 一种阳极超低型测试转接器 - Google Patents

一种阳极超低型测试转接器 Download PDF

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Abstract

一种阳极超低型测试转接器，包括内导体，内导体和外导体通过绝缘体连接成整体，内导体的一端为阳极超低端口，另一端为标准接口，内导体的内部为倒刺结构，外部为阶梯外圆结构，转接器的整体长度缩短至少3.9mm，将非标准连接器的测试端和阳极超低端口连接，信号经内导体从阳极超低端口转至标准接口，实现阳极超低型连接器的性能测试，本实用新型能够对非标准连接器进行性能测试，结构简单，使用方便，具有测试成本低的优点。

Description

一种阳极超低型测试转接器
技术领域
本实用新型涉及一种测试转接器，具体涉及一种阳极超低型测试转接器。
技术背景
随着通讯技术的发展，各种使用于微波通信、移动通信、精密测试仪器等设备中的连接器在结构上不断地增加自主开发的各种元素，然而各连接器制造商自主开发后带来了非标准的各种连接器产品，存在各种性能测试困难的困惑。
发明内容
为了克服上述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供了一种阳极超低型测试转接器，能够测试非标准连接器的性能，结构简单，使用方便，具有测试成本低的优点。
为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：
一种阳极超低型测试转接器，包括内导体1，内导体1和外导体3通过绝缘体2连接成整体，内导体1的一端为阳极超低端口4，另一端为标准接口5，内导体1的内部为倒刺结构A，外部为阶梯外圆结构，转接器的整体长度比普通N型简短至少3.9mm。
所述的内导体1与绝缘体2为过盈配合。
所述的绝缘体2与外导体3为过盈配合。
本实用新型工作原理为：
将非标准连接器的测试端和阳极超低端口4连接，信号经内导体1从阳极超低端口4转至标准接口5，实现阳极超低型连接器的性能测试。
由于本实用新型能够对非标准连接器进行性能测试，结构简单，使用方便，故而具有测试成本低的优点。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为内导体1的阶梯外圆结构示意图。
图3为内导体1的倒刺结构位置示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型作进一步描述。
参照图1、2、3，一种阳极超低型测试转接器，包括内导体1，内导体1和外导体3通过绝缘体2连接成整体，内导体1的一端为阳极超低端口4，另一端为标准接口5，内导体1的内部为倒刺结构A，外部为阶梯外圆结构，即：内导体1的一端为锥形头6，锥形头6和第一柱形体7相接，第一柱形体7的另一端和锥形台8的大端头相接，锥形台8的小端头和第二柱形体9相接，第二柱形体9的另一端和第三柱形体10的一端相接，第一柱形体7的外圆直径和锥形头6的锥底直径相同，锥形台8的大端头的直径大于第一柱形体7的外圆直径，锥形台8的小端头直径等于第一柱形体7的外圆直径，第二柱形体9的直径等于第一柱形体7的外圆直径，第三柱形体10的外圆直径小于第一柱形体7的外圆直径，转接器的整体长度比普通N型产品缩短至少3.9mm。
所述的内导体1与绝缘体2为过盈配合。
所述的绝缘体2与外导体3为过盈配合。
本实用新型工作原理为：
将非标准连接器的测试端和阳极超低端口4连接，信号经内导体1从阳极超低端口4转至标准接口端口5，实现阳极超低型连接器的性能测试。
附图中：1为内导体；2为绝缘体；3为外导体；4为阳极超低端口；5为标准接口；A为倒刺结构；6为锥形头；7为第一柱形体；8为锥形台；9为第二柱形体；10为第三柱形体。

Claims (3)

1.一种阳极超低型测试转接器，包括内导体(1)，内导体(1)和外导体(3)通过绝缘体(2)连接成整体，其特征在于：内导体(1)的一端为阳极超低端口(4)，另一端为标准接口(5)，内导体(1)的内部为倒刺结构(A)，外部为阶梯外圆结构，转接器的整体长度比普通N型简短至少3.9mm。
2.根据权利要求1所述的一种阳极超低型测试转接器，其特征在于：所述的内导体(1)与绝缘体(2)为过盈配合。
3.根据权利要求1所述的一种阳极超低型测试转接器，其特征在于：所述的绝缘体(2)与外导体(3)为过盈配合。 
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