CN201803957U - 非接触式太阳能电池缺陷检测装置 - Google Patents
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN2010205658151U CN201803957U (zh) | 2010-10-15 | 2010-10-15 | 非接触式太阳能电池缺陷检测装置 |
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CN2010205658151U CN201803957U (zh) | 2010-10-15 | 2010-10-15 | 非接触式太阳能电池缺陷检测装置 |
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CN2010205658151U Expired - Lifetime CN201803957U (zh) | 2010-10-15 | 2010-10-15 | 非接触式太阳能电池缺陷检测装置 |
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CN (1) | CN201803957U (zh) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103048297A (zh) * | 2011-10-16 | 2013-04-17 | 上海太阳能工程技术研究中心有限公司 | 硅片及硅太阳电池片缺陷检测方法 |
CN103543162A (zh) * | 2013-11-05 | 2014-01-29 | 中国矿业大学 | 一种半导体片材的表面缺陷及厚度检测方法及装置 |
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CN106952260A (zh) * | 2017-03-31 | 2017-07-14 | 深圳华中科技大学研究院 | 一种基于cis图像采集的太阳能电池片缺陷检测系统和方法 |
CN114914166A (zh) * | 2022-06-07 | 2022-08-16 | 波粒(北京)光电科技有限公司 | 利用光致发光在线检测钙钛矿电池的装置 |
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2010
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C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: TIANJIN HENGDIAN SPACE POWER SOURCE CO., LTD. Effective date: 20130506 |
|
C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20130506 Address after: Chuang-tzu 300381 Tianjin city Nankai District liqizhuang Ling Road No. 18 Patentee after: No.18 Inst., China Electronic Sci-Tech Group Corp. Patentee after: TIANJIN HENGDIAN SPACE POWER SOURCE CO., LTD. Address before: Chuang-tzu 300381 Tianjin city Nankai District liqizhuang Ling Road No. 18 Patentee before: No.18 Inst., China Electronic Sci-Tech Group Corp. |
|
CX01 | Expiry of patent term |
Granted publication date: 20110420 |
|
CX01 | Expiry of patent term |