CN201584986U - 一种新型的以太网测试卡 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种新型的以太网测试卡，用于对通信网的以太网接口进行测试，对通信网络进行测试和分析。本实用新型用SFP光模块插座作为板卡的对外接口模块的插座，通过更换对外接口模块，更换为SFP光模块或SFP-T电模块，来实现在同一块测试卡上光电混合测试，并且支持测试接口的任意分配，提高测试效率，降低测试成本。
Description
所属技术领域
本新型涉及一种新型的以太网测试卡，用于对通信网的以太网接口进行测试，对通信网络进行测试和分析，测试包括协议采集测试分析和协议仿真测试两种方式。与传统相比，应用这种测试卡，能够同时测试电口和光口以太网，并且可以任意分配光口和电口的数量，提高测试的效率，降低测试的成本。
背景技术
目前，公知的以太网测试卡有以下两种测试板卡，以太网光口测试卡，支持1-4路光口的测试；以太网电口测试卡，支持1-4路电接口的测试。在实际的测试对光口、电口在不同的网络环境下都有需要，但这两种板卡都不能同时支持光口、电口的混合测试，更不能进行测试接口的任意分配，存在测试效率低，测试成本高的问题。
新型内容
为了解决以太网测试卡光电混合测试的能力，本新型采用SFP光模块插座作为板卡的对外接口模块的插座，一个测试卡可以装配1-4个这样的插座。在插座上插入SFP-T电口模块，能够实现以太网电口的测试，以太网电接口能够满足10M、100M、1000M不同速率的测试；在插座上插入SFP光模块，实现以太网光口的测试，可以同时配置单模SFP光模块和多模SFP光模块，可以满足单模和多模的混合测试能力。这样在同一块板卡，只需同时配置单模SFP光模块、多模SFP光模块和SFP-T电模块，就提供支持电口、单模光接口、多模光接口的以太网测试能力。
本新型解决技术问题所采用的技术方案是：用SFP光模块插座作为板卡的对外接口模块的插座，通过更换对外接口模块，更换为SFP光模块或SFP-T电模块，来实现光电混合测试，并且支持测试接口的任意配置，用SFP光模块插座作为板卡的对外接口模块。
本新型的有益效果是，能同时支持光口、电口的混合测试，能进行测试接口的任意分配，提高测试效率，降低测试成本高。
附图说明
下面结合附图和实施例对本新型进一步说明。
图1是本新型的基本方案图。
图2是本新型的实施例1结构示意图。
图3是本新型的实施例2结构示意图。
图1中，1.以太网测试卡，2.SFP光模块插座，3.SFP-T电模块，4.SFP单模光模块，5.SFP多模光模块，6.接口状态指示等
具体实施方式
在图1中，以太网测试卡(1)上安放1-4个SFP光模块插座(2)，在SFP光模块插座(2)上插入SFP-T电模块时，能够支持10M、100M和1000M电接口的测试；在SFP光模块插座(2)上插入单模SFP光模块(4)，能够支持单模光接口的测试；在SFP光模块插座(2)上插入多模SFP光模块(5)，能够支持多模光接口的测试；板卡上有接口状态指示灯(6)来显示每个端口的状态，指示灯(6)不是必须的。
在图2中，以太网测试卡(1)上安放1-4个SFP光模块插座(2)，在板卡上有PHY芯片(3)与SFP光模块插座(2)连接，PHY芯片(3)与CPU芯片(4)相连接，CPU芯片(4)中有MAC处理模块；当SFP光模块插座(2)上插入SFP光模块，需要把PHY芯片(3)中对应的PHY模块设置为非直通模式，当SFP光模块插座(2)上插入SFP-T电模块，需要把PHY芯片(3)对应的PHY模块设置为直通模式；PHY芯片(3)的PHY模块工作模式设置可以采用管脚设置和寄存器设置两种方式。
在图3中，以太网测试卡(1)上安放1-4个SFP光模块插座(2)，在板卡上有FPGA(3)与SFP光模块插座(2)连接，FPGA(3)内部有PHY处理模块和MAC处理模块。
Claims (7)
1.一种新型的以太网测试卡，其特征在于，板卡有1-4个SFP光模块插座，通过配置SFP光模块和SFP-T电模块，来实现在同一块测试卡上光电混合测试和测试接口的任意分配。
2.如权利要求1所述的一种新型的以太网测试卡，SFP-T电模块前端是标准RJ45接口，后端是SGMII接口。
3.如权利要求1所述的一种新型的以太网测试卡，板卡上有1-4个SFP光模块插座和FPGA芯片，FPGA芯片中有PHY处理模块和MAC处理模块。
4.如权利要求1所述的一种新型的以太网测试卡，可以配置单模SFP光模块和多模SFP光模块，再加上SFP-T电模块，在同一块测试卡上支持单模光口、多模光口、电口10M、电口100M、电口1000M的混合测试和接口任意分配的能力。
5.如权利要求1所述的一种新型的以太网测试卡，板卡上有1-4个SFP光模块插座，PHY芯片和CPU芯片，CPU芯片中有MAC处理模块。
6.如权利要求5所述的一种新型的以太网测试卡，PHY芯片的PHY模块工作模式控制采用管脚控制的方式。
7.如权利要求5所述的一种新型的以太网测试卡，PHY芯片的PHY模块工作模式控制采用寄存器控制的方式。
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| CN2010201114882U CN201584986U (zh) | 2010-02-10 | 2010-02-10 | 一种新型的以太网测试卡 |
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Publications (1)
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Family
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Country Status (1)
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013096250A1 (en) * | 2011-12-22 | 2013-06-27 | Cisco Technology, Inc. | Universal test system for testing electrical and optical hosts |
| CN108535629A (zh) * | 2018-03-30 | 2018-09-14 | 西安微电子技术研究所 | 一种以太网电路测试系统及方法 |
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2010
- 2010-02-10 CN CN2010201114882U patent/CN201584986U/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013096250A1 (en) * | 2011-12-22 | 2013-06-27 | Cisco Technology, Inc. | Universal test system for testing electrical and optical hosts |
| US8963573B2 (en) | 2011-12-22 | 2015-02-24 | Cisco Technology, Inc. | Universal test system for testing electrical and optical hosts |
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