CN201464496U - 测试治具 - Google Patents

Abstract

一种测试治具，提供一独立测试环境以对电子器件的外接卡进行运行测试，该测试治具包括具有多个侧板的测试治具本体、以及测量器。其中，该测量器具有穿设进入该测试环境中且与该电子器件的外接卡相面对的测量端，以在最接近该电子器件的外接卡的位置进行测量，从而有效提高测量准确度。另外，该测试治具本体的部分侧板设置有轨道，以因应不同规格的电子器件更换不同形式的侧板，从而有效提升对于不同规格电子器件的适应性。所以，本实用新型的测试治具能够有效克服现有技术中的种种缺陷而具有高度产业利用价值。

Description

测试治具

技术领域

本实用新型涉及一种测试治具，特别是涉及一种提供独立环境以对服务器等电子器件的外接卡进行运行测试的测试治具。

背景技术

由于电子产品日趋微型化及多功能化，连带使得功能强大的电子产品经常要经过多种测试以确保其性能达到最佳，因此各类测试治具在电子产品的研发及生产过程中尤不可缺；对每一种电子产品而言，均有一定的运行环境条件要求，因此，在研发阶段的测试中，即需对电子产品进行相对应的环境测试，例如：将需进行测试的电子产品置在所提供的测试治具中运行，通过该测试治具模拟该电子产品所需的测试条件，例如模拟温度、湿度或震动的测试条件，并使该测试条件能够维持一段时间，以便检测该电子产品是否符合安规要求。

所述的电子产品例如为服务器中的各式外接卡，若欲检测该电子产品是否符合要求，则必须提供一罩覆在该服务器上的测试治具，而在该测试治具内提供一适应该待检测的电子产品的测试环境，以便进行该电子产品的运行检测，进而判断该电子产品是否符合安规要求。然而，若该外接卡与该服务器运行的环境不同，则会发生因测试的进行而使该外接卡或该服务器无法正常运行的不利影响，甚至损坏该待测试的外接卡或该服务器。

举例而言，若该测试的外接卡为插设在服务器中的磁碟阵列卡(raid card)，且该磁碟阵列卡的允许工作温度范围为-10℃～60℃，而该插置磁碟阵列卡的服务器的允许工作温度范围为-5℃～40℃。此时，若该测试治具要对该磁碟阵列卡进行测试时，则需要提供温度范围为-10℃～60℃的测试环境，但是，服务器会因该测试治具所提供的测试温度超过其所能负荷而无法正常运行，进而影响该磁碟阵列卡的测试准确性，更严重地还会损坏该服务器。

因此，现有测试治具并不能对与服务器不同工作条件的外接卡进行运行检测，更不能同时对插设在该服务器中的不同工作条件的多个外接卡进行运行测试。

再者，现有测试治具提供一固定检测高度，也就是现有测试治具仅能对特定高度的电子产品进行运行检测，因而若待检测的电子产品的高度大于该测试治具所提供的检测高度时，则现有测试治具将会因高度规格的不符而无法对该电子产品进行运行测试。

因此，如何克服现有技术中的种种问题，实已成目前急欲解决的问题。

实用新型内容

鉴于所述现有技术的种种缺陷，本实用新型的一目的是提供一种有效提高测量准确度的测试治具。

本实用新型的另一目的是提供一种有效提升对于不同规格电子器件的外接卡的适应性的测试治具。

为达到所述及其他目的，本实用新型提供一种电子器件测试治具，其提供独立环境以对电子器件的外接卡进行运行测试，该测试治具包括：测试治具本体，具有底板、设在该底板周围的多个侧板、及设在该多个侧板上且与该底板相对的顶板，通过该底板、侧板及顶板的结合得以构成一测试环境，该底板具有穿设部，从而使该电子器件得以进入该测试环境中，该多个侧板的一个具有入风口，且在该入风口的对向侧板上具有出风口，而该入风口至该出风口的方向定义为第一方向，该多个侧板的一个具有电线通口，供通过电线，从而使该电子器件的外接卡通过该电线与该电子器件电性连接；以及测量器，设在该测试治具本体上，并具有穿设进入该测试环境中且与该电子器件相面对的测量端，该测量端至该电子器件的方向定义为垂直该第一方向的第二方向.

在本实用新型的一实施例中，该多个侧板中与该具有电线通口的侧板两相对端相邻的侧板还具有第一轨道，引导该具有电线通口的侧板相对于该测试治具本体运动。该第一方向为该测试环境中的气体流动方向。该测量器设在该多个侧板中与该电子器件的外接卡相面对的一侧板上，其中，设有该测量器的侧板具有测量器通口，穿设该测量器的测量端进入该测试环境中。

在本实用新型的另一实施例中，该多个侧板中与该具有电线通口的侧板两相对端相邻的侧板还具有第一轨道，引导该具有电线通口的侧板相对于该测试治具本体运动。该多个侧板中与该底板两相对端相邻的侧板还具有第二轨道，引导该底板相对于该测试治具本体运动。

在本实用新型的再一实施例中，该测量器为风速计或温度计。该穿设部为卡槽。该测试治具还包括风扇，设在该入风口上。测试治具还包括环境测试机，与该入风口相连接，其中，该环境测试机为恒温环境测试机、恒湿环境测试机或恒风速环境测试机。

本实用新型的测试治具是提供一独立的测试环境以对电子器件的外接卡进行运行测试，该测试治具包括具有多个侧板的测试治具本体、以及测量器。其中，该测量器具有穿设进入该测试环境中且与该电子器件的外接卡相面对的测量端，以在最接近该电子器件的外接卡的位置进行测量，从而有效提高测量准确度。

另外，本实用新型的测试治具提供一独立的测试环境，所以得以对与服务器等电子器件上的不同工作条件的外接卡进行运行检测，且若提供多个本实用新型的测试治具，也可同时对插设在该电子器件上的不同工作条件的多个外接卡进行运行测试。再者，本实用新型的测试治具的测试治具本体的部分侧板设置有轨道，以因应不同规格的电子器件更换不同形式的侧板，从而有效提升对于不同规格电子器件的适应性。

据上可知，本实用新型的测试治具能够有效克服现有技术中的种种缺陷而具高度产业利用价值。

附图说明

图1为本实用新型的一实施例的测试治具的构造示意图；

图2为本实用新型的一实施例的测试治具的测试治具本体的构造示意图；

图3为图2的测试治具的测试治具本体的俯视图；

图4为本实用新型的一实施例的测试治具的测试治具本体的设置状态示意图；以及

图5为本实用新型的另一实施例的测试治具的测试治具本体的设置状态示意图。

附图符号说明：

1    外接卡

2    测试治具

21   测试治具本体

211  第一侧板

2111 入风口

2121 出风口

2122 电线通口

212  第二侧板

213  第三侧板

214  第四侧板

2143 测量器通口

2131，2141，2132，2142  轨道

215  顶板

216  底板

2161 穿设部

22   风扇

3    测量器

31   测量端

4    电线

5    环境测试机

6    风管

S    环境

D1、D2方向

具体实施方式

以下通过特定的具体实施例说明本实用新型的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本实用新型的其他优点及功效。

首先需要注意的是，本实用新型所提供的附图均为简化的示意图，其仅以示意方式说明本实用新型的基本构造，因此其仅显示与本实用新型有关的构成，且所显示的构成并非以实际实施时的数目、形状、及尺寸比例绘制，其实际实施时的数目、形状及尺寸比例为一种选择性的设计，且其构成布局形态可能更为复杂。

请参阅图1至图3，为绘制本实用新型的一实施例的电子器件测试治具的示意图。本实施例的测试治具2是通过风管6与环境测试机5相连接，以提供独立环境以对服务器等电子器件的外接卡1进行运行测试，较佳地，是提供特定温度、风速、湿度及/或压力的测试环境，以对该外接卡1进行运行测试，所以该环境测试机5可依情况选择为恒温环境测试机、恒湿环境测试机或恒风速环境测试机等，但不以此为限。其中，该外接卡1为在服务器(图未示)上运行的各式外接卡，但也不以此为限，且该测试治具2至少包括测试治具本体21、以及测量器3。

如图所示，测试治具本体21具有底板216，环设在该底板213四周的第一、第二、第三及第四侧板211、212、213、214，与设在所述侧板211、212、213、214上且与该底板216相对的顶板215，通过所述底板216、侧板211、212、213、214及顶板215的结合得以构成一测试环境S。该底板216具有穿设部2161，在本实施例中该穿设部2161为卡槽，从而使该外接卡1得以进入该测试环境S中而进行运行测试，该第一侧板211具有入风口2111，该入风口2111是通过该风管6与该环境测试机5相连接，且该入风口2111还设置风扇22，以有效控制该入风口2111的入风量至适当。

在本实施例中，该入风口2111的对向侧板上设置有出风口2121，如此设置使由该入风口2111进入该测试环境S中的气体得以由该出风口2121离开，也就是能够有效减少该测试治具本体21中的风阻，在此所述的对向侧板是指第二侧板212，但不以此为限，在本实用新型的其它实施例中，该入风口2111与该出风口2121也可依情况而设置在该测试治具本体21的其它位置上。且如图1及图3所示，本实施例的入风口2111至出风口2121的方向定义为第一方向D1，而该第一方向D1为该测试环境S中的气体流动方向。

另外，该第二侧板212上还具有电线通口2122，用于通过电线4，从而使该外接卡1得以通过该电线4与该电子器件(图未示)电性连接。

如图2及图3所示，该测量器3设置在该测试治具本体21的第四侧板214上，并具有穿设进入该测试环境S中且与该外接卡1相面对的测量端31，但不以此为限，在本实用新型的其它实施例中，该测量器3也可设置在该测试治具本体21的其它位置上，例如也可设置在第一、第二、第三侧板211、212、213或顶板215上。

在本实施例中，该第四侧板214具有约略1公分直径的测量器通口2143，以通过该测量器通口2143，而穿设该测量器3的测量端31进入该测试环境S中，且该测量端31至该外接卡1的方向定义为垂直该第一方向D1的第二方向D2，从而使该测量器3能在最接近该外接卡1的位置进行测量，而取得有关该外接卡1的测量参数，进而提高该测试治具2的测试准确度。

请一并参阅图4，为绘制本实用新型的一实施例的电子器件测试治具的测试治具本体的设置状态示意图，如图所示，该第三侧板213与该第四侧板214分别具有第一轨道2131、2141，该轨道2131、2141是用以引导该第二侧板212相对于该测试治具本体21运动，所以得以使该电线4离开或进入该电线通口2122，从而使该电线4与该外接卡1的电性连接更为容易，且还可因应不同规格的电子器件更换不同形式的第二侧板212，从而提升本实用新型的测试治具对于不同规格电子器件的适应性。

另外，该第三侧板213与该第四侧板214分别具有第二轨道2132、2142，该轨道2132、2142是用以引导该底板216相对于该测试治具本体21运动，以便因应不同规格的电子器件更换不同形式的底板216，从而提升本实用新型的测试治具对于不同规格电子器件的适应性。如图所示，该第二侧板212是朝着A的方向运动而形成该测试环境S，且该底板216是朝着B的方向运动而形成该测试环境S。

再请一并参阅图5，为绘制本实用新型的一实施例的测试治具的测试治具本体的设置状态示意图.若待检测的电子器件的高度大于测试治具所能提供的检测高度时，则将原先不符需求的底板(图未示)通过该第二轨道2132、2142朝着相反于B的方向移出该测试治具本体21，并朝着B的方向置换上另一不同高度规格的底板216，使本实用新型的测试治具2对于不同高度规格的电子器件的适应性能有效提升.

综上所述，本实用新型的测试治具提供一独立测试环境以对电子器件的外接卡进行运行测试，该测试治具包括具有多个侧板的测试治具本体、以及测量器。其中，该测量器具有穿设进入该测试环境中且与该电子器件的外接卡相面对的测量端，以在最接近该电子器件的外接卡的位置进行测量，从而有效提高测量准确度。

另外，本实用新型的测试治具提供一独立的测试环境，所以得以对与服务器等电子器件的不同工作条件的外接卡进行运行检测，且若提供多个本实用新型的测试治具，也可同时对插设在该电子器件上的不同工作条件的多个外接卡进行运行测试。再者，本实用新型的测试治具的测试治具本体的部分侧板设置有轨道，以因应不同规格的电子器件更换不同形式的侧板，从而有效提升对于不同规格电子器件的适应性。

据上可知，本实用新型的测试治具能够有效克服现有技术中的种种缺陷而具高度产业利用价值。

所述实施例是用以例示性说明本实用新型的原理及其功效，而非用在限制本实用新型。任何本领域技术人员均可在不违背本实用新型的精神及范畴下，对所述实施例进行修改。因此本实用新型的权利保护范围，应以权利要求书的范围为依据。

Claims (10)

1.一种测试治具，提供独立环境以对电子器件的外接卡进行运行测试，其特征在于，该测试治具包括：

测试治具本体，具有底板、设在该底板周围的多个侧板、及设在该多个侧板上且与该底板相对的顶板，通过该底板、侧板及顶板的结合得以构成一测试环境，该底板具有穿设部，从而使该电子器件的外接卡得以进入该测试环境中，该多个侧板的一个具有入风口，且在该入风口的对向侧板上具有出风口，而该入风口至该出风口的方向定义为第一方向，该多个侧板的一个具有电线通口，供通过电线，从而使该电子器件的外接卡通过该电线与该电子器件电性连接；以及

测量器，设在该测试治具本体上，并具有穿设进入该测试环境中且与该电子器件的外接卡相面对的测量端，该测量端至该电子器件的外接卡的方向定义为垂直该第一方向的第二方向。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于：该多个侧板中与该具有电线通口的侧板两相对端相邻的侧板还具有第一轨道，引导该具有电线通口的侧板相对于该测试治具本体运动。

3.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于：该多个侧板中与该底板两相对端相邻的侧板还具有第二轨道，引导该底板相对于该测试治具本体运动。

4.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于：该第一方向为该测试环境中的气体流动方向。

5.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于：该测量器设在该多个侧板中与该电子器件的外接卡相面对的一侧板上。

6.根据权利要求5所述的测试治具，其特征在于：设有该测量器的侧板具有测量器通口，穿设该测量器的测量端进入该测试环境中。

7.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于：该测量器为风速计或温度计。

8.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于：该穿设部为卡槽。

9.根据权利要求1所述的测试治具，还包括风扇，设在该入风口上。

10.根据权利要求1所述的测试治具，还包括环境测试机，与该入风口相连接。

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