CN201364149Y - 高刚度、高稳定的精密测量装置 - Google Patents

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CN201364149Y CNU2009200959588U CN200920095958U CN201364149Y CN 201364149 Y CN201364149 Y CN 201364149Y CN U2009200959588 U CNU2009200959588 U CN U2009200959588U CN 200920095958 U CN200920095958 U CN 200920095958U CN 201364149 Y CN201364149 Y CN 201364149Y
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陈炳生
刘宝瑛
周涛
张鹏
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Tianjin Eastloong Opto-Electronic Measuring & Control Technology Co Ltd
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Abstract

一种在线非接触测量金属、非金属宽度、厚度的检测设备。传感器安装在微晶石或大理石、花岗岩测量架上，测量架安装在外壳内；测量架为以任意角度旋转的C型或整体框架或组合式框架测量架，测量架被安装在外壳内，并由底座固定。采用微晶石作为基础或框架的精密测量装置，光电测量装置的功能可正常、稳定实现，提高测量稳定性，降低设备费用成本，增强设备可靠测量性能。

Description

高刚度、高稳定的精密测量装置
所属技术领域
本实用新型属于光电测量仪器，特别涉及一种在线非接触测量金属、非金属宽度、厚度的高刚度、高稳定的精密测量装置。
背景技术
现有的在线非接触测宽、测厚装置采用钢、铁等金属结构作为基础或框架，再将测量传感器安装于框架上进行测量。金属对环境温度变化极为敏感，温度的变化会导致金属的形变，各种金属材料的受热膨胀系数如表1所示。这种形变与金属材质成分、制造工艺和零件设计与装配等多个环节有关，因此具有不可预测性。为了减小金属形变对测量带来的影响，目前主要采用在数据处理模型中加入一定的数学修正方法来实现。而修正模型往往很难与金属形变规律重合，因此效果并不理想。
表1
金属材料的平均线膨胀系数值       表B.0.2
Figure G2009200959588D00011
发明内容
本实用新型的目的是为了克服上述的缺陷，提出一种高刚度、高稳定的精密测量装置，由微晶石作为基础或框架的精密测量装置，光电测量装置的功能可正常、稳定实现。
本实用新型是通过以下技术方案解决的：一种高刚度、高稳定的精密测量装置，其特征在于：它包括测量架、传感器，所说的传感器安装在微晶石或大理石、花岗岩测量架上，测量架安装在外壳内。
所说的测量架为以任意角度旋转的C型测量架，传感器依次固定在底板、连接板上，并被固装在C型测量架开口的端部，C型测量架安装在测量架外壳内，外壳安装在滑动轨道上，并由底座支撑。
所说的测量架为整体框架或组合式框架测量架，被安装在外壳内，并由底座固定。
微晶石或大理石、花岗岩测量架的线膨胀系数如表2所示。因此在高温或温度变化剧烈的工业现场，基于这种材料所设计的基础或框架的形变是远小于金属材质。这对于实现工业现场的对产品宽度、厚度的高精密测量有非常重要的实际意义。
表2
Figure G2009200959588D00021
本实用新型具有以下优点：它解决了工业现场高温或温度变化剧烈情况下的对在线产品宽度、厚度的高精密测量装置的形变问题，极大地减小了装置形变所引起的测量误差。
附图说明
附图1是本实用新型C型测量架结构示意图。
附图2是本实用新型C型测量系统结构示意图。
附图3是本实用新型框架型测量系统结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
如图1和2所示：一种高刚度、高稳定的精密测量装置，两个传感器3分别固装在底板4上，通过连接板2安装在微晶石或大理石、花岗岩C型测量架1开口的端部，两个传感器3之间的位置姿态可以通过调整底板4和连接板2来实现调整，以确保传感器3在最佳测量状态，测量架1分别安装在外壳5内，外壳5安装在滑动轨道6上，现C型测量架的平稳移动，并由底座7支撑。
如图3所示：一种高刚度、高稳定的精密测量装置，多个传感器3分别固装在整体框架或组合式框架型测量架上，框架型测量架安装在测量架外壳5内，测量架外壳由底座7连接支撑。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (3)

1、一种高刚度、高稳定的精密测量装置，其特征在于：它包括测量架、传感器，所说的传感器安装在微晶石或大理石、花岗岩测量架上，测量架安装在外壳内。
2、根据权利要求1所述的测量装置结构，其特征在于：所说的测量架为以任意角度旋转的C型测量架，传感器依次固定在底板、连接板上，并被固装在C型测量架开口的端部，C型测量架安装在测量架外壳内，外壳安装在滑动轨道上，并由底座支撑。
3、根据权利要求1所述的测量装置结构，其特征在于：所说的测量架为整体框架或组合式框架测量架，被安装在外壳内，并由底座固定。
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Assignee: Chen Bingsheng

Assignor: Tianjin EastLoong Opto-electronic Measuring & Control Technology Co., Ltd.

Contract record no.: 2010120000140

Denomination of utility model: Precision measuring device with high rigidity and stability

Granted publication date: 20091216

License type: Exclusive License

Record date: 20101025

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Assignor: Chen Bingsheng

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