CN201267000Y - 手机开关机测试电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种手机开关机测试电路，其包括下载电路、输入电路、开关电路及测试控制电路；所述下载电路与测试控制电路电连接，用于下载编译好的手机开关机控制指令并输入到测试控制电路；所述输入电路与测试控制电路电连接，用于向测试控制电路输入手机开关机测试指令；所述开关电路与测试控制电路电连接，用于在测试控制电路的控制下，实现手机开关机的测试。本实用新型通过测试控制电路控制开关电路实现手机开关机测试，有效提高了测试效率、节省了测试成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及手机测试领域，特别涉及一种手机开关机测试电路。
背景技术
在手机的诸多测试项中，其中有一项关于手机耐久性的测试，即手机多次开关机测试。例如：对手机进行开关机5000次测试，然后观察手机的功能是否正常。
在现有的测试技术中一般有两种：一是采用人工按开关机键进行测试；这种测试方法造成测试效率低下，浪费人力资源成本，人工记次数有可能造成测试次数不准；二是通过计算机控制可编程电源进行手机开关机测试。例如：采用一般的PC电脑和安捷伦公司的高速可编程电源E3632A，但采用这种方式不仅会增加能耗，而且长期使用电脑和高速可编程电源会加速设备老化；所以采用这种测试方法易造成测试成本过高。
实用新型内容
本实用新型的目的之一是提供一种测试效率高且成本低的手机开关机测试电路。
本实用新型所述的手机开关机测试电路包括下载电路、输入电路、开关电路及测试控制电路；所述下载电路与测试控制电路电连接，用于下载编译好的手机开关机控制指令并输入到测试控制电路；所述输入电路与测试控制电路电连接，用于向测试控制电路输入手机开关机测试指令；所述开关电路与测试控制电路电连接，用于在测试控制电路的控制下，实现手机开关机的测试。
优选地，手机开关机测试指令包括手机开关机测试的次数和手机开关机测试的延时时间。
优选地，所述手机开关机控制指令包括键盘控制指令、测试延时指令及循环控制指令。
本实用新型所述的手机开关机测试电路还包括显示电路，所述显示电路与测试控制电路电连接，用于显示测试数据。
本实用新型所述的手机开关机测试电路还包括存储电路，所述存储电路与测试控制电路电连接，用于存储测试次数和测试的延时时间。
本实用新型所述的手机开关机测试电路还包括复位电路，所述复位电路与手机开关机测试电路电连接。
本实用新型所述的手机开关机测试电路还包括振荡电路，所述振荡电路与手机开关机测试电路电连接。
本实用新型所述的测试控制电路采用包括FPGA、MCU、DSP或ARM之一来实现。
本实用新型所述的开关电路至少为1路。
本实用新型所述的开关电路是继电器开关电路、双向可控硅开关电路、场效应管开关电路或晶闸管开关电路的一种或多种。
本实用新型通过测试控制电路控制开关电路实现手机开关机测试，有效提高了测试效率、节省了测试成本。
附图说明
图1是本实用新型第一实施例的结构框图；
图2是本实用新型第二实施例的结构框图；
图3是本实用新型第二实施例的电路原理图。
本实用新型目的、功能及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
本实用新型实施例提供的手机开关机测试电路，通过测试控制电路控制开关电路实现手机开关机测试，有效提高了测试效率、节省了测试成本。
实施例一
如图1所示，本实施例的手机开关机测试电路包括测试控制电路10、输入电路11、开关电路12及下载电路13；所述下载电路13与测试控制电路10电连接，用于下载编译好的手机开关机控制指令并输入到测试控制电路；所述输入电路11与测试控制电路10电连接，用于向测试控制电路10输入手机开关机测试指令；所述开关电路12与测试控制电路10电连接，用于在测试控制电路10的控制下，实现手机开关机的测试。
为了更好的显示测试次数和延时时间，从而方便测试和观察，本实用新型在第一实施例的基础上提出第二实施例。
实施例二
如图2所示，本实施例的手机开关机测试电路包括测试控制电路10、输入电路11、开关电路12、下载电路13、存储电路14、显示电路15、振荡电路16及复位电路17。
所述输入电路11与测试控制电路10电连接，采用中断触发方式向测试控制电路输入手机开关机测试指令。所述手机开关机测试指令包括手机开关机测试的次数和手机开关机测试的延时时间，所述延时时间主要是用于控制开关电路12导通和断开的时间。
优选地，所述输入电路11可以采用键盘、触摸屏、按键等输入方式的电路结构。
所述开关电路12与测试控制电路10电连接，用于在测试控制电路10的控制下，实现手机开关机的测试。所述开关电路12可设置多路，从而可以同时进行不同型号手机的开关机测试。所述每路开关电路12至少包括是继电器开关电路、双向可控硅开关电路、场效应管开关电路或晶闸管开关电路之一。
所述下载电路13与测试控制电路10电连接，不仅可用于下载编译好的手机开关机控制指令并输入到测试控制电路，而且也可用于实现程序的在线调试。所述手机开关机控制指令包括键盘控制指令、LCD显示驱动指令、延时指令、循环控制指令及EEPROM读写指令等；
所述存储电路14与测试控制电路10电连接，用于存储测试次数和测试的延时时间等相关测试信息。
所述显示电路15与测试控制电路10电连接，用于显示测试数据。例如：显示需要的测试次数，剩余测试次数等。
所述手机开关机测试电路10还分别与振荡电路16、复位电路17电连接。所述振荡电路16，用于向手机开关机测试电路提供时钟信号。
为了更好的理解本实用新型，下面结合图3所示的电路原理图对第二实施例进行具体的说明。
本实施例中，测试控制电路10的控制芯片优选采用飞利浦公司的P89V51系列单片机。所述P89V51系列单片机含P0，P1，P2，P3四组8位I/O口，其中除P0口外都含有内部上拉电阻。所述P89V51系列单片机含有64K的Flash Memory和1K的RAM。所述P89V51系列单片机支持在线系统编程技术。
所述开关电路12是继电器开关电路，其包括共集放大电路和继电器。所述共集放大电路用来放大单片机的输出电流，从而驱动继电器工作。所述共集放大电路包括三极管和电阻。例如：型号为S9013的三极管VT1与电阻R23、R24构成一路共集放大电路；共集放大电路放大单片机的输出电流，从而驱动继电器工作。
所述输入电路11是键盘输入电路；所述下载电路13是优选型号为Max3232的RS-232电平转换电路为主芯片所构成的串口下载电路。所述存储电路14是优选型号为24C01的EEPROM存储芯片为主芯片所构成的存储电路。所述显示电路15是优选型号为RT1602C的LCD液晶芯片为主芯片所构成的LCD显示电路。所述振荡电路16包括晶体管Xtal，电容C2及电容C3构成。
为了更好的理解本实用新型实施例，下面结合图3对本实用新型的工作原理进行描述，包括步骤有：
步骤S0、继电器的常开触点两端分别连接从测试手机中引出的手机开关机信号线；
步骤S1、串口下载电路从PC机下载编译好的手机开关机控制指令并烧写至P89V51系列单片机的程序存储部分；所述手机开关机控制指令包括键盘控制指令、LCD显示驱动指令、延时指令、循环控制指令及EEPROM读写指令等；
步骤S2、EEPROM电路保存从键盘输入电路输入的手机开关机测试指令；例如，输入测试所需要的次数，控制继电器的导通和断开的延时时间等测试指令；
步骤S3、P89V51系列单片机读取EEPROM电路保存的测试指令和单片机程序存储部分的手机开关机控制指令，并输出驱动信号指令使继电器工作；
在驱动信号的作用下，继电器常开触点闭合，继电器导通，手机开机并进行初始化；本实施例中设置继电器常开触点闭合的延时时间应该不小于手机自身正常开机的时间，例如可设置继电器闭合时间为3秒。
开机后，P89V51系列单片机读取单片机程序存储部分的手机开关机控制指令，从而设置驱动信号失效，此时继电器常开触点重新处于打开的状态，继电器断开，等待手机初始化。继电器常开触点断开的延时时间的设置视手机的初始化速度而设定，本实施例中设置继电器常开触点断开的延时时间应该不小于手机自身初始化的时间，例如可设置继电器断开的延时时间为5到10秒；
初始化以后由驱动信号控制继电器常开触点闭合，继电器导通，手机关机；其中，继电器导通的时间视手机自身正常关闭的时间而设定，本实施例中设置继电器常开触点闭合的延时时间应该不小于手机自身正常关闭的时间，例如可设置继电器闭合的延时时间为3秒。
通过循环控制指令重复执行步骤S3的次数满足设定的开关机测试次数，就可以实现手机开关机的循环测试。
上述步骤S2中，LCD显示电路显示在P89V51系列单片机控制下显示键盘输入电路的输入信息(例如测试所需要次数、延时时间)及显示剩余测试次数等信息。
上述继电器开关电路12也可以采用场效应管开关电路、双向可控硅开关电路或晶闸管开关电路；上述测试控制电路10采用包括FPGA、MCU、DSP、ARM或其他可编程芯片来实现。
上述实施例为本实用新型较佳的实施方式，但本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本实用新型的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1、一种手机开关机测试电路，其特征在于：包括下载电路、输入电路、开关电路及测试控制电路；所述下载电路与测试控制电路电连接，用于下载编译好的手机开关机控制指令并输入到测试控制电路；所述输入电路与测试控制电路电连接，用于向测试控制电路输入手机开关机测试指令；所述开关电路与测试控制电路电连接，用于在测试控制电路的控制下，实现手机开关机的测试。
2.根据权利要求1所述的手机开关机测试电路，其特征在于：所述开关电路至少为1路。
3.根据权利要求1所述的手机开关机测试电路，其特征在于：还包括显示电路，所述显示电路与测试控制电路电连接，用于显示测试数据。
4.根据权利要求1所述的手机开关机测试电路：其特征在于：还包括存储电路，所述存储电路与测试控制电路电连接，用于存储测试次数和测试的延时时间。
5.根据权利要求1至4任意一项所述的手机开关机测试电路，其特征在于：所述开关电路是继电器开关电路、双向可控硅开关电路、场效应管开关电路或晶闸管开关电路的一种或多种。
6.根据权利要求1至4任意一项所述的手机开关机测试电路，其特征在于：所述手机开关机测试电路还包括复位电路，所述复位电路与手机开关机测试电路电连接。
7.根据权利要求1至4任意一项所述的手机开关机测试电路，其特征在于：所述手机开关机测试电路还包括振荡电路，所述振荡电路与手机开关机测试电路电连接，用于向手机开关机测试电路提供时钟信号。
8.根据权利要求1至4任意一项所述的手机开关机测试电路，其特征在于：所述测试控制电路采用包括FPGA、MCU、DSP或ARM之一来实现。
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