CN201066595Y - 聚变装置第一镜装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于一种光学诊断装置,具体涉及一种聚变装置第一镜装置。其特点是由于第一镜底板的上面设有由四块第一镜挡板拼合成的棱台罩,棱台罩的上端口形成通光口,下端口大于通光口,棱台罩安装在第一镜底板所设的围板上,每块第一镜挡板与水平面的夹角呈45°。这样真空室内的部分粒子从反射到挡板之外,或反射到第一镜边缘之外,大大减少了粒子沉积对第一镜的污染。因此本实用新型的优点是,降低了第一镜的污染,遏制了第一镜光学性能的退化。
Description
技术领域
本实用新型属于一种光学诊断装置,具体涉及一种聚变装置第一镜装置。
背景技术
在磁聚变托卡马克物理研究中,光学诊断是应用最广的等离子体诊断手段之一。随着装置规模的不断加大,特别是为实现先进托卡马克运行而采用的偏滤器结构的使用,许多光学诊断系统,如极化偏振干涉仪,MSE测量等,必须在装置的真空室中设置光路的反射镜。这些聚变装置中面对等离子体的光学诊断设备的反射镜或收集镜称为第一镜。第一镜问题是目前聚变界关注的热点。第一镜问题也是关系到目前常规的各大装置使用的光学诊断技术能否在ITER装置上使用的决定性的问题。我国过去由于装置规模小,光学诊断元器件布置在真空室的外边,没有第一镜问题的困扰。随着HL-2A和EAST装置的建成,第一镜问题变得越来越重要。而第一镜镜面光学性能的退化主要来自杂质粒子在镜面的再沉积。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种能减少杂质在第一镜面沉积的聚变装置第一镜装置。
本实用新型是这样实现的:一种聚变装置第一镜装置,它包括第一镜、第一镜镜架和第一镜底板,第一镜镜架通过球面垫片、拉簧以及顶钉设在第一镜底板上,球面垫片安装在第一镜镜架与第一镜底板之间,并位于第一镜镜架的一角下方,在第一镜镜架上与该角相邻的两角分别设有顶钉,在顶钉与球面垫片的一侧分别设有拉簧,第一镜底板的上面设有由四块第一镜挡板拼合成的棱台罩,棱台罩的上端口形成通光口,下端口大于通光口,棱台罩安装在第一镜底板所设的围板上,每块第一镜挡板与水平面的夹角呈45°。
本实用新型中,由于第一镜底板的上面设有由四块第一镜挡板拼合成的棱台罩,棱台罩的上端口形成通光口,下端口大于通光口,棱台罩安装在第一镜底板所设的围板上,每块第一镜挡板与水平面的夹角呈45°。这样真空室内的部分粒子将反射到挡板之外,或反射到第一镜边缘之外,大大减少了粒子沉积对第一镜的污染。因此本实用新型的优点是,降低了第一镜的污染,遏制了第一镜光学性能的退化。
附图说明
图1为本实用新型聚变装置第一镜装置安装在真空室壁上的示意图;
图2为第一镜安装在第一镜镜架上的俯视图
图中,1第一镜挡板,2第一镜镜架,3第一镜底板,4第一镜,5球面垫片,6拉簧,7顶钉,8真空室壁,9围板。
具体实施方式
如图1~图2所示,聚变装置第一镜装置包括第一镜4、第一镜镜架2和第一镜底板3。第一镜镜架2通过球面垫片5、拉簧6以及顶钉7设在第一镜底板3上,球面垫片5设在第一镜镜架2与第一镜底板3之间,并位于第一镜镜架2的一角下方,在第一镜镜架2上与该角相邻的两角分别设有顶钉7,在顶钉7与球面垫片5的一侧分别设有拉簧6,顶钉的作用是调节镜面的反射方向,通过顶钉螺丝的旋进旋出,与拉簧共同作用使镜面与底板之间间距改变。第一镜底板3的上面设有由四块第一镜挡板1拼合成的棱台罩,棱台罩的上端口形成通光口,下端口大于通光口,棱台罩安装在第一镜底板3所设的围板9上,每块第一镜挡板1与水平面的夹角呈45°。
聚变装置第一镜装置设在真空室内,安装在真空室壁8上,真空室内充有氢等离子体,高能的氢粒子与装置壁相互作用,产生碳、镍、铁等离子杂质,这些杂质会沉积到镜子表面,导致镜面的污染和光学性能退化。由于等离子体的粒子的能量和速度分布基本上呈类抛物线分布,因此采用挡板的形式,可以极大地减轻到达镜子表面的粒子沉积。由于棱台的底角为45°,使真空室内的部分粒子反射到挡板之外,或反射到镜子边缘之外,从而减少杂质在第一镜面的沉积,起到了防护作用。
Claims (1)
1.一种聚变装置第一镜装置,它包括第一镜(4)、第一镜镜架(2)和第一镜底板(3),第一镜镜架(2)通过球面垫片(5)、拉簧(6)以及顶钉(7)安装在第一镜底板(3)上,球面垫片(5)设在第一镜镜架(2)与第一镜底板(3)之间,并位于第一镜镜架(2)的一角下方,在第一镜镜架(2)上与该角相邻的两角分别设有顶钉(7),在顶钉(7)与球面垫片(5)的一侧分别设有拉簧(6),其特征在于:在所述的第一镜底板(3)的上面设有由四块第一镜挡板(1)拼合成的棱台罩,棱台罩的上端口形成通光口,下端口大于通光口,并安装在第一镜底板(3)所设的围板(9)上,每块第一镜挡板(1)与水平面的夹角呈45°。
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Publications (1)
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CN102222528A (zh) * | 2011-04-11 | 2011-10-19 | 核工业西南物理研究院 | 第一镜样品辐照支架与辐照方法 |
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2007
- 2007-08-09 CN CNU2007201276796U patent/CN201066595Y/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
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CN102222528A (zh) * | 2011-04-11 | 2011-10-19 | 核工业西南物理研究院 | 第一镜样品辐照支架与辐照方法 |
CN102222528B (zh) * | 2011-04-11 | 2013-02-13 | 核工业西南物理研究院 | 第一镜样品辐照支架与辐照方法 |
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